각각 의 랙 ( 100 ) 은 , 일부 예 에서 , 적어도 하나 의 테스트 슬롯 ( 500 ) 과 통신 하 는 적어도 하나 의 기능 테스트 시스템 ( 190 ) 을 구비 한다 . 기능 테스트 시스템 ( 190 ) 은 클러스터 콘트 롤러 ( 181 ) , 및 상기 클러스터 콘트 롤러 [ 예 를 들 면 , 클러스터 PC ( 181 ) ] 와 전기 통신 하 는 적어도 하나 의 기능 인터페이스 회로 ( 191 ) 를 구비 한다 . 접속 인터페이스 회로 ( 182 ) 는 테스트 슬롯 ( 500 ) 내 의 디스크 드라이브 ( 600 ) 및 기능 인터페이스 회로 ( 182 ) 와 전기 통신 한다 . 기능 인터페이스 회로 ( 182 ) 는 디스크 드라이브 ( 600 ) 에 기능 테스트 루틴 을 통신 시키 도록 구성 된다 . 기능 테스트 시스템 ( 190 ) 은 클러스터 콘트 롤러 ( 181 ) 와 하나 이상 의 기능 인터페이스 회로 ( 182 ) 사이 에 전기 통신 을 제공 하 기 위해 통신 스위치 ( 192 ) ( 예 를 들 면 , Gigabit Ethernet ) 를 구비 할 수 있 다 . 컴퓨터 ( 130 ) , 통신 스위치 ( 192 ) , 클러스터 콘트 롤러 ( 181 ) , 및 기능 인터페이스 회로 ( 191 ) 는 이더넷 네트워크 상 에서 통신 할 수 있 다 . 그러나 , 다른 형태 의 통신 이 사용 될 수 도 있 다 . 기능 인터페이스 회로 ( 191 ) 는 Parallel AT Attachment ( IDE , ATA , ATAPI , UDMA , PATA 로 도 공지 되 어 있 는 하드 디스크 인터페이스 ) , SATA 또는 SAS ( Serial Attached SCSI ) 를 거쳐서 접속 인터페이스 회로 ( 182 ) 와 통신 할 수 있 다 .