먼저 한국 공개 특허 제 2015 - 0035010 호 ( 2015 . 04 . 06 . ) 는 뇌파 검지 장치 를 통한 학습 자 집중 도 확인 및 관리 시스템 에 관한 것 으로 , 수 면시 발생 하 는 델 타파 , 졸 거나 경계심 이 감소 하 였을 때 발생 하 는 세타 파 , 문제 를 해결 하 거나 사고 활동 을 활 때 발생 하 는 알파파 , 주의력 향상 시 나타나 는 SMR ( sensorimoter ) 파 , 긴장 과 학습 능력 을 보일 때 나타나 는 베타 파 를 포함 하 는 사용자 의 뇌파 를 분석 하 여 , 학습 시 사용 자 의 집 중도 를 확인 할 수 있 도록 하 는 뇌파 검지 장치 를 통한 학습 자 집중 도 확인 및 관리 시스템 에 관한 것 이 다 .