도 1 은 여러 가지 실시 예 에 따른 예시 적 인 터치 및 호 버 감지 장치 를 도시 한 것 이 다 . 상징 적 으로 묘사 된 도 1 의 예 에서 , 터치 및 호 버 감지 장치 ( 100 ) 는 터치 객체 및 / 또는 호 버 객체 를 감지 하 는 센서 를 구성 하 도록 서로 교차 할 수 있 는 수평선 ( 101 ) 과 수직선 ( 102 ) 어레이 를 가진 센서 패널 ( 111 ) 을 포함 할 수 있 다 . 또는 , 수평선 ( 101 ) 과 수직선 ( 102 ) 은 전기 적 으로 직접 적 으로 접촉 하 지 않 고 동일 층 에서 서로 간 에 가까이 배치 되 어 센서 를 구성 할 수 있 다 . 장치 ( 100 ) 의 필요 에 따라서 는 상기 선 들 ( 101 , 102 ) 의 다른 비 직교 적 배치 도 이용 될 수 있 다 . 수평선 ( 101 ) 과 수직선 ( 102 ) 은 도전 재 , 예컨대 인듐 주석 산화물 ( ITO ) 로 이루어진 도전 성 트레이스 일 수 있 다 . 이 도전 재 는 장치 ( 100 ) 의 필요 에 따라서 , 투명 , 반투명 또는 불 투명 일 수 있 다 . 터치 및 호 버 감지 장치 ( 100 ) 는 수평선 ( 101 ) 및 / 또는 수직선 ( 102 ) 에 전기 신호 , 예컨대 AC 신호 가 인가 된 상태 에서 센서 패널 ( 111 ) 을 구동 할 수 있 는 터치 및 호 버 제 어 시스템 ( 107 ) 을 포함 할 수 도 있 다 . 센서 패널 ( 111 ) 에 전송 된 AC 신호 는 이 센서 패널 로부터 나오 는 전기장 을 만들 어 낼 수 있 으며 , 이 전기장 을 이용 하 여 그 패널 위 에서 호 버 하 거나 이 에 터치 하 는 객체 를 감지 할 수 있 다 . 그러면 , 터치 및 호 버 제 어 시스템 ( 107 ) 은 수평선 ( 101 ) 및 / 또는 수직선 ( 102 ) 상 의 호 버 또는 터치 하 는 객체 에 의해 의해 생긴 용량 변화 를 측정 하 여 그 센서 패널 ( 111 ) 에서 의 호 버 이벤트 또는 터치 이벤트 를 검출 할 수 있 다 .