특정 실시 예 에서 , 비트 라인 판독 컨 덕 터 ( 340 ) 는 장치 ( 300 ) 의 캡 핑 계층 ( capping layer ) 으로 또한 기능 하 는 상부 컨 덕 터 이 다 . 특정 실시 예 에서 , 비트 라인 판독 컨 덕 터 ( 340 ) 는 주로 Ru , Ta , Cu , Au , Ti 또는 이 들 의 조합 과 같 은 도전 성 재료 를 포함 한다 . 제 2 기준 계층 ( 306 ) 은 비트 라인 판독 컨 덕 터 ( 340 ) 에 연결 된 AFM 계층 ( 342 ) 을 포함 한다 . 특정 실시 예 에서 , AFM 계층 ( 342 ) 은 특정 실시 예 에서 CoFe 계층 ( 344 ) , Ru 계층 ( 346 ) , 및 CoFeB 계층 ( 348 ) 을 포함 하 는 제 2 SAF 구조 의 자기장 방향 을 고정 한다 . 제 1 기준 계층 ( 304 ) 의 고정 된 자기 모멘트 는 제 2 기준 계층 ( 306 ) 의 고정 된 자기 모멘트 와 평행 하 다 .