본 발명 에 의하 면 반도체 메모리 장치 의 실장 테스트 시 칩 에 설치 되 는 테스트 모드 인 에 이 블 패드 를 통해 테스트 모드 인 에 이 블 신호 를 인가 하 여 실장 테스트 모드 로 진입 하 도록 하 고 , 별도 의 더미 패드 또는 내부 전압 모니터링 패드 를 통해 테스트 제어 신호 를 인가 함 으로써 , 모드 레지스터 셋 신호 를 변경 하 기 어려운 실장 테스트 를 빠르 고 정확 하 게 수행 할 수 있 다 .