도 6 을 참조 하 면 , S 200 단계 에서 반도체 패키지 들 ( 10 ) 을 테스트 하 는 동안 테스터 ( 200 ) 로부터 상기 반도체 패키지 들 ( 10 ) 의 온도 정보 를 수신 하 고 , S 210 단계 에서 상기 수신 된 온도 정보 로부터 상기 반도체 패키지 들 ( 10 ) 의 전체 평균 온도 를 산출 할 수 있 다 . 상기 S 200 단계 및 S 210 단계 는 도 1 을 참조 하 여 기 설명 된 S 100 단계 와 S 110 단계 와 실질 적 으로 동일 하 므로 이 에 대한 추가 적 인 상세 설명 은 생략 한다 .