동일 한 특징 을 갖 는 빔 들 로 전송 되 는 한 종류 의 신호 들 에 대한 측정 결과 를 이용 해 셀 대표 값 을 계산 하 는 방법 에 대해서 는 다양 한 방법 들 을 고려 할 수 있 다 . 예 를 들 어 , 측정 값 을 합산 하 거나 , 평균 하 거나 , 가중 합산 , 또는 가중 평균 하 는 등 의 방법 을 사용 할 수 있 다 . 또한 , 상기 측정 값 은 기지국 빔 과 단말 빔 을 스 위 핑 하 여 측정 된 측정 결과 에 대해 L 1 필터 링 또는 L 3 필터링 을 적용 한 값 일 수 있 다 . 이 때 , 상기 측정 값 은 L 1 필터링 전후 또는 L 3 필터링 전후 에 합산 , 평균 , 가중 합산 , 또는 가중 평균 등 의 방법 을 통해 하나 의 값 으로 계산 될 수 있 으며 , 이후 과정 을 통해 셀 대표 값 이 계산 될 수 있 다 . 또한 , 상기 측정 값 은 빔 페어 별로 측정 되 거나 , 동일 한 기지국 빔 에 대해 측정 되 거나 , 동일 한 단말 빔 에 대해 측정 될 수 있 다 . 이러 한 방법 들 은 본 특허 에서 고려 하 고 있 는 한 종류 의 신호 들 만 을 이용 한 셀 대표 값 을 계산 하 는 방법 으로 동일 하 게 사용 될 수 도 있 다 .