본 발명 은 가공 식품 처리 되 는 각종 채소 류 로부터 플라스틱 등 을 포함 하 는 각종 이물질 을 비 파괴 적 인 방식 으로 신속 하 게 검출 해낼 수 있 도록 하 며 , 이러 한 이 물질 검출 을 자동 화 작업 으로 처리 할 수 있 도록 한 다 분광 형광 영상 을 이용 한 가공 채소 류 측 이 물질 검출 시스템 및 검출 방법 을 제공 하 는데 그 목적 이 있 다 .