또한 , 시료 의 형태 및 구조 는 전계 방출 주사 전자 현미경 ( FE - SEM ; Hitachi , S - 4100 ) 및 투과 전자 현미경 ( TEM ; Philips , CM 200 ) 에 의해 분석 되 었 다 . TITAN G 2 ChemiSTEM Cs Probe 전자 현미경 을 사용 하 여 200 kV 의 가속 전압 에서 고해상도 투과 전자 현미경 ( HR - TEM ) 이미지 를 얻 었 다 .