이 와 같 은 작동 에 의하 여 트레이 에 수용 된 전자 부품 와 전기 히터 장치 의 전자 부품 접촉 판 이 직접 접촉 되 어 히터 에서 발생 된 열 이 균일 하 게 전자 부품 을 히팅 하 도록 구성 되 어 히팅 시간 이 단축 되 는 효과 가 있 고 , 히팅 테스트 장치 부 ( 1800 ) 제 어부 에서 제어 된 음극 전원 은 상부 히터 장치 ( 1600 ) 의 전자 부품 접촉 판 ( 1610 ) 을 공통 접지 ( GND COM ) 로 통전 되 며 , 양극 전원 은 테스트 보드 ( test B / D ; 2720 ) 를 통하 여 핀 보드 ( pin B / D ; 1730 ) 에 삽입 고정 된 테스트 용 핀 ( test pin ; 1740 ) 들 이 상승 하 여 트레이 안착 부 ( 1500 ) 에 고정 된 트레이 ( 200 ) 하부 핀 홀 ( 220 ) 에 삽입 되 며 , 전자 부품 의 전극 부 와 접촉 되 어 전기 적 특성 을 테스트 하 는 구성 이 므로 전자 부품 을 수용 하 는 트레이 에 외부 에서 전기 적 으로 연결 하 는 전기 연결 핀 ( pin ) 이 부착 되 지 않 아 트레이 이동 에 따른 연결 핀 의 파손 을 방지 할 수 있 는 효과 가 있 다 .