도 18 에 도시 된 예 에서 , 각각 의 래 크 ( 300 ) 는 하나 이상 의 테스트 슬롯 ( 310 ) 과 소통 하 는 하나 이상 의 자 가 테스트 시스템 ( 600 ) 을 포함 한다 . 자 가 테스트 시스템 ( 600 ) 은 클러스터 제어기 ( 610 ) , 테스트 슬롯 ( 310 ) 에 수용 된 디스크 드라이브 ( 500 ) 와 전기 소통 하 는 연결 인터페이스 회로 ( 620 ) 및 연결 인터페이스 회로 ( 620 ) 와 전기 소통 하 는 차단 인터페이스 회로 ( 630 ) 를 포함 한다 . 클러스터 제어기 ( 610 ) 는 디스크 드라이브 ( 500 ) 의 기능 테스트 및 / 또는 테스트 슬롯 ( 310 ) 의 다수 의 자 가 테스트 와 같 은 하나 이상 의 테스트 프로그램 을 실행 시키 도록 구성 될 수 있 다 . 연결 인터페이스 회로 ( 620 ) 및 차단 인터페이스 회로 ( 630 ) 는 자 가 테스트 를 하 도록 구성 될 수 있 다 . 그러나 , 몇몇 예 에서 , 자 가 테스트 시스템 ( 600 ) 은 디스크 드라이브 테스트 시스템 ( 100 ) 의 하나 이상 의 구성 요소 상 의 자 가 테스트 루틴 ( routine ) 을 제어 하 고 수행 하 도록 구성 된 자 가 테스트 회로 ( 660 ) 를 포함 한다 . 예 를 들 어 , 자 가 테스트 회로 ( 660 ) 는 디스크 드라이브 테스트 시스템 ( 100 ) 의 하나 이상 의 구성 요소 의 ' 디스크 드라이브 ' 타입 및 / 또는 ' 테스트 슬롯 만 ' 타입 자 가 테스트 를 수행 하 도록 구성 될 수 있 다 . 클러스터 제어기 ( 610 ) 는 범용 비동기 화 송 / 수신기 ( UART , universal asynchronous receiver / transmitter ) 직렬 링크 를 통해 디스크 드라이브 ( 500 ) 및 연결 인터페이스 회로 ( 620 ) 상 으로 그리고 차단 인터페이스 회로 ( 630 ) 와 소통 할 수 있 는 이더넷 ( Ethernet ) ( 예 를 들 면 , 기 가 비트 이더넷 ) 을 통해 자 가 테스트 회로 ( 640 ) 와 소통 할 수 있 다 . UART 는 일반 적 으로 컴퓨터 또는 주변 장치 의 직렬 포트 에 대한 직렬 소통 을 위해 사용 되 는 개별 적 인 ( 또는 일부분 ) 집 적 회로 이 다 . 차단 인터페이스 회로 ( 630 ) 는 테스트 슬롯 ( 310 ) 의 온도 및 전력 을 제어 하 도록 구성 되 며 , 다수 의 테스트 슬롯 ( 310 ) 및 / 또는 디스크 드라이브 ( 500 ) 를 제어 할 수 있 다 .