본 발명 에 따른 검사 용 프로브 및 프로브 소켓 에 의하 면 , 곡면 통형 상 의 피 검사 접촉 단자 는 프로브 의 V 형 접촉 부 로 2 지점 에서 접촉 시키 기 때문 에 , 접촉 불량 을 방지 할 수 있 을 뿐 만 아니 라 V 형 접촉 부 의 접촉점 으로 전이 되 는 이 물질 을 축적 을 줄여 오염 에 의한 접촉 저항 의 상승 을 방지 할 수 있 다 .