도 7 d 에 도시 된 바 와 같이 , 상기 로딩 버퍼 ( 23 ) 는 , 이 에 수납 된 테스트 될 반도체 소자 들 이 상기 제 2 로딩 픽커 ( 222 ) 가 테스트 될 반도체 소자 들 을 상기 로딩 위치 ( 2 a ) 에 위치 된 테스트 트레이 ( T ) 에 수납 시킬 수납 영역 ( L ') 에 인접 한 다른 수납 영역 ( L ) 위 에 위치 되 도록 , 테스트 될 반도체 소자 들 을 이동 시킬 수 있 다 .