상기 기술 적 과제 를 해결 하 기 위한 본 발명 은 반도체 소자 를 자동 으로 검사 하 는 비전 검사 시스템 에 있 어서 , 비전 검사 될 반도체 소자 가 수납 된 트레이 가 적재 된 로딩 스택 커 가 설치 되 도록 본 체 전방부 에 구비 되 는 로딩 영역 과 ; 상기 본체 전방부 에서 상기 로딩 영역 의 일 측 에 배치 되 어 정상 품 소자 가 또는 불량품 소자 가 분류 되 는 소팅 영역 과 ; 상기 본체 의 상부 에 구비 되 어 비전 검사 될 반도체 소자 가 클리닝 되 는 클리닝 영역 과 ; 상기 클리닝 영역 에서 클리닝 된 반도체 소자 의 전 , 후면 을 검사 하 는 비전 검사 영역 과 ; 상기 비전 검사 될 반도체 소자 를 픽업 한 후 이송 하 는 핸들러 가 이동 되 는 핸들링 영역 과 ; 상기 비전 검사 가 완료 된 반도체 소자 가 재 수납 되 는 버퍼 영역 및 상기 로딩 영역 을 통해 공급 되 는 트레이 중 공트 레이 를 버퍼 영역 으로 이송 하 는 리 사이클 영역 을 포함 하 여 구성 된다 .