일 실시 예 에 따르 면 , 제 1 전자 장치 ( 420 ) 는 ( a ) 에서 나타낸 다면체 ( 1210 ) 의 복수 의 면 에 매핑 된 이미지 의 크기 를 지정 된 LOD 에 따라 변경 할 수 있 다 . 예 를 들 어 , 제 1 전자 장치 ( 420 ) 는 ( b ) 에서 나타낸 다면체 ( 1210 ) 의 일면 에 매핑 되 는 이미지 ( 1211 ) 의 크기 를 LOD 0 로 결정 하 고 , 상기 LOD 0 를 기준 으로 LOD 1 의 이미지 ( 1211 ´) 또는 ( ㅇ ) 에서 나타낸 LOD 2 의 이미지 ( 1211 ´′) 의 크기 를 순차 적 으로 축소 할 수 있 다 . ( c ) 에서 나타낸 LOD 1 의 이미지 ( 1211 ´) 는 , 예 를 들 어 , LOD 0 의 이미지 ( 1211 ) 와 비교 하 여 1 / 4 크기 일 수 있 다 . ( d ) 에서 나타낸 LOD 2 의 이미지 ( 1211 ´′) 는 LOD 1 의 이미지 ( 1211 ´) 와 비교 하 여 1 / 4 크기 일 수 있 다 .