그리고 도 5 에서 ( a ) 인장 실험 을 위하 여 하나 의 전자 부품 이 실장 된 본 발명 의 실시 예 에 따르 는 돌출 전극 을 가지 는 스 트레 처 블 배선 기판 ( A ) 의 사시도 이 고 , ( b ) 는 굽힘 실험 을 위하 여 두 개 의 전자 부품 이 실장 된 본 발명 의 실시 예 에 따르 는 전자 부품 이 실장 된 돌출 전극 을 가지 는 스 트레 처 블 배선 기판 ( A ) 의 사시도 이 다 .