입자 측정 시스템 을 제공 한다 . 이 측정 시스템 은 입사광 을 방출 시키 기 위한 광 방출 부 , 광 방출 부 로부터 방출 된 입사광 을 제 1 방향 성분 으로 편광 시키 는 제 1 편 광부 , 제 1 편 광부 에 의해 편광 된 제 1 방향 성분 의 입사광 을 1 차원 광 으로 변환 시키 는 광 변환 부 , 1 차원 광과 입자 의 충돌 에 의해 생성 된 산란광 의 제 1 방향 성분 만 을 통과 시키 는 제 2 편 광부 및 제 2 편 광부 에 의해 통과 된 제 1 방향 성분 의 산란광 을 검출 하 기 위한 광 검 출부 를 포함 한다 .