전술 한 바 와 같이 , 검사 항목 1 의 최적 조명 설정 단계 ( S 60 ) 에서 설정 된 검사 항목 1 의 최적 조명 에 사용 된 최적 채널 이 2 개 인 경우 , 제 어부 는 검사 항목 1 의 설정 채널 2 개 와 검사 항목 2 의 최적 채널 1 개 로 총 3 개 의 채널 및 3 개 의 전압 을 인가 하 여 검사 항목 1 , 2 모두 에 적합 한 최적 조명 을 설정 하 게 된다 . 이 처럼 비전 시스템 ( 10 ) 의 3 개 의 채널 각각 에 3 개 의 전압 을 인가 한 상태 에서 광 을 조사 하 여 비전 시스템 ( 10 ) 의 카메라 를 통해 반도체 패키지 에 대한 검사 를 수행 함 으로써 , 반도체 패키지 의 불량 여부 를 판단 하 게 된다 .