유리 시트 의 제 2 선택 된 영역 에서 투과 형 광학 왜곡 을 측정 하 기 위한 장치 는 , 제 2 사전 정의 된 패턴 으로 배치 된 콘트라 스팅 요소 를 포함 하 는 제 2 백 그라운드 스크린 ; 유리 시트 가 제 2 카메라 와 제 2 백 그라운드 스크린 사이 에서 사전 선택 된 배향 으로 위치 된 상태 로 제 2 백 그라운드 스크린 의 이미지 를 포함 하 는 제 2 이미지 데이터 세트 를 포착 하 기 위한 제 2 카메라 ; 및 유리 시트 와 연관 된 제 2 이미지 데이터 세트 를 수신 하 고 , 제 2 이미지 데이터 세트 로부터 위상 맵 을 전개 하 여 위상 맵 으로부터 광학 왜곡 의 선택 된 표시 를 전개 함 으로써 제 2 이미지 상 의 관심 지점 과 연관 된 광학 왜곡 의 선택 된 표시 를 결정 하 기 위한 로직 을 실행 하 도록 프로그래밍 된 적어도 하나 의 프로세서 를 포함 하 는 컴퓨터 를 포함 한다 .