도시 된 바 와 같이 , 종래 의 소스 라인 보다 넓 어 진 금속 막 패턴 ( 250 ) 과 그 수 가 증가 한 컨 택 ( 260 ) 을 통해 비트 라인 에 프리 차지 된 전하 들 이 보다 신속 하 게 빠져 나갈 수 있 게 된다 . 따라서 , 소스 라인 의 노이즈 로 인한 센싱 전류 의 감소 로 프로그램 되 지 않 은 셀 이 검증 과정 에서 프로그램 된 셀 로 판별 되 고 , 읽 기 동작 에서 는 프로그램 되 지 않 은 셀 로 판명 되 어 언더 프로그램 문제 가 발생 하 는 것 을 방지 할 수 있 다 .