한편 , 상기 본체 ( 1 ) 의 전방 에 는 서랍 식 으로 전 , 후진 되 는 리 젝 트 스택 커 ( 7 ) 가 구비 되 며 , 상기 리 젝 트 스택 커 ( 7 ) 에 는 도 6 에 도시 된 바 와 같이 비전 검사 결과 불량품 으로 분류 되 는 반도체 소자 들 이 수납 되 는 리 젝 트 버퍼 ( 71 ) 가 구비 되 어 , 리 젝 트 버퍼 ( 71 ) 에 수납 된 불량품 들 은 리 젝 트 스택 커 를 전방 으로 꺼내 어 작업자 가 육안 으로 검사 할 수 있 게 된다 .