몇몇 실시 양태 에서 , 본원 에 기재 된 방법 은 XRD 분석 을 위해 간섭 성분 ( 예 를 들 어 , 락 토 즈 또는 수 크로즈 ) 을 실질 적 으로 함유 하 지 않 는 최종 조성물 을 제조 하 는 것 을 포함 한다 . 몇몇 실시 양태 에서 , 최종 조성물 은 XRD 측정 을 위해 분쇄 되 거나 , 정제 또는 펠 렛 으로 압착 된다 . 몇몇 실시 양태 에서 , 최종 조성물 의 분석 은 필립스 엑스 퍼트 ( Phillips X - Pert ) PW 3040 - MPD 회절계 를 이용 하 여 수행 한다 . 몇몇 실시 양태 에서 , 최종 조성물 의 분석 은 GADDS 를 구비 한 브루커 디 8 디스 커버 ( Bruker D 8 Discover ) X - 선 회절계 를 이용 하 여 수행 한다 .