X - ray fluorescence ( XRF , Rigaku zsx primus II , wavelength dispersive type ) 를 이용 하 여 상기 실시 예 들 과 비 교예 들 에 따른 알루미노 실리케이트 입자 의 조성 을 확인 하 였 다 . 상기 XRF 측정 은 Rh target 을 활용 하 였으며 , 30 mm 직경 의 홀더 에 입 자 분말 을 장착 하 여 측정 하 였 다 .