도 6 또는 도 7 은 상기 위 에서 설명 한 단자 및 회로 의 파손 을 방지 하 기 위한 프로브 ( 100 ) 를 이용 한 핀 블록 구조 ( 200 ) 의 제 2 실시 예 및 동작 형태 를 도시 한 것 으로써 , 검사 용 소켓 검사 용 소켓 의 상하 동작 또는 회동 동작 에 의해 플로팅 플레이트 ( 13 ) 가 들어올려 지 면서 , 플로팅 플레이트 ( 13 ) 의 상부 에 배치 된 누름 부 ( 14 ) 가 프로브 ( 100 ) 의 돌출 된 가 압부 ( 6 ) 를 상향 으로 가압 하 면 , 제 1 탄성 부 ( 4 ) 에 의해 탄성 지지 되 는 몸체 ( 3 ) 가 들어올려 지 면서 제 2 접 점부 ( 2 ) 를 횡 방향 으로 회동 시키 게 된다 .