도 1 을 참조 하 면 , 본 발명 에 따른 대면 적 판넬 계측 시스템 ( 100 ) 은 측정 하 고자 하 는 지점 을 나타내 기 위한 타켓 ( 110 ) , 상기 타켓 ( 110 ) 을 인식 및 추적 하 기 위한 타켓 조준기 ( 140 ) , 상기 타켓 조준기 ( 140 ) 를 이용 하 여 타켓 ( 110 ) 이 위치 한 타켓 좌표 를 산출 하 고 대면 적 판넬 ( 103 ) 의 제작 을 위해 정렬 된 판넬 ( 101 ) 의 정렬 상태 를 출력 하 기 위한 계측기 ( 150 ) 를 포함 하 여 구성 된다 .