몇몇 실시 예 에 따르 면 , 전계 형성 유닛 ( 100 ) 은 광 조사 장치 ( 500 ) 에 의해 광 ( hv ) 이 조사 되 는 동안 대상 기판 ( SUB ) 상부 에 전계 ( IEL ) 를 형성 할 수 있 다 . 전계 형성 유닛 ( 100 ) 은 쌍극자 정렬 장치 ( 1000 ) 의 프린팅 부 ( PA ) , 운송부 ( TA ) 및 열처리 부 ( HA ) 로 이동 할 수 있 고 , 광 조사 장치 ( 500 ) 도 프린팅 부 ( PA ) , 운송부 ( TA ) 및 열처리 부 ( HA ) 중 어느 한 영역 에 배치 될 수 있 다 . 상술 한 바 와 같이 , 쌍극자 ( DP ') 는 광 조사 장치 ( 500 ) 의 광 ( hv ) 에 의해 쌍극자 모멘트 가 증가 하 고 , 이 에 따라 전계 ( IEL ) 에 의해 더 강한 힘 을 전달 받 을 수 있 다 . 이 에 따라 , 대상 기판 ( SUB ) 상부 에서 쌍극자 ( DP ) 들 을 원활 하 게 정렬 시키 기 위해 , 일 실시 예 에 따르 면 전계 형성 유닛 ( 100 ) 은 광 조사 장치 ( 500 ) 가 광 을 조사 하 는 동안 에 전계 ( IEL ) 를 형성 할 수 있 다 . 다만 , 이 에 제한 되 는 것 은 아니 며 , 상술 한 바 와 같이 전계 형성 유닛 ( 100 ) 은 광이 조사 되 지 않 는 동안 전계 ( IEL ) 를 형성 할 수 도 있 다 .