전통 적 으로 , 전송 대상 데이터 는 데이터 를 전송 하 는 채널 로 정적 매핑 된다 . 이러 한 정적 매핑 방식 이 적용 되 는 경우 , 공정 의 이유 로 하나 또는 복수 의 채널 이 자동 화 테스트 장비 ( ATE ) 테스트 에 통과 되 지 못한다면 ( 예 를 들 어 한 회 의 채널 스캔 의 실패 ) 데이터 처리 시스템 은 고장 에 따른 불가 용 으로 인지 된다 . 또한 , ATE 테스트 에 통과 된 데이터 처리 시스템 에 있 어서 도 , 사용 과정 의 일부 응용 ( 예 를 들 면 AI 응용 ) 의 고전 력 및 고온 으로 인해 데이터 처리 시스템 의 에이징 이 가속 화 되 고 따라서 하나 또는 복수 의 채널 이 불 안정 해 지 거나 심지어 는 파손 될 수 도 있 다 . 예 를 들 어 비트코인 을 획득 하 기 위한 컴퓨팅 기기 의 GPU 는 통상 적 으로 1 년 쯤 이 면 불 안정 해져서 교체 가 필요 한 바 , 이 는 데이터 센터 서버 의 평균 사용 수명 보다 훨씬 짧 다 .