도시 한 것 과 같이 , 본 발명 의 일 실시 예 에 의한 테스트 모드 신호 발생 장치 는 반도체 메모리 장치 가 탑재 된 칩 에 구비 되 며 테스트 모드 인 에 이 블 신호 가 인가 되 는 테스트 모드 인 에이블 ( TME ) 패드 ( 210 ) , TME 패드 ( 210 ) 로 인가 되 는 테스트 모드 인 에 이 블 신호 ( TME ) 의 레벨 을 변환 하 여 내부 테스트 모드 인 에 이 블 신호 ( ITME ) 를 출력 하 는 TME 버퍼 ( 220 ) , 반도체 메모리 장치 가 탑재 된 칩 에 구비 되 며 테스트 제어 신호 가 각각 인가 되 는 복수 의 더미 패드 를 포함 하 는 더미 패드 부 ( 230 ) , TME 버퍼 ( 220 ) 에서 출력 되 는 내부 테스트 모드 인 에 이 블 신호 ( ITME ) 에 의해 구동 되 고 , 더미 패드 부 ( 230 ) 를 구성 하 는 각각 의 더미 패드 에 접속 되 어 , 더미 패드 로부터 테스트 제어 신호 ( TM 0 ~ TMn - 1 ) 를 각각 입력 받 아 내부 테스트 제어 신호 ( ITM 0 ~ ITMn - 1 ) 를 출력 하 기 위한 복수 의 제어 신호 버퍼 를 포함 하 는 제어 신호 버퍼 부 ( 240 ) 및 내부 테스트 모드 인 에 이 블 신호 ( ITME ) 에 의해 구동 되 어 제어 신호 버퍼 부 ( 240 ) 에서 출력 되 는 내부 테스트 제어 신호 ( ITM 0 ~ ITMn - 1 ) 를 디 코딩 하 여 테스트 모드 신호 ( TEST ) 를 출력 하 는 테스트 모드 디코더 ( 250 ) 를 포함 한다 .