도 1 을 참조 하 면 , 전기 검사 장치 ( 100 ) 는 프로브 카드 등 으로 통칭 할 수 있 는 것 으로써 , 제 1 기판 ( 10 ) , 제 2 기판 ( 16 ) , 연결부 ( 25 ) , 거리 유지 부 ( 18 ) , 제 1 기판 ( 10 ) 과 제 2 기판 ( 16 ) 을 결합 지지 하 는 결합 부 ( 20 ) 등 을 포함 한다 . 아울러 , 도시 하 지 는 않 았 지만 , 본 발명 의 일 실시 예 에 따른 전기 검사 장치 ( 100 ) 는 제 1 기판 ( 10 ) 과 제 2 기판 ( 16 ) 사이 에 평탄 도 를 조절 하 는 평탄 도 조 절부 , 제 1 기판 ( 10 ) 과 제 2 기판 ( 16 ) 을 구조 적 으로 보강 하 는 보강 부 등 을 더 포함 하 기 도 한다 .