검사 항목 1 의 최적 조명 을 인가 한 상태 에서 검사 항목 2 의 최적 채널 의 입력 전압 을 단계 적 으로 인가 하 되 , 검사 항목 1 의 최적 조명 을 인가 할 때 획득 한 스코어 의 오 차 범위 를 벗어나 지 않 는 조명 값 을 탐색 함 으로써 , 검사 항목 1 , 2 가 모두 반영 된 최적 의 채널 별 전압 을 탐색 할 수 있 다 . 따라서 , 검사 항목 1 , 2 를 모두 검사 할 수 있 는 최적 조명 을 통해 , 검사 항목 1 , 2 를 선명 하 게 확인 할 수 있 는 이미지 데이터 를 얻 을 수 있 으며 , 이 를 통해 , 정확 한 반도체 패키지 의 불량 여부 판단 및 얼라 인 판단 을 수행 할 수 있 다 .