도 16 의 시뮬레이션 결과 가시 화 테이블 에서 는 , ( 공정 Pi , 시각 Ta ) 의 셀 에서 발생 한 생산 지표 변동 이 후속 하 는 공정 으로 전파 되 고 있 는 모습 이 나타내 어 져 있 다 . 본원 발명자 에 의한 제조 라인 실적 정보 의 해석 에 따르 면 , 임의 의 공정 에서 발생 된 생산 지표 변동 이 후속 하 는 공정 으로 보다 더 전파 하 는 현상 을 확인 할 수 있 는 만큼 , 제조 라인 의 생산 능력 저하 에 보다 큰 영향 을 미치 는 것 이 발견 되 었 다 . 그 때문 에 , 보 틀 네 크 장치 를 특정 하 는 척도 로서 , 생산 변동 을 발생 시킨 공정 ( 장치 ) 에서 , 그 영향 을 받 는 가장 하류 의 공정 ( 장치 ) 까지 의 공정 길이 를 생산 변동 전파 길이 로서 측정 하 는 처리 를 채용 한다 .