상기 교환 부 ( 116 ) 는 테스트 할 반도체 소자 를 테스트 트레이 ( T ) 에 장착 하 는 로딩 과 , 테스트 완료 된 반도체 소자 를 테스트 트레이 ( T ) 로부터 분리 하 는 언로 딩 이 이루어지 는 구성 으로서 , 테스트 할 반도체 소자 가 장착 된 테스트 트레이 ( T ) 를 상기 테스트 부 ( 12 ) 에 공급 하 고 , 테스트 완료 된 반도체 소자 가 장착 된 테스트 트레이 ( T ) 를 상기 테스트 부 ( 12 ) 로부터 공급 받 는다 .