또한 , 상기 설명 에서 는 도 7 의 회로 를 장구 간 최대 값 유지 회로 ( 34 ) 로서 설명 하 고 , 단구 간 최대 값 유지 회로 ( 33 ) 를 2 회 또는 3 회 의 샘플링 클럭 간 의 최대 데이터 를 취득 하 는 회로 ( 이 경우 , 단구 간 최대 값 유지 회로 ( 33 ) 는 1 또는 2 개 의 래치 회로 , 1 / 2 또는 1 / 3 분주 회로 등 으로 구성 되 는 회로 ) 로 설명 하 였 지만 , 도 7 의 회로 를 단구 간 최대 값 유지 회로 ( 33 ) 로 하 고 , 장구 간 최대 값 유지 회로 ( 34 ) 를 6 회 이상 의 샘플링 클럭 간 의 최대 데이터 를 취득 하 는 회로 ( 이 경우 , 장구 간 최대 값 유지 회로 ( 34 ) 는 6 개 이상 의 래치 회로 등 으로 구성 되 는 회로 ) 로 하 여도 된다 .