상기 복수 의 메인보드 ( 210 ) 는 각각 한 쌍 의 소켓 ( 211 ) 이 구비 되 고 , 전기 회로 가 구성 되 며 , 전원 이 인가 되 어 상기 한 쌍 의 소켓 ( 211 ) 에 삽입 된 한 쌍 의 메모리 모듈 의 실장 테스트 를 수행 한다 . 상기 한 쌍 의 소켓 ( 211 ) 은 일정 한 간격 을 두 고 나란 하 게 구비 된다 . 본 발명 의 바람직 한 실시 예 에 있 어서 , 상기 메인보드 ( 210 ) 에 한 쌍 의 소켓 ( 211 ) 이 구비 되 었 으나 , 그 개수 가 이 에 한정 되 는 것 은 아니 다 . 예 를 들 어 , 하나 의 메인보드 ( 210 ) 에 네 개 의 소켓 ( 211 ) 이 구비 될 수 도 있 다 .