상기 목적 은 본 발명 에 따라 , 듀얼 파장 디지털 홀로그래피 를 이용 한 3 D 측정 장치 에 있 어서 , 상호 상이 한 파장 과 편광 상태 를 갖 는 제 1 광 및 제 2 광 을 조사 하 는 광원 부 와 , 상기 광원 부 로부터 조사 되 는 상기 제 1 광과 상기 제 2 광 을 측정 광 경로 와 기준 광 경로 로 분할 하 여 출력 하 고 상기 제 1 광 및 상기 제 2 광이 상기 측정 광 경로 상 에 배치 된 측정 대상물 로부터 각각 반사 되 어 형성 되 는 제 1 측정 광 및 상기 제 2 측정 광이 입사 되 는 광분 할 간섭 부 와 , 상기 기준 광 경로 상 에 배치 되 어 상기 광분 할 간섭 부 로부터 의 상기 제 1 광 및 상기 제 2 광 을 각각 상기 제 1 측정 광 및 상기 제 2 측정 광 에 각각 소정 각도 기울어진 제 1 기준 광 및 제 2 기준 광 으로 변화 하 여 상기 광분 할 간섭 부 로 출력 하 는 기준 광 발생 부 와 , 상기 광분 할 간섭 부 로 입사 된 상기 제 1 측정 광과 상기 제 1 기준 광 간 의 간섭 에 의하 여 형성 된 제 1 간섭 광과 상기 광분 할 간섭 부 로 입사 된 상기 제 2 측정 광과 상기 제 2 기준 광 간 의 간섭 에 의하 여 형성 된 제 2 간섭 광 을 촬상 하 는 촬상부와 , 상기 촬상부에 의해 촬상된 상기 제 1 간섭 광 및 상기 제 2 간섭 광 으로부터 각각 홀로그램 을 추출 하 여 상기 측정 대상물 의 표면 형상 을 측정 하 는 제 어부 를 포함 하 는 것 을 특징 으로 하 는 듀얼 파장 디지털 홀로그래피 를 이용 한 3 D 측정 장치 에 의하 여 달성 된다 .