본 발명 의 시험 장치 를 사용 하 지 않 은 기존 방법 은 도 7 에 도시 된 바 와 같이 실리콘 고무 의 신율 변화 율 이 불 규칙 함 ( 160 ℃, 168 시간 ) 을 확인 할 수 있 었 고 , 반면 에 본 발명 의 시험 장치 를 이용 하 여 실험 을 하 였을 때 에 는 도 7 의 아래쪽 그래프 에서 보 는 바 와 같이 실리콘 고무 의 인장 강도 , 신율 변화 에서 온도 와 시간 에 따른 규칙 성 을 보이 고 있 음 을 알 수 있 었 다 .