ATREF 곡선 은 또한 , 공 단량체 ( 예컨대 , 헥 센 ) 가 샘플 전체 에 걸쳐 어떻게 분포 되 어 있 는지 를 나타내 기 때문 에 용리 온도 가 감소 하 면 공 단량체 함량 이 증가 한다는 점 에서 흔히 단 쇄 분지 분포 ( SCBD ) 로 도 불린다 . IR 검출기 는 , 단 쇄 분지 분포 를 생성 하 는 데 사용 될 수 있 는 온도 의 함수 로서 중합체 의 농도 를 제공 한다 . 미분 점 도 측정 법 검출기 는 각각 의 용리 온도 에서 의 점 도 평균 분자량 의 추정 치 를 제공 한다 ( 미국 특허 제 4 , 798 , 081 호 참조 ) . IR 검출기 및 미분 점 도 측정 법 검출기 모두 에서 얻 은 데이터 를 나타내 는 생 성 곡선 은 집합 적 으로 , ATREF - DV 중첩 프로필 로 공지 된다 .