본 발명 은 메모리 시스템 에 관한 것 으로 , 보다 구체 적 으로 는 비휘발성 메모리 장치 에 포함 된 메모리 블록 의 복수 의 페이지 각각 의 에러 비트 정보 를 바탕 으로 에러 가능 페이지 들 의 우선 순위 을 선정 하 고 선정 된 우선순위 에 따라 테스트 리드 동작 을 수행 하 는 메모리 시스템 , 데이터 처리 시스템 및 그 동작 방법 에 관한 것 이 다 .