그러나 , 종래 의 휴대폰 용 I / O 소켓 의 경우 금속 셸 과 단자 하우징 사이 의 결합 관계 가 견고 하 지 않 아 외부 입출력 플러그 를 자주 연결 하 게 되 면 금속 셸 에 대하 여 단자 하우징 의 유동 이 발생 하 게 되 고 , 그 에 따라 외부 입출력 플러그 와 단자 사이 의 접속 이 원활 하 게 이루어지 지 못하 는 문제점 이 있 었 다 .