도 5 의 ( b ) 를 참조 하 면 , 본 발명 에 따른 X 선 검사 장치 의 지지 플레이트 에 나타나 는 진동 특성 은 , 지지 플레이트 의 일부 ( 종래 기술 의 지지 플레이트 의 타격 지점 과 동일 한 지점 ) 를 타격 할 때 타격 시점 에서 종래 기술 과 유사 한 큰 파장 이 나타나 지만 진동 이 존재 하 는 시간 은 종래 기술 보다 매우 짧 게 나타난다 . 예 를 들 면 , 종래 기술 의 진동 시간 을 T 라고 할 때 , 본 발명 의 진동 시간 은 종래 의 진송 시간 ( T ) 에 비해 T / 3 ~ T / 4 로 줄어들 수 있 다 .