본 발명 의 일 실시 예 에 따른 적층 형 반도체 장치 는 , 복수 개 의 관통 전극 을 통해 신호 전달 이 이루어지 도록 적층 되 며 , 각각 적어도 하나 이상 의 채널 이 할당 된 복수 개 의 반도체 칩 을 포함 하 고 , 상기 반도체 칩 들 은 각각 , 초기 신호 에 따라 할당 된 칩 아이디 신호 를 생성 하 는 아이디 할 당부 ; 및 상기 칩 아이디 신호 와 할당 된 채널 정보 에 따라 상부 칩 활성 화 신호 를 생성 하 고 , 상기 상부 칩 활성 화 신호 에 응답 하 여 상기 관통 전극 들 중 에서 열 ( Column ) 방향 으로 연결 된 관통 전극 들 에 대하 여 테스트 를 수행 하 여 관통 전극 들 의 불량 여부 를 검출 하 는 테스트 회로 를 포함 할 수 있 다 .