방법 ( 300 ) 은 , 방법 ( 300 ) 이 전체 구역 의 x - 선 이미지 를 취득 하 는 것 을 수반 하 기 때문 에 방법 ( 100 ) 보다 느리 다 . 그럼에도 불구 하 고 , 방법 ( 300 ) 은 , 다수 의 조명 스캔들 을 요구 하 지 않 기 때문 에 구현 하 기 가 더 간단 할 수 있 다 . 방법 ( 100 및 300 ) 중 임의 의 방법 이 결함 검출 프로세스 들 과 조합 되 어 실행 될 수 있 다 .