상술 한 바 와 같이 , 본 발명 의 실시 예 에 따른 회로 기판 검사 장치 ( 100 ) 는 기판 검사 공정 시 회로 기판 ( 10 ) 에 접속 되 는 테스트 핀 들 ( 114 ) 을 구비 하 는 프로브 부 ( 110 ) 및 상기 회로 기판 ( 10 ) 을 지지 하 는 고정부 ( 120 ) 를 포함 하 되 , 상기 고정부 ( 120 ) 는 상기 회로 기판 ( 10 ) 의 측면 ( 14 ) 에 대향 되 며 상기 회로 기판 ( 10 ) 의 가장자리 일부 가 삽입 되 어 수용 할 수 있 는 슬릿 ( 123 ) 을 가질 수 있 다 . 여기 서 , 상기 슬릿 ( 123 ) 은 상기 이동 블럭 ( 122 ) 이 상기 회로 기판 ( 10 ) 을 향해 이동 될 때 , 상기 회로 기판 ( 10 ) 의 좌우 위치 가 다소 벗어나 거나 상기 이동 블럭 ( 122 ) 이 기 설정 된 정 지점 ( 20 ) 에 비해 상기 회로 기판 ( 10 ) 으로 더 접근 하 는 경우 , 상기 회로 기판 ( 10 ) 의 가장자리 일부 를 수용 하 여 , 상기 이동 블럭 ( 122 ) 이 상기 회로 기판 ( 10 ) 을 측 방향 으로 가압 하 는 것 을 방지 할 수 있 다 . 이 에 따라 , 본 발명 에 따른 회로 기판 검사 장치 는 회로 기판 ( 10 ) 의 좌우 위치 가 벗어나 거나 , 이동 블럭 ( 122 ) 의 이동 거리 가 상기 정지 점 ( 20 ) 에 비해 상기 회로 기판 ( 10 ) 을 향해 더 접근 하 는 경우 에 도 , 상기 회로 기판 ( 10 ) 의 뒤틀림 을 방지 하 여 상기 회로 기판 ( 10 ) 과 상기 테스트 핀 들 ( 114 ) 간 의 전기 적 인 접속 불량 을 방지 함 으로써 , 기판 검사 공정 효율 을 향상 시킬 수 있 다 .