상기 방법 으로 제조 한 제 1 위 상차 층 및 제 2 위 상차 층 의 두께 방향 위상차 값 ( Rth 1 ( λ ) 및 Rth 2 ( λ ) ) 은 기재 인 시클로올레핀 폴리머 필름 에 는 위상차 가 없 는 것 을 확인 한 후 에 , 엘 립 소 미터 에 의해 샘플 에 의 광 의 입사각 을 바꾸 어 측정 하 였 다 . 또 , 450 ㎚ 및 550 ㎚ 의 파장 λ 에 있 어서 의 평균 굴절 률 은 굴절률 계 ( 주식회사 아타고 제조 「 다 파장 아베 굴절계 DR - M 4 」 ) 를 사용 하 여 측정 하 였 다 . 얻 어 진 막 두께 , 평균 굴절 률 , 및 엘 립 소 미터 의 측정 결과 로부터 산출 되 는 450 ㎚ 및 550 ㎚ 의 파장 λ 에 있 어서 의 Rth 1 ( λ ) 및 Rth 2 ( λ ) 를 표 2 에 나타낸다 .