본 발명 의 첫 번 째 실시 예 에 따라 데이터 를 처리 하 는 방법 은 CCD 엘리먼트 들 의 열 의 최 하위 CCD 엘리먼트 가 어떤 스미 어 링 도 포함 하 고 있 지 않 다고 가정 하 는 단계 , 최 하위 엘리먼트 위 의 CCD 엘리먼트 와 연관 된 측정 된 데이터 로부터 최 하위 CCD 엘리먼트 에 대응 하 는 데이터 의 가중 컴포넌트 를 제거 하 는 단계 , 세 번 째 가장 높 은 ( 3 rd highest ) CCD 엘리먼트 로부터 최 하위 CCD 엘리먼트 에 관한 기록 된 데이터 의 가중 컴포넌트 및 중간 CCD 엘리먼트 에 대해 계산 된 조도 데이터 의 가중 컴포넌트 를 제거 하 는 단계 및 , 조도 함수 의 추정 ( estimate ) 이 모든 CCD 엘리먼트 들 에 대해 계산 될 때 까지 계속 하 는 단계 들 을 포함 한다 . 물론 이것 은 열 마다 ( column by column basis ) CCD 엘리먼트 들 의 어레이 에 대해 반복 될 수 있 다 .