본 발명 에 의해서 테스트 시 에 외부 에서 입력 되 는 신호 를 크 게 줄일 수 있 는 반도체 메모리 장치 를 용이 하 게 개발 할 수 있 다 . 따라서 테스트 장비 에서 반도체 메모리 장치 로 제공 하 는 테스트 신호 의 수 를 크 게 줄일 수 있 기 때문 에 , 테스트 장비 의 프로브 의 수 를 줄일 수 있 으며 , 동시 에 많 은 반도체 메모리 장치 의 테스트 를 진행할 수 있 다 .