여기 서 , 입자 를 분류 하 기 위하 여 기계 적 기둥 및 광 트 위 져 현상 을 이용 하 는데 , 상기 기계 적 기둥 을 이용 한 입자 분류기 는 다종 의 입자 가 포함 되 는 시료 를 기계 적 인 기둥 내 에서 입자 의 크기 에 따라 발생 하 는 거동 차이 로 분류 하 며 , 광 트 위 져 현상 을 이용 한 입자 분류기 는 다종 의 입자 가 포함 되 는 시료 를 광 트 위 져 현상 에 의해 생성 된 격자 를 통과 하 게 하 여 입자 를 분류 한다 .