본 고안 은 회로 기판 을 검사 하 기 위한 테스트 프로브 장치 에 관련 되 며 , 테스트 프로브 장치 는 복수 의 테스트 프로브 , 리드 와이어 및 압축 스프링 , 베이스 위치 기판 , 테스트 프로브 시트 , 탄성 천 및 적어도 하나 의 위치 판 으로 구성 된다 . 기판 상 에 테스트 프로브 시트 , 탄성 천 , 및 위치 판 은 각각 복수 의 와이어 홀 , 프로브 홀 및 회로 기판 상 의 테스트 지점 의 위치 에 따라 배열 된 위치 홀 을 각각 구비 한다 . 테스트 프로브 및 압축 스프링 은 프로브 홀 내 에 각각 설치 된다 . 일단 회로 기판 이 프로브 장치 에 놓이 면 , 프로브 홀 및 위치 홀 로부터 확장 하 는 테스트 프로브 는 회로 기판 상 의 테스트 지점 들 을 접촉 할 수 있 다 . 기판 상 의 리드 와이어 홀 은 접착제 로 가득 차 있 고 , 리드 와이어 의 한 쪽 가장자리 는 테스트 장치 에 연결 되 며 , 벗겨진 가장자리 는 기판 상 의 리드 와이어 홀로 삽입 된다 . 리드 와이어 의 벗겨진 가장자리 의 상부 는 기판 표면 과 함께 평면 을 형성 하 기 위해 연마 되 어 , 리드 와이어 의 상부 는 테스트 정확도 를 개선 하 기 위해 압축 스프링 의 바닥 을 단단 하 게 접촉 할 수 있 다 .