따라서 리 테스트 를 위해 제 3 수납 스택 커 ( 214 ) 로부터 인출 위치 ( WP ) 까지 고객 트레이 ( CT ) 를 이동 시키 는 작업 과 리 테스트 후 반도체 소자 를 분류 하 는 작업 간 의 간섭 이 방지 된다 . 즉 , 핸들러 ( 200 ) 의 리 테스트 동작 중 리 테스트 위치 ( RP ) 로 분류 되 어야 하 는 반도체 소자 의 경우 , 리 테스트 위치 ( RP ) 를 경유 하 여 인출 위치 ( WP ) 로 이동하 는 고객 트레이 ( CT ) 에 는 적재 될 수 없 기 때문 에 별도 의 리 테스트 실패 위치 ( RFP ) 에 구비 된 고객 트레이 ( CT ) 에 적재 되 도록 하 여 , 양 작업 간 의 간섭 을 방지 하 는 것 이 다 .