예 를 들 어 , 기존 DS - TWR 에서 early path insertion 으로 인해 공격 이 성공 할 확률 을 pr ( pr ≤ 1 ) 라고 가정 하 고 , 첫 번 째 라운드 트립 측정 에서 early path insertion 으로 인해 공격 이 성공 할 확률 을 pr 1 ( pr 1 ≤ 1 ) 이 라고 가정 하 고 , 두 번 째 라운드 트립 측정 에서 early path insertion 으로 인해 공격 이 성공 할 확률 을 pr 2 ( pr 2 ≤ 1 ) 라고 가정 하 고 , | Tr 1 - Tr 2 | ≤ Vth 조건 을 만족 할 확률 을 pth ( pth ≤ 1 ) 라고 가정 한다 . 이 때 , 기존 DS - TWR 을 이용 하 는 환경 에서 공격자 의 공격 성공 가능 성 은 pr 이 지만 , 본 개시 의 일 실시 예 에 따라 두 번 의 라운드 트립 측정 을 이용 하 여 무결성 검사 를 수행 할 경우 , 공격자 의 공격 성공 가능 성 은 pr 1 · pr 2 · pth 로 대폭 감소 될 수 있 다 .