" OLED 에서 결함 을 검출 하 기 위한 자동 광학 검사 시스템 ( "" AOI "") 은 문헌 [ B . D Perng et al ", Journal of Physics : Conference Series , 13 : 353 - 356 ( 2005 ) ] 에 기술 되 어 있 다 . 그 공개 물 에 의하 면 , OLED 결함 은 통상 적 으로 흑점 , 비 균일성 발광 , 표면 스크래치 , 불 충분 한 고무 폭 , 및 색상 균일성 의 결함 을 포함 하 는 것 으로 나타났 다 . 컴퓨터 - 제어 AOI 는 전도성 고정 물 , UV 광 , 동축 LED 광 , 및 역광 을 비롯 한 발광 기 작 을 기초 로 한다 .