시험 장치 ( 10 ) 는 패턴 발생 부 ( 12 ) 와 , 시험 신호 공급 부 ( 14 ) 와 , 복수 의 매치 검 출부 ( 16 ) 와 , 판 정부 ( 18 ) 와 , 할 당부 ( 20 ) 와 , 복수 의 계측 부 ( 22 ) 를 구비 한다 . 패턴 발생 부 ( 12 ) 는 시험 신호 공급 부 ( 14 ) 로부터 피 시험 디바이스 ( 500 ) 로 출력 하 는 시험 신호 ( 예 를 들 어 , 피 시험 메모리 ( 500 ) 를 액세스 하 는 커맨드 등 ) 를 지정 하 는 시험 패 턴 을 발생 한다 .