본 발명 의 다양 한 실시 예 들 은 적응 형 채널 비트 밀도 추정 을 위한 시스템 들 및 방법 들 을 제공 한다 . 예 를 들 면 , 본 발명 의 다양 한 실시 예 들 은 채널 비트 밀도 를 적응 적 으로 추정 하 는 방법 들 을 제공 한다 . 이 와 같 은 방법 들 은 프로세스 데이터 세트 에 대응 하 는 정보 를 포함 하 는 저장 매체 ( 178 ) 를 제공 하 는 단계 , 및 상기 저장 매체 로부터 의 프로세스 데이터 세트 ( 505 ) 에 액세스 하 는 단계 를 포함 한다 . 제 1 채널 비트 밀도 추정 치 ( 535 ) 가 적어도 부분 적 으로 상기 프로세스 데이터 세트 ( 520 내지 530 ) 의 제 1 부분 에 기초 하 여 계산 되 고 , 제 2 채널 비트 밀도 추정 치 ( 535 ) 가 적어도 부분 적 으로 상기 프로세스 데이터 세트 의 상기 제 1 부분 , 상기 프로세스 데이터 세트 ( 520 내지 530 ) 의 제 2 부분 및 상기 제 1 채널 비트 밀도 추정 치 ( 535 ) 에 기초 하 여 계산 된다 .