본 발명 은 상기 와 같 은 종래 의 문제 를 해결 하 기 위한 것 으로 고온 의 환경 으로 조성 된 챔버 내 에서 테스트 트레이 에 안착 된 반도체 소자 를 테스트 하 기 전 에 테스트 트레이 의 아이디 ( ID ) 를 식별 홈 의 깊이 를 측정 하 여 검출 하 도록 함 과 동시 에 식별 홈 의 가공 공정 을 줄이 도록 한 테스트 트레이 와 이 를 이용 한 반도체 소자 테스트 용 핸들러 그리고 반도체 소자 의 제조 방법 을 제공 하 는데 그 목적 이 있 다 .