발명 의 한 실시 예 에 따르 면 , 프로세서 ( 1230 ) 는 프로세서 ( 1230 ) 의 내부 에 포함 된 OP AMP 를 통해 상기 형상 변화 물질 및 상기 온도 감지 용 라인 의 접촉 을 감지 할 수 있 다 . 발명 의 한 실시 예 에 따르 면 , 프로세서 ( 1230 ) 는 상기 OP AMP 를 통해 단순히 형상 변화 물질 이 온도 감지 용 라인 과 접촉 했 는지 의 여부 뿐 만 아니 라 , 지속 적 이 고 연속 적 인 변화 량 까지 감지 할 수 있 다 . 발명 의 한 실시 예 에 따르 면 상기 OP AMP 는 프로세서 ( 1230 ) 내부 에 포함 되 거나 별도 로 구성 될 수 있 다 .