이러 한 본 발명 에서 는 다 파장 의 백색광 과 회절격자 , 분광 결상 소자 를 이용 하 여 크 게 두 가지 모드 로 위상 물체 의 3 차원 굴절 률 및 물성 치 특성 을 측정 할 수 있 도록 구성 되 어 있 다 . 즉 , 1 번 째 모드 는 다 파장 의 백색광 이 제 1 회절격자 를 통과 하 면서 1 차 의 회절 분광 된 파장 별 빛 을 이용 하 여 고속 으로 위상 물체 의 3 차원 굴절 률 및 물성 치 분포 를 측정 할 수 있 다 . 2 번 째 모드 는 동일 한 시스템 에서 제 2 회절격자 를 회전 시켜 0 차 의 다 파장 백색광 을 이용 하 여 파장 별 위상 물체 의 3 차원 굴절 률 및 물성 치 분포 를 측정 할 수 있 는 방법 이 다 .