단계 ( 530 ) 에서 , 전자 장치 ( 400 ) 는 ROI 들 의 적어도 하나 의 특징 점 을 검출 한다 . 예 를 들 어 , 제 1 ROI 의 특징 점 들 및 제 2 ROI 의 특징 점 들 이 검출 될 수 있 다 . 차 로 상 에 존재 하 는 패턴 의 특징 점 들 이 검출 될 수 있 다 . 예 를 들 어 , 차선 의 특징 점 , 방향 지시 ( direction indicator ) 의 특징 점 등 이 검출 될 수 있 다 . 특징 점 을 검출 하 기 위해 , SIFT ( Scale Invariant Feature Transform ) 알고리즘 , SURF ( Speeded Up Robust Feature ) 알고리즘 , Haar 알고리즘 , Ferns 알고리즘 , ORB ( Oriented FAST and Rotated BRIEF ) 알고리즘 등 이 이용 될 수 있 으나 , 기재 된 실시 예 로 한정 되 지 않 는다 .