그 후 , 처리 ( 640 ) 는 동적 결함 검출 을 위한 단계 650 과 스펙 클 검출 을 위한 결정 로직 ( 658 ) 으로 분기 한다 . 전술 한 바 와 같이 , 동적 결함 검출 및 스펙 클 검출 은 , 일부 실시 예 들 에서 , 병렬 로 일어날 수 있 다 . 단계 650 에서 , 임계 값 dynTh 이하 인 그레 디언 트 들 의 수 의 카운트 C 가 결정 된다 . 전술 한 바 와 같이 , 임계 값 dynTh 는 고정 및 동적 컴포넌트 들 을 포함 할 수 있 고 , 일 실시 예 에서 , 상기 수학식 21 에 따라 결정 될 수 있 다 . C 가 최대 카운트 dynMaxC 이하 이 면 , 처리 ( 640 ) 는 단계 656 으로 계속 되 고 , 현재 픽셀 은 동적 결함 으로서 마킹 된다 . 그 이후 , 처리 ( 640 ) 는 도 54 에 도시 된 픽셀 보정 처리 로 계속 될 수 있 고 , 이하 에서 상세 하 게 설명 될 것 이 다 .