본 실시 형태 에 의하 면 , 피 시험 디바이스 에 대해서 행해진 복수 의 시험 의 결과 를 유지 해 두 고 , 그 후 의 시험 에 있 어서 이렇 ㄴ 복수 의 시험 결과 에 따라 다른 시험 패턴 을 발생 하 고 , 또한 , 복수 의 시험 의 결과 에 따라 피 시험 디바이스 의 클래스 를 분류 할 수 있 다 . 이 에 의해 , 전자 디바이스 가 본래 목적 으로 하 는 동작 을 실시 할 수 있 는지 여부 를 적절히 체크 할 수 있 다 .