이 와 같 은 상기 접촉 부 ( 200 ) 는 테스트 대상 반도체 소자 의 종류 에 따라 접촉 부위 의 형상 및 배선 이 서로 상이 하 므로 새로운 종류 의 반도체 소자 에 대해 새로이 제작 된다 . 상기 접촉 부 ( 200 ) 는 상기 커넥터 ( 100 ) 에 탈착 이 가능 하 므로 , 본 발명 의 반도체 소자 테스트 신호 인가 장치 는 테스트 대상 반도체 소자 의 종류 가 변경 됨 에 따라 대응 하 여 제작 된 접촉 부 로 기존 의 접촉 부 를 교체 함 으로써 새로운 종류 의 반도체 소자 에 용이 하 게 적용 시킬 수 있 는 것 이 다 .