리 던 던 시 셀 을 이용 한 리 페어 작업 은 통상 , 일정 셀 어레이 ( cell array ) 마다 스페어 로우 ( spare low ) 어레이 와 스페어 칼럼 ( sparecolumn ) 어레이 를 미리 설치 해 두 어 결함 이 발생 된 불량 메모리 셀 을 로우 / 컬럼 단위 로 스페어 메모리 셀 로 치 완해 주 는 방식 으로 진행 된다 . 이 를 자세히 살펴보 면 , 웨이퍼 상태 로 완료 된 후 에 테스트 를 통해 불량 메모리 셀 을 골라 내 면 그 에 해당 하 는 어드레스 ( address ) 를 예비 셀 의 어드레스 신호 로 바꾸 어 주 는 프로그램 을 내부 회로 에 행하 게 된다 . 따라서 , 실제 사용 시 에 는 불량 라인 에 해당 하 는 어드레스 신호 가 입력 되 면 불량 셀 대신 에 예비 셀 로 선택 이 바뀌 게 되 는 것 이 다 .