테스트 회로 ( 170 ) 는 데이터 선 ( DL ) 들 에 테스트 신호 를 인가 할 수 있 다 . 이때 , 테스트 회로 ( 170 ) 는 주변 영역 ( PA ) 에 배치 되 는 배선 또는 도전 층 을 통하 여 복수 개 의 배 선부 ( 40 , 도 2 참고 ) 중 일부 를 통하 여 단자 ( 21 , 22 , 도 2 참고 ) 와 연결 될 수 있 다 . 테스트 회로 ( 170 ) 는 표시 영역 ( DA ) 에 다양 한 테스트 신호 를 인가 할 수 있 다 .