한편 , 도 11 내지 도 13 에 나타낸 테스트 소켓 ( 200 ) 은 소켓 프레임 ( 210 ) 과 , 소켓 프레임 ( 210 ) 에 탈착 식 으로 결합 되 는 테스트 커넥터 ( 230 ) 를 포함 한다 . 이러 한 테스트 소켓 ( 200 ) 은 앞서 설명 한 테스트 소켓 ( 100 ) 과 대부분 의 구성 이 동일 하 고 , 소켓 프레임 ( 210 ) 과 테스트 커넥터 ( 230 ) 의 결합 구조 가 변형 된 것 이 다 . 즉 , 본 실시 예 에 따른 테스트 소켓 ( 200 ) 은 걸림돌 기 ( 220 ) 가 소켓 프레임 ( 210 ) 에 구비 되 고 , 걸림 턱 ( 236 ) 이 테스트 커넥터 ( 230 ) 에 배치 되 는 구조 를 갖 는다 .