이 에 , 본 발명 은 상기 한 사정 을 감안 하 여 창출 된 것 으로서 , 본 발명 의 목적 은 컴퓨터 시스템 생산 시 테스트 공정 및 그 결과 를 시료 에 기록 하 고 , 이 를 다음 공정 에 활용 하 여 불 필요 한 공정 의 반복 또는 테스트 없이 출하 되 는 것 을 방비 할 수 있 는 컴퓨터 시스템 을 테스트 하 는 개선 된 방법 을 제공 하 는 것 이 다