도 2 및 도 4 내지 도 6 에 도시 된 바 와 같이 , 각 상기 피 측정 유닛 ( 50 A , 50 B ) 에서 , 상기 복수 의 전도성 접점 ( 55 a ~ 55 d ) 은 제 1 메인 에지 ( 51 ) 에 인접 한 제 1 전도성 접점 ( 55 a ) 및 제 2 메인 에지 ( 52 ) 에 인접 한 제 2 전도성 접점 ( 55 b ~ 55 d ) 으로 분할 되 고 , 그 중 , 제 2 전도성 접점 ( 55 b ) 은 수평 가상 축선 ( A 2 ) 에 실질 적 으로 평행 하 도록 상기 제 2 메인 에지 ( 52 ) 를 따라 제 1 행 ( L 1 ) 으로 배열 되 고 ( 도 4 에 도시 된 바 와 같이 ) , 제 2 전도성 접점 ( 55 c ) 은 상기 수평 가상 축선 ( A 2 ) 에 실질 적 으로 평행 하 도록 상기 제 1 행 ( L 1 ) 에 바로 인접 한 제 2 행 ( L 2 ) 으로 배열 되 고 ( 도 5 에 도시 됨 ) , 제 2 전도성 접점 ( 55 d ) 은 상기 수평 가상 축선 ( A 2 ) 에 실질 적 으로 평행 하 도록 상기 제 2 행 ( L 2 ) 에 바로 인접 한 제 3 행 ( L 3 ) 으로 배열 되 고 ( 도 6 에 도시 됨 ) , 상기 제 1 행 내지 제 3 행 ( L 1 ~ L 3 ) 은 상기 제 2 메인 에지 ( 52 ) 로부터 상기 제 1 메인 에지 ( 51 ) 의 방향 을 향하 여 순차 적 으로 배열 된다 . 도 2 에 도시 된 바 와 같이 , 각 상기 피 측정 유닛 ( 50 A , 50 B ) 의 제 1 전도성 접점 ( 55 a ) 은 상기 수평 가상 축선 ( A 2 ) 에 실질 적 으로 평행 하 도록 상기 제 1 메인 에지 ( 51 ) 를 따라 1 행 으로 배열 되 고 , 상기 제 1 피 측정 유닛 ( 50 A ) 의 제 1 전도성 접점 ( 55 a ) 은 상기 제 1 피 측정 유닛 ( 50 A ) 의 제 2 측면 에지 ( 54 ) 에 인접 한 제 1 경계 접점 ( 61 ) 을 포함 하 고 , 상기 제 2 피 측정 유닛 ( 50 B ) 의 제 1 전도성 접점 ( 55 a ) 은 상기 제 2 피 측정 유닛 ( 50 B ) 의 제 1 측면 에지 ( 53 ) 에 인접 한 제 2 경계 접점 ( 62 ) 을 포함 한다 .