일 실시 예 에 따르 면 , 장치 상태 데이터 ( 206 ) 는 테스트 대상 ( 201 ) 에 대해 테스트 장치 ( 230 ) 가 감압 테스트 를 수행 하 여 획득 된 감압 테스트 데이터 를 포함 할 수 있 다 . 전자 장치 ( 101 ) 의 사용 에 의해 전자 장치 ( 101 ) 에 포함 된 회로 가 열화 되 면서 전자 장치 ( 101 ) 의 구성 에 공급 되 는 전압 이 낮 아 질 수 있 다 . 따라서 , 프로세서 나 메모리 와 같 은 전자 장치 ( 101 ) 의 구성 요소 는 공급 되 는 전압 이 낮 아 지 더라도 정상 적 으로 동작 하 기 위한 전압 마진 을 가지 도록 구성 될 수 있 다 . 전압 마진 을 충분히 확보 하 지 못한 테스트 대상 ( 201 ) 의 품질 이 불량 한 것 으로 판단 하 기 위해 , 전자 장치 의 일반 적 인 동작 전압 ( typical voltage ) 으로부터 감압 된 테스트 전압 을 이용 하 여 테스트 대상 ( 201 ) 의 동작 을 테스트 하 는 감압 테스트 가 이용 될 수 있 다 . 일 실시 예 에 따르 면 , 테스트 전압 은 동작 전압 으로부터 - 5 % 내지 - 7 % 범위 로 감압 된 전압 값 을 가질 수 있 다 . 예 를 들 어 , 동작 전압 이 1 V 인 경우 , 테스트 전압 은 0 . 93 V 이상 0 . 95 V 이하 의 범위 에 속하 는 전압 일 수 있 다 .