도 2 및 도 3 은 도 1 의 테스트 핸들러 를 평면 에서 바라본 개략 도 로서 , 도 2 에 는 테스트 핸들러 내 에서 이루어지 는 테스트 트레이 의 이송 방향 ( a ) 과 디바이스 의 이 송방 향 ( b ) 이 표현 되 어 있 고 , 도 3 에 는 테스트 챔버 ( 100 ) 내 에서 테스트 대기 부 ( 100 a ) 에서 대기 하 고 있 는 테스트 트레이 를 테스트 부 ( 100 b ) 로 이송 시키 기 위한 트레이 이송 장치 ( 140 ) 가 개략 적 으로 도시 되 어 있 다 . 도 3 에서 참조 되 는 바 와 같이 테스트 챔버 ( 100 ) 는 테스트 대기 부 ( 100 a ) , 테스트 부 ( 100 b ) 및 출력 대기 부 ( 100 c ) 로 구성 되 어 있 다 . 테스트 대기 부 ( 100 a ) 에서 는 소크 챔버 ( 200 ) 로부터 이동 되 어 온 테스트 트레이 가 테스트 부 ( 100 b ) 로 이송 되 기 에 앞서 대기 하 고 있 고 , 테스트 부 ( 100 b ) 에서 는 테스트 대기 부 ( 100 a ) 로부터 온 테스트 트레이 에 적재 된 디바이스 가 테스트 되 며 , 출력 대기 부 ( 100 c ) 에서 는 테스트 부 ( 100 b ) 에서 테스트 가 완료 된 테스트 트레이 가 디 소크 챔버 ( 300 ) 로 출력 되 기 에 앞서 대기 하 고 있 게 된다 . 이 와 같 은 테스트 챔버 ( 100 ) 에서 테스트 트레이 는 첫째 , 테스트 대기 부 ( 100 a ) 에서 테스트 부 ( 100 b ) 로 이송 되 게 되 며 , 둘째 , 테스트 부 ( 100 b ) 에서 출력 대기 부 ( 100 c ) 로 이송 되 게 된다 .