도 4 는 , 도 3 에 있 어서 의 화살표 방향 ( < 100 > 방위 ) 으로 , 상기 투과 전자 현미경 ( TEM ) 에 딸린 에너지 분산 형 X 선 분석 ( EDX : Energy Dispersive X - ray spectroscopy ) 장치 ( 상품명 : 「 JED - 2300 」 , 닛폰 덴 시 가 부시 키 가 이샤 제조 ) 를 이용 하 여 조성 분석 을 한 결과 를 도시 하 는 그래프 이 다 . 도 4 의 그래프 는 , 횡축 을 화살표 방향 ( < 100 > 방위 ) 의 측정 거리 로 하 고 , 종축 을 Al 의 원 자비 ( Al / ( Al + Ti ) ) 로 하 고 있 다 . 그리고 도 4 에 는 , < 100 > 방위 를 따른 Al 의 원 자비 의 변화 , 즉 경질 입자 의 내부 의 < 100 > 방위 를 따른 조성 의 변화 가 도시 되 어 있 다 . EDX 장치 를 이용 하 여 분석 함 으로써 , 그 분석 위치 에 존재 하 는 원자 의 구성 비율 을 산출 할 수 있 다 . 도 4 에 있 어서 , 제 1 단위 상 은 , Al 의 원 자비 가 0 . 7 이상 0 . 96 이하 가 되 는 범위 를 차지 한다 . 제 2 단위 상 은 , Al 의 원 자비 가 0 . 5 를 넘 으며 0 . 7 미만 이 되 는 범위 를 차지 한다 . 즉 , 제 1 단위 상 과 제 2 단위 상 은 Al 의 원 자비 가 0 . 7 인 것 을 경계 로 구별 된다 .