각 전자파 차폐 필름 을 열 프레스 에 의해 50 ㎛ 두께 의 폴리 이미드 필름 의 양면 에 부착 하 고 , 세로 × 가로 = 130 ㎜ × 15 ㎜ 의 크기 로 커트 하 여 시험편 으로 하 고 , 각 시험편 의 내 절곡 성 을 , MIT 내절 피 로 시험기 ( 가부 시 키가 이샤 야스다 세이키 세이사쿠 쇼 제조 , No . 307 MIT 형 내절 도 시험기 ) 를 이용 하 여 , JIS P 8115 : 2001 에 규정 되 는 방법 에 기초 하 여 내 절곡 성 을 측정 하 였 다 .