도 1 은 본 발명 의 실시 예 를 구현 하 기 위한 플랫 폼 으로서 사용 될 수 있 는 예시 적 인 전자 테스트 시스템 ( 100 ) 의 예시 적 인 블록 도 를 도시 한다 . 시스템 ( 100 ) 은 또한 자동 화 테스트 장비 또는 자동 화 테스트 환경 ( ATE ) 으로 알려져 있 거나 지칭 될 수 있 다 . 일 실시 예 에서 , ATE 장치 ( 100 ) 는 다수 의 DUT 를 동시 에 테스트 할 수 있 는 임의 의 테스트 시스템 내 에 구현 될 수 있 다 . 테스트 될 장치 는 예 를 들 어 집 적 회로 , 무수히 많 은 집 적 회로 및 다른 전자 부품 을 포함 하 는 회로 보드 , " 회전 하 는 자기 미디어 장치 ( "" 하드 디스크 드라이브 "")"," 솔리드 스테이트 드라이브 ( "" SSD "") 등 을 포함 할 수 있 다 . "