추론 과정 에서 도 분류 대상 이미지 를 전처리 할 수 있 다 . 전처리 를 통해 분류 대상 이미지 에 대한 오프닝 연산 을 수행 할 수 있 다 . 분류 대상 이미지 에 대한 오프닝 연산 을 통해 , 노이즈 가 없 는 좋 은 후보 패치 들 을 추출 할 수 있 다 . 오프닝 된 분류 대상 이미지 에 포함 된 검정 색 픽셀 은 원본 분류 대상 이미지 에서 의 결함 에 대응 되 는 픽셀 일 수 있 다 . 오프닝 된 분류 대상 이미지 에 포함 된 흰색 픽셀 은 원본 분류 대상 이미지 에서 의 배경 에 대응 되 는 픽셀 일 수 있 다 . 따라서 , 분류 대상 이미지 에 대한 전처리 를 수행 하 는 경우 , 분류 대상 이미지 에 포함 된 모든 패치 들 에 대해서 뉴 럴 네트워크 모델 이 연산 을 수행 할 필요 가 없 다 . 전처리 된 분류 대상 이미지 에서 , 흰색 픽셀 을 포함 하 는 일부 패치 들 을 선별 하 여 , 뉴 럴 네트워크 모델 이 결함 이 포함 되 어 있 는지 여부 를 연산 함 으로써 , 분류 대상 이미지 의 추론 시간 을 단축 시킬 수 있 다 .