도 2 에 나타난 바 와 같이 , 본 실시 예의 기판 ( 1 ) 에 는 복수 의 전기 접속 패드 ( 5 ) 가 형성 되 어 있 다 . 이 에 따라 , 검사 유닛 의 프루브 ( probe , 10 ) 는 기판 ( 1 ) 이 정상 적 으로 제조 되 었 을 때 전기 접속 패드 ( 5 ) 가 있 을 위치 ( 6 ) 에 배치 되 어 1 차 로 검사 를 수행 한다 .