상술 한 바 와 같이 , 다양 한 실시 예 에 따른 전자 장치 ( 101 ) 는 SCG 실패 가 확인 되 면 , 해당 셀 의 PCI 및 실패 당시 의 RSRP 를 저장 할 수 있 다 . SCG 실패 가 동일 한 PCI trigger _ timer 시간 내 에 Trigger _ count _ TH 횟수 만큼 발생 되 면 , 전자 장치 ( 101 ) 는 내부 적 으로 event B 1 threshold 를 실패 시 기록 한 RSRP 중 최댓값 또는 b 1 - ThresholdNR - r 15 와 의 중간값 으로 설정 할 수 있 다 . 이 에 따라 , 실패 할 것 으로 예측 되 는 RACH 시도 횟수 가 감소 할 수 있 어 전력 이 절감 될 수 있 다 . 아울러 , 새롭 게 설정 된 event B 1 threshold 가 지속 적 으로 유지 되 지 않 고 , 다른 PCI 검출 또는 일정 기간 ( 예 : t 1 _ timer ) 가 만료 되 는 경우 초기 화 될 수 도 있 다 .