일 실시 예 에서 , 가요 성 회로 ( 110 ) ( 도 3 ) 는 고도 로 동시 적 인 방식 으로 집 적 회로 ( IC ) 장치 를 테스트 할 때 상당 한 효율 의 이점 을 제공 하 는 경제 적 이 고 신뢰 성 있 는 고 성능 ATE 신호 전달 시스템 을 제공 할 수 있 다 . 가요 성 회로 ( 110 ) 는 어레이 내 에서 사용 될 때 500 개 이상 의 메모리 장치 의 전체 핀 카운트 테스트 ( full pin count testing ) 를 동시 에 허용 할 수 있 고 , 사용 가능 한 IC 취 급기 시스템 에 의해 주로 제한 된다 .