물품 에 전자파 를 투과 시킴 으로써 얻 어 진 투과 화상 에 대해 , 화상 처리 알고리즘 을 사용 한 화상 처리 를 실시 하 여 처리 화상 을 생성 하 고 , 이 처리 화상 에 기초 하 여 물품 의 검사 를 행하 는 검사 장치 가 알려져 있 다 . 이 와 같 은 검사 장치 에서 는 , 복수 의 화상 처리 알고리즘 이 기억 부 에 미리 기억 되 어 있 고 , 기억 된 복수 의 화상 처리 알고리즘 중 에서 검사 시 의 화상 처리 에 사용 되 는 최적 의 화상 처리 알고리즘 이 선택 되 어 설정 된다 .