테스트 소켓 은 일 측 에 검사 대상 인 반도체 기기 가 연결 되 고 , 타 측 에 는 검사 장치 인 테스트 기기 가 연결 됨 으로써 반도체 기기 와 테스트 기기 사이 에서 양자 를 전기 적 으로 연결 시켜 준다 . 가령 , 테스트 소켓 의 도전체 는 반도체 기기 에 구비 되 는 단자 와 테스트 기기 의 단자 를 상호 연결 하 여 반도체 기기 를 전기 적 으로 테스트 할 수 있 다 . 여기 서 , 반도체 기기 의 단자 는 볼 ( ball ) 이 다수 형성 되 는 BGA ( ball grid array ) 형태 의 단자 가 사용 될 수 있 다 .