한편 , 상기 와 같 은 본 발명 의 목적 은 외관 을 형성 하 는 하우징 , 상기 하우징 에 구비 되 며 , 테스트 대상 인 복수 개 의 반도체 부품 이 장착 되 는 테스트 트레이 가 착 탈 가능 하 게 연결 되 는 복수 개 의 번인 보드 ( Burn - In Board ) 가 수납 되 는 번인 보드 랙 유닛 ( Burn - In Board Rack Unit ) , 상기 번 인보드 랙 유닛 을 수용 하 는 번인 보드 랙 수 용부 , 상기 번 인보드 랙 수 용부 의 온도 및 압력 을 조절 하 는 조 절부 , 및 상기 번 인보드 랙 수 용부 내부 의 열 이 외부 로 방출 되 는 것 을 방지 하 며 , 상기 번 인보드 에 착 탈 가능 하 게 장착 되 는 테스트 트레이 가 관통 하 는 복수 개 의 트레이 개구부 가 형성 된 열 방출 방지 플레이트 를 구비 하 는 것 을 특징 으로 하 는 반도체 검사 장치 에 의해 달성 될 수 있 다 .