또한 , 시험 장치 ( 200 ) 또는 시험 모듈 ( 100 ) 은 시험 대상 이 되 는 피 시험 회로 와 함께 동일 한 전자 디바이스 에 설치 된 시험 회로 이 어도 된다 . 해당 시험 회로 는 전자 디바이스 의 BIST 회로 등 으로서 실현 되 어 피 시험 회로 를 시험 함 으로써 전자 디바이스 의 진단 등 을 실시 한다 . 이 에 의해 , 해당 시험 회로 는 피 시험 회로 로 되 는 회로 가 전자 디바이스 가 본래 목적 으로 하 는 통상 동작 을 수행 할 수 있 는지 여부 를 체크 할 수 있 다 .