본 발명 은 초 분광 영상 의 라인 스캔 을 이용 하 는 방식 으로서 , 초 분광 형광 반응 에 의한 영상 을 활용 함 으로써 채소 류 와 이 물질 간 의 스펙트럼 파장 에 대한 차이 를 이용 하 여 가공 식품 공정 시 각종 가공 채소 류 로부터 다양 하 게 묻 어 나오 는 플라스틱 등 의 이 물질 을 용이 하 게 검출 할 수 있 고 , 특히 다양 한 플라스틱 등 의 이 물질 을 최적 으로 검출 할 수 있 는 파장 대역 을 선정 하 여 이용 함 으로써 선별 정확도 를 크 게 높일 수 있 으면서 이 물질 검출 에 따른 효율 성 및 신뢰 성 을 높일 수 있 는 유용 한 효과 를 달성 할 수 있 다 .