본 발명 이 이루 고자 하 는 기술 적 과제 는 JTAG 으로 테스트 패턴 ( Test Pattern ) 을 시스템 버스 ( System Bus ) 를 이용 하 여 경계 스캔 레지스터 로 로드 ( Load ) 하 고 경계 스캔 레지스터 로부터 데이터 를 리드 ( Read ) 하 여 로드 ( Load ) 와 리드 ( Read ) 옵션 ( Operation ) 을 병렬 ( Parallel ) 로 하 게 함 으로써 테스트 시간 ( Test Time ) 을 줄이 는 장치 를 제공 하 는 것 이 다 .