본 변형 예 에 관한 시험 장치 ( 10 ) 는 적어도 1 개 의 출력 단자 ( 28 ) 와 , 복수 의 입력 단자 ( 30 ) 와 , 복수 의 논리 비 교부 ( 32 ) 와 , 복수 의 선택 부 ( 34 ) 와 , 복수 의 AND 회로 ( 36 ) 를 더 구비 한다 . 출력 단자 ( 28 ) 는 시험 신호 공급 부 ( 14 ) 에 접속 된다 . 시험 신호 공급 부 ( 14 ) 는 출력 단자 ( 28 ) 를 통해서 커맨드 를 피 시험 메모리 ( 500 ) 에 대하 여 공급 한다 .