본 발명 에 따른 핸들러 는 테스트 트레이 에 테스트 될 반도체 소자 들 이 수납 될 때 테스트 트레이 가 위치 되 는 로딩 위치 의 위 에 형성 되 는 로딩 이 동 경로 를 따라 이동 가능 하 게 설치 되 는 로딩 버퍼 , 및 상기 로딩 위치 에 위치 된 테스트 트레이 에 대해 로딩 공정 을 수행 하 는 로딩 픽커 를 포함 하 는 로딩 부 ; 상기 로딩 부 로부터 이송 되 는 테스트 트레이 에 수납 된 테스트 될 반도체 소자 들 이 하이 픽스 보드 에 접속 되 어 테스트 되 는 테스트 챔버 를 포함 하 는 챔버 부 ; 상기 챔버 부 로부터 이송 되 는 테스트 트레이 로부터 테스트 된 반도체 소자 들 이 분리 될 때 테스트 트레이 가 위치 되 는 언로 딩 위치 에 위치 된 테스트 트레이 에 대해 언 로딩 공정 을 수행 하 는 언로 딩 픽커 를 포함 하 고 , 상기 로딩 부 의 옆 에 배치 되 는 언로 딩 부 ; 상기 로딩 부 및 상기 언 로딩 부 사이 에 배치 되 며 , 상기 로딩 부 로부터 이송 되 는 테스트 트레이 를 수평 상태 에서 수직 상태 로 회전 시키 고 , 상기 챔버 부 로부터 이송 되 는 테스트 트레이 를 수직 상태 에서 수평 상태 로 회전 시키 는 적어도 하나 의 회 전부 ; 및 상기 로딩 부 에서 상기 회 전부 로 테스트 트레이 를 이송 하 고 , 상기 회 전부 에서 상기 언로 딩 부 로 테스트 트레이 를 이송 하 며 , 상기 언 로딩 부 에서 상기 로딩 부 로 테스트 트레이 를 이송 하 는 이 송부 를 포함 한다 .