상기 한 바 와 같 은 목적 을 달성 하 기 위한 본 발명 의 바람직 한 실시 예 에 따르 면 , 시험 장비 의 복수 개 의 프로브 단자 들 에 대응 되 는 위치 에 복수 개 의 전극 들 이 구비 된 반도체 소자 를 위치 시키 는 위치 조정 수단 을 구비 한 인서 트 장치 에 있 어서 , 반도체 소자 를 장착 하 기 위한 중앙 개구부 를 가지 며 , 시험 장비 를 통한 상기 반도체 소자 의 시험 진행시 에 상기 중앙 개구부 를 통해 장착 된 반도체 소자 를 측면 에서 밀 어 위치 를 조정 하 도록 상기 중앙 개구부 의 일 측면 에 회동 가능 하 게 설치 된 위치 조정 수단 을 포함 하 여 이루어진 것 을 특징 으로 하 는 위치 조정 수단 을 구비 한 인서 트 장치 가 제공 된다 .