본 발명 의 방법 및 장치 는 하나 이상 의 검출기 를 포함 할 수 있 다 . 적합 한 검출기 는 , 이 로서 한정 하 는 것 은 아니 지만 , 비파괴 검출기 ( 즉 , 검출 하 는 동안 샘플 을 소비 하 거나 파괴 하 지 않 는 검출기 ) , 예 를 들 어 UV , RI , 전도성 , 형광 , 광 산란 , 점 도 , 편광계 등 ; 및 / 또는 파괴 검출기 ( 즉 , 검출 중 샘플 을 소비 또는 파괴 하 는 검출기 ) , 예 를 들 어 증발 광 산란 검출기 ( ELSD ) , 응집 핵 화 광 산란 검출기 ( CNLSD ) 등 과 같 은 증발 입자 검출기 ( EPD ) , 코로나 방전 , 질량 분석 , 원자 흡착 등 을 들 수 있 다 . 예 를 들 어 , 본 발명 의 장치 는 하나 이상 의 UV 검출기 , 하나 이상 의 증발 광 산란 검출기 ( ELSD ) , 하나 이상 의 질량 분석기 ( MS ) , 하나 이상 의 응집 핵 화 광 산란 검출기 ( CNLSD ) , 하나 이상 의 코로나 방전 검출기 , 하나 이상 의 굴절 지수 검출기 ( RID ) , 하나 이상 의 형광 검출기 ( FD ) , 키 랄 검출기 ( CD ) 또는 이 들 의 임의 의 조합 을 들 수 있 다 . 하나 의 예시 적 인 실시 양태 에서 , 상기 검출기 는 이동상 으로서 발색 성 및 비 발색 성 용매 의 사용 을 허용 하 는 하나 이상 의 증발 입자 검출기 ( EPD ) 를 포함 할 수 도 있 다 . 추가 의 실시 양태 에서 , 비파괴 검출기 는 다양 한 화합물 의 특정 특성 , 샘플 의 분자량 , 화학 구조 , 원소 조성 및 키 랄 성 , 예 를 들 어 피크 와 관련 된 화학 물질 독립 체 의 검출 을 가능 하 게 하 는 파괴 검출기 와 조합 될 수 있 다 .