상기 한 바 와 같 은 목적 을 달성 하 기 위해 , 본 발명 의 일 측면 에 따르 면 , 온 / 오프 - 칩 브리지 에 구비 되 며 , 외부 테스트 장비 로부터 테스트 데이터 를 수신 하 며 , 수신 된 데이터 가 온 - 칩 마스터 에 제공 되 도록 제어 하 는 테스트 컨트롤러 ; 상기 테스트 컨트롤러 로부터 출력 되 는 테스트 데이터 및 오프 - 칩 데이터 를 상기 온 - 칩 마스터 로 멀티 플렉 싱하 는 멀티플렉서 를 포함 하 되 , 상기 온 - 칩 마스터 는 상기 테스트 데이터 를 테스트 대상 이 되 는 코어 의 프로토콜 에 상응 하 는 데이터 로 변환 하 여 상기 테스트 대상 이 되 는 코어 로 전달 하 는 온 / 오프 - 칩 브리지 를 이용 한 칩 테스트 장치 가 제공 된다 .