상기 실시 예 에 따른 나노 흡착제 의 Powder X Ray Diffraction ( PXRD ) 패턴 을 비교 분석 하 기 위하 여 , 0 내지 80 ° 의 2 θ 범위 에서 Cu - K α 방사 조건 에서 Ultima IV diffractometer ( RIGAKU , D / Max - 2500 ) 시스템 을 이용 하 여 PXRD 분석 시험 을 실시 하 였 다 .