상기 테스트 부 ( 200 ) 는 상기 메모리 모듈 에 전기 적 인 신호 를 인가 하 여 실장 테스트 를 수행 한다 . 상기 테스트 부 ( 200 ) 는 , 도 1 내지 도 3 에 도시 되 어 있 는 바 와 같이 , 상기 공급 및 배 출부 ( 100 ) 의 반대쪽 에 위치 하 고 , 복수 의 테스트 영역 ( 210 ) 이 Y 축 및 Z 축 방향 으로 적층 된 형태 로 구비 된다 . 이 와 같 은 형태 는 좁 은 공간 에 최대 의 테스트 영역 ( 210 ) 이 배치 될 수 있 도록 하 여 작업 공간 의 효율 적 인 이용 이 가능 하 게 한다 .