상기 히팅 테스트 장치 부 ( 1800 ) 는 트레이 피커 ( 1130 ) 로 공급 된 트레이 ( 200 ) 에 삽입 수납 된 전자 부품 에 직접 접촉 하 여 정해진 온도 의 조건 으로 히팅 하 고 , 전자 부품 의 양쪽 전극 에 테스트 용 전원 을 공급 하 여 전기 적 특성 을 테스트 하 는 장치 이 고 , 상기 히팅 테스트 장치 부 ( 1800 ) 는 하부 프레임 ( 1810 ) 과 , 상기 하부 프레임 ( 1810 ) 의 상부 측 에 결합 된 다수 의 제 1 지지 프레임 ( 1820 ) 에 의해 지지 되 는 중간 프레임 ( 1830 ) 과 , 상기 중간 프레임 ( 1830 ) 의 상부 측 으로 제 1 지지 프레임 ( 1820 ) 과 연결 되 는 다수 의 제 2 지지 프레임 ( 1840 ) , 상기 다수 의 제 2 지지 프레임 ( 1840 ) 의 상단 에 결합 된 상부 프레임 ( 1850 ) 을 포함 하 는 히팅 테스트 장치 부 프레임 이 다 .