계속 해서 , 제 1 이 형 필름 제거 공정 후 에 결점 검사 를 한다 . 제 1 이 형 필름 ( 12 ) 에 부착 혹은 내재 되 는 이 물질 이나 흠집 등 의 결점 , 혹은 제 1 이 형 필름 에 내재 하 는 위상차 를 고려 할 필요 없이 , 제 1 광학 필름 ( 11 ) 의 결점 검사 를 행할 수 있 다 . 결점 검사 는 공지 의 방법 을 적용 할 수 있 다 .