미세 조직 을 관찰 하 기 위해 표면 처리 후 PEDOT : PSS 정공 수송 층 ( 50 ) 막 을 횡단면 ( cross - section ) 방향 으로 절단 하 여 OM , SEM ( Scanning Electron Microscope , Tescan ) , EBSD ( Electron Backscatter Diffraction , OXFORD Nordlys ) 를 사용 하 여 관찰 / 분석 하 였 다 . 광활 성 층 ( 40 ) 과 접해 있 는 부분 을 계면 ( interface ) , 정공 수송 층 ( 50 ) 의 중간 부분 을 중앙 ( center ) , 정공 수송 층 ( 50 ) 의 윗부분 은 표면 ( surface ) 이 라 할 때 , 상기 계면 부분 에서 는 소수성 인 PEDOT - rich 영역 이 고 , 중앙 부분 에서 는 PEDOT : PSS 가 주로 존재 하 며 , 계면 및 중앙부 보다 큰 결정립 을 가지 며 치밀 한 박막 구조 를 갖 는 PEDOT - rich 영역 으로 이루어지 고 , 표면 측 의 PEDOT 이 계면 이나 중앙 부분 의 PEDOT 보다 큰 결정립 을 가짐 을 알 수 있 다 .