예 를 들 어 , 상기 제 1 간섭 제거 회로 ( 210 ) 는 상기 제 4 클럭 ( CLK _ QB ) 이 특정 레벨 일 경우 상기 내부 입력 신호 ( DQ _ int ) , 상기 제 1 가중치 적용 신호 ( W 1 ) 및 상기 제 4 샘플링 출력 신호 ( DQ _ QB ) 에 응답 하 여 상기 제 1 샘플링 회로 ( 31 ) 의 샘플링 타이밍 에 따른 제 1 포스트 커서 ( 1 st post cursor ) 성분 을 제거 할 수 있 다 . 상기 제 1 간섭 제거 회로 ( 210 ) 는 상기 제 4 클럭 ( CLK _ QB ) 이 특정 레벨 일 경우 상기 내부 입력 신호 ( DQ _ int ) , 상기 제 2 가중치 적용 신호 ( W 2 ) 및 상기 제 2 샘플링 출력 신호 ( DQ _ IB ) 에 응답 하 여 상기 제 1 샘플링 회로 ( 31 ) 의 샘플링 타이밍 에 따른 제 2 포스트 커서 ( 2 nd post cursor ) 성분 을 제거 할 수 있 다 . 상기 제 1 간섭 제거 회로 ( 210 ) 는 상기 제 4 클럭 ( CLK _ QB ) 이 특정 레벨 일 경우 상기 내부 입력 신호 ( DQ _ int ) , 상기 제 3 가중치 적용 신호 ( W 3 ) 및 상기 제 3 샘플링 출력 신호 ( DQ _ Q ) 에 응답 하 여 상기 제 1 샘플링 회로 ( 31 ) 의 샘플링 타이밍 에 따른 제 3 포스트 커서 ( 3 rd post cursor ) 성분 을 제거 할 수 있 다 . 상기 제 1 간섭 제거 회로 ( 210 ) 는 상기 제 4 클럭 ( CLK _ QB ) 이 특정 레벨 일 경우 상기 내부 입력 신호 ( DQ _ int ) , 상기 제 4 가중치 적용 신호 ( W 4 ) 및 상기 제 1 샘플링 출력 신호 ( DQ _ I ) 에 응답 하 여 상기 제 1 샘플링 회로 ( 31 ) 의 샘플링 타이밍 에 따른 제 4 포스트 커서 ( 4 th post cursor ) 성분 을 제거 할 수 있 다 .