코팅 공정 ( 상기 에 기재 됨 ) 의 완료 즉시 , 1 . 375 인치 ( 3 . 49 cm ) 다이 커터 를 사용 하 여 코팅 된 기재 로부터 3 개 의 샘플 디스크 를 절단 하 였 다 . 각각 의 샘플 상 의 실리콘 코트 중량 을 옥스포드 인스 트루먼 츠 ( Oxford Instruments ) Lab - X 3500 벤치 탑 ( Benchtop ) XRF 분석기 를 사용 하 여 결정 하 였 다 . 이어서 , 각각 의 디스크 를 , 40 mL 의 메틸 아 이소부 틸 케톤 용매 를 함유 하 는 개별 100 mL 병 에 넣 었 다 . 샘플 의 실리콘 표면 이 오염 되 거나 손상 되 지 않 도록 보장 하 기 위해 , 샘플 디스크 를 취급 하 는 데 는 항상 핀셋 을 사용 하 였 다 . 이어서 , 용매 병 에 뚜껑 을 덮 고 30 분 동안 실험실 벤치 탑 상 에 놓아두 었 다 . 이 기간 후 에 , 용매 로부터 디스크 를 꺼내 고 , 실리콘 코팅 된 면 을 위 로 하 여 깨끗 한 티슈 페이퍼 상 에 놓 았 다 . 샘플 을 와 이 핑 ( wiping ) 또는 블 로 팅 ( blotting ) 하 지 않 고 용매 가 샘플 디스크 로부터 증발 되 게 두 었 다 . 이어서 , 각각 의 샘플 디스크 의 최종 코트 중량 을 결정 하 였 다 .