도 1 을 참조 하 면 , 본 발명 에 따른 테스트 시스템 은 테스트 의 대상 이 되 는 CMOS 이미지 센서 ( 1000 ) 와 , CMOS 이미지 센서 ( 1000 ) 를 테스트 하 는 테스터 ( 5000 ) 를 포함 한다 . 이미지 센서 ( 1000 ) 는 영상 감지 부 ( CIS ; 1100 ) 와 영상 처 리부 ( ISP ; 1500 ) 로 구성 된다 . 테스터 ( 5000 ) 는 CMOS 이미지 센서 ( 1000 ) 에 구비 된 패드 ( 90 ) 를 통해 바이어스 전압 ( BIAS ) 을 제공 한다 . 아래 에서 상세히 설명 되 겠 지만 , 바이어스 전압 ( BIAS ) 은 화소 로부터 취득 된 화소 전압 을 코드 화 하 는 아날로그 - 디지털 변환기 블록 으로 제공 된다 . 이때 , 바이어스 전압 ( BIAS ) 은 빛 에 의해 발생 된 화소 전압 과 같 은 역할 을 수행 하 며 , 바이어스 전압 ( BIAS ) 의 레벨 은 다양 하 게 조절 된다 . CMOS 이미지 센서 ( 1000 ) 에 포함 된 각 기능 블록 들 ( 예 를 들 면 , 램프 신호 발생기 , 아날로그 디지털 변환기 블록 등 ) 은 센서 어레이 ( 10 ) 에 포함 된 모든 화소 들 의 오차 를 배제 한 상태 에서 오로지 바이어스 전압 ( BIAS ) 에 의해 테스트 될 수 있 다 . 따라서 , CMOS 이미지 센서 ( 1000 ) 의 동작 특성 을 정확 하 게 분석 할 수 있 게 된다 .