표면 구조 분석 을 위해 실시 예 1 에서 제조 된 제 1 중간체 , 제 2 중간체 및 전기 화학 적 물분 해 촉매 각각 을 전계 방출 주사 전자 현미경 ( FE - SEM ; field - emission scanning electron microscopy ) 을 사용 하 여 분석 수행 하 였 다 . 분석 장비 로서 , Supra 40 VP 장비 ( Zeiss Co . , Germany ) 를 이용 하 였 다 .