도 12 a 와 같이 , 일 실시 예 에 따른 전자 장치 ( 예 : 도 1 의 전자 장치 ( 101 ) , 도 2 의 전자 장치 ( 101 ) ) 는 로밍 이 가능 한 AP ( 예 : 도 4 의 AP ( 400 ) ) 들 과 연관 된 채널 들 에 대해 고정 된 드 웰 타임 을 적용 할 수 있 다 . 예 를 들 어 , 상기 전자 장치 는 1201 시점 에서 채널 6 을 통해 프로브 요청 을 전송 하 고 , 채널 6 과 연관 된 AP 1 로부터 프로브 응답 을 수신 하 기 위해 고정 된 드 웰 타임 인 d 1 ( 예 : 40 ms ) 동안 대기 할 수 있 다 . 상기 전자 장치 는 상기 고정 된 드 웰 타임 인 d 1 내 에 채널 6 을 통해 상기 AP 1 로부터 프로브 응답 을 수신 하 는 경우 , 상기 전자 장치 는 AP 1 을 검색 할 수 있 다 . 예 를 들 어 , 드 웰 타임 은 어떠 한 로밍 이 수행 되 느냐 에 따라 결정 된 값 으로 고정 될 수 도 있 고 , 패시브 스캔 ( passive scan ) 과 액티브 스캔 ( active scan ) 에 따라 서로 다른 값 으로 고정 될 수 도 있 다 .