본 발명 의 상기 최적 파라미터 검 출부 는 상기 계량 데이터 를 토대 로 파라미터 를 설정 하 는 파라미터 설 정부 ; 및 추정 하 고자 하 는 순부 하 전력 패턴 과 모델링 된 함수 에 의해 만들 어 진 순부 하 전력 패턴 을 이용 하 여 상기 목적 함수 를 반복 적 으로 검출 하 고 , 검출 된 상기 목적 함수 를 서로 비교 하 여 비교 결과 에 따라 상기 목적 함수 의 최소 값 을 갱신 하 고 , 갱신 된 상기 최소 값 의 파라미터 를 최적 파라미터 로 선정 하 는 최적 파라미터 선 정부 를 포함 하 는 것 을 특징 으로 한다 .