본 발명 은 반도체 소자 테스터 에 관한 것 으로서 , 테스트 대상 반도체 소자 가 공급 되 고 , 테스트 후 양품 으로 판정 된 상기 반도체 소자 가 배출 되 는 공급 및 배 출부 , 상기 반도체 소자 가 삽입 되 는 삽입구 가 각각 구비 된 복수 의 테스트 영역 이 구비 되 어 있 는 테스트 부 , 상기 테스트 부 에 의해 불량품 으로 판정 된 반도체 소자 가 적재 되 는 불량 적 재부 , 및 상기 공급 및 배 출부 와 상기 테스트 부 의 사이 에 위치 하 고 , 상기 공급 및 배 출부 에서 상기 반도체 소자 를 픽업 하 여 상기 테스트 부 로 전달 하 는 전달 부를 포함 한다 .