따라서 , 실시 형태 1 과 마찬가지 로 , 슬라이더 ( 13 ) 에 고정 된 브러시 ( 16 ) 가 아치형 상 부재 ( 8 ) 의 제 1 및 제 2 띠 부재 ( 10 및 11 ) 의 표면 에 각각 접촉 하 면서 슬라이더 ( 13 ) 가 이동 하 고 , X 축 둘레 회전 위치 측정 회로 ( 17 ) 에서 제 1 띠 부재 ( 10 ) 의 일단 ( A ) 과 제 2 띠 부재 ( 11 ) 의 일단 ( B ) 사이 의 저항 값 을 계측 함 으로써 , 슬라이더 ( 13 ) 의 이동 위치 , 즉 X 축 둘레 의 회전자 ( 7 ) 의 회전 위치 를 측정 할 수 있 다 .