석출 물 의 입자경 에 대해서 는 , 우선 , 150 , 000 배 의 TEM ( 투과 전자 현미경 ) 의 투과 전자 상 을 상술 한 「 WinROOF 」 에 의해 2 치화 하 여 석출 물 을 추출 했 다 . 그리고 각 석출 물 의 면적 의 평균치 를 산출 하 고 , 면적 의 평균치 로부터 계산 한 입자경 을 평균 입자경 으로 했 다 . 또 , 각각 의 석출 물 의 입자경 으로부터 , 30 ㎚ 이하 의 석출 물 개수 의 비율 을 측정 했 다 . 단 , 150 , 000 배 의 TEM 의 투과 전자 상 에서 는 , 얻 어 진 상 을 더욱 확대 해도 1 ㎚ 정도 까지 밖에 관찰 할 수 없 기 때문 에 , 1 ㎚ 보다 큰 석출 물 중 에서 의 비율 이 된다 . 또한 , 치수 의 측정 정밀도 상 , 2 ㎚ 미만 의 석출 입자 에 대해서 는 , 문제 가 있 다고 생각 되 었 지만 , 2 ㎚ 미만 의 석출 입자 가 차지 하 는 비율 이 , 모든 시료 에서 20 % 에 못 미쳤 기 때문 에 , 이대로 측정 을 계속 했 다 . 또한 , 석출 물 의 측정 은 가공 중앙부 ( 4 ) 에서 행하 고 , 일부 , 가공 단부 ( 5 ) 의 재결 정부 에서 도 행했 다 . 또 , 금속 조직 이 미재 결정 상태 이 면 전위 ( 轉位 ) 밀도 가 높 으므로 , TEM 으로 석출 물 의 측정 이 곤란 하 다 . 따라서 , 미재 결정 부 에 있 는 석출 물 은 TEM 에 의한 측정 개소 로부터 제외 하 고 있 다 .