도 8 a 를 참조 하 여 예 를 들 면 , 나쁜 특징 점 제 거부 ( 38 ) 는 초음파 프로브 센서 ( 30 ) 로부터 얻 어 진 환자 의 초음파 이미지 ( 22 ) 를 엣지 성분 을 검출 하 고 , " 특징 점 검 출부 ( 32 ) 에 의해 환자 의 초음파 이미 지상 에서 얻 어 진 특징 점 들 이 중첩 되 어 표시 된 초음파 이미지 ( 130 ) 에 대해 나쁜 특징 점 제거 를 수행 할 수 있 다 . 나쁜 특징 점 제 거부 ( 38 ) 는 초음파 이미지 ( 130 ) 에 표시 된 특징 점 들 중 엣지 성분 영역 외 의 특징 점 들 을 나쁜 특징 점 ( "" Δ "" 로 표기 ) 으로 간주 하 여 상기 초음파 이미지 ( 130 ) 에 표시 된 특징 점 들 로부터 나쁜 특징 점 들 ( bad key points ) 을 제거 하 여 "," 맞출 특징 점 들 을 얻 을 수 있 다 . 도면 부호 132 b 는 소정 의 나쁜 특징 점 들 ( bad key points ) 을 제거 하 여 얻 은 맞출 특징 점 ( "" x "" 로 표기 ) 들 을 초음파 이미 지상 에 중첩 하 여 표시 한 일 예 를 나타낸다 . "