본 발명 에서 개발 한 , 신규 계면 활성제 12 의 이산화 탄소 내 에서 금속염 추출 효율 을 알아보 기 위해 , 상기 설명 한 금속 이온 추출 장비 ( 도 3 참조 ) 를 이용 하 였 다 . 조건 으로 실리콘 기판 에 코발트 ( Co ) 200 ppm 을 오염 시킨 후 , 고압 용 Cell 10 ml 안 에 신규 계면 활성제 12 ( 17 . 7 mg ) 와 물 6 . 2 uL ( W = 10 ) 를 가하 고 , 코발트 로 오염 된 실리콘 기판 을 거치대 위 에 평행 하 게 장착 한 후 , 40 ℃ 항온 을 유지 하 며 , 초임계 이산화 탄소 200 bar 에서 1 시간 동안 교반 하 였 다 . 상압 으로 감압 한 후 , 오염 된 실리콘 기판 의 ICP 분석 을 해 본 결과 , 코발트 의 양 이 초기 200 ppm 에서 실험 후 , 99 . 1 ppm 으로 측정 됨 으로써 , 50 . 4 % 세정 효율 을 얻 었 다 .