본 발명 은 조명 시스템 특성 측정 장치 및 이 를 이용 한 조명 시스템 특성 측정 방법 에 관한 것 으로서 , 상세 하 게 는 , 복수 의 광원 을 포함 하 는 조명 시스템 에 대한 특성 을 측정 하 기 위하 여 기 저장 된 광원 에 대한 정보 데이터 를 이용 하 여 측정 함 으로써 , 보다 신속 한 측정 이 가능 한 조명 시스템 특성 측정 장치 및 이 를 이용 한 조명 시스템 특성 측정 방법 에 관한 것 이 다 .