검사 장치 는 검사 대상 인 전자 제품 을 수용 하 는 인서 트 와 검사 신호 를 전달 하 는 프로브 들 을 가진 검사 소켓 , 검사 소켓 에 결합 되 어 인서 트 를 개폐 하 는 커버 , 커버 에 마련 되 어 인서 트 에 수용 된 전자 제품 을 가압 하 는 푸 셔 , 및 열 방출 을 위한 방열 부를 포함 하 고 있 다 . 여기 서 , 방 열 부 는 푸 셔 로 전달 되 는 열 을 외부 로 방출 하 는 히트 싱크 블록 을 포함 할 수 있 다 .