이상 과 같 은 시험 장치 ( 10 ) 에 의하 면 , 복수 의 메모리 뱅크 ( 502 ) 를 가지 는 피 시험 메모리 ( 500 ) 의 시험 에서 복수 의 메모리 뱅크 ( 502 ) 의 각각 의 커맨드 의 처리 상태 를 병행 하 여 검출 할 수 있 다 . 이 에 의해 , 시험 장치 ( 10 ) 에 의하 면 , 일례 로서 , 복수 의 메모리 뱅크 ( 502 ) 의 각각 이 커맨드 에 대한 처리 를 종료 한 것 을 조건 으로서 다음 의 커맨드 를 피 시험 메모리 ( 500 ) 에게 공급 하 는 시험 패턴 을 실행 할 수 있 다 . 따라서 , 시험 장치 ( 10 ) 에 의하 면 , 메모리 뱅크 ( 502 ) 의 처리 가 완료 되 기 까지 의 대기 시간 을 짧 게 할 수 있 으므로 , 시험 시간 을 짧 게 할 수 있 다 . 더욱이 , 시험 장치 ( 10 ) 에 의하 면 복수 의 메모리 뱅크 ( 502 ) 의 각각 의 비지 시간 ( 예 를 들 어 , 기입 시간 ) 을 병행 하 여 계측 할 수 있 다 .