본 개시 내용 의 분야 는 일반 적 으로 자율 최적화 ( self - optimizing ) 회로 들 에 관한 것 으로 , 보다 구체 적 으로 는 FD - SOI ( Fully - Depleted Silicon - On - Insulator ) 기술 들 에서 TID ( Total Ionizing Dose ) 영향 들 , 온도 드리프트 들 및 노화 현상 들 을 완화 하 기 위한 자율 최적화 회로 들 에 관한 것 이 다 .