몇몇 실시 예 들 에서 , 방법 은 최 하위 엘리먼트 의 전하 가 CCD 로부터 통과 해서 끌 어 내진 , 최 하위 엘리먼트 에 대해 기록 된 데이터 를 , 최 하위 CCD 엘리먼트 에 대해 계산 된 조도 와 동일 하 게 다루 는 단계 를 더 포함 한다 . 이것 은 최 하위 엘리먼트 와 연관 된 전하 가 어떤 다른 CCD 엘리먼트 들 을 통과 해서 지나가 지 않 기 때문 에 최 하위 엘리먼트 와 연관 된 기록 된 데이터 내 에 어떤 스미 어 링 도 없 다는 것 을 가정 하 는 것 이 분별 있 기 때문 에 행해질 수 있 다 . 방법 은 최 하위 CCD 엘리먼트 들 에 대한 결과 데이터 를 계산 된 조도 값 과 동일 하 게 다루 기 전 에 최 하위 CCD 엘리먼트 와 연관 된 측정 된 조도 데이터 로부터 오프셋 을 빼 는 단계 를 포함 할 수 있 다 . 오프셋 은 측정 된 조도 데이터 에 존재 하 는 클리어링 효과 들 을 보상 할 수 있 다 . 방법 은 두 번 째 최 하위 CCD 엘리먼트 에서 시작 하 는 CCD 엘리먼트 들 의 라인 의 각각 의 연속 엘리먼트 에 대해 , 계산 된 조도 를 하위 CCD 엘리먼트 들 각각 에 연관 된 그 계산 된 조도 의 컴포넌트 를 뺌 으로써 계산 하 는 단계 를 더 포함 할 수 있 다 .