0 . 65 의 개구수 ( NA ) 및 650 nm 의 파장 이 광 레코딩 매체 ( 10 ) 를 판독 하 기 위해 이용 된다 . 기록 된 ( 무정형 의 ) GeSbTe 마크 ( 6 ) 의 굴절 률 이 n = 4 . 2 + i * 1 . 9 이 다 . 기록 된 마크 ( 6 ) 가 390 nm 의 길 이 및 320 nm 의 폭 을 갖 는다 . 위상 변경 GeSbTe 층 에 대한 대안 으로서 , 레코딩 층 은 무기 레코딩 층 , 예컨대 Cu / Si 이중층 일 수 있 다 .