도 11 ( A ) 및 도 11 ( B ) 를 참조 하 여 거리 ( CL 1 - CL 4 ) 조정 방법 의 예 를 설명 한다 . 조정 방법 은 이하 의 설명 에 한정 되 지 않 는다 . 우선 , 립 판 ( 210 , 211 ) 및 이 너 데 클 판 ( 223 , 224 ) 이 소정 사이즈 를 갖 도록 얻 어 진다 . 두 번 째 로 , 도 11 ( A ) 에 도시 된 바 와 같이 , 립 판 ( 210 , 211 ) 과 내부 텍 클 판 ( 223 , 224 ) 이 조합 된다 . 세 번 째 로 , 거리 ( CL 1 - CL 4 ) 가 립 판 ( 210 , 211 ) 과 내부 텍 클 판 ( 223 , 224 ) 의 조합 직후 계측 된다 . 계측 시 에 이너 데 클 판 ( 223 ) 에 방향 ( A 2 ) 으로 힘 이 가해져서 이너 데 클 판 ( 223 ) 의 면 ( 223 d ) 과 립 판 ( 221 ) 의 면 ( 221 d ) 이 서로 접촉 될 수 있 다 . 도 11 ( A ) 에 도시 된 이너 데 클 판 ( 224 ) 에 의하 면 , 거리 ( CL 1 - CL 4 ) 의 계측 이 동일 한 방식 으로 이루어진다 . 네 번 째 로 , 이너 데 클 판 ( 223 , 224 ) 이 제거 되 고 , 거리 ( CL 1 - CL 4 ) 이 최대 9 ㎛ 가 되 도록 면 ( 223 b , 224 b ) 가공 이 이루어진다 . 따라서 , 도 11 ( B ) 에 도시 된 바 와 같이 , 거리 ( CL 1 - CL 4 ) 가 소정 값 을 갖 도록 조정 된다 . 방향 ( A 2 ) 은 유출 방향 ( A 1 ) 이 될 수 있 다 .