도 11 a 및 11 b 는 본 발명 에 따른 , 알려진 상대 위치 에서 센서 와 관련 된 SEM 값 의 비교 가 어떻게 좌우 대칭 위치 를 식별 할 수 있 는지 의 예 를 도시 한다 . 이 예 에서 , 센서 ( 430 ) 는 오른발 ( 20 R ) 의 컨 택 영역 ( 450 R ) 을 가로 질러 , " 도 11 a 의 "" A "" 에서 ” H "" 로 표시 된 중첩 되 지 않 는 위치 에 형성 된다 . 각 위치 에서 측정 된 SEM 값 은 도 11 b 의 그래프 에 플롯 되 었 다 . 이 예 에서 "," 위치 "" A ” 및 "" H "" 의 SEM 값 은 낮 거나 0 이 며 "," 해당 위치 에서 컨 택 영역 ( 450 ) 과 센서 ( 430 ) 의 비 중첩 을 반영 한다 . 위치 "" B ” 및 "" G "" 와 관련 된 SEM 값 은 센서 ( 430 ) 가 해당 위치 에서 컨 택 영역 ( 450 ) 의 일부 와 중첩 됨 에 따라 더 높 아 진다 . 위치 ( C - D - E - F ) 에 대한 SEM 값 은 더 높 고 ", 이 예 에서 는 거의 동일 하 며 , 센서 ( 430 ) 가 해당 위치 에서 컨 택 영역 ( 450 ) 내 에 완전히 있 음 을 나타낸다 . 일 측면 에서 , 장치 ( 180 ) 와 같 은 SEM 측정 장치 는 예 를 들 어 , " 위치 "" C ” 및 "" F "" 와 같 은 특정 위치 가 오른발 ( 20 R ) 의 중심선 ( 452 R ) 에 대해 좌우 대칭 임 을 결정 할 수 있 다 . 일 측면 에서 ", 유사 한 세트 의 측정 이 왼발 ( 20 L ) 상 의 위치 A '- H ' 에서 이루어지 는 경우 , 각각 의 발 ( 20 L 및 20 R ) 위 의 위치 , 예 를 들 어 위치 E 및 E ' 는 대략 좌우 대칭 ( bisymmetric ) 인 것 으로 결정 될 수 있 다 .