투 과부 ( TA ) 의 하부 에 배치 된 센서 와 같 은 컴포넌트 로부터 외부 로 출력 되 거나 외부 로부터 컴포넌트 를 향해 진행 하 는 빛 또는 / 및 음향 이 투과 될 수 있 다 . 이 경우 , 상술 한 회절 현상 이 클 수록 센서 와 같 은 컴포넌트 의 검출 력 이 저하 될 수 있 다 . 왜냐하면 , 회절 현상 이 클 수록 빛 또는 / 및 음향 이 직선 경로 뿐 만 아니 라 주변 의 일정 범위 까지 돌 아 들어가 므로 , 직선 경로 로 진행 하 는 빛 또는 / 및 음향 의 양 이 줄어들 수 있 다 . 즉 , 센서 와 같 은 컴포넌트 가 센싱 하 기 위해 이용 하 는 빛 또는 / 및 음향 의 출사 량 과 입사 량 이 감소 될 수 있 다 . 따라서 , 투 과부 ( TA ) 의 하부 에 배치 된 센서 와 같 은 컴포넌트 의 검출 력 을 양호 하 게 유지 하 기 위해서 는 투과 부 ( TA ) 의 회절 현상 을 최소 화 시킬 필요 가 있 다 .