본 발명 은 초 분광 영상 의 라인 스캔 을 이용 하 여 가공 식품 공정 시 각종 채소 류 로부터 다양 하 게 묻 어 나오 는 , 즉 혼입 된 플라스틱 등 의 이 물질 을 검출 할 수 있 도록 하 되 , 다양 한 플라스틱 등 의 이 물질 을 용이 하 게 검출 할 수 있 는 파장 으로 조사 할 수 있 도록 함 으로써 선별 정확도 를 높일 수 있 도록 하 면서 검출 에 따른 효율 성 을 높일 수 있 도록 한 다 분광 형광 영상 을 이용 한 가공 채소 류 측 이 물질 검출 시스템 및 검출 방법 을 제공 하 는데 그 목적 이 있 다 .