도 8 및 도 9 에 따르 면 , 스캔 라인 ( S ) 이 제 1 전극 ( 221 ) 과 중첩 되 게 배치 된다 . 그러나 , 본 발명 은 반드시 이 에 한정 되 는 것 은 아니 며 , 스캔 라인 ( S ) , 데이터 라인 ( D ) 및 Vdd 라인 ( V ) 을 포함 한 복수 의 도전 라인 들 중 적어도 하나 가 상기 제 1 전극 ( 221 ) 과 중첩 되 도록 배치 시킬 수 있 으며 , 경우 에 따라서 는 스캔 라인 ( S ) , 데이터 라인 ( D ) 및 Vdd 라인 ( V ) 을 포함 한 복수 의 도전 라인 들 모두 제 1 전극 ( 221 ) 과 중첩 되 거나 제 1 전극 ( 221 ) 옆 에 배치 시킬 수 있 다 .