상기 제 2 간섭 제거 회로 ( 22 ) 는 상기 제 1 내지 제 4 가중치 적용 신호 ( W 1 , W 2 , W 3 , W 4 ) , 상기 제 1 내지 제 4 샘플링 출력 신호 ( DQ _ I , DQ _ IB , DQ _ Q , DQ _ QB ) 및 상기 내부 입력 신호 ( DQ _ int ) 에 응답 하 여 상기 제 2 샘플링 회로 ( 32 ) 의 샘플링 시점 에 동기 된 제 1 내지 제 4 포스트 커서 ( 1 st post cursor , 2 nd post cursor , 3 rd post cursor , 4 th post cursor ) 성분 을 제거 한 제 2 간섭 제거 신호 ( S _ icB ) 를 생성 할 수 있 다 . 이때 , 상기 제 2 간섭 제거 회로 ( 22 ) 는 상기 제 2 샘플링 회로 ( 32 ) 의 샘플링 시점 을 기준 으로 즉 , 상기 제 2 샘플링 출력 신호 ( DQ _ IB ) 를 기준 으로 90 도 위상차 를 갖 는 상기 제 1 샘플링 출력 신호 ( DQ _ I ) , 및 상기 제 3 및 제 4 샘플링 출력 신호 ( DQ _ Q , DQ _ QB ) 를 이용 하 여 상기 내부 입력 신호 ( DQ _ int ) 의 제 1 내지 제 4 포스트 커서 ( 1 st post cursor , 2 nd post cursor , 3 rd post cursor , 4 th post cursor ) 을 제거 하 고 상기 제 2 간섭 제거 신호 ( S _ icB ) 를 생성 할 수 있 다 . 예 를 들 어 , 상기 제 2 간섭 제거 회로 ( 22 ) 는 상기 내부 입력 신호 ( DQ _ int ) , 상기 제 1 가중치 적용 신호 ( W 1 ) 및 상기 제 3 샘플링 출력 신호 ( DQ _ Q ) 에 응답 하 여 상기 제 2 샘플링 회로 ( 32 ) 의 샘플링 타이밍 에 따른 제 1 포스트 커서 ( 1 st post cursor ) 성분 을 제거 할 수 있 다 . 상기 제 2 간섭 제거 회로 ( 22 ) 는 상기 내부 입력 신호 ( DQ _ int ) , 상기 제 2 가중치 적용 신호 ( W 2 ) 및 상기 제 1 샘플링 출력 신호 ( DQ _ I ) 에 응답 하 여 상기 제 2 샘플링 회로 ( 32 ) 의 샘플링 타이밍 에 따른 제 2 포스트 커서 ( 2 nd post cursor ) 성분 을 제거 할 수 있 다 . 상기 제 2 간섭 제거 회로 ( 22 ) 는 상기 내부 입력 신호 ( DQ _ int ) , 상기 제 3 가중치 적용 신호 ( W 3 ) 및 상기 제 4 샘플링 출력 신호 ( DQ _ QB ) 에 응답 하 여 상기 제 2 샘플링 회로 ( 32 ) 의 샘플링 타이밍 에 따른 제 3 포스트 커서 ( 3 rd post cursor ) 성분 을 제거 할 수 있 다 . 상기 제 2 간섭 제거 회로 ( 22 ) 는 상기 내부 입력 신호 ( DQ _ int ) , 상기 제 4 가중치 적용 신호 ( W 4 ) 및 상기 제 2 샘플링 출력 신호 ( DQ _ IB ) 에 응답 하 여 상기 제 2 샘플링 회로 ( 32 ) 의 샘플링 타이밍 에 따른 제 4 포스트 커서 ( 4 th post cursor ) 성분 을 제거 할 수 있 다 . 이 와 같이 , 상기 제 2 간섭 제거 회로 ( 22 ) 는 상기 제 1 내지 제 4 포스트 커서 성분 ( 1 st post cursor , 2 nd post cursor , 3 rd post cursor , 4 th post cursor ) 을 제거 한 상기 제 2 간섭 제거 신호 ( S _ icB ) 를 생성 할 수 있 다 .