본 발명 은 전자 기기 용 사전 진단 시스템 과 이 를 이용 한 사전 진단 방법 에 관한 것 으로 , 더욱 상세 하 게 는 자 가 진단 칩 을 통해 전자 기기 를 구성 하 는 각 부품 들 의 고유 주파수 와 고유 전 류량 을 계측 하 여 , 이상 발생 징후 를 사전 에 진단 하 여 조치 할 수 있 도록 구성 한 전자 기기 용 사전 진단 시스템 과 이 를 이용 한 사전 진단 방법 에 관한 것 이 다 .