50 kV 및 40 mA 에서 작동 하 는 CuK α 공급원 ( λ = 1 . 54056 Å ) 이 장착 된 브루커 ( Bruker ) D 4 회절계 를 이용 하 여 X - 선 분말 회절 분석 을 수행 하 였 다 . 샘플 을 4 내지 35 ˚ 의 2 - 세타 각 에서 0 . 009 ˚ 의 간격 크기 및 간격 당 0 . 5 초 의 스캔 시간 으로 스캔 하 였 다 . 방법 오 차 는 +/- 0 . 2 ˚ 인 것 으로 종래 에 밝혀졌 다 . 샘플 변위 는 , 이스트먼 코닥 에 의해 제공 되 며 미국 펜실베이니아주 스테이트 칼리지 의 더 젬 덕아웃 에 의해 특성 분석 된 저각 내부 표준 인 은 베 헤 네이트 를 이용 하 여 보정 하 였 다 .