또한 , 본 발명 의 실시 예 들 은 복수 의 페이지 각각 의 에러 비트 정보 를 바탕 으로 복수 의 페이 중 상기 에러 비트 정보 가 에러 임계 치 를 넘어서 는 페이지 들 을 에러 가능 페이지 로 선정 하 고 이 에 대한 우선순위 를 부여 하 여 그 할당 된 우선순위 에 따라 테스트 리드 동작 을 수행 함 으로써 메모리 블록 들 에 대해 보다 정확 하 고 신속 하 게 테스트 리드 동작 을 수행 하 도록 하 여 메모리 시스템 의 신뢰도 를 향상 시킬 수 있 는 장치 및 방법 을 제공 할 수 있 다 .