본원 에 도시 된 바 와 같이 , 표면 적 이 클수록 , 샘플 을 동시 에 측정 하 기 위해 검출 장치 상 에 배치 될 수 있 는 마이크 로 - 디바이스 의 수 가 더 많 아 지 고 , 그 에 따라 검출 속도 가 증가 하 고 검사 에 필요 한 샘플 의 양 도 최소 화 되 기 때문 에 , 측정 표면적 을 최대 화 하 도록 검출 장치 설계 를 최적 화 하 는 것 이 바람직 하 다 .