도 3 은 본 실시 형태 의 제 2 변형 예 에 관한 시험 장치 ( 10 ) 의 구성 을 피 시험 메모리 ( 500 ) 와 함께 도시 한다 . 본 변형 예 에 관한 시험 장치 ( 10 ) 는 도 1 에 도시 된 동일 부호 의 부재 와 실질 적 으로 동일 한 구성 및 기능 을 채용 하 므로 , 도 1 에 도시 된 부재 와 실질 적 으로 동일 한 구성 및 기능 을 채용 한 부재 에 대해서 는 도면 중 에 동일 한 부호 를 부여 하 고 , 이하 상이점 을 제외 한 설명 을 생략 한다 .