이 와 같이 , 실시 예 2 에 관련 된 X 선 촬상 장치 가 구비 하 는 화상 처리 시스템 에 의하 면 , 변동 량 산 출부 ( 21 ) 는 각 화소 에 대하 여 인접 화소 가 인접 하 는 방향 마다 변동 량 SX , SY 를 개별 적 으로 산출 하 고 , 에지 정도 산 출부 ( 23 ) 는 각 화소 에 대하 여 각 방향 의 변동 량 SX , SY 에 각각 기초 하 여 에지 정도 RX , RY 를 개별 적 으로 산출 한다 . 또한 , 이 들 에지 정도 RX , RY 로 합성 한 합성 에지 정도 R 을 산출 한다 . 이 와 같 은 에지 정도 RX , RY 또는 합성 에지 정도 R 에 의하 면 , 화소 값 A 의 구배 가 세로 방향 이나 가로 방향 인 경우 외 에 임의 의 방향 이 라도 , 적절히 그 화소 가 에 지부 인 것 의 확실 성 을 평가 할 수 있 다 .