무선 송신기 들 , 전력 전자 기기 들 , 전송 라인 들 , 스위칭 트랜지스터 들 및 본 기술 분야 에 공지 된 다른 것 들 을 포함 한 , 많 은 소스 들 로부터 시스템 에 노이즈 가 유입 될 수 있 다 . 전 자기 간섭 에 민감 한 컴포넌트 들 의 유도 를 통해 또는 전도 및 최적 이 아닌 격리 ( suboptimal isolation ) 를 통해 직접 적 으로 노이즈 가 유입 될 수 있 다 . 노이즈 중 일부 는 , 스캐닝 액추에이터 들 , 모터 제어기 들 에 대한 펄스 폭 변조기 들 , 스위치 모드 전원 들 ( switched mode power supplies ) , 클 로킹 회로 들 및 이미 징 시스템 의 전자 컴포넌트 들 중 임의 의 것 에 있 는 트랜지스터 들 과 같 은 , 이미 징 시스템 자체 내 의 컴포넌트 들 에 의해 생성 될 수 있 다 . 게다가 , 임피던스 모니터 들 , ( Carto ® 3 , Carto ® XP 또는 NavX ™ 시스템 들 에서 발견 되 는 것 들 과 같 은 ) 트래킹 시스템 들 , 온도 센서 들 , 주입 펌프 들 , 어 블레 이 션 시스템 들 , ECG 및 혈류 동태 모니터 들 ( hemodynamic monitors ) 과 같 은 , 환자 에 커플링 된 또는 시술 환경 ( procedural environment ) 에 있 는 다른 시스템 들 이 노이즈 를 유입 시킬 수 있 다 . 일부 임상 영역 들 ( clinical areas ) 에서 사용 되 는 RFID 재고 관리 시스템 들 이 또한 노이즈 를 유입 시킬 수 있 다 .