예 를 들 면 , 상기 실시 형태 에서 는 , 형광 물질 을 함유 하 지 않 는 전자 부품 ( Wx ) 을 검사 하 는 것 이 었 지만 , 형광 물질 을 함유 하 는 전자 부품 ( Wx ) 을 검사 하 는 것 이 더라도 좋 다 . 형광 물질 을 함유 하 는 전자 부품 ( Wx ) 으로서 는 , 예 를 들 면 , 형광 물질 이 포함 되 어 있 는 유리 에폭시 수지 를 기판 에 이용 한 것 이 생각 된다 . 이 전자 부품 ( Wx ) 을 검사 하 는 경우 에 는 , 재치 부재 ( 5 ) 에 , 형광 물질 을 함유 하 지 않 는 예 를 들 면 흑색 의 러버 부재 를 이용 한다 . 그리고 , 상기 실시 형태 와 마찬가지 로 , 자외선 을 조사 하 는 것 에 의해 , 전자 부품 ( Wx ) 으로부터 사출 되 는 형광 인 가시 광 을 촬상 함 으로써 , 재치 부재 ( 5 ) 가 검 게 , 전자 부품 ( Wx ) 이 하얗 게 비친 촬상 화상 을 얻 을 수 가 있 다 .