또한 , 테스트 제 어부 ( 500 ) 는 FPGA 칩 ( 100 ) 이 드라이버 의 기능 과 컴 패 레이터 의 기능 을 선택 적 으로 수행 하 도록 ALPG 칩 ( 400 ) 과 기준 전압 공급 부 ( 300 ) 를 제어 하 게 된다 . 구체 적 으로 , FPGA 칩 ( 100 ) 을 드라이버 로 동작 시키 고자 할 때 에 는 기준 전압 ( VTT ) 이 연결 회로 부 ( 210 ) 에 인가 되 지 않 도록 기준 전 압공 급부 ( 300 ) 를 제어 하 면서 각 드라이버 회로 ( 111 , 121 ) 에 논리 값 ' 1 ' 또는 ' 0 ' 이 인가 되 도록 ALPG 칩 ( 400 ) 을 제어 하 게 된다 . 이 에 따라 , ALPG 칩 ( 400 ) 으로부터 각 드라이버 회로 ( 111 , 121 ) 에 논리 값 ' 1 ' 이 입력 될 때 에 는 각 드라이버 회로 ( 111 , 121 ) 에서 미리 정해진 하이 레벨 입력 전압 ( high level input voltage ; VIH ) 이 연결 회로 부 ( 210 ) 로 출력 되 는 바 , 연결 회로 부 ( 210 ) 는 이렇게 FPGA 칩 ( 100 ) 으로부터 인가 된 VIH 를 DUT ( 800 ) 로 출력 하 는 것 이 다 . 마찬가지 로 , 각 드라이버 회로 ( 111 , 121 ) 에 논리 값 ' 0 ' 이 입력 될 때 에 는 각 드라이버 회로 ( 111 , 121 ) 에서 미리 정해진 로우 레벨 입력 전압 ( low level input voltage ; VIH ) 이 연결 회로 부 ( 210 ) 로 출력 된다 .