이하 에서 는 도면 을 참고 하 여 본 발명 의 일 실시 예 에 따른 반도체 디바이스 의 테스트 보드 , 테스트 장치 및 이 를 이용 한 테스트 방법 에 대해 구체 적 으로 설명 한다 . 아래 의 설명 에서 각 구성 요소 의 위치 관계 는 원칙 적 으로 도면 을 기준 으로 설명 한다 . 그리고 , 도면 은 설명 의 편의 를 위해 발명 의 구조 를 단순 화 하 거나 필요 할 경우 과장 하 여 표시 될 수 있 다 . 따라서 , 본 발명 이 도면 에 도시 된 내용 에 한정 되 는 것 은 아니 며 이 이외 에 도 각종 장치 를 부가 하 거나 , 변경 또는 생략 하 여 실시 할 수 있 음 은 물론 이 다 .