일 측면 에서 , 단일 영역 내 에서 취해진 측정 의 수 는 패턴 으로 정의 된 측정 위치 의 수 보다 적 을 수 있 다 . 일 측면 에서 , 델타 값 은 패턴 에 정의 된 측정 위치 의 수 보다 적 은 미리 결정 된 초기 판독 회수 가 영역 에서 취해진 이후 에 그리고 동일 한 영역 에서 의 각각 의 추가 판독 이후 에 계산 될 것 이 고 , 델타 값 이 해당 영역 과 관련 된 임계 값 을 충족 하 거나 초과 하 면 추가 판독 값 이 취해 지 지 않 는다 .