또한 , 샘플 로 의 입사 선속 의 발산 각도 도 달라질 수 있 다 . 비교 적 작 은 발산 각도 는 , 감소 된 빛 패턴 세기 를 희생 시키 는 좀 더 뚜렷 하 고 좀 더 분별 가능 한 검출기 상 의 특징 부 야기 할 수 있 고 , 따라서 , 측정 통합 시간 이 증가 될 수 있 다 . 더 큰 발산 각도 는 측정 시간 을 감소 시키 지만 , 검출기 상 의 상 의 특징 부 의 분해능 을 저하 시킬 수 있 고 , 따라서 , 홀 프로파일 의 파라미터 를 정확히 구별 짓 는 능력 을 감소 시킬 수 있 다 . 발산 각도 를 , 상 에서 의 분해능 이 작 은 규모 의 산란 효과 및 / 또는 광학 시스템 의 분해능 에 의해 제한 되 는 경우 에 가능 한 가장 큰 값 까지 변화 시킴 으로써 , 측정 시작 ( set up ) 프로세스 동안 발산 각도 가 최적 화 될 수 있 다 .