반도체 장치 , 특히 메모리 장치 제조 시 수많 은 미세 셀 중 에서 한 개 라도 결함 이 있 으면 메모리 로서 의 기능 을 수행 하 지 못하 므로 불량품 으로 처리 된다 . 그러 나 , 메모리 내 의 일부 셀 에 만 결함 이 발생 하 였 는데 도 불구 하 고 장치 전체 를 불량품 으로 폐기 하 는 것 은 수율 ( yield ) 측면 에서 비 효율 적 인 처리 방법 이 다 . 따라서 , 현재 는 메모리 내 에 미리 설치 해 둔 예비 메모리 셀 ( 이 하 리 던 던 시 ( redundancy ) 셀 이 라 함 ) 을 이용 하 여 불량 셀 을 대체 함 으로써 , 전체 메모리 를 되살려 주 는 방식 으로 수율 향상 을 이루 고 있 다 .