소산 장 ( evanescent field ) 을 이용 하 는 근 접장 ( near - field ) 광학 기술 은 원역 장 광학 의 회절 한계 를 극복 하 도록 개발 되 어 왔 다 . 특히 , 근 접장 스캐닝 광학 현 미경 법 ( near - field scanning optical microscopy ; NSOM ) 으로 불리 는 근접 프로브 기술 은 회절 한계 를 넘 어서 광학 측정 의 범위 를 확장 시켜 왔으며 많 은 학문 분야 에서 , 특히 재료 및 생물 과학 에서 관심 을 자극 해 왔 다 . 그렇지만 , 낮 은 집광 효율 , 비교 적 느린 이미지 취득 률 , 및 NSOM 의 표면 아래 의 대상 을 이미 징 또는 감지 할 수 없 는 능력 은 근본 적 으로 그 이용 을 제한 한다 .