상기 핀 ( 63 ) 은 상기 인터 포저 ( 20 ) 의 접촉 핀 ( 33 ) 과 대응 되 는 위치 에 마련 되 는 것 으로서 , 검사 소켓 ( 50 ) 으로 삽입 되 는 메모리 모듈 ( 10 ) 의 접촉 단자 ( 11 ) 와 전기 적 으로 접촉 된다 . 상기 핀 ( 63 ) 은 한 쌍 이 서로 마주 보 도록 상기 검사 소켓 ( 50 ) 의 길 이 방향 으로 다 수개 가 마련 되 며 , 상단 은 메모리 모듈 ( 10 ) 의 접촉 단자 ( 11 ) 와 접촉 될 수 있 으며 , 하단 은 스프링 ( 64 ) 에 의하 여 탄성 지지 된다 . 이러 한 핀 ( 63 ) 은 메모리 모듈 ( 10 ) 이 삽입 되 지 않 았 을 때 에 는 검사 소켓 ( 50 ) 의 삽입 구멍 ( 61 ) 내부 로 돌출 되 어 있 으며 , 상기 메모리 모듈 ( 10 ) 이 상기 검사 소켓 ( 50 ) 의 삽입 구멍 ( 61 ) 으로 삽입 되 었 을 때 에 는 상기 메모리 모듈 ( 10 ) 에 의하 여 밀려서 하측 으로 이동 한다 .