최근 의 제조업 에 있 어서 는 , 제조 장치 로부터 얻 어 지 는 데이터 를 유효 활용 하 여 , 생산 성 을 향상 시키 는 시도 가 주목 되 고 있 다 . 예 를 들 면 , 반도체 제조 장치 에 있 어서 는 , 특허 문헌 1 에서 공개 되 어 있 는 바 와 같이 중회 귀 분석 등 의 방법 을 이용 한 처리 결과 의 예측 이 프로세스 컨트롤 등 에 폭넓 게 이용 되 고 있 다 . 한편 , 제조 프로세스 가 고도 화 , 복잡화 되 고 있 는 현대 제조업 에 있 어서 는 , 생산 공장 전체 에서 얻 어 지 는 데이터 는 팽대 한 양 에 미치 고 , 중요 한 데이터 와 그렇 지 않 은 데이터 의 취사 ( 取捨 ) 선택 은 , 데이터 를 활용 한 제조 장치 운용 에 있 어서 필수 의 과제 로 되 어 있 다 . 예 를 들 면 , 반도체 제조 장치 에 있 어서 는 , 하나 의 제조 장치 에 수십 을 초과 하 는 데이터 취득 을 위한 센서 가 설치 되 어 있 는 경우 도 드물 지 않 다 . 또한 제조 프로세스 에 필요 한 시간 이 긴 경우 는 , 그만큼 많 은 데이터 가 축적 되 게 되 고 , 취급 하 는 데이터 양 은 팽대 한 것 으로 된다 .