몇몇 예 에서 , 각각 의 래 크 ( 300 ) 는 하나 이상 의 테스트 슬롯 ( 310 ) 과 소통 하 는 하나 이상 의 기능 테스트 시스템 ( 650 ) 을 포함 한다 . 기능 테스트 시스템 ( 650 ) 은 디스크 드라이브 운반 장치 ( 550 ) 에 의해 테스트 슬롯 ( 310 ) 내 에 보유 및 / 또는 지지 된 수용 된 디스크 드라이브 ( 500 ) 가 기능 적 으로 적절 한지 를 테스트 한다 . 기능 테스트 는 디스크 드라이브 ( 500 ) 에 의해 수용 된 전력 의 양 , 작동 온도 , 데이터 의 판독 및 기록 성능 및 다양 한 온도 에서 의 데이터 의 판독 및 기록 성능 ( 예 를 들 어 , 고온 에서 판독 하 고 저온 에서 쓰 거나 고온 에서 쓰 고 저온 에서 판독 함 ) 을 테스트 하 는 것 을 포함 할 수 있 다 . 기능 테스트 는 디스크 드라이브 ( 500 ) 의 모든 메모리 섹터 또는 무작위 샘플링 을 통한 섹터 를 테스트 할 수 있 다 . 기능 테스트 는 디스크 드라이브 ( 500 ) 의 작동 온도 를 테스트 할 수 있 으며 , 디스크 드라이브 ( 500 ) 와 소통 하 는 데이터 의 집적도 도 테스트 할 수 있 다 . 기능 테스트 시스템 ( 650 ) 은 클러스터 제어기 ( 610 ) 및 클러스터 제어기 ( 610 ) 와 전기 소통 하 는 하나 이상 의 기능 인터페이스 회로 ( 660 ) 를 포함 한다 . 연결 인터페이스 회로 ( 620 ) 는 테스트 슬롯 ( 310 ) 에 수용 된 디스크 드라이브 ( 500 ) 및 기능 인터페이스 회로 ( 660 ) 와 전기 소통 한다 . 기능 인터페이스 회로 ( 660 ) 는 디스크 드라이브 ( 500 ) 에 대해 기능 테스트 루틴 을 소통 하 도록 구성 된다 . 기능 테스트 시스템 ( 650 ) 은 클러스터 제어기 ( 610 ) 와 하나 이상 의 기능 인터페이스 회로 ( 660 ) 사이 의 전기 소통 을 제공 하 도록 소통 스위치 ( 670 ) ( 예 를 들 어 , 기 가 비트 이더넷 ) 를 포함 할 수 있 다 . 바람직 하 게 는 , 컴퓨터 ( 320 ) , 소통 스위치 ( 670 ) , 클러스터 제어기 ( 610 ) 및 기능 인터페이스 회로 ( 660 ) 가 이더넷 네트워크 상 에서 소통 한다 . 그러나 , 소통 의 다른 형태 가 사용 될 수 도 있 다 . 기능 인터페이스 회로 ( 660 ) 는 연결 인터페이스 회로 ( 620 ) 와 Parallel AT attachment ( IDE , ATA , ATAPI , UDMA 및 PATA 로 잘 알려진 하드 디스크 인터페이스 ) , SATA 또는 SAS ( Serial Attached SCSI ) 를 통해 소통 할 수 있 다 .