예 를 들 어 , 본 발명 에서 제안 된 위상 복원 방식 및 이 를 통한 표면 형상 의 획득 은 2 개 이상 의 정현파 패턴 이 중첩 된 간섭계 에 도 역시 적용 이 가능 하 다 . 또한 , 보다 정확 한 위상 및 표면 형상 획득 을 위해 , 조명 구성 품 일체 , 카메라 구성 품 일체 , 대상 물체 중 일부 의 변이 를 통한 2 개 이상 의 위상 또는 표면 형상 데이터 를 획 득하 고 , 이 를 토대 로 보다 정확 한 위상 또는 표면 형상 획득 이 가능 하 다 .