플레이트 커버 ( 610 ) 가 먼저 질량 분석 장치 의 미리 지정 되 는 위치 에 고정 되 고 , 시료 ( 620 ) 가 올려진 플레이트 ( 630 ) 를 아래 에서 결합 하 도록 하 여 시료 의 표면 높이 를 일정 하 게 유지 할 수 있 다 . 즉 , 시료 표면 의 질량 분석 장치 내 에서 의 위치 는 , 특정 위치 에 고정 된 플레이트 커버 ( 610 ) 와 맞닿 는 지점 이 된다 . 따라서 시료 의 두께 와 무관 하 게 일정 한 높이 를 가지 며 레이저 광이 조사 되 는 높이 에 대한 변화 가 없 으므로 보다 정확 한 측정 이 가능 하 다 .