테스트 랏 스택 커 ( 111 ) 에 는 신규 테스트 되 어야 할 반도체 소자 가 적재 된 고객 트레이 ( CT ) 가 수납 적재 된다 . 일반 적 으로 핸들러 ( 100 ) 에 의해 테스트 되 는 반도체 소자 는 1 랏 ( lot ) 물량 으로 동일 한 환경 조건 에서 테스트 된다 . 따라서 1 랏 의 반도체 소자 들 은 여러 장 의 고객 트레이 에 나뉘 어 적재 되 고 , 여러 장 의 고객 트레이 는 테스트 랏 스택 커 ( 111 ) 에 함께 적재 된다 . 그리고 테스트 랏 스택 커 ( 111 ) 에 적재 된 고객 트레이 ( CT ) 는 한 장 씩 인출 위치 ( WP ) 로 이동 ( 화살표 a 참조 ) 된다 . 여기 서 인출 위치 ( WP ) 는 테스트 되 어야 할 반도체 소자 들 이 고객 트레이 ( CT ) 로부터 인출 되 는 위치 이 다 .