그런데 , 진공 용기 의 내부 공간 에 는 발광 장치 의 제조 과정 에서 생성 된 유해 가스 등 이 잔류 하 는 경향 이 있 다 . 이 경우 발광 장치 의 구동 시 전자 방출 부 에서 방출 된 전자 들 에 의해 잔류 가스 가 이온 화 되 어 새로운 전자 를 방출 하 는 과정 이 반복 진행 되 면서 발광 장치 의 내부 에서 아 킹 이 유발 될 수 있 다 . 이러 한 아 킹 은 순간 적 인 대 전류 를 발생 시켜 발광 장치 내부 의 구조물 , 특히 애노드 전극 과 형광 층 의 손상 을 야기 하 여 결국 발광 장치 의 발광 특성 을 저하 시킨다 .