한편 , 제조 된 판 의 표면 조도 는 AFM 프로브 는 직사각 형 모양 의 수직 스프링 상수 가 KN = 0 . 95 N / m 인 캔 틸 레버 ( cantilever ) 와 피라미드 모양 의 끝 이 둥근 팁 으로 구성 되 어 있 고 , AFM ( XE 70 , Park Scientific Instruments , South Korea ) 측정 실험 은 실온 에서 밀봉 된 상태 로 수행 되 었 다 . 표면 거칠 기 는 AFM 장비 와 같이 구매 한 XEI 프로그램 ( version 1 . 6 . 5 ) 을 사용 하 여 , 25 μ m Х 25 μ m 크기 에서 측정 된 3 차원 표면 이미지 로부터 제곱 평균 값 ( RMS : root mean squared ) 을 계산 하 여 구하 였 다 .