그러나 , 게이트 폴리 를 말발굽 형태 로 배치 한 종래 의 배치 구조 ( 200 ) 는 , 소스 및 드레 인 영역 의 면적 이 감소 하 게 됨 에 따른 신뢰 성 저하 의 문제 가 발생 하 였 다 . 즉 , 집중 적 으로 기입 / 및 독 출 ( write / read ) 할 때 , 고온 ( high temp . ) 에서 동작 시킬 때 , 또는 높 은 전압 을 걸어서 실험 을 할 때 와 같 은 수명 가속 시험 시 에 , 제 1 모스 트랜지스터 ( M 1 ) 가 제대로 동작 하 지 못하 는 문제 가 발생 하 게 된 것 이 다 . 이러 한 신뢰 성 저하 문제 는 제 1 모스 트랜지스터 ( M 1 ) 의 소스 또는 드레 인 영역 의 불 충분 한 확보 등 에 기인 하 여 발생 한다 .