시험 시간 의 단축 화 를 실현 하 는 방법 의 일례 로서 LPCT ( Low Pin Count Test ) 가 알려져 있 다 . LPCT 는 시험 시 에서 의 피 시험 디바이스 의 입출력 데이터 를 직렬 화 등 을 함 으로써 시험 에 필요 한 피 시험 디바이스 의 핀수 를 줄여 , 한 대 의 시험 장치 에 의해 동시 에 측정 할 수 있 는 피 시험 디바이스 의 수 를 증가 시키 는 방법 이 다 . LPCT 에 의하 면 한 대 의 시험 장치 의 피 시험 디바이스 의 동시 측정 수 를 적 은 하드웨어 의 증가 에 의해 큰 폭 으로 늘릴 수 있 다 .