실시 예 1 내지 4 , 비 교예 1 내지 3 의 복합 음극 활물질 의 XPS depth profile 을 측정 하 였 다 . 상기 XPS depth profile 를 통해 , 산소 ( O ) 의 검출 유무 에 따라 내부 탄소 코팅 층 과 외곽 탄소 코팅 층 의 경계 를 구분 하 고 , 외곽 탄소 코팅 층 내 의 산소 함량 을 측정 하 여 , 그 결과 를 하 기 표 1 에 나타내 었 다 .