본 발명 은 핀 검사 장치 에 관한 것 으로서 , 핀 이 송 수단 을 따라 순차 적 이 며 연속 적 으로 이송 되 는 가공물 의 길 이 및 테이퍼 부를 실시간 으로 검사 하 여 불량 유무 를 판 단함 에 따라 가공물 의 불량 에 따른 제품 불량 을 최소 화 할 수 있 으며 , 다량 의 가공물 을 빠른 시간 내 에 신속 하 게 검사 할 수 있 는 핀 검사 장치 에 관한 것 이 다 .