결과 적 으로 , 제 2 측정 동안 - 1 차 회절 빔 ( B -) 으로부터 생성 된 복합 격자 ( 110 , 120 ) 의 이미지 가 이미지 검출기 ( ID ) 상 에 투영 된다 . 이미지 검출기 ( ID ) 상 에 기록 된 복합 격자 ( 110 , 120 ) 의 이미지 로부터 , 세기 ( I -) 가 결정 될 수 있 다 . 또한 , 세기 의 측정 이 수행 되 어야 하 는 CCD 상 의 영역 을 식별 하 는 데 패턴 인식 기술 이 이용 될 수 있 다 .