물질 들 의 결정학 적 구조 는 Brucker AXS : D 8 Advance 기구 를 이용 하 고 , 스텝 당 0 . 5 초 의 스캐닝 속도 로 2 내지 70 ° 2 세타 ( theta ) 및 0 . 01 ° 2 세타 의 스텝 크기 에서 2 내지 70 ° 2 세타 를 스캐닝 한 XRD 분석 기법 을 바탕 으로 확인 되 었 다 . 생성 된 스펙트럼 의 분석 은 International Centre for Diffraction Data 에서 발행 한 기준 스펙트럼 의 PDF 2 데이터베이스 를 기반 으로 하 였 다 .