또한 , 상기 대 상체 의 검사 항목 2 가 반도체 패키지 의 아웃 라인 인 경우 상기 스코어링 단계 는 , 상기 A ) 단계 에서 획득 된 각각 의 이미지 데이터 를 그레 이 레벨 별 픽셀 개수 가 매칭 된 각각 의 이미지 히스토그램 으로 산출 하 는 단계 ; 산출 된 상기 이미지 히스토그램 을 바탕 으로 흑백 화 된 이진 이미지 로 각각 전환 하 는 단계 ; 각각 의 상기 이진 이미지 에서 흑색 과 백색 의 비율 데이터 및 상기 이미지 히스토그램 에서 최대 콘트 라스트 데이터 를 획득 하 는 단계 ; 및 상기 흑색 과 백색 의 비율 데이터 로부터 상기 흑색 과 백색 의 비율 차이 와 상기 최대 콘트 라스트 를 1 : 1 의 가중치 로 스코어링 하 는 단계 를 포함 하 는 것 을 특징 으로 한다 .