결과 적 으로 , 한편 으로 는 본 발명 의 프로브 카드 는 고주파 전자 디바이스 의 검사 를 가능 하 게 하 고 , 다른 한편 으로 는 콘 탭 팁 들 및 / 또는 피검 디바이스 의 콘 택 패드 들 의 파손 을 방지 할 수 있 어서 , 본 발명 의 기술 적 문제 를 해결 할 수 있 다 . 그러므로 , 본 발명 의 프로브 카드 는 웨이퍼 로 구성 되 거나 , 웨이퍼 및 피검 디바이스 로 구성 된 부재 들 의 평면 성 문제 의 경우 에 도 올바르 게 작동 한다 .