회로 부 ( 76 ) 에 의해 행해진 측정 들 은 코일 들 ( 36 ) 중 하나 이상 에 대해 수행 된다 ( 예 를 들 어 , 이 들 측정 들 은 디바이스 ( 12 ) 내 의 코일 들 의 어레이 내 의 코일 들 ( 36 ) 각각 에 대해 수행 될 수 있 음 ) . 회로 부 ( 42 ) 는 표면 ( 60 ) 에 걸쳐 , 측정 된 L 값 들 ( 및 / 또는 Q 인자 값 들 ) 에서 공간 패턴 들 을 식별 하 기 위해 이 들 임펄스 응답 측정 들 을 사용 한다 . 측정 된 인덕턴스 ( L ) 변화 의 패턴 의 분석 은 알려진 유형 의 디바이스 ( 10 ) 가 코일 들 ( 36 ) 상 에 존재 하 는지 여부 를 결정 하 는 것 을 도울 수 있 다 . 측정 된 인덕턴스 ( L ) ( 및 원한다면 , L 에 대한 역관 계 를 갖 는 Q 인자 ) 의 공간 패턴 들 의 분석 은 , 표면 ( 60 ) 의 X - Y 평면 내 의 코일 위치 의 함수 로서 , 디바이스 ( 12 ) 로부터 디바이스 ( 10 ) 로 무선 전력 을 언제 운반 할지 를 결정 하 는 데 사용 될 수 있 다 . 예 를 들 어 , 코일 들 ( 36 ) 각각 에 대한 L 의 값 이 그 의 공칭 상태 로부터 변경 되 지 않 으면 , 회로 부 ( 42 ) 는 무선 충전 에 적합 한 어떠 한 외부 디바이스 도 존재 하 지 않 는다고 결론 내릴 수 있 다 . 코일 들 ( 36 ) 중 주어진 하나 의 코일 에 대한 L 의 값 이 상승 되 거나 , 또는 측정 된 L 값 들 의 다른 적합 한 패턴 이 검출 되 면 , 회로 부 ( 42 ) 는 무선 충전 에 적합 한 외부 디바이스 가 그 코일 상 에 존재 하 고 그 코일 을 사용 하 여 무선 전력 을 송신 할 준비 가 되 어 있 을 수 있 다고 결론 내릴 수 있 다 .