따라서 , 레이저 조사 광학계 ( 3 ) 의 전체 를 상승 또는 하강 시키 면서 , 전자 카메라 ( 37 ) 의 핀트 판정 출력 을 감시 하 면 , 레이저 조사 대상물 에 집 광점 이 일치 하 고 있 는지 의 여부 를 알 수 있 다 . 또한 , 어떤 기준 높이 로부터 의 강하 거리 를 계측 하 면서 , 전자 카메라 ( 37 ) 의 핀트 판정 출력 을 감시 하 면 , 핀트 가 맞 은 때 까지 의 강하 거리 계 측 치 에 의거 하 여 , 기준 높이 로부터 그 레이저 조사 대상물 까지 의 강하 거리 를 알 수 있 다 . 후술 하 는 바 와 같이 , 이 실시 형태 에서 는 , 상술 한 레이저 조사 광학계 ( 3 ) 의 작용 을 이용 함 으로써 , 전사판 의 높이 방향 위치 결정 제어 를 실현 하 고 있 다 .