그런데 , 페이지 크기 가 비트 라 인 수 ( Number ) 보다 적 은 플래시 메모리 , 예컨대 4 M ( 4096 Word Line * 1024 Bit Line ) 의 메모리 셀 어레이 구성 을 갖 고 한 입출력 단자 ( Input / Output ) 당 페이지 수 가 32 개 이 며 비트 라 인 수 가 128 개 인 불휘발성 메모리 장치 를 , 상기 테스트 방법 으로 테스트 할 경우 에 는 페이지 수 가 비트 라인 수 와 동일 한 불휘발성 메모리 장치 에 비해 프로그램 및 리드 동작 에 의한 테스트 시간 이 4 배 더 소요 되 는 문제 가 있 었 다 .