본 발명 의 실시 예 에 따른 검사 용 프로브 소켓 은 V 형 으로 배치 되 어 상기 피 검사 접촉 단자 의 상호 이격 된 위치 에 각각 접촉 하 는 한 쌍 의 접촉면 을 가진 제 1 접촉 부재 를 지지 하 는 접촉 부 재지 지체 와 , 검사 회로 의 검사 접점 에 접촉 하 는 제 2 접촉 부재 와 , 상기 제 1 접촉 부재 의 하단 에 접촉 하 는 제 3 접촉 부재 와 , 상기 제 2 접촉 부재 와 상기 제 3 접촉 부재 사이 에 배치 되 며 상기 제 2 접촉 부재 와 상기 제 3 접촉 부재 중 적어도 하나 를 탄성 적 으로 바이어스 시키 는 탄성체 를 가진 프로브 를 지지 하 는 프로브 지 지체 를 포함 한다 .