표적 을 검출 하 는 과정 ( S 223 ) 은 표적 신호 와 클러터 신호 를 모두 포함 하 는 레이더 신호 의 출력 값 에 대하 여 테스트 셀 ( T ) 의 출력 값 과 임계 치 를 비교 하 여 표적 을 검출 한다 . 이때 , 테스트 셀 ( T ) 의 출력 값 이 임계 치 보다 큰 값 을 가지 게 되 면 , 해당 테스트 셀 ( T ) 은 표적 신호 의 출력 값 을 저장 하 고 있 는 것 으로 판단 하 여 표적 을 검출 하 게 된다 . 테스트 셀 ( T ) 의 출력 값 과 임계 치 를 비교 하 여 표적 을 검출 하 는 내용 은 일정 오경 보율 ( CFAR ) 처리 에 있 어서 일반 적 으로 적용 되 는 구성 과 동일 한 바 , 이 에 대한 상세 한 설명 은 생략 하 기 로 한다 .