또한 , 잉곳 의 성장 중 에 생성 된 결함 은 , 베이컨 시 타입 ( vacancy type ) 의 점 결함 이 우세 하 여 생성 되 는 베이컨 시 - 리치 ( vacancy - rich ) 영역 과 베이컨 시 타입 의 점 결함 이 우세 하 지만 과포 화 된 베이컨 시 가 응집 된 결함 이 없 는 영역 인 VDP 영역 , 그리고 인터 스티 셜 ( interstitial ) 점 결함 이 우세 하 여 과포 화 된 인터 스티 셜 실리콘 이 응집 된 인터 스티 셜 리치 ( Interstitial rich ) 영역 등 의 결함 영역 을 포함 한다 .