최종 냉간 압연 전 의 합금 스트립 을 압연 방향 에 평행 하 게 두께 직각 으로 절단 하 고 , 주사 형 전자 현미경 및 투과 형 전자 현미경 을 사용 하 여 , 단면 의 제 2 상 입자 를 10 시 야 관찰 하 였 다 . 제 2 상 입자 의 크기 가 5 ∼ 50 ㎚ 인 경우 에 는 50 만 배 ∼ 70 만 배 의 시야 ( 약 1 . 4 × 1010 ∼ 2 . 0 × 1010 ㎚ 2 ) , 100 ∼ 2000 ㎚ 인 경 우 에 는 5 만 배 ∼ 10 만 배 의 시야 ( 약 1 . 0 × 1013 ∼ 2 . 0 × 1013 ㎚ 2 ) 로 촬영 하 였 다 . 촬영 한 사진 의 화상 을 화상 해석 장치 ( 주식회사 니레 코 제조 , 상품명 루 젝 스 ) 를 사용 하 여 장경 a 가 5 ㎚ 이상 인 제 2 상 입자 의 모두 에 대하 여 개별 적 으로 장경 a , 단경 b 및 면적 을 측정 하 였 다 .