SP 1 에서 수행 된 관찰 및 도 7 에 언급 된 것 은 원자 현미경 ( atomic force microscope , AFM ) 에 의해 수행 된 거칠 기 측정 과 관련 되 어 있 다 . 이것 은 현미경 을 사용 하 여 표면 의 2 × 2 ㎛ 2 내지 40 × 40 ㎛ 2 을 측정 한 표면 의 일부 를 주사 하 여 결정 된 흠결 의 크기 의 제곱 평균 제곱근 ( root mean square , RMS ) 로 거칠 기 를 나타낼 수 있 는데 , 이 RMS 거칠 기 는 옹 스트롱 ( Å ) 으로 표현 된다 .