위 에서 설명 된 바 와 같이 , 하나 이상 의 약한 변수 의 값 은 노광 후 하나 이상 의 후속 공정 , 예 를 들 어 PEB , 레지스 트 층 의 현상 , 에칭 , 증착 , 도핑 , 및 / 또는 패 키 징 으로 인한 결함 이 있 을 것 인지 여부 를 예측 하 는 데 사용 될 수 있 다 . 결함 이 예측 되 면 , 하나 이상 의 변수 의 제 1 그룹 , 하나 이상 의 변수 의 제 2 그룹 및 / 또는 하나 이상 의 변수 의 제 3 그룹 의 하나 이상 의 변수 의 값 은 조정 되 어 강력 한 변수 의 새로운 핑거 프린트 를 얻 을 수 있 다 . 이 는 위 에서 설명 된 공정 을 사용 하 여 하나 이상 의 약한 변수 의 값 들 의 새로운 세트 가 재 구성 될 수 있 도록 수행 된다 . 이러 한 조정 은 하나 이상 의 약한 변수 의 값 들 의 새로운 세트 에 기초 하 여 결함 이 예측 되 지 않 을 때 까지 반복 적 으로 수행 될 수 있 다 .