그러나 , 해석 적 화상 재 구성 수법 에 적합 한 X 선 검출기 의 배치 는 , 검사 대상 의 수직 축 으로부터 일정 거리 떨어진 원 궤도 상 이 고 , 수직 방향 의 투시화 상 검사 에 는 맞 지 않 는다 . 그 때문 에 , 수직 방향 의 투시화 상 촬상과 투시화 상 촬상의 양쪽 을 가능 하 게 하 는 장치 는 , X 선 검출기 를 X - Y 이동 으로 투시화 상 촬상 위치 로 이동 시키 는 기구 를 갖 던지 , 또는 투시화 상 촬상 전용 의 X 선 검출기 를 추가 로 배치 할 필요 가 있 다 .