하지만 , 입 / 출력 채널 인 데이터 채널 은 데이터 가 제대로 읽혀 지 는 것 을 확인 해야 하 기 때문 에 다수 의 반도체 메모리 소자 가 공유 할 수 없 다 . 그 이유 는 , 불량 이 발생 한 반도체 메모리 소자 와 불량 이 발생 하 지 않 은 반도체 메모리 소자 의 데이터 핀 이 공유 되 었 을 때 , 동시 에 테스트 한 다수 의 반도체 메모리 소자 중 어느 반도체 메모리 소자 에서 불량 이 발생 하 였 는지 알 수 없 기 때문 이 다 .