대안 적 으로 , 측정 눈금 들 ( T 16 , T 26 ) 도 사용 될 수 있 고 , 이러 한 측정 눈금 들 의 눈 금선 들 은 비 주기 적 으로 배치 되 어 절대 적 측정 눈금 ( T 16 , T 26 ) 을 형성 한다 . 일 예시 는 도 6 에 도시 되 어 있 다 . 측정 눈금 ( T 16 ) 에 스캐닝 유닛 ( A 16 ) 이 배정 되 고 , 측정 눈금 ( T 26 ) 에 스캐닝 유닛 ( A 26 ) 이 배정 된다 . 스캐닝 유닛 들 ( A 16 , A 26 ) 은 라인 센서 일 수 있 다 . 이 경우 에 도 , 절대 측정 눈금 ( T 16 ) 의 눈 금선 들 은 절대 측정 눈금 ( T 26 ) 의 눈 금선 들 에 대해 경사 진다 . 측정 눈금 ( T 16 ) 의 눈 금선 들 의 방향 으로 스캐닝 유닛 ( A 16 ) 의 스캐닝 위치 를 통과 하 여 표면 ( O 1 ) 에 대한 제 1 수직 평면 ( E 16 ) 은 측정 눈금 ( T 26 ) 의 눈 금선 의 방향 으로 스캐닝 유닛 ( A 26 ) 의 스캐닝 위치 를 통과 하 여 표면 ( O 1 ) 에 대한 제 2 수직 평면 ( E 26 ) 과 교차 하 고 따라서 교 차축 ( S 6 ) 을 형성 한다 .