본 발명 은 상기 한 바 와 같 은 종래 기술 의 문제점 을 해결 하 기 위하 여 안출 된 것 으로 , 본 발명 의 목적 은 자동 화 시험 장비 시스템 상 에서 계측기 를 이용 한 시험대 상체 에 대한 시험 항목 및 시험 절차 의 제어 를 DTI ( Detail Test Information ) 양식 을 기반 으로 처리 할 수 있 어 , 소프트웨어 개발 언어 에 대한 비 전문 인력 도 용이 하 게 시험 절차 를 개발 할 수 있 고 , 운용 할 수 있 는 자동 화 시험 장비 의 운용 시스템 을 제공 하 는 것 이 다 .