이 와 같이 , OOB 검출 회로 ( 100 ) 내 에서 자기 판정 용 입력 패턴 을 생성 하 고 , 상기 자기 판정 용 입력 패턴 을 시간 판정 회로 ( 2 ) 의 스 켈 치 시간 측정 회로 ( 21 ) 에 공급 하 고 , 피드백 제어 에 의해 스 켈 치 시간 측정 회로 ( 21 ) 의 반응 시간 을 조정 함 으로써 , 시간 판정 회로 ( 2 ) 의 회로 특성 이 변동 하 는 경우 이 어도 , 그 변동 을 흡수 한 반응 시간 을 설정 할 수 있 다 .