앞서 언급 한 바 와 같이 , 본 발명 에서 의 탐침 기판 은 수 커넥터 ( 200 ) 에 연결 되 고 , 반도체 웨이퍼 의 검사 장비 는 PCB ( 305 ) 를 통해 암 커넥터 ( 300 ) 와 접속 된다 . 상기 PCB ( 305 ) 가 암 커넥터 ( 300 ) 에 접속 되 면 , 상기 PCB ( 305 ) 의 전기 단자 와 암 커넥터 ( 300 ) 의 컨 택트 핀인 제 1 그라운드 핀 ( 303 b ) 및 제 1 시그널 핀 ( 303 a ) 들 이 접촉 된다 .