일반 적 인 ATE 테스트 셀 ( 515 ) 은 대체로 테스트 헤드 ( 505 ) , 조종기 ( 535 ) , 인터페이스 ( 520 ) 및 취 급기 ( 525 ) 를 포함 한다 . 모든 핀 전자 기기 사이트 및 리소스 는 일반 적 으로 테스트 헤드 ( 505 ) 내 에 존재 한다 . 인터페이스 ( 520 ) 는 테스트 헤드 ( 505 ) 에 랫 칭 ( latching ) 결합 될 수 있 고 , 장치 전용 및 비 - 장치 전용 섹션 의 조합 으로 모든 핀 전자 기기 와 유틸리티 신호 를 연결 한다 . 테스트 장치 ( 510 ) 에 이웃 한 인터페이스 부분 ( 530 ) 은 본원 에서 장치 전용 인터페이스 ( 530 ) [ DSI ( 530 ) ] 로서 설명 된다 .