그러나 , 상기 기술 의 접속 부재 구조 에서 , 전지 셀 의 전극 단자 를 접속 부재 의 체결 용 홈 에 삽입 하 기 가 용이 하 지 않 고 , 낙하 , 드럼 테스트 등 과 같 은 신뢰 성 테스트 시 행시 전극 단자 와 접속 부재 의 체결 부위 의 접촉 저항 이 증가 하 고 , 단락 이 유발 될 수 있 으며 , 체결 용 홈 부위 가 벌어지 는 문제점 이 발생 하 였 다 .