상기 임의 의 실시 예의 상기 이미지 수집 칩 ( 300 ) 및 물체 이미 징 인식 장치 의 구조 , 원리 , 물체 이미 징 인식 방법 과 칩 제조 방법 을 기반 으로 하 여 , 본 실시 예 8 은 진일보 로 마이크 로 스펙트럼 이미 징 칩 ( 300 ) , 스펙트럼 이미 징 장치 와 스펙트럼 이미 징 방법 을 제시 한다 . 목표 물체 ( 200 ) 는 임의 의 물체 로 확장 될 수 있 다 . 도 1 에 도시 된 바 와 같이 , 우선 , 가시광선 에서 근적외선 까지 의 광범위 한 스펙트럼 광원 ( 100 ) 을 목표 물체 ( 200 ) 에 조사 하 고 , 그 다음 이미지 수집 칩 ( 300 ) 으로 반사광 을 수집 한다 . 혹은 , 광원 ( 100 ) 을 생략 하 고 , 직접 목표 물체 ( 200 ) 에 의해 발광 하 여 이미지 수집 칩 ( 300 ) 에 조사 함 으로써 수집 한다 . 그 다음 , 도 3 및 도 4 에서 와 같이 , 상기 입사광 이 광변조 층 ( 1 ) 에 입사 되 고 각 변조 유닛 ( 5 ) 의 광변조 작용 을 거친다 . 이 과정 에서 , 각 변조 유닛 ( 5 ) 상 의 서로 다른 구역 의 변조 작용 은 서로 다르 며 , 이 에 따라 투과 스펙트럼 도 서로 다르 다 . 또한 각 변조 유닛 의 하방 에 는 이미지 감지 층 ( 2 ) 상 의 복수 의 감지 유닛 ( 7 ) 이 각각 대응 되 게 설치 된다 . 또한 도 4 와 도 5 에 도시 된 바 와 같이 , 여러 그룹 픽셀 확인 모듈 의 대응 되 는 작용 하 에서 , 도 4 에서 의 각 변조 유닛 ( 5 ) 의 각 구역 은 각각 도 5 의 각 감지 유닛 ( 7 ) 의 각 감지 서브 유닛 ( 9 ) 과 서로 대응 되 어 , 각 감지 서브 유닛 ( 9 ) 에서 획득 하 는 투과 스펙트럼 은 서로 달라 , 각 변조 서브 유닛 은 각 감지 서브 유닛 ( 9 ) 과 하나 의 그룹 의 픽셀 확인 서브 모듈 을 각각 구성 할 수 있 고 , 각 서브 모듈 은 각각 하나 의 픽셀 포인트 내 의 일부 주파수 스펙트럼 정보 를 인식 할 수 있 음 으로 , 각 구역 의 서브 모듈 을 통합 하 면 하나 의 픽셀 포인트 의 복수 의 주파수 스펙트럼 정보 를 획득 할 수 있 는 것 을 알 수 있 다 . 추가 적 으로 , 각 픽셀 포인트 를 통합 하 면 상기 이미지 의 모든 픽셀 포인트 를 획득 할 수 있 고 , 이 에 근거 하 여 재 구성 을 통해 목표 물체 이미지 를 획득 할 수 있 다 . 이해 할 수 있 는 것 은 , 각 감지 서브 유닛 ( 9 ) 에 대응 하 는 변조 유닛 상 의 2 차원 그래픽 구조 가 동일 하 므로 , 이미지 의 서로 다른 공간 위치 의 광 이 동일 한 변조 작용 을 거친 후 의 응답 을 획득 하 고 , 동일 주파수 의 목표 물체 이미지 를 획득 할 수 있 다 .