이러 한 문제 를 해결 하 기 위한 것 이 병렬 테스트 모드 인데 , 예 를 들 어 그 방법 을 설명 하 면 , 16 개 의 데이터 채널 을 갖 는 반도체 메모리 소자 에서 4 개 씩 데이터 채널 을 공유 하 여 테스트 를 수행 함 으로써 테스트 장비 에서 한 개 의 반도체 메모리 소자 에 데이터 를 전달 하 는 데 필요 한 채널 수 를 4 개 가 되 도록 한다 . 즉 , 테스트 장비 의 한 개 의 채널 당 4 개 의 데이터 채널 이 병렬 로 연결 되 도록 하 여 테스트 한다 .