일반 적 으로 반도체 메모리 장치 에서 는 , 메모리 칩 ( Memory Chip ) 을 생산 하 여 셀 ( cell ) 의 우량 / 불량 ( pass / fail ) 여부 를 가리 고자 할 때 1 개 의 셀 씩 테스트 를 할 경우 , 고집 적 화 된 메모리 장치 의 테스트 시간 은 오래 걸릴 뿐 만 아니 라 비용 ( cost ) 의 증가 를 가져오 게 된다 .