본 발명 의 바람직 한 실시 예 에 따른 상기 반도체 소자 자동 테스트 시스템 은 , 상술 한 바 와 같이 , 상기 반도체 소자 테스터 ( T ) 가 단독 적 으로 반도체 소자 의 테스트 를 수행 할 수 있 도록 모듈 화 된 형태 를 갖추 고 있 다 . 따라서 , 모듈 화 되 어 있 는 상기 반도체 소자 테스터 ( T ) 를 추가 로 연장 설치 함 으로써 용이 하 게 설비 의 증설 이 가능 하 다 .