본 발명 의 반도체 디바이스 핸들러 시스템 은 전술 한 실시 예 에 국한 되 지 않 고 본 발명 의 기술 사상 이 허용 하 는 범위 내 에서 다양 하 게 변형 하 여 실시 할 수 가 있 다 . 예 를 들 어 , 테스트 보 드 는 테스트 헤드 와 나란히 놓인 상태 에서 의 접촉 을 보장 하 는 한 다양 한 구조 로 이루어질 수 있 고 , 테스트 헤드 의 포고 핀 블록 역시 테스트 보드 와 나란히 놓인 상태 에서 의 접촉 을 보장 하 는 한 다양 한 구조 로 대체 및 변형 이 가능 할 것 이 다