서브 테스트 회로 ( STU ) 들 각각 은 단위 화소 ( UP ) 를 구성 하 는 화소 들 의 개수 만큼 의 출력 선 들 에 연결 될 수 있 다 . 예 를 들 어 , 서브 테스트 회로 ( STU ) 들 각각 은 세 개 의 제 1 내지 제 3 출력 선 들 ( OLt 1 , OLt 2 , OLt 3 ) 에 연결 될 수 있 다 . 제 1 내지 제 3 출력 선 들 ( OLt 1 , OLt 2 , OLt 3 ) 각각 은 대응 하 는 열 의 데이터 선 ( DL ) 에 연결 될 수 있 다 . 서브 테스트 회로 ( STU ) 에서 출력 된 세 개 의 테스트 신호 들 ( DC _ R , DC _ G , DC _ B ) 각각 은 제 1 내지 제 3 출력 선 들 ( OLt 1 , OLt 2 , OLt 3 ) 들 중 대응 하 는 출력 선 을 통해 대응 하 는 열 의 화소 ( PX ) 들 로 인가 될 수 있 다 .