먼저 데이터 테스트 패드 부 에 대하 여 살펴보 면 , 도 6 에 도시 된 바 와 같이 , 데이터 테스트 패드 ( 125 R 1 . .. 125 Rm ) 은 그 하부 에 형성 된 게이트 전극 층 구성 물질 로 이루어진 단락 패턴 ( 141 ) 에 의하 여 공통 으로 연결 된다 . 상기 단락 패턴 ( 141 ) 의 일 측 에 는 오토 프로브 패드 ( 140 b ) 가 연결 되 어 있 고 , 상기 오토 프로브 패드 ( 140 a ) 가 연결 된 일 측 의 반대 측 에 는 화소 전극 층 구성 물질 로 이루어진 패턴 ( 150 b ) 이 오토 프로브 패드 ( 140 b ) 와 연결 된다 .