도 8 은 다른 실시 예 에 따른 검사 용 프로브 소켓 의 부분 단면도 이 다 . 도시 한 바 와 같이 , 피검 사단자 ( 12 ) 의 부분 곡면 통 형상 부분 에 접촉 하 는 제 1 프로브 ( 110 , 200 ) 외 에 , 피검 사단자 ( 12 ) 의 평면 부분 에 접촉 하 는 제 2 프로브 ( 800 ) 를 포함 한다 . 여기 서 제 2 프로브 ( 800 ) 는 도 4 에 나타낸 실시 예 에 도 동일 하 게 적용 될 수 있 다 . 제 2 프로브 ( 800 ) 는 제한 되 지 않 는 포고 핀 형상 으로 구현 될 수 있 다 . 이 와 같이 제 2 프로브 ( 800 ) 를 적용 하 는 것 은 검사 의 신뢰 성 을 향상 시키 기 위한 것 이 다 .