터치 검출 동작 이 행하 여 지 는 터치 검출 동작 기간 ( Pt ) ( 수직 블 랭킹 기간 ) 에서 는 , 액정 표시 부 ( 20 ) 에 는 , 표시 동작 을 행하 기 위한 각종 신호 ( 주사 신호 ( Vscan ) 및 화소 신호 ( Vpix ) ) 는 인가 되 지 않 는다 . 따라서 , 터치 검출 동작 기간 ( Pt ) 에서 는 , 도 5 에서 , 화소 기판 ( 2 ) 에 형성 된 도시 하 지 않 은 주사 신호선 ( GCL ) 및 화소 신호선 ( SGL ) 은 , 플로팅 상태 또는 직류 전위 가 인가 된 상태 가 된다 . 이 에 의해 , 주사 신호선 ( GCL ) 및 화소 신호선 ( SGL ) 으로부터 터치 검출 전극 ( TDL ) 에 , 기생 용량 을 통하 여 노이즈 가 전해질 가능 성 을 낮 게 할 수 있 다 . 즉 , 터치 검출 기능 을 갖 는 표시 장치 ( 1 ) 에서 는 , 내부 노이즈 가 터치 검출 동작 에 주 는 영향 을 낮출 수 있 다 .