일 실시 예 에서 , TFT 회로 층 ( 147 ) 에 는 복수 의 서미스터 ( 147 b ) 가 배치 될 수 있 다 . 예 를 들 어 , 상기 복수 의 서미스터 ( 147 b ) 는 복수 의 피에조 TFT ( 147 a ) 및 복수 의 디스플레이 TFT ( 147 c ) 사이 영역 에 교번 적 으로 배치 될 수 있 다 . 상기 복수 의 서미스터 ( 147 b ) 는 디스플레이 ( 140 ) 상 에서 사용 자 신체 ( 예 : 손가락 ) 가 접촉 되 는 일 영역 에 대한 온도 를 측정 할 수 있 으며 , 측정 된 온도 는 지문 센서 층 ( 144 ) 이 획득 하 는 사용 자 지문 정보 에 따른 지문 이미지 의 보정 에 참조 될 수 있 다 . 예 를 들 어 , 상기 사용 자 지문 정보 의 획득 시점 ( time ) 에 복수 의 서미스터 ( 147 b ) 중 적어도 일부 에 의해 측정 되 는 온도 값 은 전술 된 룩 업 테이블 상 에서 관계 되 는 배경 이미지 를 획득 하 는 데 이용 될 수 있 으며 , 획득 되 는 배경 이미지 는 상기 사용 자 지문 정보 에 기초 하 여 생성 되 는 지문 이미지 상 에서 노이즈 를 제거 하 기 위한 기준 이미지 로 참조 될 수 있 다 .