먼저 , 테스트 유닛 ( 104 ) 에서 테스트 가 수행 되 는 과정 에서 테스트 트레이 ( T ) 에 장착 된 반도체 소자 가 진동 등 으로 인하 여 이탈 되 어 하방 으로 낙하 되 는 경우 , 쇼트 가 발생 되 거나 반도체 소자 의 리드 와 테스트 장치 에 구비 되 는 콘 택 소켓 의 단자 가 접속 되 지 못하 게 되 어 적합 한 테스트 를 수행 할 수 없 는 문제 가 있 다 .