질량 분석 장치 는 OLED 패널 시료 를 이온 화 시키 고 , 생성 된 이온 들 이 플레이트 에 걸린 전압 에 기초 하 여 이온 검출기 로 가속 운동 을 하 는 동안 이온 의 질량 별로 검출기 에 도달 하 는 데 에 소요 되 는 시간 ( Time Of Flight ; TOF ) 의 측정 함 으로써 , OLED 패널 시료 에 대한 질량 스펙트럼 을 측정 할 수 있 다 .