초반 에 노출 시간 동안 조도 에 종속 되 는 CCD ( 1 ) 내의 CCD 엘리먼트 들 ( 10 ) 의 하나 의 열 을 고려 한다 . 전달 및 판독 프로세스 동안 각각 의 CCD 엘리먼트 에 연관 된 전류 가 열 아래 로 끌어내려 져서 최 하위 엘리먼트 를 통해 나가 도록 CCD 엘리먼트 들 이 배열 된다 . 이 경우 에 , CCD 엘리먼트 들 이 아래 에서 위 로 번호 가 매겨 진다면 , y 번 째 CCD 엘리먼트 의 전하 가 그 아래 있 는 y - 1 번 째 CCD 엘리먼트 들 을 통해 전달 및 판독 프로세스 동안 지나간다 . CCD 엘리먼트 들 의 이런 열 의 조도 는 일반 적 으로 비 균일 하 고 조도 함수 X ( y ) 에 의해 표현 될 수 있 다 . 상기 를 고려 할 때 , y 번 째 CCD 엘리먼트 의 기록 된 조도 는 노출 시간 동안 y 번 째 CCD 엘리먼트 의 조도 에 기인 하 고 또한 y 번 째 CCD 엘리먼트 와 연관 된 전하 가 y - 1 번 째 하위 CCD 엘리먼트 들 을 통해 전달 및 판독 프로세스 동안 지나갈 때 의 조도 에 기인 한다 .