본원 에서 말 하 는 「 헤이즈 」 또는 「 투과 헤이즈 」 란 본 발명 의 고분자 압 전 재료 의 내부 헤이즈 를 말 하 고 , 측정 방법 은 일반 적 인 방법 으로 측정 된다 . 구체 적 으로 는 , 실시 예 및 비교 예의 각 고분자 압 전 재료 의 내부 헤이즈 값 은 , 하 기 측정 조건 하 에서 하 기 장치 를 이용 하 여 두께 방향 의 광 투과성 을 측정 함 으로써 측정 하 였 다 . 본 발명 의 고분자 압 전 재료 의 내부 헤이즈 ( 이하 , 내부 헤이즈 ( H 1 ) 라고 도 함 ) 는 , 미리 유리판 2 장 사이 에 실리콘 오일 ( 신 에 츠 화학공업 주식회사 제 신 에 츠 실리콘 ( 상표 ) , 형 번호 : KF 96 - 100 CS ) 만 을 끼워 헤이즈 ( H 2 ) 를 측정 하 고 , 다음 으로 실리콘 오일 로 표면 을 균일 하 게 칠 한 필름 을 유리판 2 장 으로 끼워 헤이즈 ( H 3 ) 를 측정 하 고 , 하 기 식 과 같이 이 들 의 차이 를 취함 으로써 본 발명 의 고분자 압 전 재료 의 내부 헤이즈 ( H 1 ) 를 얻 었 다 .