또한 , 검사 용 소켓 의 상 , 하 동작 또는 회동 동작 을 통해 프로브 가 단자 핀 과 접촉 하 여 회로 연결 될 때 , 단자 및 회로 의 파손 을 방지 하 기 위한 프로브 에 있 어서 , 검사 장치 와 회로 연결 을 위해 상부 에 배치 되 는 제 1 접 점부 와 피 검사 체의 단자 와 회로 연결 을 위해 하부 에 배치 되 는 제 2 접 점부 와 상기 제 2 접 점부 가 타 측 또는 일 측 으로 회동 되 어 피 검사 체의 단자 내부 에 배치 된 단자 핀 에 횡 방향 으로 접촉 또는 해제 될 수 있 도록 제 2 접 점부 에 횡 방향 탄성 을 부여 하 기 위한 탄성 부 와 상기 제 2 접 점부 의 일 측 또는 타 측 으로 돌출 되 어 검사 용 소켓 의 상 , 하 동작 또는 회동 동작 에 의해 가압 되 어 제 2 접 점부 를 회동 시키 는 가 압부 를 포함 하 는 것 을 특징 으로 한다 .