하나 의 이미지 방향 이 할당 된 개별 - 방향 질 값 은 본 발명 에 따른 방법 에서 상기 이미지 내 에서 하나 의 에지 가 해당 이미지 방향 으로 진행 할 가능 성 에 대한 값 을 나타낸다 . 보 간 될 하나 의 화소 에 대해서 , 에지 곡선 이 주어진 이미지 방향 으로 존재 할 가능 성 을 검출 하 기 위해 , 에지 곡선 의 존재 에 대한 가능 성 을 나타내 는 상기 의 복수 의 개별 - 방향 질 값 이 가산 되 며 , 이 로써 얻 어 진 ( 조성 된 ) 방향 질 값 에 의해 하나 의 이미지 방향 이 보 간 방향 으로서 선택 된다 . 조사 에 의해 , 서로 인접 하 게 배치 된 복수 의 화소 들 의 개별 - 방향 값 이 상기 와 같이 가산 됨 으로써 최적 의 이미지 방향 을 검출 할 시 에 모호 성 이 방지 되 거나 또는 적어도 감소 할 수 있 다 .