또한 , 내부 전극 층 ( 12 ) 의 평균 두께 가 0 . 3 ㎛ 이하 인 경우 , 상기 효과 에 추가 로 적층 체 ( 10 ) 의 적층 방향 의 두께 를 억제 할 수 있 다 . 단 , 이 경우 , 0 . 3 ㎛ 보다 두꺼운 경우 에 비해 소결 수축 에 의해 내부 전극 층 에 구멍 이 뚫리 기 쉬워 지 고 , 심지어 내부 전극 층 이 망상 ( 網狀 ) 이 되 는 경우 가 있 다 . 이 와 같 은 경우 에서 도 각각 상술 한 특징 을 포함 한 제 1 결정립 ( G 1 ) 을 가지 는 유전체 층 ( 11 ) 과 제 2 결정립 ( G 2 ) 을 가지 는 내부 전극 층 ( 12 ) 을 조합 함 으로써 , 상기 효과 에 추가 로 내부 전극 층 에 뚫리 는 구멍 을 저감 할 수 있 다 . 그 결과 , 적층 세라믹 콘덴서 ( 100 ) 의 정전 용량 저하 를 억제 할 수 있 다 .