도 3 또는 도 4 는 상기 위 에서 설명 한 단자 및 회로 의 파손 을 방지 하 기 위한 프로브 ( 100 ) 를 이용 한 핀 블록 구조 ( 200 ) 의 제 1 실시 예 및 동작 형태 를 도시 한 것 으로써 , 본 발명 에 따른 단자 및 회로 의 파손 을 방지 하 기 위한 프로브 ( 100 , 이하 프로브 ) 가 적어도 하나 이상 수직 하 게 배열 되 는 프로브 플레이트 ( 12 ) 와 상기 프로브 플레이트 ( 12 ) 에 배열 된 프로브 ( 100 ) 의 제 1 접 점부 ( 1 ) 가 관통 하 여 노출 되 도록 프로브 플레이트 ( 12 ) 의 상부 에 결합 되 는 커버 플레이트 ( 11 ) 와 상기 프로브 플레이트 ( 12 ) 에 배열 된 프로브 ( 100 ) 의 제 2 접 점부 ( 2 ) 가 관통 하 여 하부 로 노출 되 도록 프로브 플레이트 ( 12 ) 의 하부 에 상 , 하 동작 가능 하 게 결합 되 어 , 검사 용 소켓 의 상하 동작 또는 회동 동작 시 상기 프로브 ( 100 ) 의 가 압부 ( 6 ) 를 상향 으로 가압 하 거나 , 가압 을 해제 하 는 플로팅 플레이트 ( 13 ) 를 포함 하 여 구성 된다 .