그러나 웨이퍼 렌즈 의 경우 에 초 소형 의 웨이퍼 렌즈 가 결합 된 카메라 모듈 에 대하 여 개별 적 으로 성능 검사 를 진행 한다는 것 은 시간 과 비용 등 이 많이 소요 되 는 것 은 물론 초 소형 의 카메라 모듈 을 취급 하 는 것 자체 가 용이 하 지 않 다는 문제점 이 있 을 뿐 만 아니 라 , 웨이퍼 렌즈 의 제작 특성 상 엠보싱 공정 에서 불량 이 발생 할 경우 웨이퍼 의 일정 영역 에 있 는 렌즈 열 전체 에 일어날 가능 성 이 크 기 때문 에 다 이싱 공정 에 의하 여 분리 된 렌즈 모듈 에 대하 여 성능 검사 를 수행 한다는 것 은 매우 비 효율 적 인 것 이 다 .