상기 제 2 로 테이터 ( 8 ) 는 테스트 트레이 ( T ) 를 수직 상태 에서 수평 상태 로 회전 시키 는 구성 으로서 , 테스트 완료 된 테스트 트레이 ( T ) 를 상기 언 로딩 부 ( 3 ) 에서 회전 시 켜 수평 상태 로 전환 하 며 , 그 에 따라 상기 언 로딩 부 ( 3 ) 에서 는 수평 상태 로 전환 된 테스트 트레이 ( T ) 로부터 반도체 소자 를 분리 하 여 테스트 결과 에 따라 분류 하 는 언로 딩 이 이루어진다 .