종래 의 편광 필름 검사 장치 에 관련 된 기술 은 한국 공개 특허 공보 제 2005 - 13491 호 ( 공개 일 : 2005 . 02 . 04 ) 를 이용 하 여 설명 하 면 다음 과 같 다 . 한국 공개 특허 공보 제 2005 - 13491 호 ( 공개 일 : 2005 . 02 . 04 ) 에 공개 된 편광 필름 검사 장치 는 편광 필름 의 폭 방향 으로 다 수개 의 CCD 카메라 를 2 열 로 배열 설치 한 후 각 열 에서 편광 필름 의 결함 을 검사 한다 . 결함 이 발생 되 면 결함 이 발생 된 위치 에 도 1 에 도시 된 마커 ( marker ) ( 8 ) 에 의해 결함 위치 ( K ) 를 마킹 하 게 된다 .