그리고 , 언급 한 피검 사체 의 전기 검사 를 수행 하 기 위한 접촉 부들 을 마련 한다 . ( S 13 ) 즉 , 피검 사체 의 전기 검사 를 수행 할 때 피검 사체 의 검사 영역 들 각각 에 접촉 하 는 전기 검사 장치 의 접촉 부들 을 마련 하 는 것 이 다 . 이 에 , 피검 사체 가 반도체 소자 일 경우 , 접촉 부 의 일 예 로서 는 반도체 소자 의 패드 들 각각 에 프로 빙 이 가능 한 니들 을 들 수 있 다 . 아울러 , 접촉 부 가 니 들 을 포함 하 기 때문 에 언급 한 전기 검사 장치 의 일 예 로서 는 인쇄 회로 기판 을 포함 하 는 프로브 카드 를 들 수 있 다 .