상기 체커 보드 패턴 기반 구조 조명 현미경 시스템 ( 1 ) 은 임의 의 종축 위치 에서 위상 천 이 ( phase shift ) 를 통해 하나 이상 의 원시 이미지 를 생성 하 고 , 나아가 임의 의 종축 위치 에서 측정 대상물 의 강도 ( intensity ) 를 추출 할 수 있 다 . 따라서 , ( 예컨대 , 샘플 스테이지 상 에 위치 한 샘플 ( 400 ) 과 같 은 ) 측정 대상물 의 강도 가 변조 ( modulation ) 되 는 부분 만 을 측정 할 수 있 다 .