보다 단시간 에 스 태 틱 노이즈 마진 의 평가 를 행하 여 , SRAM 메모리 셀 의 설계 에 요하 는 시간 을 단축 화 가능 한 SRAM 메모리 셀 의 평가 방법 및 평가 프로그램 을 기록 한 기록 매체 를 제공 한다 . SRAM 메모리 셀 의 제 1 인버터 의 입출력 특성 데이터 에 대해 좌표축 을 45 도 회전 시키 는 좌표 변환 을 행하 고 , 근사 곡 선에 의 피팅 에 의해 제 1 근사 곡선 함수 를 특정 함 과 함께 , SRAM 메모리 셀 의 제 2 인버터 의 입출력 특성 데이터 에 대해 좌표축 을 45 도 회전 시키 는 좌표 변환 을 행하 고 , 근사 곡 선에 의 피팅 에 의해 제 2 근사 곡선 함수 를 특정 하 고 , 상기 제 2 근사 곡선 함수 를 Y 축 에 대해 미러 반전 시킨 함수 인 제 3 근사 곡선 함수 를 특정 하 고 , 상기 제 1 근사 곡선 함수 와 상기 제 3 근사 곡선 함수 의 차분 으로 한 차분 곡선 함수 의 극값 으로부터 스 태 틱 노이즈 마진 을 특정 한다 .