의 집합 에 대한 평균 적 인 이진 크로스 엔트로피 손실 을 계산 할 수 있 다 . 여기 서 는 클래스 의 총 개수 를 나타낸다 . 다른 정보 ( 예 를 들 어 , 이진 분할 맵 ( binary segmentation map ) ) 가 이용 가능 하 다면 , 클 래스 들 과 관련 있 는 모양 정보 ( shape information ) 를 만들 기 위하 여 픽셀 단위 의 실측 자료 맵 ( 정답 맵 ) 이 정의 될 수 있 다 . 그러나 , 본 실시 예 에서 는 확장 된 실측 자료 를 이진 행렬 로 간단히 설계 할 수 있 다 . 예 를 들 어 , 모든