구체 적 으로 , 본 발명 에 따른 현장 진단 장비 는 상술 한 광원 ( 100 ) , 빔 스플리터 ( 400 ) , 검 출부 ( 700 ) 및 제 어부 를 구비 하 고 , 검 출부 ( 700 ) 의 전단 에 는 형광체 ( 20 ) 에서 방출 하 는 여기 광 중 일부 는 투과 시키 고 일부 는 차단 하 는 격자 부 ( 800 ) 를 포함 하 여 이루어질 수 도 있 는 것 이 다 . 이 경우 제 어부 는 광원 ( 100 ) 에서 광이 발생 되 는 시점 으로부터 소정 의 시간 뒤 에 격자 부 ( 800 ) 를 이동 시키 고 격자 부 ( 800 ) 가 이동 하 기 전 과 후 의 여기 광 의 세기 를 이용 하 여 분석 대상물 을 정량 적 으로 분석 할 수 있 다 .