도 2 내지 도 4 를 참조 하 면 , 상기 검사 모듈 ( 200 ) 은 , 상기 반도체 패키지 들 ( 20 ) 을 지지 하 며 상기 반도체 패키지 들 ( 20 ) 을 이동 시키 기 위해 수평 방향 으로 이동 가능 하 도록 구성 된 이송 테이블 ( 210 ) 과 , 상기 반도체 패키지 들 ( 20 ) 의 이동 경로 상부 에 배치 되 며 상기 반도체 패키지 들 ( 20 ) 을 검사 하 기 위하 여 상기 반도체 패키지 들 ( 20 ) 을 촬상 하 는 카메라 유닛 ( 220 ) 을 포함 할 수 있 다 . 특히 , 상기 검사 모듈 ( 200 ) 은 , 상기 카메라 유닛 ( 220 ) 의 측면 부위 들 에 장착 되 며 상기 반도체 패키지 들 ( 20 ) 상 으로 에어 를 분사 하 여 상기 반도체 패키지 들 ( 20 ) 을 건조 하 기 위한 에어 나이프 들 ( 230 ) 을 포함 할 수 있 다 .