종래 , 이러 한 인가 압력 의 대폭 적 인 증감 에 따르 는 히스테리시스 ( 기계 적 응력 상태 의 변화 에 의해 발생 하 는 압력 유래 의 히스테리시스 ) 가 센서 부재 의 접합 개소 에 발생 하 는 것 으로 생각 되 고 있 었 다 . 압력 이 인가 되 면 , 패키지 의 금속 케이스 나 센서 부재 그 자체 가 변형 하 고 그 영향 이 격막 ( 다이어프램 ) 에 전해 져서 형상 이 변화 하 여 , 히스테리시스 나 시프트 를 발생 시키 는 경우 도 있 다 .