샘플링 기간 ( Tw ) 동안 , 제 2 스위치 TFT ( T 2 ) 가 제 n 스캔 신호 ( SCAN ( n ) ) 의 온 레벨 펄스 에 응답 하 여 턴 - 온 되 어 구동 TFT ( DT ) 가 다이오드 연결 된다 . 구동 TFT ( DT ) 가 다이오드 연결 되 면 구동 TFT ( DT ) 에 흐르 는 전류 에 의해 제 2 및 제 3 노드 ( N 2 , N 3 ) 의 전위 는 “ VDD -| Vth |” 가 된다 . 즉 , 구동 TFT ( DT ) 가 다이오드 연결 되 면 구동 TFT ( DT ) 의 문턱 전압 ( Vth ) 이 샘플링 되 어 제 2 노드 ( N 2 ) 를 통해 스토리지 커패시터 ( Cst ) 의 타 측 전극 에 인가 된다 . 한편 , 샘플링 기간 ( Tw ) 동안 제 6 및 제 7 TFT 들 ( T 6 , T 7 ) 을 제외 한 제 1 내지 제 5 TFT 들 ( T 1 ~ T 5 ) 은 턴 - 오프 된다 .