이 접근 법 의 장점 들 은 , 단일 선형 필터 를 이용 하 여 모든 게이지 지점 들 에 대한 디 퍼런 셜 스루 - PW 동작 을 캡 처하 려고 하 지 않 는다는 것 이 다 . 차라리 , 이 접근 법 은 각각 의 픽셀 에 대한 ( RMS ) 차 를 최소 화 시켜서 , 전반 적 인 정확 성 을 개선 시킨다 . 또한 , 이 접근 법 은 패턴 - 특정 게이지 지점 들 또는 모든 NC 레지스 트 윤곽 이웃 지점 들 의 확인 을 필요 로 하 지 않 는다 . 한 가지 단점 은 , 이 접근 법 이 Ra 및 Rb 에 대한 계산 복잡 성 을 약간 증가 시킨다는 것 이 다 . 하지만 , 스루 - PW 레지스 트 이미지 들 의 합성 이 단지 R 0 , Ra 및 Rb 의 스케일 링 및 가산 들 만 을 필요 로 하 기 때문 에 , 일반 적 으로 미분 이미지 들 의 계산 복잡 성 의 증가 는 특히 조밀 한 PW 샘플링 에 대하 여 스루 - PW 레지스 트 이미지 들 의 계산 복잡 성 의 감소 에 비해 무 의미 하 다 .