본 개시 의 일 실시 예 에 따른 전자 디바이스 는 , 외부 전자 디바이스 와 UWB RFRAME 을 통해 레인 징 을 수행 할 경우 , 복수 의 STS 세그먼트 를 활용 하 여 레인 징 을 수행 하 여 무결성 검사 를 수행 할 수 있 다 . 본 개시 의 일 실시 예 에 따른 전자 디바이스 는 , 외부 전자 디바이스 와 UWB RFRAME 을 통해 레인 징 을 수행 할 경우 , 여러 개 의 STS 세그먼트 를 이용 하 여 획득 된 레인 징 을 수행 함 으로써 레인 징 교정 을 수행 할 수 있 다 .