상기 목적 은 , 본 발명 에 따라 , 디스플레이 장치 의 광학 특성 을 분석 하 는 계측 시스템 에 있 어서 , 패턴 생 성부 및 상기 디스플레이 장치 의 복수 의 항목 을 측정 하 는 측 정부 와 통신 하 는 인터페이스 부 와 ; 소정 의 패턴 을 생성 하 여 상기 디스플레이 장치 에 출력 하 고 상기 패턴 에 따라 출력 되 는 상기 디스플레이 장치 의 항목 을 측정 하 도록 상기 인터페이스 부 를 통해 상기 패턴 생 성부 및 상기 측 정부 를 제어 하 고 , 상기 측정 된 항목 을 통해 상기 디스플레이 장치 의 광학 특성 을 분석 하 는 제 어부 를 포함 하 는 것 을 특징 으로 하 는 계측 시스템 에 의해 달성 된다 .