이하 에서 는 상술 한 본 발명 의 또 다른 실시 예 에 따른 반도체 소자 테스트 용 핸들러 및 테스트 방법 에서 상기 제 1 대기 위치 ( A ) 가 테스트 유닛 ( 5 ) 의 상측 에 배열 되 고 , 상기 제 2 대기 위치 ( B ) 가 테스트 유닛 ( 5 ) 의 하측 에 배열 되 어 이루어지 는 경우 테스트 트레이 ( T ) 가 이송 되 는 경로 의 바람직 한 실시 예 를 도 5 를 참고 하 여 상세히 설명 한다 .