도 4 의 ( a ) 에서 , 단자 부 가 형성 된 영역 TE 의 하측 에 는 검사 용 TFT ( 110 ) 가 형성 되 어 있 다 . 검사 용 배선 ( 150 ) 을 TFT 의 SD 전극 ( 113 ) 으로서 사용 하 기 위해서 는 , 단자 배선 ( 15 ) 은 SD 메탈 ( 60 ) 로 형성 해 둘 필요 가 있 지만 , 본 실시 예 에서 는 단자 부 에서 , 단자 배선 ( 15 ) 은 모두 게이트 메탈 ( 50 ) 로부터 SD 메탈 ( 60 ) 로 전환 되 고 있 으므로 , 실시 예 2 와 같이 , 전환 단자 ( 20 ) 를 형성 할 필요 는 없 다 . 그 만큼 , 표시 장치 의 외형 을 작 게 할 수 있 다 .