또한 , 상기 와 같 은 목적 을 달성 하 기 위한 본 발명 에 의한 반도체 소자 의 제조 방법 은 적어도 하나 이상 의 반도체 소자 를 제조 하 는 단계 ; 상기 각 반도체 소자 를 전술 한 프레임 , 캐리어 모듈 , 아이디 식별 홈 및 식별 블록 을 포함 한 테스트 트레이 에 안착 하 는 단계 ; 상기 테스트 트레이 에 안착 된 반도체 소자 를 소정 의 온도 까지 가열 또는 냉각 하 는 단계 ; 상기 테스트 트레이 의 식별 홈 깊이 를 측정 하 여 테스트 트레이 의 ID 를 식별 하 는 단계 ; 상기 테스트 트레이 에 안착 된 반도체 소자 를 테스트 하 는 단계 ; 상기 테스트 가 완료 된 테스트 트레이 를 소정 의 온도 까지 가열 또는 냉 각 하 는 단계 ; 및 상기 테스트 결과 에 따라 상기 반도체 소자 를 분리 하 는 단계 를 포함 하 여 형성 하 는 것 을 특징 으로 한다 .