이롭 게 는 , 상기 샘플링 된 파워 레벨 은 , 상기 방사 빔 의 파워 레벨 과 상기 방 사원 을 구동 하 는 전류 간 의 관계 와 관계 되 어 적용 되 어도 된다 . 전형 적 으로 , 상기 와 같 은 관계 는 , 적어도 파라미터 의 특정 범위 내 에서 선형 이 다 . 이러 한 관계 는 , 동일 출원인 에 허가 된 US 6 , 577 , 655 에 개시 되 어 있 다 . 이 에 따라 , US 6 , 577 , 655 는 전체 적 으로 레퍼런스 로 포함 된다 . 본 발명 의 문맥 내 에서 US 6 , 577 , 655 의 원리 를 적용 하 면 , 예 를 들 면 상기 방 사원 의 하나 의 파워 레벨 을 샘플링 하 고 상술 한 관계 를 이용 하 여 상기 방 사원 의 특징 에 대한 정보 를 얻 는 것 이 가능 하 다 . 이것 은 , 예 를 들 면 광학 기록 장치 의 제조 단계 동안 수행 되 어도 된다 .