도 29 에 , 시료 C 1 내지 시료 C 4 에서 의 PBTS 시험 후 의 문턱 전압 의 변동 량 ( Δ Vth ) 을 나타내 었 다 . 도 29 에 는 , 각 시료 에서 제 1 게이트 전극 과 제 2 게이트 전극 에 같 은 스트레스 를 준 경우 ( Dual Stress ) , 제 2 게이트 전극 에 만 스트레스 를 준 경우 ( Top Stress ) , 및 제 1 게이트 전극 에 만 스트레스 를 준 경우 ( Bottom Stress ) 에 대하 여 각각 나타내 었 다 .