도 4 를 참조 하 면 , 본 발명 의 실시 예 에 따른 오버 드라이빙 신호 생 성부 ( 400 ) 의 구성 요소 중 선택지 연부 ( 402 ) 는 , 감지 증폭 인 에이블 신호 ( SAENV ) 를 제 1 예정 시간 만큼 지연 하 여 출력 하 는 지 연소자 ( DELAY 1 ) 와 , 지연 소자 ( DELAY 1 ) 의 출력 신호 를 입력 받 아 출력 하 는 제 1 인버터 ( INV 1 ) 와 , 제 1 인버터 ( INV 1 ) 의 출력 신호 ( DLY 1 ) 와 병렬 테스트 모드 인 에 이 블 신호 ( PT _ CON ) 를 입력 받 아 출력 하 는 제 1 낸드 게이트 ( NAND 1 ) 와 , 감지 증폭 인 에이블 신호 ( SAENV ) 와 제 1 낸드 게이트 ( NAND 1 ) 의 출력 신호 를 입력 받 아 출력 하 는 제 2 낸드 게이트 ( NAND 2 ) , 및 제 2 낸드 게이트 ( NAND 2 ) 의 출력 신호 를 입력 받 아 출력 하 는 ( DLY 2 ) 제 2 인버터 ( INV 2 ) 를 구비 한다 .