도 1 의 가열기 1 은 하측 분 지부 의 광학 적 경로 를 최적 화 하 기 위해 포함 되 고 , 그래서 상측 및 하측 분 지부 의 빛 사이 의 상대 적 인 위상 변화 는 특정 한 작동 파장 에 대해 2 π 라디안 의 복수 배 이 다 . 이 와 더불 어 , 가열기 1 은 제조 공정 동안 에 생긴 제조 에러 후 에 광학 적 경로 차 를 재 조정 하 기 위해 사용 된다 . 이 는 가열기 1 의 경우 에 전력 , 즉 DC 전압 을 양 금속 스트립 에 가하 여 달성 된다 . 당업자 라면 아 는 바 와 같이 , MZI 상측 및 하측 분지 부 사이 의 광학 적 경로 차 를 모니터링 하 기 위해 광학 적 전력계 가 필요 하 다 .