또한 , 상기 기술 적 과제 를 해결 하 기 위한 본 발명 의 비전 검사 방법 은 , 촬영 수단 에 선택 적 으로 구동 신호 를 발생 한 후 촬영 수단 으로부터 의 영상 신호 가 디지털 비디오 공유기 를 통해 분배 되 면 영상 데이터 를 분석 하 여 해당 반도체 패키지 의 정상 또는 불량 여부 를 판단 하 는 제 1 비전 컴퓨터 및 제 2 비전 컴퓨터 를 포함 하 는 비전 검사 시스템 에 있 어서 , 상기 제 1 비전 컴퓨터 를 통해 촬영 수단 으로 구동 제어 신호 를 출력 하 고 , 상기 디지털 비디오 공유기 로 입력 된 영상 데이터 를 제 1 비전 컴퓨터 로 분배 출력 하 고 , 상기 제 1 비전 컴퓨터 로 입력 된 영상 데이터 를 분석 하 여 정상 또는 불량 여부 를 판 단함 과 동시 에 제 2 비전 컴퓨터 를 통해 촬영 수단 으로 구동 제어 신호 를 출력 하 고 , 상기 디지털 비디오 공유기 로 입력 된 영상 데이터 를 제 2 비전 컴퓨터 로 분배 출력 하 고 , 상기 제 2 비전 컴퓨터 로 입력 되 는 영 상 데이터 를 분석 하 여 정상 또는 불량 여부 를 판 단함 과 동시 에 제 1 비전 카메라 를 통해 촬영 수단 으로 구동 제어 신호 를 출력 하 며 , 상기 제 1 비전 컴퓨터 및 제 2 비전 컴퓨터 의 판단 결과 에 따라 반도체 패키지 를 분류 하 는 것 을 포함 한다 .