도 19 a 에 도시 하 듯이 , 테스트 슬롯 ( 500 ) 은 베이스 ( 510 ) , 직립 벽 ( 512 a , 512 b ) , 제 1 및 제 2 커버 ( 514 a , 514 b ) 를 구비 한다 . 테스트 슬롯 ( 500 ) 은 후방 부분 ( 518 ) 및 전방 부분 ( 519 ) 을 구비 한다 . 후방 부분 ( 518 ) 은 접속 인터페이스 회로 ( 182 ) ( 도 4 a 및 도 4 b ) 를 탑재 하 는 접속 인터페이스 보드 ( 520 ) 를 수용 한다 . 접속 인터페이스 보드 ( 520 ) 는 관련 테스트 랙 ( 100 ) 내 에서 접속 인터페이스 회로 ( 182 ) ( 도 4 a 및 도 4 b ) 와 테스트 회로 [ 예 를 들 면 , 자체 테스트 시스템 ( 180 ) 및 / 또는 기능 테스트 시스템 ( 190 ) ] 사이 에 전기 통신 을 제공 하 는 리본 케이블 ( 522 ) 을 구비 한다 . 접속 인터페이스 보드 ( 520 ) 는 또한 테스트 슬롯 ( 500 ) 내 에서 접속 인터페이스 회로 ( 182 ) 와 테스트 슬롯 ( 500 ) 사이 에 전기 통신 을 제공 하 는 테스트 슬롯 커넥터 ( 524 ) 를 구비 한다 . 테스트 슬롯 ( 500 ) 의 전방 부분 ( 519 ) 에 는 디스크 드라이브 운반 장치 ( 400 ) 중 하나 를 수용 및 지지 하 기 위한 테스트 구획 ( 526 ) 이 형성 된다 . 베이스 ( 510 ) , 직립 벽 ( 512 a , 512 b ) 및 제 1 커버 ( 514 a ) 는 함께 제 1 개방 단부 ( 525 ) 와 경사 에지 ( 515 ) 를 형성 하 며 , 상기 제 1 개방 단부 ( 525 ) 는 [ 예 를 들 어 , 디스크 드라이브 운반 장치 ( 400 ) 의 삽입 및 제거 를 위해 ] 테스트 구획 ( 526 ) 에 대한 접근 을 제공 하 고 , 상기 경사 에지 ( 515 ) 는 테스트 슬롯 ( 500 ) 에 삽입 된 디스크 드라이브 운반 장치 ( 400 ) 의 면판 ( 412 ) 과 충합 하 여 제 1 개방 단부 ( 525 ) 를 통한 테스트 슬롯 ( 500 ) 내외 로 의 공기 유동 을 억제 하 는 시일 을 제공 한다 .