상기 와 같 은 과제 를 해결 하 기 위하 여 본 발명 은 반도체 테스트 를 위한 보드 에 사용 되 는 커넥터 에 있 어서 , 보드 내부 에 구비 되 는 받침 부 ; 상기 받침 부 의 양측 에 각각 형성 되 어 상기 받침 부 로 삽입 되 는 핀 의 양측 을 탄성 적 으로 가압 하 여 접점 되 는 제 1 , 2 전방 접점 부 ; 상기 제 1 , 2 전방 접점 부 와 대향 되 는 위치 에서 상기 받침 부 의 양측 에 각각 형성 되 어 상기 제 1 , 2 전방 접점 부 를 통과 한 핀 의 양측 을 탄성 적 으로 가압 하 여 접점 되 는 제 3 , 4 후 방접 점부 ; 및 상기 받침 부 의 단부 에서 연장 되 고 상기 보드 외부 로 연장 되 는 PCB 단자 접촉 부 ; 가 포함 되 어 이루어지 는 것 을 특징 으로 하 는 반도체 테스트 보드 용 4 접점 커넥터 를 제공 한다 .