일 실시 예 에서 , 정렬 마크 의 제 1 영역 들 ( 32 ) 에서 의 피치 는 도 5 에서 제 1 성분 에 대한 반사 효율 성 이 0 인 피치 값 에 대응 하 는 제 1 값 을 갖 는다 . 제 2 영역 들 ( 34 ) 에서 , 피치 는 제 1 값 보다 훨씬 낮 은 제 2 값 을 갖 는다 . 결과 로서 , 반사 효율 성 이 두 편광 성분 들 에 대한 위치 의 함수 로서 주기 적 으로 변하 는 정렬 마크 가 실현 되 며 , 이 는 두 편광 성분 들 간 의 위치 의 함수 로서 주기 의 절반 의 위상 오프셋 을 갖 는다 .