제 5 실시 예 에서 , 본 발명 은 위 의 임의 의 실시 예 들 에서 와 같 은 현미경 검사 방법 을 제공 하 며 , 이미지 센서 를 회전 하 는 단계 는 x '- 방향 으로 진행 하 는 표본 상 에서 축 - 정의 피처 ( axis - defining feature ) 를 식별 하 는 단계 , 및 검출 가능 한 표본 의 방향 에 실질 적 으로 평행 하 게 픽셀 로우 를 정렬 시키 기 위해 컴퓨터 비전 을 사용 하 는 단계 를 포함 한다 .