도 6 f 및 6 g 는 본 개시 에 따라 , 공지 된 상대 위치 에서 의 센서 와 관련 된 SEM 값 의 비교 가 비대칭 위치 를 어떻게 식별 할 수 있 는지 의 예 를 도시 한다 . 이 예 에서 , 센서 ( 430 ) 는 우측 발 ( 20 R ) 의 접촉 영역 ( 450 R ) 을 가로질러 , " 도 6 f 의 "" A "" 에서 "" H "" 로 표시 된 비중 첩 된 위치 에 형성 된다 . 각 위치 에서 측정 된 SEM 값 을 도 6 g 의 그래프 에 플로팅 한다 . 이 예 에서 "," 위치 "" A "" 및 "" H "" 의 SEM 값 은 낮 거나 제로 이 며 "," 이 들 위치 에서 접촉 영역 ( 450 ) 을 갖 는 센서 ( 430 ) 의 비중 첩 을 반영 한다 . 위치 "" B "" 및 "" G "" 와 관련 된 SEM 값 은 ", 센서 ( 430 ) 가 이 들 위치 에서 접촉 영역 ( 450 ) 의 부분 과 중첩 됨 에 따라 더 높 다 . 위치 C - D - E - F 에 대한 SEM 값 은 더 높 고 , 이 예 에서 는 대략 동일 하 며 , 센서 ( 430 ) 가 이 들 위치 에서 접촉 영역 ( 450 ) 내 에 완전히 있 음 을 나타낸다 . 일 양태 에서 , " 장치 ( 180 ) 와 같 은 SEM 측정 장치 는 예 를 들 어 위치 "" C "" 및 "" F "" 와 같 은 특정 위치 가 우측 발 ( 20 R ) 의 중심선 ( 452 R ) 에 대해 비대칭 임 을 결정 할 수 있 다 . 일 양태 에서 ", 유사 한 세트 의 측정 이 좌측 발 ( 20 L ) 상 의 위치 A '- H ' 에서 이루어지 는 경우 , 각각 의 발 ( 20 L 및 20 R ) 상 의 위치 , 예 를 들 어 위치 E 및 E ' 는 대략 비대칭 인 것 으로 결정 될 수 있 다 .