그런데 , 피 시험 디바이스 를 시험 하 는 기능 을 가지 는 사이트 를 복수 로 구비 한 시험 장치 가 알려져 있 다 . 이러 한 시험 장치 는 하나 의 사이트 에서 하나 의 피 시험 디바이스 를 측정 하 는 하드웨어 구성 으로 되 고 있 어 하나 의 사이트 에서 복수 의 피 시험 디바이스 를 동시 에 측정 하 는 것 이 곤란 했 다 . 따라서 , 피 시험 디바이스 가 LPCT 에 대응 한 플래시 메모리 라고 하 여도 이러 한 시험 장치 는 적 은 하드웨어 의 증가 에 의해 피 시험 디바이스 의 동시 측정 수 를 큰 폭 으로 늘리 는 것 은 곤란 했 다 .