이상 설명 한 바 와 같이 본 발명 에 따른 조명 시스템 특성 측정 장치 를 이용 하 면 , 복수 의 광원 을 포함 하 는 조명 시스템 에 대한 특성 을 측정 하 기 위하 여 수회 반복 하 여 조명 시스템 특성 을 측정 하 는 것 이 아니 라 , 기 저장 된 광원 에 대한 정보 데이터 를 이용 하 여 산출 함 으로써 , 보다 신속 한 특성 측정 이 가능 하 게 된다 .