여기 에서 , 복수 의 메모리 뱅크 ( 502 ) 를 가지 는 피 시험 메모리 ( 500 ) 의 시험 에서 , 복수 의 매치 검 출부 ( 16 ) 의 각각 은 , 피 시험 메모리 ( 500 ) 의 스테이 터스 출력 단자 ( 504 ) 로부터 메모리 뱅크 ( 502 ) 마다 상이 한 사이클 에 출력 되 는 각각 의 커맨드 의 처리 상태 를 나타내 는 스테이 터스 신호 가운데 할 당부 ( 20 ) 에 의해 할당 할 수 있 는 대응 하 는 메모리 뱅크 ( 502 ) 의 스테이 터스 신호 를 수취 하 여 매치 신호 를 출력 한다 . 제 1 매치 검 출부 ( 16 - 1 ) 는 , 일례 로서 , 제 1 사이클 에서 출력 되 는 스테이 터스 신호 를 수취 하 고 제 1 사이클 에서 수취 한 스테이 터스 신호 가 레디 상태 로 됨 에 따라 매치 신호 를 출력 한다 . 또한 , 제 2 매치 검 출부 ( 16 - 2 ) 는 , 일례 로서 , 제 2 사이클 에서 출력 되 는 스테이 터스 신호 를 수취 하 고 제 2 사이클 에서 수취 한 스테이 터스 신호 가 레디 상태 로 됨 에 따라 매치 신호 를 출력 한다 .