충 방전 이 완료 된 양극 활물질 을 추출 하 여 , 상기 양극 활물질 의 단면 을 1 nm 두께 로 절단 하 여 TEM ( FE - STEM , TITAN G 2 80 - 100 ChemiSTEM ) 을 이용 하 여 양극 활물질 의 표면 을 관찰 하 였 고 , 양극 활물질 의 상 ( phase ) 은 저각 회절 패턴 ( small angle diffraction pattern , SADP ) 을 통하 여 측정 하 였 다 .