상기 제 1 로 테이터 ( 7 ) 는 테스트 트레이 ( T ) 를 수평 상태 에서 수직 상태 로 회전 시키 는 구성 으로서 , 테스트 할 반도체 소자 의 로딩 이 완료 된 테스트 트레이 ( T ) 를 상기 로딩 부 ( 2 ) 에서 회전 시켜 수직 상태 로 전환 하 며 , 그 에 따라 상기 테스트 트레이 ( T ) 는 상기 제 1 챔버 ( 4 ) , 테스트 유닛 ( 5 ) , 제 2 챔버 ( 6 ) 간 을 수직 상태 로 이송 되 면서 테스트 가 수행 된다 .