또 , 상술 한 FE - AES 에 의해 , 입자 의 조성 을 분석 하 고 , 해당 분석 한 입자 의 저항 을 AFM ( 원자간력 현미경 ) 의 컨 택트 모드 를 이용 하 여 AFM 의 프로브 를 입자 에 접촉 시켜 측정 할 수 있 다 . 이 방법 의 경우 는 , 특히 , 보조 전극 ( 2 , 3 ) 상 에 위치 하 는 도전 성막 ( 입자 ) 을 측정 하 는 것 이 바람직 하 다 . 이 방법 에 의하 면 , AFM 의 프로브 와 보조 전극 과 의 사이 에 흐르 는 전류 에 의거 하 여 입자 의 저항 을 측정 할 수 있 다 .