이제 센서 표면 상 에 형성 된 4 개 의 빔 스폿 에 대응 하 는 일련 의 세기 맵 ( 400 ) 을 도시 하 고 있 는 도 4 a 에 대한 참조 가 이루어진다 . 세기 맵 과 관련 된 전압 비교기 결정 에 기초 하 여 , 처리 시스템 은 빔 스폿 각각 에 대한 일차 경 계부 ( 312 a , 312 b , 312 c 및 312 d ) 를 얻 을 수 있 다 . 처리 시스템 은 일 차 경 계부 ( 312 a , 312 b , 312 c 및 312 d ) 각각 으로 둘러싸여 있 는 전자 감지 요소 의 출력 을 합산 하 여 빔 스폿 각각 에 대한 세기 값 을 얻 을 수 있 다 . 더욱이 , 이 일 차 경 계부 에 기초 하 여 , 처리 시스템 은 또한 , 예 를 들 어 이 일 차 경 계부 밖 에 있 는 402 a , 402 b , 402 c , 402 d 및 402 e 를 포함 하 는 전자 감지 요소 세트 를 식별 할 수 있 다 .