개별 적 인 다이어프램 들 을 면하 는 조명 광 방사 다발 의 에지 가 필드 패 싯 미러 의 모든 필드 패 싯 들 의 서브 그룹 ( subgroup ) 에 의해 필드 면내 에서 조명 되 는 , 배열 은 , 개별 적 인 다이어프램 들 을 면하 는 필드 면내 에서 의 조명 광 방사 다발 의 에지 에서 의 필드 패 싯 이미지 들 의 일치 가 모든 필드 패 싯 이미지 들 에 대해서 달성 되 지 않 을지라도 , 필드 강도 설정 디바이스 의 조명 - 각도 - 독립 효과 를 보장 한다 .