또 , 상기 실시 형태 에서 는 , 검사 장치 가 X 선 검사 장치 ( 1 ) 인 형태 를 일례 로 설명 하 였 다 . 그러나 , 본 개시 에 따른 검사 장치 는 X 선 검사 장치 ( 1 ) 에 한정 되 지 않 고 , 전자파 를 이용 하 여 물품 ( A ) 의 이물 검사 를 행하 는 장치 일 수 있 다 . 여기 서 , 전자 파란 X 선 , 근적외선 , 빛 , 기타 전자파 이 다 . 또 , 물품 ( A ) 의 종류 는 특별히 한정 되 지 않 고 , 다양 한 물품 ( A ) 을 검사 대상 으로 할 수 있 다 . 이 와 같이 , 이 물 의 종류 는 특히 한정 되 지 않 고 , 다양 한 이물 을 검사 대상 으로 할 수 있 다 .