따라서 , 본 발명 은 상기 와 같 은 문제점 을 해결 하 기 위하 여 발명 한 것 으로 , 주사 전자 현미경 을 이용 하 여 막 - 전극 접합체 를 분석 함 에 있 어서 , 시편 의 제조 및 준비 과정 의 모든 사항 을 정립 하 여 시편 의 제조 및 분석 을 위한 전체 과정 을 각 단계 별 로 구분 및 체계 화 함 으로써 , 분석 자 의 경험 과 추측 에 의존 하 지 않 고 종래 에 비해 막 - 전극 접합체 의 구조 및 단면 분석 을 좀 더 정확 하 게 수행 할 수 있 는 주사 전자 현미경 을 이용 한 막 - 전극 접합체 의 분석 방법 을 제공 하 는데 그 목적 이 있 다 .