본 발명 은 테스트 핸들러 의 매치 플레이트 용 푸 셔 에 관한 것 으로 , 본 발명 에 따른 테스트 핸들러 의 매치 플레이트 용 푸 셔 는 , 설치 판 에 고정 되 는 바디 부 ; 및 상기 바디 부 의 전면 에서 돌출 됨 으로써 테스트 트레이 의 인서 트 에 안착 된 반도체 소자 를 가압 할 수 있 도록 마련 되 는 푸싱 부 ; 를 포함 하 고 , 상기 바디 부 의 후면 에서 상기 푸싱 부 의 전면 으로 관통 되 어 덕트 로부터 상기 바디 부 의 후면 으로 제공 되 는 소정 온도 의 공기 가 상기 푸싱 부 의 전면 에 있 는 상기 테스트 트레이 의 인서 트 에 안착 된 반도체 소자 로 공급 되 도록 유도 하 는 공기 관통 홀 이 형성 되 어 있 으며 , 상기 푸싱 부 의 적어도 일 측면 으로 는 상기 공기 관통 홀 과 연통 됨 으로써 상기 덕트 로부터 상기 공기 관통 홀 을 통해 공급 되 는 공기 의 일부 가 테스트 사이트 상 으로 유출 될 수 있 도록 하 는 공기 유출공 이 형성 됨 으로써 테스트 사이트 상 에 있 는 반도체 소자 들 의 온도 편차 를 줄일 수 있 는 효과 가 있 다 .