본 발명 의 기지국 에서 의 고속 데이터 전송 패스 테스트 는 도 3 에서 보여 지 듯이 서 데스 ( SerDes ) ( 64 , 71 , 77 , 81 ) 칩 의 루프 백 모드 를 이용 하 여 개별 적 으로 시험 할 수 있 으며 채널 카드 ( 31 ) 와 컴 바이닝 카드 ( 33 ) , RF 카드 ( 35 ) 가 모두 실장 되 어 있 는 경우 에 는 테스트 패턴 데이터 를 활용 하 여 데이터 전송 패스 를 테스트 함 으로써 전체 적 인 데이터 패스 점검 이 가능 하 다 .