상술 한 바 와 같이 , 본 발명 의 실시 예 들 에 따른 COF 패키지 ( 200 ) ( 또는 , 제 2 검사선 ( TL 2 ) ) 는 벤딩 영역 ( BA ) 에 형성 된 검사 패턴 ( DP ) 을 포함 함 으로써 , 벤딩 영역 ( BA ) 에 대한 손상 검출 능력 을 향상 시킬 수 있 다 . 한편 , 도 6 a 내지 도 6 c 에서 , 제 1 내지 제 3 검사 패턴 들 ( DP 1 내지 DP 3 ) 은 제 1 내지 제 3 벤딩 영역 들 ( BA 1 내지 BA 3 ) 에 각각 대응 하 여 형성 되 는 것 으로 설명 하 였으나 , 본 발명 이 이 에 국한 되 는 것 은 아니 다 . 예 를 들 어 , 벤딩 영역 ( BA ) 이외 에 손상 이 자주 발생 되 는 영역 이 존재 하 는 경우 , COF 패키지 ( 200 ) 는 벤딩 영역 ( BA ) 과 무관 하 게 해당 영역 에 검사 패턴 ( DP ) 을 포함 할 수 있 다 .