이러 한 공정 에 의해 , 상기 로딩 버퍼 ( 23 ) 에 수납 된 테스트 될 반도체 소자 들 은 , 상기 제 2 로딩 픽커 ( 222 ) 가 테스트 될 반도체 소자 들 을 상기 로딩 위치 ( 2 a ) 에 위치 된 테스트 트레이 ( T ) 에 수납 시킬 수납 영역 ( L , L ', M ) 의 위치 에서 가장 인접 한 수납 영역 ( L , L ', M ) 위 에 위치 될 수 있 다 .