본 발명 은 번인 보드 랙 유닛 및 이 를 구비 한 반도체 부품 검사 장치 에 대한 것 으로서 , 보다 상세 하 게 는 테스트 대상 인 반도체 부품 이 장착 된 테스트 트레이 를 번 인보드 에 착 탈 가능 하 게 연결 하 여 반도체 부품 에 대한 테스트 를 수행 함 으로써 검사 장치 를 이용 한 테스트 속도 를 향상 시키 고 검사 장치 의 가동율 을 높일 수 있 는 번인 보드 랙 유닛 및 이 를 구비 한 반도체 부품 검사 장치 에 대한 것 이 다 .