본 발명 에 있 어서 , 매우 중요 한 발명 의 구성 요건 이 다 . YS 의 제 어성 의 지표 인 YR 을 광범위 에 걸쳐 제어 하 기 위해서 는 , 주상 인 템퍼링 마르텐 사이트 의 평균 KAM 값 과 , 템퍼링 마르텐 사이트 와 퀀칭 마르텐 사이트 의 이상 계면 근방 에 있 어서 의 템퍼링 마르텐 사이트 측 에서 의 최대 KAM 값 을 , 적정 하 게 제어 하 는 것 이 유효 하 다 . 이 에 따라 , 인장 변형 중 의 템퍼링 마르텐 사이트 와 퀀칭 마르텐 사이트 의 양 상간 에 발생 하 는 소성 변형 분배 를 제어 할 수 있 어 , YR 을 제어 하 는 것 이 가능 하 다 . 템퍼링 마르텐 사이트 에서 의 평균 KAM 값 에 대한 , 템퍼링 마르텐 사이트 와 퀀칭 마르텐 사이트 의 이상 계면 근방 에 있 어서 의 템퍼링 마르텐 사이트 측 에서 의 최대 KAM 값 의 비 가 1 . 5 미만 에서 는 , 템퍼링 마르텐 사이트 와 퀀칭 마르텐 사이트 의 양 상간 에서 의 소성 변형 의 차이 가 작 기 때문 에 , YR 이 증대 해 버린다 . 한편 , 템퍼링 마르텐 사이트 에서 의 평균 KAM 값 에 대한 , 템퍼링 마르텐 사이트 와 퀀칭 마르텐 사이트 의 이상 계면 근방 에 있 어서 의 템퍼링 마르텐 사이트 측 에서 의 최대 KAM 값 의 비 가 30 . 0 을 초과 하 면 , 템퍼링 마르텐 사이트 와 퀀칭 마르텐 사이트 의 양 상간 에서 의 소성 변형 의 차이 가 크 기 때문 에 , YR 이 감소 해 버린다 . 따라서 , 템퍼링 마르텐 사이트 에서 의 평균 KAM 값 에 대한 , 템퍼링 마르텐 사이트 와 퀀칭 마르텐 사이트 의 이상 계면 근방 에 있 어서 의 템퍼링 마르텐 사이트 측 에서 의 최대 KAM 값 의 비 는 , 1 . 5 이상 30 . 0 이하 로 한다 . 바람직 하 게 는 1 . 6 이상 으로 한다 . 바람직 하 게 는 25 . 0 이하 로 한다 . 보다 바람직 하 게 는 1 . 6 이상 20 . 0 이하 로 한다 . 또한 , 템퍼링 마르텐 사이트 의 평균 KAM 값 , 템퍼링 마르텐 사이트 와 퀀칭 마르텐 사이트 의 이상 계면 근방 에 있 어서 의 템퍼링 마르텐 사이트 측 에서 의 최대 KAM 값 은 , 후술 하 는 실시 예 에 기재 된 방법 으로 측정 할 수 있 다 .