이 와 같 은 목적 을 달성 하 기 위한 본 발명 에 따른 프리즘 을 이용 한 전자 부품 검사 장치 는 전자 부품 을 검사 하 기 위해 많 은 양 을 담 아 놓 은 호퍼 를 통해 공급 되 는 상기 전자 부품 을 진동 작용 에 의해 이동 시키 는 피이 더 수단 ; 상기 피이 더 수단 을 통해 공급 되 는 전자 부품 을 순차 적 으로 공급 하 기 위해 소정 의 길이 를 갖 는 리니어 피이 더 수단 ; 상기 리니어 피이 더 수단 에 의해 공급 되 는 전자 부품 에 대해서 검사 가 용이 하 도록 유리판 으로 이루어진 회전 수단 ; 상기 회전 수단 에 의해 회전 되 는 전자 부품 에 대해 정확 한 검사 를 실시 하 도록 전자 부품 을 일렬 로 배열 하 기 위한 정렬 수단 ; 상기 정렬 수단 을 통해 정렬 된 전자 부품 의 각 면 의 형상 을 촬영 하 기 위한 촬영 ( 카 메 라 ) 수단 ; 및 상기 검사 완료 된 전자 부품 의 양품 과 불량품 을 분류 하 는 분류 수단 을 포함 하 고 , 상기 촬영 수단 은 카메라 앞 단 에 위치 하 여 카메라 에 의해 전자 부품 의 2 면 이상 의 영상 이 동시 에 획득 이 이루어지 도록 전자 부품 의 영상 정보 가 카메라 로 입사 될 수 있 게 광 경로 를 변경 시키 는 광 경로 변경 수단 을 더 포함 함 을 특징 으로 한다 .