탐침 과 표면 사이 에 걸리 는 힘 을 감지 하 는 원자 현미경 으로 는 , 원자 와 원자 를 1 , 2 개 의 크기 정도 로 가까이 접근 시켰 을 때 에 원자 사이 에서 나타나 는 힘 을 이용 하 는 스캐닝 프로브 현미경 ( SPM ) 을 들 수 있 는데 , 이런 SPM 의 예 로 탐침 과 측정 시료 표면 사이 에 작용 하 는 원자 간 의 힘 을 감지 해서 표면 을 분석 하 는 원자 현미경 ( AFM ) , 표면 의 전하 와 탐침 공급 전하 사이 에 작용 하 는 정전기력 을 이용 하 여 표면 의 전하 분포 를 감지 하 는 정전기력 현미경 ( EFM ) 또는 탐침 을 자화 시켜 시료 표면 의 자기 적 특성 을 감지 하 는 자기력 현미경 ( MFM ) 등 이 있 으며 , 표면 과 측정 시료 사이 에 작용 하 는 힘 을 감지 하 고 이 를 통해 그 표면 의 형상 을 측정 한다 .