위 와 같 은 목적 을 달성 하 기 위한 본 발명 의 제 1 형태 에 따른 반도체 소자 테스트 용 핸들러 에서 의 테스트 지원 방법 은 , 테스트 되 어야 할 반도체 소자 들 이 적재 된 고객 트레이 를 인출 위치 ( 테스트 되 어야 할 반도체 소자 들 이 고객 트레이 로부터 인출 되 는 위치 ) 로 이동 시키 는 이동 단계 ; 상기 인출 위치 에 있 는 고객 트레이 로부터 반도체 소자 를 인출 한 후 테스터 에 신규 테스트 될 수 있 도록 지원 한 다음 , 신규 테스트 가 완료 된 반도체 소자 들 을 분류 하 여 신규 테스트 를 통과 한 반도체 소자 들 은 인입 위치 ( 테스트 를 통과 한 반도체 소자 가 고객 트레이 로 인입 되 는 위치 ) 에 있 는 고객 트레이 로 인입 시키 고 , 리 테스트 대상 인 반도체 소자 들 은 리 테스트 위치 ( 리 테스트 대상 인 반도체 소자 가 고객 트레이 로 인입 되 는 위치 ) 에 있 는 고객 트레이 로 인입 시키 는 테스트 지원 단계 ; 상기 리 테스트 위치 에 있 는 고객 트레이 를 트레이 이송기 에 의해 상기 인출 위치 로 이송 시키 는 이송 단계 ; 신규 테스트 가 완료 되 면 , 상기 이송 단계 에 의해 상기 인출 위치 에 위치 된 고객 트레이 에 적재 된 반도체 소자 의 리 테스트 가 이루어지 도록 지원 하 는 리 테스트 지원 단계 ; 를 포함 한다 .