도 6 및 도 7 을 참고 하 면 , 상기 차 단부 ( 11 ) 는 전체 적 으로 사각 판형 으로서 , 일 측 은 본체 ( 4 ) 의 양측 벽 ( 4 b ) 에 결합 되 고 , 타 측 은 상기 콘택트 푸싱 유닛 ( 141 ) 에 결합 되 며 , 그 에 따라 상기 콘택트 푸싱 유닛 ( 141 ) 과 의 결합 면 사이 로 온도 가 조절 된 유체 가 누설 되 는 것 을 차단 한다 . 따라서 , 상기 차 단부 ( 11 ) 는 덕트 ( 1 ) 를 통해 상기 유체 가 테스트 트레이 에 담겨진 반도체 소자 들 로 배출 되 는 과정 에서 열 손실 이 발생 하 는 것 을 최소 화 할 수 있 다 . 또한 , 최소 화 된 열 손실 로 인해 더 효율 적 으로 반도체 소자 들 을 테스트 조건 에 상응 하 는 항온 으로 유지 시킬 수 있 으며 , 이러 한 작업 에 소요 되 는 시간 지연 을 최소 화 할 수 있 다 .