도 1 및 도 2 를 참조 하 면 , 본 발명 의 실시 예 에 따른 회로 기판 검사 장치 ( 100 ) 는 회로 기판 에 대해 전기 적 인 특성 을 검사 하 는 장치 일 수 있 다 . 일 예 로서 , 상기 회로 기판 검사 장치 ( 100 ) 는 회로 기판 ( 10 ) 에 대해 오픈 / 쇼트 테스트 ( open / short test ) 를 수행 하 는 장치 일 수 있 다 .