도 3 내지 5 를 참조 하 여 , 본 고안 , 회로 기판 을 검출 하 기 위한 테스트 프로브 장치 는 복수 의 리드 와이어 ( 1 ) , 테스트 프로브 ( 2 ) 및 압축 스프링 ( 3 ) , 기판 ( 4 ) , 테스트 프로브 시트 ( 5 ) , 탄 성천 ( 6 ) , 그리고 상부 위치 판 ( 7 ) 및 하부 위치 판 ( 7 ') 으로 구성 된다 . 테스트 프로브 시트 ( 5 ) 는 하부 위치 판 ( 7 ') 및 기판 ( 4 ) 사이 에 끼 어 있 다 . 탄 성천 ( 6 ) 은 테스트 프로브 시트 ( 5 ) 상 에 덮여 있 고 , 상부 위치 판 은 테스트 프로 브 시트 ( 7 ) 위 에 설치 된다 . 테스트 프로브 시트 ( 5 ) 상 에 , 기판 ( 4 ) , 탄 성천 ( 6 ) 및 위치 판 ( 7 , 7 ') 은 각각 복수 의 프로브 홀 ( 51 ) , 리드 와이어 홀 ( 41 ) , 및 회로 기판 ( 9 ) 상 에 테스트 지점 들 의 위치 에 따라 배열 되 는 위치 홀 ( 61 , 71 , 71 ') 을 각각 가진다 .