다른 예 에서 , 단일 - 다 이 검사 는 레티 클 의 이미지 피처 를 분석 하 여 비 정상 ( unusual ) 이벤트 를 식별 하 기 위한 알고리즘 을 포함 하 며 , 이 는 기본 설계 피처 ( 예 를 들 어 , 사전 OPC 피처 ) 에 대한 상이 한 OPC 데 코레 이 션 을 포함 하 는 경향 이 있 다 . 예 를 들 어 , 단일 - 다 이 검사 공정 은 상이 한 데 코레 이 션 ( 패턴 102 a 의 104 b , 패턴 102 b 의 104 f ) 을 비 정상 또는 후보 이벤트 로서 정의 할 수 있 다 . OPC 소프트웨어 는 많 은 수 의 가변 OPC 데 코레 이 션 을 야기 하 는 경향 이 있 기 때문 에 , 통상 적 으로 그러 한 레티 클 패턴 의 종래 의 단일 - 다 이 검사 동안 많 은 수 의 후보 이벤트 가 플래그 된다 . 이벤트 는 그러 한 다른 동일 한 다이 의 동일 한 위치 에 있 는 다른 동일 한 다이 또는 다 이 부분 에 존재 하 지 않 는 임의 의 피처 , " 다른 동일 한 다이 에 존재 하 는 피처 의 부재 등 을 포함 할 수 있 다 . 이 들 OPC - origin 후보 이벤트 는 "" 실제 ( real ) "" 인쇄 가능 한 결함 을 찾 기 위하 여 상당 한 양 의 잡음 을 나타낼 수 있 다 . "