" 도 3 은 이 경우 여전히 웨이퍼 ( 403 ) 의 일부 인 무선 다이 ( 온 - 칩 안테나 구조물 ( 106 ) 을 갖 는 ) 인 DUT ( 104 ) 를 테스트 하 는 테스트 시스템 ( 100 ) 을 도시 한다 . 웨이퍼 ( 403 ) 는 웨이퍼 홀딩 메커니즘 ( 308 ) 에 의해 유지 된다 . 인쇄 배선 보드 ( 410 ) 는 무선 다이 ( DUT ( 104 ) ) 의 신호 및 전력 패드 들 상 에 "" 아래 "" 로 터치 하 는 프로브 들 을 가져서 ", 이 들 을 테스트 케이블 들 일 수 있 는 라인 들 ( 124 , 122 ) 을 통하 여 테스트 설비 ( 116 ) 에 전기 적 으로 연결 한다 . 이 경우 , 인터페이스 보드 ( 108 ) 및 보드 ( 410 ) 는 하나 의 무선 다 이 다음 에 다른 무선 다이 를 순차 적 으로 테스트 하 기 위해 , 보드 ( 410 ) 를 웨이퍼 ( 403 ) 에 대해 자동 으로 이동 시킬 수 있 는 웨이퍼 프로브 어셈블리 또는 웨이퍼 프로브 테스트 스테이션 의 일부 일 수 있 다 . 이 는 보드 ( 410 ) 를 다른 다이 로 이동 시키 는 동안 웨이퍼 ( 403 ) 가 고정 되 게 유지 함 으로써 , 또는 웨이퍼 ( 403 ) 를 이동 시키 는 동안 보드 ( 410 ) 가 고정 되 게 유지 함 으로써 , 수행 될 수 있 다 . 유사 하 게 , 웨이퍼 ( 403 ) 또는 보드 ( 410 ) 중 어느 하나 는 다른 것 이 수직 으로 이동 되 는 동안 고정 될 수 있 으므로 , 프로브 들 이 무선 다이 의 패드 들 상 에 터치 다운 한 다음 무선 다이 의 패드 들 을 리프트 오프 ( lift off ) 할 수 있 다 .