상기 목적 을 달성 하 기 위한 본 발명 에 따른 전자 부품 내열 성능 테스트 시스템 은 전자 부품 의 내열 성능 을 테스트 하 는 장치 로서 , 상기 전자 부품 을 공급 하 는 공급 부 와 , 상기 공급 된 전자 부품 을 정해진 온도 의 조건 으로 히팅 하 여 테스트 하 는 히팅 테스트 부 와 상기 히팅 테스트 가 완료 된 전자 부품 을 배출 하 는 배 출부 로 이루어져 상기 전자 부품 의 내열 성능 을 테스트 하 는 구조 를 특징 으로 한다 .