따라서 , 반도체 메모리 장치 의 메인 엠 프 인 에 이 블 신호 ( MAE ) 생 성 회로 는 상기 제 1 내지 제 2 테스트 신호 ( TM < 0 : 1 >) 에 의해 메인 엠 프 인 에 이 블 신호 ( MAE ) 의 인 에 이 블 타이밍 을 조절 함 으로써 , 메인 엠 프 의 정상 동작 범위 를 용이 하 게 파악 할 수 있 고 , 상기 ' TAA ' 특성 또한 개선 할 수 있 다 .