일 실시 예 에 따른 질량 분석 장치 ( 120 ) 는 레이저 탈착 이온 화 방식 으로 OLED 패널 시료 의 질량 을 분석 할 수 있 다 . 질량 분석 장치 ( 120 ) 는 OLED 패널 시료 를 이온 화 시키 고 , 생성 된 이온 들 이 플레이트 에 걸린 전압 에 기초 하 여 이온 검출기 로 가속 운동 을 하 는 동안 이온 의 질량 별로 검출기 에 도달 하 는 데 에 소요 되 는 시간 ( Time Of Flight ; TOF ) 을 측정 하 여 이온 의 분자량 을 결정 할 수 있 다 . OLED 패널 시료 에 대하 여 설명 된 방식 을 통해 질량 을 분석 하 는 이유 는 , 질량 분석 의 대상 이 되 는 시료 의 질량 이 매우 작 아 중력 을 이용 하 는 일반 저울 의 측정 한계 를 벗어나 기 때문 이 다 .