착색 도막 의 제작 1 에 있 어서 , 포스트 베이 킹 전후 의 착색 도막 에 대해서 , 측 색기 ( OSP - SP - 200 ； Olympus ( 주 ) 제 ) 를 이용 하 여 분광 을 측정 하 고 , C 광원 의 특성 함수 를 이용 하 여 CIE 의 XYZ 표색 계 에 있 어서 의 xy 색도 좌표 ( x , y ) 및 자극 치 Y 를 측정 하 고 , 당해 측정치 로부터 JIS 　 Z 　 8730 ： 2009 ( 7 . 색차 의 계산 방법 ) 에 기재 되 는 방법 으로 색차 △ Eab * 를 계산 했 다 . 착색 도막 의 내열성 이 양호 하 면 , 동일 한 착색 수지 조성물 로 제작 된 착색 패턴 도 , 내열 성 은 양호 하 다고 할 수 있 다 .