상기 번 인보드 랙 수 용부 ( 108 ) 는 도어 ( 106 ) 등 으로 그 내부 공간 이 개폐 되 도록 구성 될 수 있 다 . 상기 번 인보드 랙 수 용부 ( 108 ) 에 는 번인 보드 랙 유닛 ( 110 ) 이 수용 될 수 있 으며 , 상기 번 인보드 랙 유닛 ( 110 ) 에 테스트 대상 인 복수 개 의 반도체 부품 이 장착 되 는 테스트 트레이 ( 300 ) 가 안착 되 는 복수 개 의 번인 보드 ( 200 ) 가 삽입 될 수 있 다 .