그러나 , 기록 시 에 발생 하 는 터널 전류 에 의해 기억 소자 를 구성 하 는 게이트 절연 층 이 열화 되 기 때문 에 , 소정 횟수 의 기록 에 의해 기억 소자 가 기능 하 지 않 게 된다고 하 는 문제 가 생긴다 . 이 문제 의 영향 을 완화 시키 기 위해서 , 예 를 들 면 , 각 기억 소자 의 기록 횟수 를 균일화 하 는 수법 이 채용 되 지만 , 이것 을 실현 하 기 위해서 는 , 복잡 한 주변 회로 가 필요 하 게 되 어 버린다 . 그리고 , 이러 한 수법 을 채용 해도 , 근본 적 인 수명 의 문제 가 해소 되 는 것 은 아니 다 . 즉 , 플래시 메모리 는 정보 의 덮어쓰 기 빈도 가 높 은 용도 에 는 부적합 하 다 .