바람직 한 배열 에서 , 샘플 분석 장치 는 , 2 개 이상 의 특정 광학 파장 ( 예 를 들 어 , UV 파장 ) 을 관찰 하 기 에 작동 상 적합 한 하나 이상 의 검출기 ; 및 ( i ) 제 1 파장 에서 의 검출기 응답 의 변화 , ( ii ) 제 2 파장 에서 의 검출기 응답 의 변화 , 또는 ( iii ) 제 1 파장 과 제 2 파장 에서 의 검출기 응답 으로 표현 되 는 복합 응답 의 변화 에 따라 분획 수집 기 가 새로운 샘플 을 수집 하 도록 하 는 시스템 하드웨어 를 포함 한다 . 각각 의 검출기 는 동일 한 파장 ( 들 ) , 상이 한 파장 ( 들 ) , 또는 복수 개 의 파장 에서 작동 할 수 있 다 . 추가 로 , 각각 의 검출기 는 서로 병렬 관계 이 거나 , 서로 직렬 관계 이 거나 , 또는 병렬 및 직렬 검출기 의 임의 의 조합 일 수 있 다 .