그리고 본 고안 에 따른 테스트 핸들러 는 전도성 브러시 ( 91 ) 가 이동 함 으로써 정지 된 반도체 소자 들 에 접촉 되 어 정전기 또는 잔존 전하 를 제거 하 도록 구현 하 는 경우 도 포함 하 지만 , 전도성 브러시 ( 91 ) 를 이동 시키 기 위한 별도 의 장치 를 추가 시키 는 것 보다 는 이미 구축 되 어 진 반도체 소자 의 이동 을 이용 하 는 방법 이 더 바람직 함 을 알 수 있 을 것 이 다 .