얻 어 진 나이 키스트 플롯 에 기초 하 여 도 4 의 등가 회로 모델 을 편성 하 여 , 피팅 계산 을 행하 였 다 . 측정 에 의해 얻 어 진 임피던스 의 원호 성분 의 정점 주파수 가 높 은 쪽 을 부극 유래 의 저항 으로 하 고 , 정점 주파수 가 낮 은 쪽 을 정극 유래 의 저항 R 로 하 였 다 . 사이클 전 의 정극 유래 의 저항 치 를 R ( p ) , 사이클 후 의 정극 유래 의 저항 치 를 R ( a ) 로 하 여 , R ( a ) / R ( p ) × 100 ( %) 을 저항 증가 율 로서 산출 하 였 다 . 이어서 , 실시 예 7 에 대한 비 교예 8 과 같이 , 동일 한 극판 밀도 로 제작 되 어 , 순수 로 세정 된 비 교예 에 있 어서 의 저항 증가 율 로 , 세정액 으로 세정 된 실시 예 또는 비 교예 에서 산출 된 저항 증가 율 을 나눗셈 하 여 상대 저항 증가 율 을 산출 하 였 다 . 황산 나트륨 수용액 으로 세정 한 실시 예 7 ~ 10 , 황산 리튬 수용액 으로 세정 한 비 교예 12 ~ 15 에 관한 평가 결과 를 표 6 에 나타낸다 .