도 11 을 참조 하 면 , 도 1 의 전기 검사 장치 에서 와 동일 한 제 1 기판 ( 10 ) 및 제 2 기판 ( 16 ) 을 포함 한다 . 이 에 , 제 1 기판 ( 10 ) 은 피검 사체 와 접촉 가능 한 프로브 팁 ( 12 ) 이 구비 된 제 1 표면 ( 10 a ) 그리고 제 1 표면 ( 10 a ) 에 대향 하 고 , 피검 사체 와 접촉 함 에 의해 인가 되 는 전기 신호 를 전달 받 는 패드 ( 14 ) 들 이 형성 된 제 2 표면 ( 10 b ) 을 갖 고 , 제 2 기판 ( 16 ) 은 제 1 기판 ( 10 ) 의 제 2 표면 ( 10 b ) 과 마주 하 게 위치 하 고 , 제 1 기 판 ( 10 ) 의 패드 ( 14 ) 들 각각 으로부터 인가 되 는 전기 신호 를 전달 받 는다 .