여기 서 I ( y ) 는 ADC ( 2 ) 에 의해 기록 된 데이터 를 나타내 는 기록 된 조도 함수 이 고 k 는 커넬 ( kernel ) 파라미터 로서 알려진 파라미터 이 다 . 함수 X ( y ) 는 노출 시간 동안 조도 를 나타낸다 . 커넬 k 는 더 일반 적 으로 는 예 를 들 어 판독 프로세스 가 비 균일 한 , CCD 엘리먼트 들 의 열 을 따라 변경 하 는 함수 일 수 있 다 . 커넬 이 공간 적 으로 ( spatially ) 변경 되 는 경우 에 , 커넬 함수 는 적분 내부 에서 고려 되 어야 한다 . 적분 항 ( integral term ) 은 y 번 째 CCD 엘리먼트 에 연관 된 전하 가 하위 CCD 엘리먼트 들 을 통해 지나갈 때 축적 되 는 전하 를 나타낸다 . 최종 기록 된 데이터 는 노출 동안 의 조도 와 전하 가 그 아래 있 는 엘리먼트 들 을 통해 지나갈 때 의 축적 의 합 을 나타내 기 때문 에 , k 가 지금 경우 에서 음 ( -) 의 상수 이 어야 한다는 것 을 알 수 있 다 .