한편 , 반도체 메모리 장치 의 제조 가 완료 되 고 나 서 테스트 를 수행 하 는데 , 주 로 리드 동작 과 라이트 동작 이 제대로 수행 되 는지 를 테스트 한다 . 특히 라이트 동작 이 제대로 수행 되 는지 테스트 하 기 위해서 , 라이트 명령 과 어드레스 및 라이트 데이터 를 테스트 하 고자 하 는 반도체 메모리 장치 에 입력 시키 게 되 다 . 따라서 하나 의 반도체 메모리 장치 를 테스트 하 기 위해서 는 테스트 용 라이트 명령 과 테스트 용 어드레스 테스트 용 데이터 를 반도체 메모리 장치 로 입력 시켜야 하 고 , 이 를 위해 테스트 장비 에 는 수많 은 프로브 ( probe ) 가 필요 하 다 . 그러나 테스트 장비 가 가질 수 있 는 프로브 의 수 는 정해져 있 고 , 따라서 한 번 에 테스트 할 수 있 는 반도체 메모리 장치 의 수 는 제한 이 된다 .