복수 의 논리 비 교부 ( 32 ) 의 각각 은 피 시험 메모리 ( 500 ) 에서 해당 시험 장치 ( 10 ) 의 복수 의 입력 단자 ( 30 ) 로 접속 된다 . 본 변형 예 에서 는 , 시험 장치 ( 10 ) 는 복수 의 논리 비 교부 ( 32 ) 로서 제 1 논리 비 교부 ( 32 - 1 ) 및 제 2 논리 비 교부 ( 32 - 2 ) 를 구비 한다 .