여기 서 X 및 Y 는 터치 위치 들 의 좌표 를 나타내 고 , sn 은 n 번 째 신호 에 대응 하 는 벡터 요소 를 나타내 고 , ai 및 bi 는 곡선 맞춤 계수 들 이 다 . 교정 프로세스 중 에 , 시스템 은 터치 위치 좌표 들 에 대해 알려진 값 들 및 대응 하 는 N 차원 벡터 들 을 사용 하 여 상기 두 수학식 들 의 해 를 구함 으로써 ai 및 bi 의 계수 값 들 을 결정 할 수 있 다 . 결정 되 고 난 후 의 곡선 맞춤 계수 집합 은 교정 데이터베이스 안 에 저장 될 수 있 고 , 교정 데이터베이스 는 실제 측정 프로세스 중 에 접근 될 수 있 다 .