일 실시 예 에 따르 면 , 1620 동작 에서 , 제 2 전자 장치 ( 430 ) 는 상기 확인 된 상태 정보 에 따라 다면체 에 기반 한 렌더링 방법 을 이용 하 여 생성 된 이미지 를 나타내 는 정보 를 선택 할 수 있 다 . 예 를 들 어 , 제 2 전자 장치 ( 430 ) 의 프로세서 ( 439 ) 는 상기 확인 된 상태 정보 에 기반 하 여 전 방향 이미지 가 매핑 될 다면체 의 타입 을 선택 함 으로써 , 상기 다면체 에 기반 하 여 생성 된 이미지 에 대한 정보 를 선택 할 수 있 다 . 상기 선택 된 정보 는 , 예 를 들 어 , 전 방향 이미지 를 매핑 시킬 수 있 는 다면체 에 대한 정보 를 포함 할 수 있 다 .