일 측면 에서 , 본 발명 은 상처 주위 의 손상 의 영역 들 을 매핑 하 는 방법 을 제공 및 포함 하 고 , 방법 은 복수 의 전극 들 을 사용 하 여 상처 를 포함 하 는 조직 의 영역 에 대해 커패시턴스 측정 들 을 얻 는 단계 ; 각각 의 측정 된 커패시턴스 를 연관 된 표피 하 수분 ( SEM ) 값 으로 변환 하 는 단계 ; 및 제 1 임계 보다 작 은 SEM 값 들 과 관련 된 조직 의 지역 들 을 포괄 하 는 제 1 경계 를 마킹 하 는 단계 를 포함 한다 .