시험 도포 스테이 지부 ( 21 a ) 에서 는 , 압출 기구 ( 216 a ) 가 구동 됨 으로써 , 시험 도포 면 접촉 부 ( 2147 ) 에 접촉 하 고 있 는 시험편 ( 213 a ) 이 , (＋ Y ) 방향 으로 밀려나와 시험편 유지 부 ( 214 a ) 로부터 취 출 된다 . 그리고 시험편 수 용부 ( 215 a ) 에 수용 되 어 있 는 복수 의 대기 시험편 ( 213 b ) 가운데 , 최 상부인 대기 시험편 ( 213 b ) 이 , 시험편 유지 부 ( 214 a ) 의 시험 도포 면 접촉 부 ( 2147 ) 에 가압 됨 으로써 , 시험편 유지 부 ( 214 a ) 로 유지 되 는 새로운 시험편 ( 213 a ) 이 되 고 , 당해 시험편 ( 213 a ) 의 ( ＋ Z 측 ) 의 주면 이 새로운 시험 도포면 ( 2131 ) 이 된다 . 즉 , 시험 도포 스테이 지부 ( 21 a ) 에서 는 , 압출 기구 ( 216 a ) 가 , 시험편 유지 부 ( 214 a ) 로부터 시험편 ( 213 a ) 을 취 출하 는 시험편 취 출부 가 되 고 , 시험편 수 용부 ( 215 a ) 및 압출 기구 ( 216 a ) 가 , 시험편 유지 부 ( 214 a ) 의 시험 도포면 ( 2131 ) 을 새로운 시험 도포면 과 교환 하 는 시험 도포 면 교환 기구 가 된다 다 .