즉 , 제 2 실시 예 에 따른 디 펙 검사 장치 는 제 1 실시 예 에 따른 디 펙 검사 장치 의 서멀 아 스펠리 티 디 펙 을 판정 하 는 부분 과 신호 레벨 디 펙 을 판정 하 는 부분 은 동일 하 다 . 다만 , 제 2 실시 예 에 따른 디 펙 검사 장치 는 제 1 실시 예 에 따른 디 펙 검사 장치 에 비하 여 마이크 로 디 펙 을 판정 하 는 부분 이 상이 하 다 .