시스템 ( 100 ) 은 인터페이스 보드 ( 108 ) 의 접촉 지점 들 ( 109 ) 의 일부 또는 전부 에 전 도성 으로 연결 되 는 테스트 설비 ( 116 ) 를 갖 는다 . 설치 된 DUT ( 104 ) 의 테스트 를 위해 디지털 및 저 주파수 아날 로 그 또는 RF 신호 들 을 송신 및 / 또는 수신 하 도록 그리고 DC 전력 을 설치 된 DUT 로 제공 하 기 위해 , 시스템 은 지점 들 ( 109 ) 을 통하 여 이루어지 는 일시 적 인 전기 커넥션 들 을 사용 한다 . 테스트 설비 ( 116 ) 는 예 를 들 어 , 통상 적 인 RF 테스트 헤드 에서 전형 적 으로 발견 되 는 RF 기구 회로 를 포함 할 수 있 다 . 테스 트기 컴퓨터 는 기구 회로 의 테스 트 기 측 에 연결 된다 . 테스 트기 컴퓨터 는 테스트 프로 시저 를 수행 하 기 위한 소프트웨어 를 실행 하 며 , 테스트 프로시저 에서 RF ATE 내 의 기구 회로 가 DUT ( 104 ) 를 자극 ( stimulate ) 하 여 DUT 의 밀리미터파 ( mmw ) 응답 을 캡쳐 하 도록 명령 되 며 , 이 는 그 다음 에 디지털 형태 로 테스 트기 에 의해 저장 된다 . 이 는 다음 과 같이 테스트 안테나 ( 118 ) 를 사용 하 여 수행 된다 .