또한 , 본 형태 의 자기 패턴 검출 장치 ( 100 ) 에 의하 면 , 하드 재 및 소프트 재의 쌍방 을 함유 하 는 자기 잉크 에 의해 자기 패턴 ( 2 ) 이 형성 되 어 있 는 매체 ( 1 ) 나 , 하드 재와 소프트 재 의 중간 에 위치 하 는 재료 를 함유 하 는 자기 잉크 에 의해 자기 패턴 ( 2 ) 이 형성 되 어 있 는 매체 ( 1 ) 에 대해서 도 자기 패턴 ( 2 ) 을 검출 할 수 있 다 . 즉 , 자기 특성 이 제 1 자기 패턴 과 제 2 자기 패턴 의 중간 에 위치 하 는 자기 패턴 ( 2 ) 에 대해서 는 , 도 3 ( d 1 ) 에 나타내 는 바 와 같이 , 히스테리시스 루프 가 , 도 3 ( b 1 ) 에 나타내 는 하드 재의 자기 패턴 의 히스테리시스 루프 와 도 3 ( c 1 ) 에 나타내 는 소프트 재의 자기 패턴 의 히스테리시스 루프 의 중간 에 위치 하 므로 , 도 3 ( d 4 ) 에 나타내 는 신호 패턴 을 얻 을 수 있 으며 , 이러 한 자기 패턴 ( 2 ) 에 대해서 도 유무 나 형성 위치 를 검출 할 수 있 다 .