본 발명 은 프로브 검사 장치 에 관한 것 으로서 , 보다 상세 하 게 는 개별 단위 로 출하 되 는 액정 패널 에 모듈 과정 을 수행 하 기 에 앞서 그 액정 패널 의 전기 적 양호 상태 를 점검 하 기 위한 프로브 검사 장치 를 적용 할 때 , 액정 패널 의 패드 부 와 접촉 하 는 프로브 검사 장치 의 프로브 핀 ( probe pin ) 을 선 및 면 접촉 이 가능 하 도록 형성 함 으로써 프로브 핀 의 휨 에 의한 접촉 오류 나 프로브 핀 의 마모 에 의한 빈번 한 교체 문제 를 해결 하 려는 프로브 검사 장치 에 관한 것 이 다 .