본 발명 의 방법 은 본 발명 의 작용 물질 이 표적 구조 를 표지 했 는지 여부 를 판단 하 는 것 을 목표 로 하 는 추가 의 단계 를 포함 할 수 있 다 . 상기 추가 단계 는 양전자 방출 단층 촬영 술 ( PET ) 또는 단일 광자 방출 전산 화 단층 촬영 술 ( SPECT ) , 또는 방사성 복사선 의 검출 이 가능 한 임의 의 장치 를 이용 하 여 표적 구조 를 관찰 함 으로써 수행 될 수 있 다 .