전술 한 본 발명 의 바람직 한 제 1 실시 예 에 따른 비전 시스템 ( 10 ) 의 조명 설정 방법 의 검사 항목 1 은 반도체 패키지 의 검사 항목 에 따라 구분 될 수 있 으며 , 바람직 하 게 는 검사 항목 1 은 반도체 패키지 의 아웃 라인 ( 외곽 라인 ) , 반도체 패키지 의 볼 , 반도체 패키지 의 마크 중 어느 하나 에 대한 검사 항목 일 수 있 다 .