본 발명 은 상기 와 같 은 문제점 을 해결 하 기 위하 여 안출 된 것 으로서 , 본 발명 의 목적 은 광원 에서 발생 되 는 광 을 형광체 - 분석 대상물 결합체 가 흡착 되 어 있 는 패드 에 조사 한 뒤 , 형광체 에서 방출 되 는 여기 광 의 세기 를 검출 하 여 분석 대상물 을 분석 하 되 , 상기 여기 광 의 세기 에 대한 검 출부 의 검출 감도 를 향상 시킬 수 있 는 현장 진단 장비 를 제공 하 는 것 에 있 다 .