일반 적 으로 메모리 소자 에 는 불량 이 발생 할 경우 이 를 대체 하 기 위하 여 리페 어 메모리 블록 ( repair memory block ) 이 구비 된다 . 메모리 셀 어레이 에서 하나 의 불량 칼럼 이 발생 되 면 리페 어 블록 의 정상 칼럼 을 불량 칼럼 으로 대체 하 는 방식 으로 리 페어 가 이루어진다 . 리페 어 회로 에 구비 되 는 퓨즈 ( fuse ) 는 메인 ( main ) 셀 에 불량 이 발생 할 경우 불량 셀 의 동작 을 억제 하 기 위해 외부 에서 물리 적 으로 전원 의 유입 을 차단 하 는 기능 을 가지 고 있 다 . 불량 셀 을 리 페어 하 기 위하 여 퓨즈 를 물리 적 으로 절단 하 는 과정 은 레이저 에너지 를 퓨즈 의 게이트 금속 막 에 조사 하 여 게이트 금속 막 을 가열 및 팽창 시켜 터뜨리 는 방식 으로 이루어진다 .