도 8 은 도 7 에서 의 리셋 동작 및 셋 동작 과 동일 한 조건 으로 쓰 기 및 지우기 를 반복 할 때 발생 하 는 특성 의 실험 결과 를 도시 한다 . 도 8 에서 , 상측 은 상변화 메모리 소자 의 쓰 기 내구 성 테스트 결과 이 며 , 하측 은 상변화 메모리 소자 의 지우기 내구 성 테스트 결과 이 다 . 상변화 메모리 소자 는 대략 3000 회 의 쓰 기 및 지우 기 동작 까지 특성 에 문제 가 없 었 으나 , 이후 리셋 저항 이 감소 하 기 시작 하 여 마지막 8000 회 의 쓰 기 및 지우 기 반복 동작 이후 에 는 리셋 저항 이 초기 상태 의 그것 에 비해 대략 1 / 4 수준 까지 떨어짐 을 알 수 있 다 . 이것 은 상변화 메모리 소자 가 기록 불능 상태 로 진행 중 인 것 을 의미 한다 .