또한 , TIC 는 테스트 시 에 만 사용 되 고 테스트 이후 에 는 활용 되 는 일 이 거의 없 는 바 , 테스트 를 의해 TIC 모듈 을 코어 에 구비 하 는 것 은 칩 사이즈 에 있 어 효율 적 이 지 못한 문제점 도 있 었 다 . 나아가 , TIC 에 기반 한 테스트 방식 은 리드 동작 테스트 시 와 라이트 동작 테스트 시 에 턴 - 어 라운드 ( turn - around ) 지연 이 발생 하 였 다 .