30 ° 내지 95 ° 의 회절 각 ( 2 θ ) 범위 에서 X 선 회절 법 ( XRD ) [ ( i ) Target : Copper K alpha 1 , ( ii ) 2 θ interval : 0 . 01 °, ( iii ) 2 θ scan speed : 3 °/ min ] 을 실시 함 으로써 , n 개 의 결정면 들 에 대응 하 는 피크 들 을 갖 는 XRD 그래프 를 얻 었 고 , 이 그래프 로부터 각 결정면 ( hkl ) 의 XRD 회절 강도 [ I ( hkl ) ] 를 구하 였 다 . 또한 , JCPDS ( Joint Committee on Powder Diffraction Standards ) 에 의해 규정 된 표준 구리 분말 의 n 개 의 결정면 들 각각 에 대한 XRD 회절 강도 [ I 0 ( hkl ) ] 를 구하 였 다 . 이어서 , n 개 의 결정면 들 의 I ( hkl ) / I 0 ( hkl ) 의 산술 평균값 을 구한 후 구해진 산술 평균값 으로 ( 220 ) 면의 I ( 220 ) / I 0 ( 220 ) 을 나눔 으로써 동박 의 ( 220 ) 면 의 집합 조직 계수 [ TC ( 220 ) ] 를 산출 하 였 다 . ( 220 ) 면 의 집합 조직 계수 [ TC ( 220 ) ] 는 다음 의 식 4 에 기초 하 여 산출 되 었 다 .