실시 예 4 에서 얻 어 진 반도체 나노 입자 에 대하 여 X 선 회절 ( XRD ) 패턴 을 측정 하 고 , 정 방정 ( 칼 코파 이 라이트 형 ) 의 AgInS 2 , 및 사방 정의 AgInS 2 와 비교 하 였 다 . 측정 한 XRD 패턴 을 도 3 에 도시 한다 . XRD 패턴 으로부터 , 실시 예 4 의 반도체 나노 입자 의 결정 구조 는 , 정방 정의 AgInS 2 와 거의 동일 한 구조 임 을 알 수 있 었 다 . XRD 패턴 은 , 리가 쿠 사제 의 분말 X 선 회절 장치 ( 상품명 SmartLab ) 를 사용 하 여 측정 하 였 다 .