본 발명 의 추가 의 장점 은 반금 형 들 중 의 하나 또는 둘 다를 기계 적 으로 제거 하 는 것 과 관련 된 결함 들 이 본 발명 의 방법 에 의해 감소 되 거나 제거 된다는 점 이 다 . 이 형 및 수화 공정 과 관련 된 이러 한 결함 은 렌즈 에서 의 칩 ( chip ) , 찢 김 ( tear ) 및 응력 자국 ( stress mark ) 이 다 . 본 발명 의 방법 이 사용 되 는 경우 , 마무리 된 렌즈 에서 의 결함 율 또는 칩 및 찢 김 의 발생 율 이 감소 되 고 응력 자국 의 결함 율 이 제거 된다 .