또한 , 표시 패널 내 의 개별 화소 들 은 서로 다른 데이터 전압 이 공급 되 기 때문 에 , 이 로 인하 여 개별 화소 들 각각 에서 구동 TFT ( DRT ) 의 문턱 전압 열화 정도 가 다르 다 . 따라서 , 본 발명 은 문턱 전압 변동 양 을 N 개 의 프레임 기간 동안 발생 된 구동 TFT ( DRT ) 의 문턱 전압 변동 의 총합 ( Δ Vth = Vdata×x ) 으로 정한다 . 이러 한 구동 TFT ( DRT ) 의 보상 전압 ( Vndi ) 은 화소 마다 다른 최적 의 전압 으로 인가 되 어야 하 지만 , 최적 화 된 보상 전압 ( Vndi ) 은 무수히 많 은 전압 내 에서 선택 되 어야 하 고 그 전압 범위 가 감마 전압 범위 내 에서 존재 하 기 때문 에 각 화소 마다 최적 의 보상 전압 ( Vndi ) 을 인가 하 는 데 에 한계 가 있 다 .