지금 까지 살펴본 바 에 의하 면 , 본 실시 예 에 따른 반도체 메모리 장치 는 테스트 모드 에서 는 외부 에서 어드레스 와 데이터 를 입력 시키 지 않 고 , 내부 에 있 는 회로 에서 어드레스 와 데이터 를 제공 한다 . 따라서 테스트 시 에 외부 에서 입력 시켜야 할 신호 의 수 가 크 게 줄어들 게 되 고 , 그 로 인해 본 실시 예 에 따른 반도체 메모리 장치 는 테스트 장비 에서 테스트 를 위한 프로브 를 많이 필요 로 하 지 않 는다 . 또한 테스트 를 위한 어드레스 와 데이터 를 를 외부 에서 직접 입력 시키 지 않 기 때문 에 테스트 시간 을 절약 할 수 있 으며 , 정확 한 데이터 가 내부 에 입력 되 었 는지 에 대한 검증 절차 는 따로 필요 하 지 않 기 때문 에 테스트 과정 에 신뢰 성 을 높일 수 있 다 .