테스트 패턴 부 ( 130 ) 는 다수 의 테스트 박막 트랜지스터 ( T - TFT ) 를 포함 한다 . 테스트 박막 트랜지스터 ( T - TFT ) 는 GIP 게이트 구동 부 ( 130 ) 에 형성 되 는 구동 용 박막 트랜지스터 ( G - TFT ) 의 게이트 전극 ( 202 ) , 게이트 절 연막 ( 206 ) , 활성 층 ( 208 ) , 오 믹 접촉 층 ( 210 ) , 소스 및 드레 인 전극 ( 214 , 216 ) 과 동일 한 구조 로 형성 된다 . 그리고 테스트 박막 트랜지스터 ( T - TFT ) 는 임계 치수 측정 을 용이 하 게 하 기 위해 상대 적 으로 넓 은 공간 에 서로 일정 간격 이격 되 어 형성 된다 .