데이터 가 소거 될 때 마다 , NAND 플래시 메모리 ( 10 ) 의 유지 특성 은 , 저하 된다 ( 즉 , 서비스 수명 이 감소 됨 ) . 소거 간격 이 더 길 어 지 게 되 면 , NAND 플래시 메모리 ( 10 ) 의 유지 특성 은 점차 회복 된다 . 즉 , 소거 처리 가 짧 은 간격 으로 연속 적 으로 수행 되 면 , 유지 특성 의 충분히 긴 회복 시간 을 얻 을 수 없 기 때문 에 , NAND 플래시 메모리 ( 10 ) 의 서비스 수명 은 감소 된다 . 따라서 , 본 실시 형태 에서 , 소거 간격 이 긴지 또는 짧 은지 여부 를 판정 하 는 데 사용 되 는 기준 은 , 부하 집 중도 가 높 은지 또는 낮 은지 여부 를 판정 하 는 데 사용 되 는 기준 으로 교체 된다 . 그 후 , 소거 처리 가 짧 은 간격 으로 연속 적 으로 수행 되 는지 여부 를 부하 집 중도 가 평준 화 임계 값 을 초과 하 는지 여부 에 기초 하 여 판정 하 고 , 부하 집 중도 가 평준 화 임계 값 을 초과 하 는 경우 에 만 , 일부 블록 들 에 소거 처리 가 집중 되 는 것 을 방지 하 기 위하 여 평준 화 처리 를 수행 한다 . 평준 화 임계 값 이 설정 되 면 , 사전 설정 된 기간 만큼 소거 간격 을 연장 함 으로써 서비스 수명 을 회복 할 수 있 는 정도 를 나타내 는 NAND 플래시 메모리 ( 10 ) 의 특성 이 고려 된다 .