도 18 의 단계 S 17 에서 , B 스캔 처리 모듈 ( 118 ) 은 연결 된 B 스캔 층 의 적어도 하나 의 시퀀스 각각 의 B 스캔 각각 에 대해 , B 스캔 층 을 형성 하 는 A 스캔 의 섹션 을 A 스캔 의 섹션 내 의 A 스캔 요소 의 평균 의 대응 하 는 값 으로 대체 함 으로써 연결 된 B 스캔 층 의 시퀀스 중 적어도 하나 각각 을 연결 된 감소 된 B 스캔 층 의 시퀀스 각각 으로 변환 한다 . 예 를 들 어 , 도 16 의 도시 된 예 에서 , B 스캔 처리 모듈 ( 118 ) 은 A 스캔 요소 ( a 1 , a 2 ) 를 포함 하 는 B 스캔 층 ( 또는 세그먼트 ) 의 제 1 열 ( 400 - 1 a ) 을 a 1 과 a 2 의 평균 인 단일 값 으로 , B 스캔 세그먼트 의 나머지 열 ( 400 - 1 a ) 로 , 대체 함 으로써 , 연결 된 B 스캔 층 의 제 1 시퀀스 ( 450 a ) 에 의해 형성 된 3 차원 어레이 를 2 차원 어레이 로 변환 하 고 , 연결 된 B 스캔 층 의 제 1 시퀀스 ( 450 a ) 의 다른 B 스캔 세그먼트 ( ( 400 - 1 b , 400 - 1 c 등 ) 는 동일 한 방식 으로 처리 된다 . B 스캔 처리 모듈 ( 118 ) 은 마찬가지 로 연결 된 B 스캔 층 의 제 1 시퀀스 ( 450 a ) 에 부가 하 여 또는 다르 게 는 , 연결 된 B 스캔 층 의 제 2 시퀀스 ( 450 b ) 및 / 또는 연결 된 B 스캔 층 의 제 3 시퀀스 ( 450 c ) 를 처리 할 수 있 다 . 따라서 , B 스캔 처리 모듈 ( 118 ) 은 도 16 의 예 에 도시 된 OCT 측정 값 의 3 차원 어레이 중 하나 이상 각각 ― 각각 의 크기 가