상기 의 기술 적 과제 를 달성 하 기 위한 본 발명 의 일 측면 에 따르 면 , 비트 라인 프리 차지 전압 을 생성 하 기 위한 전압 생성 수단 ; 상기 전압 생성 수단 에 대한 다양 한 테스트 모드 를 제공 하 기 위한 테스트 모드 신호 를 생성 하 는 테스트 모드 신호 생성 수단 ; 및 상기 테스트 모드 신호 를 디 코딩 하 여 상기 전압 생성 수단 에 인가 되 는 다수 의 테스트 신호 를 생성 하 기 위한 디 코딩 수단 을 구비 하 는 반도체 메모리 소자 를 제공 한다 .