그리고 테스트 헤드 ( 110 ) 측 에 마련 된 진공 흡착기 ( 미 도시 ) 가 동작 되 어 진공 이 가해 지 면 프로브 카드 보드 ( 130 ) 가 진공 흡착 에 의해 빨려 올라가 포고 핀 ( 114 ) 이 상판 ( 122 ) 의 접촉 단자 ( 123 ) 와 연결 됨 으로써 , 결과 적 으로 니들 ( 136 ) 과 접촉 되 는 상태 를 이루 어 전기 적 신호 를 전달 하 게 된다 . 따라서 웨이퍼 척 ( 140 ) 상 의 웨이퍼 ( W ) 의 전기 적 특성 을 측정 하 게 된다 .