일반 적 으로 , 각 시험 모듈 은 시험 시 컨스 에 따라 순차 적 으로 생성 한 논리 패턴 을 시험 주기 에 따라 동작 하 는 파이프라인 에 의해 순차 적 으로 송신 하 여 피 시험 디바이스 에 공급 한다 . 즉 , 파이프라인 의 최 종단 의 회로 에서 의 신호 출력 의 개시 타이밍 을 제어 함 으로써 각 시험 모듈 로부터 피 시험 디바이스 에 시험 패턴 의 공급 을 개시 하 는 타이밍 을 동기 시킬 수 있 다 . 보다 구체 적 으로 는 , 각 파이프라인 의 단수 분 의 논리 패턴 을 미리 생성 해 격납 해 두 어 , 각 파이프라인 의 최 종단 의 회로 에 실질 적 으로 동시 에 시험 패턴 의 출력 을 개시 시킨다 . 이러 한 동작 에 의해 , 시험 주기 가 다른 복수 의 시험 모듈 에서 의 각 시험 패턴 의 공급 개시 를 동기 시킬 수 있 다 .