도 2 는 본 발명 에 따른 단자 및 회로 의 파손 을 방지 하 기 위한 프로브 의 제 1 실시 예 를 도시 한 도면 이 며 , 도 3 또는 도 4 는 본 발명 에 따른 단자 및 회로 의 파손 을 방지 하 기 위한 프로브 를 이용 한 핀 블록 구조 의 제 1 실시 예 및 동작 형태 를 도시 한 도면 이 고 , 도 5 는 본 발명 에 따른 단자 및 회로 의 파손 을 방지 하 기 위한 프로브 의 제 2 실시 예 를 도시 한 도면 이 며 , 도 6 또는 도 7 은 본 발명 에 따른 단자 및 회로 의 파손 을 방지 하 기 위한 프로브 를 이용 한 핀 블록 구조 의 제 2 실시 예 및 동작 형태 를 도시 한 도면 이 고 , 도 8 은 본 발명 에 따른 단자 및 회로 의 파손 을 방지 하 기 위한 프로브 의 제 3 실시 예 를 도시 한 도면 이 며 , 도 9 는 본 발명 에 따른 단자 및 회로 의 파손 을 방지 하 기 위한 프로브 를 이용 한 핀 블록 구조 의 제 3 실시 예 를 도시 한 도면 이 다 .