또한 , 빔 의 조사 조건 이란 , 앞서 실시 예 에서 설명 한 바 와 같 은 펄스 빔 의 차단 시간 이나 조사 시간 등 이 며 , 학습 부 ( 2005 ) 는 , 하전 입자선 장치 의 검사 레시피 로부터 의 판독 , 혹은 입력 장치 ( 2006 ) 로부터 의 입력 등 에 의해 , 이 들 데이터 를 교사 데이터 의 일부 로서 접수 한다 . 전기 특성 정보 는 , 시뮬레이션 이나 EB 테스터 등 을 이용 한 실측값 , 실 ( 實 ) 디바이스 의 단면 가공 관찰 에 의거 하 여 얻 어 진 화상 으로부터 구해진 값 , 혹은 오퍼레이터 의 경험 에 의거 하 는 결함 의 종류 나 결 함종 에 따른 값 등 이 며 , 학습 부 ( 2005 ) 는 이 들 정보 의 적어도 1 개 를 라벨 로서 접수 한다 .