" 도 20 a 내지 도 20 d 는 시스템 ( 150 "") 에 대해 시 뮬 레이트 된 이소 - 콘트 라스트 뷰 잉 각도 다이어그램 들 을 도시 하 며 ", 도 20 a 및 도 20 b 는 선택 적 인 포지티브 C 필름 보상 기 ( 226 ) 의 사용 없이 좌안 및 우안 각각 에 대한 시스템 특성 뷰 잉 각도 성능 을 제공 하 고 , 도 20 c 및 도 20 d 는 선택 적 인 포지티브 C 필름 보상 기 ( 226 ) 를 사용 하 여 좌안 및 우안 각각 에 대한 보다 상당히 넓 은 시스템 특성 뷰 잉 각도 성능 을 제공 한다 . 이 들 다이어그램 들 은 0 ° 에서 60 ° 까지 연장 되 는 양극 의 각도 및 방위각 들 0 ° 에서 360 ° 까지 의 방위각 들 에서 관찰 된 콘트 라스트 비율 의 윤곽 선도 들 이 다 . 이 들 이소 - 콘트 라스트 비율 다이어그램 들 은 오프 - 축 뷰 잉 에 제공 되 는 고 스팅 의 량 의 유용 한 측정 을 제공 한다 . 20 및 100 의 콘트 라스트 비율 윤곽 들 은 다이어그램 들 에 표시 된다 . 도 20 a 및 도 20 b 는 , 포지티브 C 필름 보상 기 ( 226 ) 를 사용 하 지 않 고 , 우안 에 대한 높 은 콘트 라스트 뷰 잉 각도 의 시스템 특성 범위 는 좌안 의 특성 범위 에 비해 크 게 좁 게 되 는 것 을 도시 한다 . 도 20 c 및 도 20 d 는 + 280 nm 포지티브 C 필름 보상 기 ( 226 ) 를 부가 하 는 것 이 높 은 콘트 라스트 가 우안 에 의해 관찰 될 수 있 는 뷰 잉 각도 의 시스템 특성 범위 이상 현저 하 게 넓 게 될 수 있 고 , 이 에 의해 , 높 은 콘트 라스트 뷰 잉 방향 들 의 범위 를 우 및 좌안 들 에 대해 대략 비슷 하 게 할 수 있 는 것 을 도시 한다 .