본 발명 에서 평균 입경 이란 , 수 평균 입경 일 수 있 으며 , 예컨대 전계 방출 주사 전자 현미경 ( FE - SEM ) 또는 투과 전자 현미경 ( TEM ) 에 의해 관찰 한 상 으로부터 구할 수 있 다 . 구체 적 으로 , FE - SEM 또는 TEM 의 관찰 화상 으로부터 몇 개 의 샘플 을 추출 하 고 이 들 샘플 의 직경 을 측정 하 여 산술 평균 한 값 으로 얻 을 수 있 다 .