이러 한 구성 을 가진 본 실시 예 에 따른 반도체 테스트 용 소켓 하우징 ( 1 ) 은 본 출원인 의 선 등록 권리 인 등록 실용 0394112 호 를 기본 으로 한 것 으로 많 은 점 에서 유사 하나 , 다음 과 같 은 점 이 상이 하 다 . 먼저 , 선 등록 권리 에 는 하나 의 베이스 ( 200 ) 에 하나 의 반도체 소자 ( 21 ) 가 삽입 될 수 있 는 크기 를 가진 베이스 관 통공 ( 202 ) 이 하나 가 마련 되 며 , 하나 의 커버 ( 300 ) 에 하나 의 반도체 소자 ( 21 ) 가 삽입 될 수 있 는 크기 를 가진 커버 관 통공 ( 302 ) 이 하나 마련 된다 . 이때 , 상기 베이스 관 통공 ( 202 ) 과 커버 관 통공 ( 302 ) 은 각각 하나 의 반도체 소자 ( 21 ) 가 삽입 될 수 있 는 크기 를 가진다 . 이 에 따라 선 등록 권리 에 따른 반도체 테스트 용 소켓 하우징 에 는 하나 의 반도체 소자 ( 21 ) 만 이 삽입 될 수 있 다 .