본 발명 의 또 다른 특징 에 따르 면 , 측정 라인 및 인접 신호 라인 은 멀티 층 칩 ( multi - layer chip ) 내 의 신호 라인 들 이 고 , 2 개 의 인접 한 층 들 사이 의 신호 라인 들 의 방향 은 90 ° 회전 된 것 이 며 , 측정 라인 및 그것 에 인접 하 는 신호 라인 들 은 동일 한 층 ( 측정 층 ) 내 에 병렬 배열 로 배열 되 고 , 측정 층 에 인접 한 층 들 내 의 신호 라인 들 ( 이웃 하 는 층 라인 들 ) 은 그 들 의 제 1 단부 및 제 2 단부 상 에서 각각 상이 한 임피던스 를 갖 는 병렬 배열 내 에 배열 되 어 , 모든 인접 층 라인 들 의 제 1 및 제 2 단부 는 각각 낮 은 임피던스 및 높 은 임피던스 에 의해 종단 되 고 , 그 들 의 제 1 단부 또는 제 2 단부 상 에 낮 은 임피던스 를 갖 는 인접 신호 라인 들 의 개수 는 그 들 의 제 1 단부 또는 제 2 단부 상 에 높 은 임피던스 를 갖 는 인접 신호 라인 들 의 개수 와 동일 하 거나 거의 동일 하 다 .