본 테스트 방법 은 복수 의 디바이스 를 기 설정 된 환경 에서 테스트 하 기 위한 방법 으로 , 이 를 위해 테스트 대상 이 되 는 복수 의 디바이스 를 테스트 보드 상 에 로딩 하 는 단계 를 수행 한다 ( S 100 ) . 본 단계 에서 는 적 재부 ( 1110 ) 에 적재 된 테스트 되 지 않 은 복수 의 디바이스 ( 20 ) 를 픽 앤 플레이스 장치 을 이용 하 여 테스트 보드 의 수 용부 ( 100 ) 에 로딩 한다 . 이때 , 디바이스 는 탄성 적 으로 지지 되게 설치 된 포켓 유닛 상 에 로딩 되 므로 , 로딩 시 디바이스 에 가해 지 는 충격 을 최소 화 할 수 있 다 .