본 발명 은 상술 한 종래 의 문제점 을 해결 하 기 위한 것 으로서 , 본 발명 의 목적 은 프로브 등 의 조립 작업 시 프로브 의 변형 을 방지 하 여 품질 과 생산 성 을 향상 시키 고 , 마모 또는 변형 이 발생 한 프로브 를 용이 하 게 교체 할 수 있 으며 , 검사 의 대상물 인 반도체 소자 와 메인 회로 기판 간 에 안정 적 인 접속 을 가능 하 도록 하 여 동작 의 신뢰 성 을 향상 시키 고 , 반도체 소자 의 고집 적 화 및 고 밀도 화 에 따른 프로브 간 의 미세 한 피치 를 실현 시킬 수 있 는 반도체 소자 테스트 용 프로브 카드 를 제공 하 는 데 목적 이 있 다 .