다시 도 2 를 참조 하 면 , 상기 검사 시 , 피검 사체 ( A ) 가 그 상방 에 위치 하 는 프로브 헤드 ( 28 ) 를 향해서 상승 되 고 , 피검 사체 ( A ) 에 설치 된 복수 의 전극 패드 ( Aa ) 가 이 들 에 대응 하 는 복수 의 프로브 ( 34 ) 의 하단 부 ( 34 b ) , 즉 플런저 ( 46 ) 의 선 단부 ( 46 b ) 에 접촉 된다 . 그 결과 , 플런저 ( 46 ) 의 선 단부 ( 46 b ) 가 이 에 고정 되 어 있 는 배럴 ( 44 ) 의 일부 와 함께 지 지체 ( 36 ) 의 하판 ( 40 ) 에 대해서 상승 하 고 , 이 에 따라 배럴 ( 44 ) 의 다른 일부 인 스프링 부 ( 44 a ) 에 있 어서 압축 된다 . 이 에 따라 , 상기 검사 장치 와 피검 사체 ( A ) 사이 에 도전 로 가 형성 된다 .