각 서브 - 테스트 회로 ( 170 S ) 는 제 1 입력 배선 그룹 ( IL 1 ) 을 통해 전달 받 은 제어 신호 에 따라 동작 하 며 , 제 1 입력 배선 그룹 ( IL 1 ) 을 통해 전달 받 은 테스트 신호 를 화소 회로 의 신호선 ( 예 , 데이터 선 ) 및 로드 보상 커패시터 의 전극 에 출력 할 수 있 다 . 일 실시 예 로 , 도 6 에 도시 된 바 와 같이 각 서브 - 테스트 회로 ( 170 S ) 는 제 1 내지 제 3 출력 배선 ( WL 1 , WL 2 , WL 3 ) 을 통해 각각 제 1 내지 제 3 화소 회로 ( PC 1 , PC 2 , PC 3 ) 의 각 신호선 및 제 1 내지 제 3 로드 보상 커패시터 ( Clm 1 , Clm 2 , Clm 3 ) 의 각 전극 에 출력 할 수 있 다 . 제 1 내지 제 3 로드 보상 커패시터 ( Clm 1 , Clm 2 , Clm 3 ) 는 각각 제 1 내지 제 3 화소 회로 ( PC 1 , PC 2 , PC 3 ) 에 대응 하 여 위치 할 수 있 다 .