적합 하 게 는 , 상기 마이크 로 콘 택 프로브 들 ( 30 ) 은 공지 의 해결 방안 들 에서 사용 되 는 상기 콘 택 프로브 들 의 길이 에 비해 더 짧 은 길이 를 가지 고 , 특히 상기 콘 택 프로브 들 은 적어도 500 ㎛ 에 비해 짧 은 길이 를 갖 는다 . 상기 설명 에서 , “ 길이 ” 라는 용어 는 상기 종축 ( H - H ) 에 대해 평행 한 방향 을 기준 으로 측정 되 는 상기 마이크 로 콘 택 프로브 들 ( 30 ) 의 치수 및 상기 콘 택 요소 들 ( 22 ) 의 치수 를 의미 한다 . 본 발명 에 따른 상기 프로브 카드 ( 20 ) 의 상기 마이크 로 콘 택 프로브 들 ( 30 ) 은 고주파 소자 들 을 검사 할 수 있 도록 구성 되 고 , 마이크 로 콘 택 프로브 들 의 상기 길이 는 불리 한 자기 유도 현상 을 방지 할 수 있 는 길이 이 다 .