본 발명 은 제품 ( 시스템 ) 의 개발 단계 에 제품 에서 발생 할 수 있 는 고장 을 미리 방지 하 기 위해 실시 하 는 고장 메커니즘 을 분석 하 는 방법 에 관한 것 으로 , 특히 예측 된 고장 모드 의 원인 및 영향 메커니즘 을 효과 적 으로 규명 하 기 위한 방법 을 제공 함 으로써 개발 제품 의 신뢰 성 을 향상 시키 고 , 나아가 해석 결과 를 체계 적 으로 축적 , 관리 하 여 대상 제품 의 고장 과 관련 된 개인 적 경험 및 노하우 등 의 지식 이 조직 의 지식 으로서 재 활용 될 수 있 도록 하 는 분석 방법 에 관한 것 이 다 .