또한 , 본 개시 의 일 실시 예 에 따른 전자 디바이스 는 , 외부 전자 디바이스 와 DS - TWR 을 수행 할 경우 , DS - TWR 에 포함 되 는 두 번 의 라운드 트립 ( Round - trip ) 측정 에서 두 번 의 SS - TWR 을 수행 함 으로써 무결 성 검사 를 수행 할 수 있 다 . 본 개시 의 일 실시 예 에 따른 전자 디바이스 는 , 외부 전자 디바이스 와 DS - TWR 을 수행 할 경우 , DS - TWR 에 포함 되 는 두 번 의 라운드 트립 측정 에서 두 번 의 SS - TWR 을 수행 함 으로써 레인 징 교정 을 수행 할 수 있 다 .