MBT ( Monitoring Burn - in Test ) 란 고온 상태 에서 DUT ( Device Under Test ) 의 정상 동작 유무 를 테스트 ( Test ) 하 는 장치 이 고 , BIB ( Burn - In Board ) 는 복수 의 DUT 들 을 고온 상태 에서 테스트 를 수행 하 기 위하 여 MBT 에 장착 되 는 보드 이 다 . 본 발명 의 DUT 는 낸드 플래시 메모리 이 다 .