도 2 의 ( a ) 에서 , 검사 용 TFT ( 110 ) 의 더욱 하측 에 는 , 배선 의 쇼트 등 을 검사 하 기 위한 신호 를 공급 하 기 위한 검사 용 배선 ( 150 ) 이 횡 방향 으로 연장 되 어 있 다 . 검사 용 배선 ( 150 ) 은 게이트 메탈 ( 50 ) 에 의해 형성 되 어 있 다 . 또한 , 게이트 메탈 ( 50 ) 로 형성 된 검사 용 배선 ( 150 ) 과 SD 메탈 ( 60 ) 로 형성 된 검사 용 TFT ( 110 ) 의 소스 / 드레 인 전극 ( 113 ) 사이 의 전환 은 , 제 1 부분 ( 11 ) 이나 전환 단자 ( 20 ) 와 마찬가지 의 구조 로 행해진다 . 4 개 의 검사 용 배선 ( 150 ) 이 횡 방향 으로 연장 되 어 있 다 . 따라서 , 4 계통 의 배선 의 쇼트 등 을 검사 할 수 있 다 . 본 실시 예 에서 는 , 단자 ( 10 ) 용 배선 으로서 , 게이트 메탈 ( 50 ) 과 SD 메탈 ( 60 ) 의 2 층 배선 을 사용 하 고 있 으므로 , 동일 층 간 의 배선 과 서로 다른 층간 의 배선 의 체크 를 할 필요 가 있 기 때문 이 다 . 도 2 의 ( b ) 는 이 모습 을 도시 한다 . 도 2 의 ( b ) 에서 , 단자 배선 k - m 간 및 단자 배선 l - n 간 에서 , 동일 층 간 의 체크 를 행하 고 , 단자 배선 k - l 간 및 단자 배선 l - m 간 및 단자 배선 m - n 간 에서 다른 층간 의 체크 를 행한다 . 전체 배선 은 이 반복 에 의해 전체 배선 의 체크 를 행할 수 있 다 . 따라서 , 검사 용 배선 ( 150 ) 은 4 개 존재 하 면 , 모든 단자 배선 의 쇼트 등 을 체크 할 수 있 다 .