본 발명 은 리페 어 장치 및 이 를 포함 하 는 반도체 장치 에 관한 것 으로 , 테스트 동작 시 패일 정보 를 퓨즈 부 에 저장 하 는 리 페어 장치 에 관한 기술 이 다 . 이러 한 본 발명 은 테스트 신호 에 대응 하 여 셀 어레이 로부터 인가 되 는 데이터 를 테스트 하 고 패일 의 발생 시 패일 신호 를 출력 하 는 테스트 부 , 패일 신호 를 카 운 팅 하 여 카 운 팅 신호 를 출력 하 는 카운트 부 , 카 운 팅 신호 에 대응 하 여 컬럼 패일 여부 를 판단 하 고 라이트 인 에 이 블 신호 를 출력 하 는 컬럼 패일 판 단부 , 라이트 인 에 이 블 신호 의 활성 화 시 카 운 팅 신호 에 대응 하 여 패일 이 발생 한 컬럼 어드레스 를 출력 하 는 퓨즈 제 어부 및 컬럼 어드레스 를 순차 적 으로 저장 하 는 컬럼 퓨즈 부를 포함 한다 .