본 발명 의 특정 실시 예 는 동일 한 설계 를 갖 는 2 개 의 레티 클 을 효율 적 으로 이용 한다 . 동일 하 게 만들 어 진 두 개 의 상이 한 레티 클 은 일반 적 으로 설계 로 프로그래밍 되 지 않 는 한 , 동일 한 결함 을 갖 지 않 을 것 이 다 . 따라서 , 하나 의 레티 클 상 에 있 고 다른 레티 클 에 없 는 결함 은 레티 클 이미지 ( 또는 강도 값 ) 의 비교 에 의해 효율 적 으로 위치 를 찾 을 수 있 다 . 이러 한 기술 은 단일 - 다이 레티 클 에 도 사용 될 수 있 다 . 또한 설계 데이터베이스 를 사용 하 지 않 고 도 검사 를 수행 할 수 있 으며 , 이 는 시간 , 비용 및 모델링 문제 로 인해 비용 이 많이 드 는 경향 이 있 다 . 예 를 들 어 , 데이터베이스 검사 를 수행 할 수 있 는 검사 툴 은 비교 유형 검사 를 사용 하 는 툴 보다 훨씬 비쌀 수 있 다 .