또한 , 광원 ; 상기 광원 상부 에 위치 하 는 피 ( 被 ) 검사 편광판 ; 상기 피 검사 편광판 의 상부 , 또는 광원 과 피 검사 편광판 사이 에 위치 하 고 상기 피 검사 편광판 과 직교 니콜 로 배치 되 는 검사 용 편광판 ; 및 상기 피 검사 편광판 과 검사 용 편광판 사이 에 위치 하 는 위상차 보정 부재 ; 를 포함 하 여 이루어지 는 편광판 검사 시스템 으로서 , 상기 위상차 보정 부재 는 상기 피 검사 편광판 의 편광자 와 검사 용 편광판 사이 에 위치 하 는 이방성 매질 로 인해 틀어지 는 위상차 를 상쇄 보정 시키 는 것 을 특징 으로 하 는 편광판 검사 시스템 을 제공 한다 .