이 와 같이 하 여 구한 각 얼라인먼트 마크 ( PM , WM ) 의 보정 위치 데이터 에 기초 하 여 , 유기 EL 패널 ( P ) 과 전자 부품 ( W ) 의 X , Y , θ 방향 의 상대 위치 어긋남 을 구한다 . 또한 , 상술 한 각 촬상부 ( 43 a , 43 e 1 , 43 e 2 ) 를 이용 하 여 검출 한 위치 데이터 는 , 새로운 기준 위치 로서 기억 부 ( 111 ) 에 기억 시킴 으로써 , 기억 되 어 있 던 기준 위치 를 갱신 한다 . 즉 , 기준 위치 는 , 각 촬상부 ( 43 a , 43 e 1 , 43 e 2 ) 에 의한 타 겟 마크 ( 42 j 4 ) 화상 받아들이 기 타이밍 에 , 그 때 마다 갱신 되 게 된다 .