예 를 들 어 전자 장치 와 외부 전자 장치 사이 에 비 도전 성 외부 객체 가 삽입 된 경우 제 1 시 구간 에서 손실 전력 이 급격 하 게 증가 하 고 , 제 1 시 구간 이후 에 는 손실 전력 이 감소 하 여 제 1 시 구간 전 의 손실 전력 에 비하 여 조금 증가 한 수준 으로 유지 될 수 있 다 . 한편 도전 성 외부 객체 가 삽입 된 경우 제 1 시 구간 에서 손실 전력 이 급격 하 게 증가 하 지만 , 제 1 시 구간 이후 에 는 손실 전력 이 제 1 시 구간 전 의 손실 전력 에 비해 많이 증가 한 수준 으로 유지 될 수 있 다 . 따라서 , 일 실시 예 에 따른 전자 장치 는 , 시간 경과 에 따른 손실 전력 의 변화 를 모니터링 함 으로써 , 전자 장치 와 외부 전자 장치 사이 에 삽입 된 외부 객체 가 도전 성 재료 를 포함 하 는지 여부 를 식별 할 수 있 다 .