이 공정 은 도 5 에서 알 수 있 듯이 , 회 전부 ( 400 ) 에서 수직 상태 의 테스트 트레이 를 수평 상태 로 회전 하 는 공정 으로 이루어질 수 있 다 . 이 와 같이 테스트 트레이 가 수평 상태 로 회전 된 후 에 는 회 전부 ( 400 ) 근방 의 언로 딩 부 에서 테스트 결과 에 따라 반도체 소자 를 상기 테스트 트레이 로부터 분류 하 는 공정 을 거쳐 반도체 소자 의 제조 를 완료 한다 .