신규 테스트 될 반도체 소자 가 적재 된 테스트 셔틀 ( 140 ) 은 우측 으로 이동 하 여 테스트 위치 ( TP ) 에 위치 되 고 , 연결기 ( 150 ) 는 테스트 셔틀 ( 140 ) 에 적재 된 반도체 소자 를 하방 으로 가압 하 여 테스트 소켓 ( TS ) 에 전기 적 으로 연결 시킨다 . 이 에 따라 테스터 에 의해 반도체 소자 가 테스트 된다 .