이 를 극복 하 기 위해 비트 라인 콘 택 플러그 의 크기 를 작 게 형성 하 여 저장 전극 콘 택 플러그 와 의 공간 마진 을 확보 하 는 방법 이 제안 되 었 으나 , 이 는 비트 라인 콘 택 플러그 와 랜딩 플러그 콘 택 간 의 오버랩 마진 ( Overlap Margin ) 부족 으로 인한 콘 택 저항 증가 와 비트 라인 콘 택 홀 의 낫 오픈 현상 이 발생 하 는 문제 가 있 다 .