이러 한 공정 은 , 상기 로딩 버퍼 ( 23 ) 가 로딩 스택 커 ( 21 ) 에 위치 된 고객 트레이 와 로딩 위치 ( 2 a ) 사이 ( B 영역 , 도 7 a 에 도시 됨 ) 에 위치 된 상태 에서 , 상기 제 1 로딩 픽커 ( 221 ) 가 로딩 스택 커 ( 21 ) 에 위치 된 고객 트레이 에서 테스트 될 반도체 소자 를 집어내 어 , 상기 로딩 버퍼 ( 23 ) 에 수납 시킴 으로써 이루어질 수 있 다 .