이 와 같이 , 본 발명 의 전기 검사 장치 는 제 1 기판 과 제 2 기판 사이 를 연결 하 는 연결부 의 재질 적 해결 과 구조 적 해결 을 통하 여 제 1 기판 에 가해 지 는 가압 을 충 분하 게 줄일 수 있 고 , 더불 어 수직 방향 의 가압 을 다른 방향 으로 도 충분 하 게 분산 시킬 수 있 다 . 이 에 , 본 발명 의 전기 검사 장치 는 시간 이 경과 하 여도 제 1 기판 이 휘어지 는 것 을 충분 하 게 방지 할 수 있 고 , 그 결과 제 1 기판 의 프로브 팁 이 구비 된 제 1 표면 이 갖 는 평탄 도 를 보다 균일 하 게 유지 할 수 있 다 . 또한 , 패드 들 각각 과 접촉 하 는 연결부 의 접촉 면적 을 확장 시킬 수 있 기 때문 에 제 1 기판 과 제 2 기판 사이 에서 발생 하 는 콘 택 저항 도 충분 하 게 감소 시킬 수 있 다 .