또 다른 측면 에서 , 본 발명 은 칩 표면 상 에 고정 된 핵산 프로브 가 검출 될 핵산 분자 의 증폭 에서 프라이머 로서 사용 되 는 것 인 본원 에 기재 된 바 와 같 은 DNA 칩 을 사용 하 는 대안 적 인 방법 을 포함 한다 . 제 2 프라이머 를 사용 해서 핵산 분자 를 증폭 시킬 수 도 있 다 . 프로브 를 프라이머 로서 사용 해서 검출 될 핵산 분자 와 혼성 화 시킨 다음 , ( 적합 한 핵산 폴리머 라 제 에 의해 ) 프로브 서열 을 연장 시킴 으로써 증폭 되 는 핵산 분자 에 상보 적 인 제 1 핵산 가닥 을 제조 한다 . 이어서 , 임의 의 제 2 프라이머 를 사용 해서 상보 적 인 제 2 핵산 가닥 을 합성 할 수 있 다 . 얻 어 진 증폭 된 서열 은 프로브 에 공유 부착 되 며 , 프로브 를 통해 칩 에 고정 된다 . 이후 , 칩 을 스캐닝 하 여 증폭 된 서열 의 존재 를 분석 함 으로써 고정 된 증폭 된 서열 을 검출 할 수 있 다 .