도 4 의 ( a ) 에서 , 검사 용 TFT ( 110 ) 의 하측 에 는 , 검사 용 배선 ( 150 ) 이 게이트 메탈 ( 50 ) 에 의해 형성 되 어 있 다 . 본 실시 예 에서 는 , 검사 용 배선 ( 150 ) 은 2 개 연장 되 어 있 다 . 본 실시 예 는 , 단자 배선 은 단자 부 에서 의 게이트 메탈 ( 50 ) 로부터 SD 메탈 ( 60 ) 로 의 전환 부분 을 제외 하 고는 , 모두 동일 층 에 형성 되 므로 , 2 계통 의 검사 로 모든 단자 배선 의 쇼트 를 검사 할 수 있 다 .