또한 , 인입 위치 ( IP ) 에 있 는 고객 트레이 ( CT ) 에 반도체 소자 가 모두 채워 지 면 인입 위치 ( IP ) 에 있 는 고객 트레이 ( CT ) 는 제 2 수납 스택 커 ( 113 ) 로 이동 되 고 , 리 테스트 위치 ( RP ) 에 있 는 고객 트레이 ( CT ) 에 반도체 소자 가 모두 채워 지 면 리 테스트 위치 ( RP ) 에 있 는 고객 트레이 ( CT ) 는 제 3 수납 스택 커 ( 114 ) 로 이동 된다 . 이 에 따라 인입 위치 ( IP ) 나 리 테스트 위치 ( RP ) 로부터 고객 트레이 ( CT ) 가 제거 되 면 , 트레이 이송기 ( 170 ) 는 대기 위치 ( SP ) 에 있 는 고객 트레이 ( CT ) 를 인입 위치 ( IP ) 로 이송 ( 화살표 l 1 , l 2 참조 ) 시키 거나 리 테스트 위치 ( RP ) 로 이송 ( 화살표 m 참조 ) 시킨다 . 여기 서 대기 위치 ( SP ) 에 는 미리 대기 스택 커 ( 115 ) 로부터 이동 되 어 온 빈 고객 트레이 ( CT ) 가 대기 하 고 있 다 . 물론 , 실시 하 기 에 따라서 는 인출 위치 ( WP ) 에 있 는 빈 고객 트레이 ( CT ) 가 트레이 이송기 ( 170 ) 에 의해 대기 위치 ( SP ) 로 이송 되 어 질 수 도 있 고 , 인출 위치 ( WP ) 에 있 는 빈 고객 트레이 ( CT ) 가 고객 트레이 ( CT ) 가 제거 된 인입 위치 ( IP ) 나 리 테스트 위치 ( RP ) 로 직접 이송 되 어 질 수 도 있 다 .