도 23 은 , 본 실시 의 형태 에 대한 비교 예의 전극 구조 를 도시 하고 있 다 . 이 비 교예 에서 는 , 전극 내 슬릿 ( 33 A ) 이 수평 방향 으로 연재 되 도록 연속 적 으로 마련 되 어 있 다 . 즉 , 본 실시 의 형태 에서 의 구동 전극 ( 33 ) 의 불 연속 영역 ( 33 C ) 에 대응 하 는 위치 에 도 전극 내 슬릿 ( 33 A ) 이 마련 되 어 있 는 예 를 나타내 고 있 다 . 이 비교 예의 구조 에서 는 , 도 24 에 도시 한 바 와 같이 , 전극 내 슬릿 ( 33 A ) 을 통하 여 , 화상 신호 배선 ( 소스 선 ( 25 ) ) 으로부터 의 신호 노이즈 성분 이 대향 기판 ( 3 B ) 측 으로 누설 할 우려 가 있 다 . 대향 기판 ( 3 B ) 측 의 터치 검출 전극 ( 34 ) 에 신호 노이즈 성분 이 도달 하 면 , 검출 성능 에 악영향 을 주 어 버린다 . 본 실시 의 형태 에 의하 면 , 구동 전극 ( 33 ) 에서 전극 내 슬릿 ( 33 A ) 에 불 연속 영역 ( 33 C ) 을 마련 하 고 있 음 으로써 , 그 와 같 은 검출 성능 에 의 악영향 을 방지 할 수 있 다 . 또한 , 불 연속 영역 ( 33 C ) 을 마련 함 으로써 연속 적 인 전극 내 슬릿 ( 33 A ) 을 마련 한 경우 보다 , 구동 전극 ( 33 ) 의 저항 을 내릴 수 있 다 .