본 발명 의 검 출부 ( 200 ) 는 위 와 같 은 입자 들 의 특유 의 움직임 에 의한 전기 적 특성 을 측정 함 으로써 시료 의 특성 을 검출 한다 . 상기 전기 적 특성 에 는 두 전극 사이 에 존재 하 는 매질 에 따라 매우 다양 한 양상 을 가질 수 있 는데 , 예 를 들 면 제 1 전극 ( 210 ) 과 제 2 전극 ( 229 ) 사이 의 공간 의 절연 매질 에 쌍극자 가 존재 하 거나 혹은 대전 된 입자 가 존재 할 경우 정전 용량 이 증가 하 는 경향 이 있 으며 이러 한 정전 용량 의 변화 를 측정 함 으로써 시료 의 특성 을 검출 할 수 가 있 다 . 또한 , 특히 쌍극자 모멘트 의 양 혹은 전하량 과 직접 적 으로 관계 되 는 유전 상수 의 변화 나 , 또한 입자 의 질량 , 크기 와 주위 환경 에 많 은 영향 을 받 는 공진 주파수 의 변화 를 측정 할 수 도 있 다 . 또한 , 상기 제 1 전극 과 제 2 전극 사이 에 교류 신호 전압 이 인가 될 때 의 저항 에 관계 되 는 임피던스 나 어드미턴스 의 변화 를 이용 할 수 도 있 을 것 이 다 . 이 들 값 역시 두 전극 사이 의 공간 의 이온 의 농도 , DNA 등 의 존재 유무 및 길이 에 따라 다른 값 을 나타낸다 .