일 실시 예 에서 , 상기 데이터 처리 장치 는 , 상기 샘플 을 축 방향 으로 스캐닝 하 면서 생성 된 광학 절편 이미지 에 기초 하 여 , 상기 광학 절편 이미지 의 각 픽셀 마다 축 방향 강도 를 산출 하 고 , 상기 광학 절편 이미지 의 모든 픽셀 에 대하 여 최대 축 방향 강도 의 위치 ( peak axial position ) 를 3 차원 좌표 로 산출 하 여 상기 샘플 의 깊이 정보 를 생성 하 도록 더 구성 될 수 있 다 .