디스크 드라이브 의 바로 주위 의 테스트 환경 은 엄밀 하 게 규제 된다 . 테스트 환경 에서 의 최소 온도 변화 는 정확 한 테스트 조건 및 디스크 드라이브 의 안전 을 위해 중요 하 다 . 고용량 , 빠른 회전 속도 및 작 은 헤드 간극 을 갖 는 최신 세대 의 디스크 드라이브 는 진동 에 대해 보다 민감 하 다 . 과도 한 진동 은 테스트 결과 의 신뢰 도 및 전기 접속 의 완전 성 에 영향 을 미칠 수 있 다 . 테스트 조건 하 에서 , " 드라이브 자체 는 지지 구조물 또는 고정구 를 통해서 인접 유닛 에 진동 을 전파 시킬 수 있 다 . 외부 진원 과 의 이러 한 진동 "" 누화 ( cross - talking ) "" 는 ", 수율 저하 및 제작비 증가 를 초래 할 수 있 는 범프 ( bump ) 에러 , 헤드 슬 랩 ( head slap ) 및 NRRO ( non - repetitive run - out ) 에 기여 할 수 있 다 . 현재 의 디스크 드라이브 테스트 시스템 은 시스템 내 의 과도 한 진동 에 기여 하 거나 및 / 또는 큰 설치 면적 을 요구 하 는 자동 화 및 구조 적 지지 시스템 을 채용 하 고 있 다 .