본 발명 에 따라 정성 적 , 반 - 정량 적 및 정량 적 결과 가 얻 어 질 수 있 다 . 예 를 들 면 , 검출 대역 에서 CRP 와 Fn 의 복합체 화 를 반정량 적 으로 또는 정량 적 으로 검출 하 고자 할 때 , 광학 판독기 로 검출 대역 ( 31 ) 에서 생성 되 는 임의 의 신호 의 세기 를 측정 할 수 있 다 . 광학 판독기 의 실제 구성 형태 및 구조 는 당 업계 의 통상 의 숙련 인 에게 용이 하 게 이해 되 는 바 와 같이 일반 적 으로 변할 수 있 다 . 예 를 들 면 , 이용 될 수 있 는 광학 검출 기술 은 발광 ( 예 를 들 면 , 형광 , 인광 등 ) , 흡수능 ( 예 를 들 면 , 형광 또는 비 - 형광 ) , 회절 등 을 포함 하 지만 이 들 로 제한 되 지 는 않 는다 . 한 적합 한 반사 율 분광 광도계 는 예 를 들 면 , 본원 에서 다 목적 으로 그 전체 가 참고 문헌 으로 인용 되 는 , 케일러 ( Kaylor ) 등 의 미국 특허 출원 공개 제 2003 / 0119202 호 에 기재 된다 . 다른 실시 태양 에서 , 반사율 - 방식 분광 광도계 를 형광 신호 의 세기 를 검출 하 는 데 이용 할 수 있 다 . 적합 한 분광 형광 계 및 관련 검출 기술 은 예 를 들 면 , 본원 에서 다 목적 으로 그 전체 가 참고 문헌 으로 인용 되 는 , 송 ( Song ) 등 의 미국 특허 출원 공개 제 2004 / 0043502 호 에 기재 된다 . 마찬가지 로 , 투과율 - 방식 검출 계 가 또 한 세기 의 신호화 에 사용 될 수 있 다 .