도 7 을 참조 하 면 , 다양 한 실시 예 에 따른 디스플레이 ( 도 6 의 120 ) 는 상기 서미스터 층 ( 도 6 의 129 ) 의 구성 을 배제 하 고 , 디스플레이 ( 120 ) 를 구성 하 는 층 들 중 일부 층 으로 지문 인증 이벤트 발생 시 의 온도 를 측정 하 는 상기 복수 의 서미스터 를 포함 할 수 있 다 . 예 를 들 어 , 디스플레이 ( 120 ) 는 제 1 전극 ( 도 6 의 124 a ) , 디스플레이 발광 층 ( 도 6 의 124 b ) 및 제 2 전극 ( 도 6 의 124 c ) 을 포함 하 는 발광 구조 층 ( 124 ) 과 지문 센서 층 ( 126 ) 의 하부 로 배치 되 는 TFT 회로 층 ( 127 ) 으로 상기 복수 의 서미스터 를 포함 할 수 있 다 .