예컨대 , 서브 - 테스트 회로 ( 170 S ) 의 어느 하나 의 스위치 ( SW ) 는 제어 신호 ( DC _ GATE ) 에 의해 턴 온 되 어 제 1 출력 배선 ( WL 1 ) 을 통해 제 1 입력 신호선 ( IL 1 - 1 ) 으로부터 인가 된 테스트 신호 ( DC _ R ) 를 제 1 노드 ( N 1 ) 에 출력 할 수 있 다 . 테스트 신호 ( DC _ R ) 는 제 1 노드 ( N 1 ) 에 접속 된 적색 화소 ( PXr ) 에 구비 된 제 1 화소 회로 ( PC 1 ) 의 데이터 선 ( DL ) 및 제 1 로드 보상 커패시터 ( Clm 1 ) 의 전극 에 각각 제공 된다 . 유사 하 게 , 서브 - 테스트 회로 ( 170 S ) 의 다른 하나 의 스위치 ( SW ) 는 제어 신호 ( DC _ GATE ) 에 의해 턴 온 되 어 제 2 출력 배선 ( WL 2 ) 을 통해 제 2 입력 신호선 ( IL 1 - 2 ) 으로부터 인가 된 테스트 신호 ( DC _ G ) 를 제 2 노드 ( N 2 ) 에 출력 하 고 , 테스트 신호 ( DC _ G ) 는 제 2 노드 ( N 2 ) 에 접속 된 녹색 화소 ( PXg ) 에 구비 된 제 2 화소 회로 ( PC 2 ) 의 데이터 선 ( DL ) 및 제 2 로드 보상 커패시터 ( Clm 2 ) 의 전극 에 각각 제공 된다 . 서브 - 테스트 회로 ( 170 S ) 의 또 다른 하나 의 스위치 ( SW ) 는 제어 신호 ( DC _ GATE ) 에 의해 턴 온 되 어 제 3 출력 배선 ( WL 3 ) 을 통해 제 3 입력 신호선 ( IL 1 - 3 ) 으로부터 인가 된 테스트 신호 ( DC _ B ) 를 제 3 노드 ( N 3 ) 에 출력 하 고 , 테스트 신호 ( DC _ B ) 는 제 3 노드 ( N 3 ) 에 접속 된 청색 화소 ( PXb ) 에 해당 하 는 제 3 화소 회로 ( PC 3 ) 의 데이터 선 ( DL ) 및 제 3 로드 보상 커패시터 ( Clm 3 ) 의 전극 에 각각 제공 될 수 있 다 .