한편 , 도 25 b 와 같이 , 1 계조 사이 에 100 ㏀( 100 , 000 Ω ) 의 저항 치가 있 는 이물 ( 936 ) 이 끼인 경우 , 끼인 계조 의 합성 저항 은 , 1 계조 분 의 저항 317 . 5 Ω 과 이물 ( 936 ) 의 저항 이 병렬 로 접속 된 구성 이 라고 생각 되 기 때문 에 , 약 316 . 46 Ω ( 1 / ( ( 1 / 317 . 46 ) +( 1 / 100 k ) ) ≒ 316 . 46 ) 으로 되 어 , 원래 1 계조 의 저항 치 317 . 46 Ω 으로부터 1 Ω 만큼 변동 한다 . 이 때문 에 , 전체 저항 치 는 20 ㏀ 으로부터 19 . 999 ㏀( 19999 Ω ) 으로 변동 한다 . 해당 개소 의 전압 은 약 79 . 12 ㎷( 5 V× 316 . 46 Ω ÷ 19 . 999 ㏀≒ 0 . 07912 ) 로 되 어 , 본래 의 전압 79 . 37 ㎷ 로부터 의 변동 은 0 . 25 ㎷( 79 . 37 - 79 . 12 = 0 . 25 ) 뿐 이 다 . 따라서 , 전술 한 측정 테스터 의 1 ㎷ 의 전압 분해능 에 따라서 는 , 이 물 ( 936 ) 이 끼인 것 에 의한 변동 전압 을 검출 할 수 없 기 때문 에 , 이 이물 ( 936 ) 을 검출 할 수 없 다고 하 는 문제 가 발생 한다 . 이 와 같 은 1 ㎷ 이하 의 전압 변동 은 , 액정 패널 상 의 표시 에 는 영향 은 없 지만 , 소스 드라이버 의 품질 향상 을 위해서 는 이 물 을 검출 할 필요 가 있 다 .