도 9 를 참조 하 면 , 제 1 서브 불량 검 출부 ( 422 _ 1 ) 는 제 1 채널 인 에이블 신호 ( CH _ EN < 0 >) 에 따라 활성 화 되 어 , 글로벌 다운 스캔 신호 ( DN _ SCAN ) 와 래치 신호 ( LAT ) 에 따라 관통 전극 ( TSV 0 X ) 의 일단 ( NO 0 ) 으로 전달 되 는 다운 스캔 의 결과 를 제 1 값 으로 저장 하 고 , 글로벌 업 스캔 신호 ( UP _ SCAN ) 와 래치 신호 ( LAT ) 에 따라 관통 전극 ( TSV 0 X ) 의 일단 ( NO 0 ) 으로 전달 되 는 업 스캔 의 결과 를 제 2 값 으로 저장 하 고 , 저장 된 제 1 값 및 제 2 값 을 조합 하 여 관통 전극 ( TSV 0 X ~ TSV 4 X ) 의 불량 여부 를 정의 하 는 제 1 불량 판정 플래그 ( FLAG 1 ) 를 생 성 및 저장 할 수 있 다 . 마찬가지 로 , 제 2 내지 제 4 서브 불량 검 출부 ( 422 _ 2 ~ 422 _ 4 ) 도 제 2 내지 제 4 채널 인 에이블 신호 ( CH _ EN < 3 : 1 >) 에 따라 순차 적 으로 활성 화 되 어 , 제 2 내지 제 4 불량 판정 플래그 ( FLAG 2 ~ FLAG 4 ) 를 생 성 및 저장 할 수 있 다 . 따라서 , 테스트 장치 ( 미 도시 ) 혹은 메모리 컨트롤러 ( 미 도시 ) 는 제 1 내지 제 4 서브 불량 검 출부 ( 422 _ 1 ~ 422 _ 4 ) 에 저장 된 제 1 내지 제 4 불량 판정 플래그 ( FLAG 1 ~ FLAG 4 ) 를 추출 하 여 어느 코어 다이 에 포함 된 관통 전극 에서 결함 이 발생 했 는지 를 알 수 있 다 .