기준 지점 A 와 그 주변 지점 B 의 명도 또는 채도 가 다른 경우 , 진폐 판 단부 ( 37 ) 는 지폐 인식 장치 ( 30 ) 로 입력 되 는 지폐 를 위조 또는 변조 된 것 으로 판단 할 수 있 다 . 그러나 이 경우 , 보다 명확 한 인증 을 위하 여 상술 한 바 와 같 은 복수 의 명도 또는 채 도 값 비교 에 대하 여 명도 또는 채 도 값 이 다른 경우 의 개수 가 일정 한 수 이상 인 경우 , 비 교부 ( 35 ) 는 기준 지점 A 로부터 주변 지점 B 의 방향 으로 확장 된 거리 의 2 차 주변 지점 C 와 기준 지점 A 의 명도 또는 채도 를 다시 비교 하 도록 구현 될 수 있 다 ( S 311 ) .