한편 , " 시디 ( CD ) 의 측정 에 관한 다른 방법 이 일본국 특허 제 2002 - 288677 호 에 "" 패턴 평가 방법 ", 장치 및 기록 매체 ( Method and device for pattern evaluation , " and computer - readable recording medium ) "" 라는 제목 으로 미 쯔 이 다다시 ( Mitsui Tadashi ) 에 의해 개시 된 바 있 다 . "