본 발명 에서 , 상기 셋 또는 리셋 리딩 프로세스 는 매개변수 분석기 로 전류 를 측정 한 변위 에 해당 하 는 시작 인가전압 에서 중지 인가전압 까지 순차 적 으로 인가 하 고 , 매개변수 분석기 에 입력 된 전압 값 과 전류 값 으로 전류 - 전압 곡선 에 표시 하 여 저 항 값 을 계산 하 는 단계 및 상기 계산 된 저항 값 을 평균 하 여 셋 또는 리셋 저항 을 그래프 에 디스플레이 하 는 단계 를 더 포함 한다 .