복수 의 검사 기판 ( ST 5 ) 각각 에 검사 패턴 ( 161 ) 이 배치 된다 . 복수 의 검사 패턴 ( 161 ) 은 복수 의 추가 연결 배선 ( 162 ) 과 전기 적 으로 연결 될 수 있 다 . 복수 의 검사 패턴 ( 161 ) 은 복수 의 추가 연결 배선 ( 162 ) 과 함께 최 상측 스테이지 ( STGF ) 로부터 의 게이트 신호 를 전달 하 는 배선 으로 기능 할 수 있 다 . 따라서 , 복수 의 검사 패턴 ( 161 ) 및 복수 의 추가 연결 배선 ( 162 ) 은 최 상측 스테이지 ( STGF ) 로부터 출력 된 게이트 신호 를 전달 하 는 연결 배선 ( 140 ) 에 전기 적 으로 연결 될 수 있 다 . 그리고 복수 의 검사 패턴 ( 161 ) 및 복수 의 추가 연결 배선 ( 162 ) 은 최 상측 스테이지 ( STGF ) 로부터 게이트 신호 를 복수 의 플렉서블 필름 ( 170 ) 및 인쇄 회로 기판 ( 180 ) 측 으로 전달 할 수 있 고 , 게이트 구동 부 ( 150 ) 의 불량 을 검출 할 수 있 다 .