본 발명 의 일 형태 에 따른 전기 회로 의 테스트 방법 이 제공 된다 . 외부 소자 와 결합 되 는 복수 의 외부 패드 들 ; 및 전기 회로 를 테스트 하 기 위한 복수 의 바이패스 ( by - pass ) 패드 들 을 포함 하 고 , 상기 복수 의 바이패스 패드 들 중 적어도 하나 는 외부 표면 으로부터 노출 되 지 않 고 상기 외부 패드 들 은 노출 된 , 인쇄 회로 기판 을 제공 한다 . 상기 복수 의 바이패스 패드 들 의 적어도 하나 를 노출 하 도록 상기 인쇄 회로 기판 의 일부분 을 제거 한다 . 상기 복수 의 바이패스 패드 들 의 상기 적어도 하나 를 통해서 상기 전기 회로 를 테스트 한다 .