본 발명 의 토너 는 , 토너 의 화상 처리 해상도 512 × 512 화소 ( 1 화소 당 0 . 37 ㎛ × 0 . 37 ㎛) 의 플로우식 입자 상 측정 장치 에 의해 계측 되 는 원 상당 직경 2 . 00 ㎛ 이상 200 . 00 ㎛ 이하 의 입자 를 대상 으로 한 원형 도 분포 에 관하 여 , 평균 원형 도 가 0 . 950 이상 1 . 000 이하 인 것 이 바람직 하 다 . 더욱 바람직 하 게 는 0 . 955 이상 0 . 990 이하 이 며 , 특히 바람직 하 게 는 0 . 960 이상 0 . 985 이하 이 다 . 토너 의 평균 원형 도 를 상기 범위 로 한다고 하 는 것 은 , 토너 의 요철 부가 감소 하 는 것 을 의미 하 고 있 다 . 특히 토너 의 오 목부 가 감소 함 으로써 오목 부 에 들어가 는 외 첨 제 의 양 이 저감 되 기 때문 에 , 토너 표면 으로부터 탈리 하 는 외 첨 제 가 적어진다 . 그 로 인해 , 토너 의 대전 분포 가 샤프 해 지 기 때문 에 , 토너 소비량 을 보다 저감 할 수 있 고 , 외 첨 제 의 탈리 도 억제 할 수 있 기 때문 에 고온 고습 환경 에서 의 내구 에서 의 현상 성 이 보다 우수 한 토너 를 얻 는 것 이 가능 하 다 .