도 35 에 도시 된 바 와 같이 , 광 조사 장치 ( 500 _ 5 ) 는 일 방향 , 예컨대 제 2 방향 ( DR 2 ) 으로 이동 하 여 대상 기판 ( SUB ) 의 상부 에 광 ( hv ) 을 조사 할 수 있 다 . 광 조사 장치 ( 500 _ 5 ) 는 대상 기판 ( SUB ) 의 일 영역 상 에 광 ( hv ) 을 조사 하 고 , 이어 상기 일 영역 의 일 측 에 위치 한 타 영역 에 광 ( hv ) 을 조사 할 수 있 다 . 전계 형성 유닛 ( 100 ) 은 광 조사 장치 ( 500 _ 5 ) 가 광 ( hv ) 을 조사 하 는 동안 대상 기판 ( SUB ) 의 상부 에 전계 ( IEL ) 를 생성 할 수 있 다 . 이 경우 , 광 조사 장치 ( 500 _ 5 ) 가 상기 일 영역 상 에 광 ( hv ) 을 조사 하 면 상기 일 영역 상 에 분사 된 쌍극자 ( DP ) 들 은 정렬 반응 성 이 향상 되 어 높 은 정렬 도로 배향 되 고 , 광 조사 장치 ( 500 _ 5 ) 가 상기 타 영역 상 에 광 ( hv ) 을 조사 하 면 , 상기 타 영역 상 에 분사 된 쌍극자 ( DP ) 들 도 정렬 반응 성 이 향상 되 어 높 은 정렬 도로 배향 될 수 있 다 . 이하 , 중복 되 는 설명 은 생략 하 기 로 한다 .