본 발명 의 또 다른 구 현예 는 입자 분석기 에서 입자 를 분석 하 기 위한 방법 을 포함 한다 . 본 방법 은 바람직 하 게 흐름 스트림 에서 입자 를 흐르 게 하 는 단계 , 상기 흐름 스트림 에 방사 의 음향 방사 압력 을 적용 하 는 단계 , 상기 흐름 스트림 에서 비 - 축 대칭 입자 를 음향 적 으로 배향 하 는 단계 , 상기 입자 를 호출 지점 을 통해 전송 하 는 단계 , 및 입자 를 분석 하 는 단계 를 포함 한다 . 본 구 현예 는 또한 흐름 스트림 에 입자 를 음향 필드 또는 유체 역학 적 힘 으로 정렬 하 는 것 을 포함 할 수 있 다 . 본 방법 은 또한 흐름 스트림 에서 입자 들 을 집중 화 하 는 것 을 포함 한다 .