채널 크랙 의 장애 모드 는 부서지 기 쉬운 무기 코팅 이 기계 적 변형 또는 열 적 사이클링 으로 처리 될 때 통상 적 으로 접하 게 된다 . 그러나 , 그러 한 크랙 의 시리즈 는 투명 필름 에서 용이 하 게 관찰 되 지 않 는다 . 친유성 형광 태그 의 용도 를 입증 하 기 위해서 , 외부 장력 하중 을 25 nm 의 ALD 알루미나 로 코팅 된 PEN 기재 에 가하 였 다 . 이어서 , 형광 태그 를 실시 예 5 에서 설명 된 절차 에 따라 그 견본 에 도포 하 였 다 . 도 2 는 5 % 변형 으로 신장 된 견본 의 게이지 섹션 에 걸쳐 확인 된 크랙 을 도시 한 것 이 다 . 그러 한 크랙 은 , 가해진 하중 에 직교 방향 으로 전파 되 는 것 으로 , 부서지 기 쉬운 필름 에서 응력 이 그 임계 적 한계 치를 초과 할 때 통상 적 으로 일어난다 . 도 2 A 에서 크랙 은 도 2 B 에 도시 된 견본 의 엣지 에서 의 크랙 과 는 구별 될 수 있 으며 , 그 엣지 에서 의 크랙 은 샘플 제조 중 에 발생 하 였 다 . 구체 적 으로 , 이러 한 엣지 에 위치 해 있 는 크랙 은 알루미나 ACD 코팅 된 견본 을 시험 하 기 전 에 일정 크기 로 절단 할 때 발생 하 였 다 . 도 2 B 는 전단 크랙 의 독특 한 특징 을 확인 한 것 이 며 , 그 전단 크랙 은 견본 의 엣지 부근 에서 신속 하 게 정지 한다 . 매우 우수 한 이미지 콘트 라스트 는 모든 공 초점 측정 에서 얻 었 는데 , 이 는 최소 샘플 제조 에 도 불구 하 고 크랙 이 용이 하 게 확인 가능 하 게 하 였 다 . 전계 방출 형 주사 전자 현미경 ( FESEM ) 을 사용 하 여 크랙 의 폭 을 측정 하 였 다 . 전단 크랙 의 전체 형성 된 영역 에서 , 약 20 nm 의 크랙 폭 이 JSM - 7401 F 전계 방출 형 주사 전자 현미경 ( JEOL Limitted ) 을 사용 하 여 관찰 되 었 다 ( 도 2 C ) .