배리 어 특성 을 테스트 하 기 위한 통상 의 방법 은 60 ℃/ 90 % 의 상대 습도 ( RH ) 와 같 은 혹독 한 환경 에 노출 되 는 동안 인 캡슐 레이 션 된 장치 의 성능 을 감시 하 는 것 이 다 . 이것 은 금속 캐소드 콘택트 의 일부 가 인 캡슐 레이 션 의 외부 에 도달 하 는 OLED 에서 자주 관찰 되 고 , 이 콘택트 는 매우 빠르 게 ( 수 시간 이내 에 ) 갈라지 고 , 깨지 고 및 / 또는 부식 되 어 수분 및 산소 에 대한 빠른 침투 경로 를 형성 하 고 , 따라서 너무 이른 장치 고장 을 일으킨다 . 또한 , 몰리브덴 기판 상 의 CIGS ( copper indium gallium selenide ) 기반 장치 와 같 은 광기 전 ( photovoltaic ) 장치 는 수증기 및 산소 침투 로 인해 악화 된다고 알려져 있 다 .