흑연 - 단색화 Mo K α 방사 ( λ = 0 . 7107 Å ) 가 장착 된 노니 우스 카파 ( Nonius Kappa ) CCD 회절계 를 이용 하 여 실온 에서 회절 데 이타 를 수집 하 였 다 . 2 θ 범위 에 걸쳐 ω 스캔 모드 를 사용 하 여 전체 데 이타 세트 를 수집 하 고 , 회절계 ( 카파 CCD 소프트웨어 , 노니 우스 BV , 네 델 란 드 델프트 소재 , 1999 ) 와 관련 된 절차 를 이용 하 여 프로세싱 하 였 다 . 최종 단위 셀 파라미터 는 전체 데 이타 세트 를 이용 하 여 측정 하 였 다 . 모든 구조 는 직접 방법 에 의해 해석 하 고 , SHELXTL 소프트웨어 패키지 ( 쉘 드릭 ( Sheldrick ) , GM . 1997 , SHELTL . 구조 결정 프로그램 . 버 젼 5 . 10 ( 미국 위스콘신주 매디슨 소재 의 브루커 ( Bruker ) AXS ) ) 를 사용 하 여 전체 - 행렬 최소 - 제곱법 에 의해 정밀 화 하 였 다 . 정밀화 에서 최소 화 된 함수 는