비록 위 에서 장치 구성 형태 의 다양 한 실시 태양 들 을 설명 하 였 지만 , 본 발명 의 기구 는 일반 적 으로 임의 의 바람직 한 구성 형태 를 가질 수 있 으며 , 상기 한 구성 성분 들 을 모두 포함 할 필요 는 없 음 을 이해 해야 한다 . 다양 한 다른 기구 구성 형태 는 예 를 들 면 , 본원 에서 다 목적 으로 그 전체 가 참고 문헌 으로 인용 되 는 , 람보 테 ( Lambotte ) 등 의 미국 특허 제 5 , 395 , 754 호 ; 조우 등 의 미국 특허 제 5 , 670 , 381 호 ; 및 말릭 ( Malick ) 등 의 미국 특허 제 6 , 194 , 220 호 에 기재 된다 . 특히 , 본 발명 에 따라 흥미 있 는 화합물 의 존재 하 에 CRP / Fn 복합체 의 형성 또는 CRP / Fn 복합체 형성 의 결핍 을 측정 할 수 있 는 임의 의 공지 된 기구 가 사용 될 수 있 음 을 이해 해야 한다 . 예 를 들 면 , 전극 스트립 상 의 캡쳐 리간드 및 CRP / Fn 복합체 사이 의 전기 화학 반응 을 검출 하 는 전기 화학 적 친화력 기구 가 또 한 이용 될 수 있 다 . 예 를 들 면 , 다양 한 전기 화학 검정 시험 및 기구 들 이 본원 에서 다 목적 으로 그 전체 가 참고 문헌 으로 인용 되 는 , 월링 ( Walling ) 등 의 미국 특허 제 5 , 508 , 171 호 ; 브리 케 ( Vreeke ) 등 의 미국 특허 제 5 , 534 , 132 호 : 몽 부케 ( Monbouquette ) 의 미국 특허 제 6 , 270 , 637 호 ; 크리스 모어 ( Crismore ) 등 의 미국 특허 제 6 , 270 , 637 호 ; 헬러 ( Heller ) 등 의 미국 특허 제 6 , 281 , 006 호 ; 및 펠드만 ( Feldman ) 등 의 미국 특허 제 6 , 461 , 496 호 에 기재 된다 .