본 실시 형태 는 이 검출 카메라 ( 1 ) 에 의한 패드 ( 10 A , 10 B , 10 C , 10 D ) 의 촬상 방법 이 종래 와 다르 다 . 도 2 ( a ) 에서 는 압착 볼 ( 20 ) 은 패드 ( 10 A ) 의 인접 하 는 두 변 ( 11 , 12 ) 에 대응 하 는 에지 ( 21 , 22 ) 가 명확 하 다 . 따라서 , 패드 ( 10 A ) 를 선택 한 경우 에 는 검출 카메라 ( 1 ) 는 X 축 방향 에서 는 패드 ( 10 A ) 의 변 ( 11 ) 부터 압착 볼 ( 20 ) 의 에지 ( 21 ) 까지 의 폭 ( f ( Gx ) = Gx 1 ) 을 , Y 축 방향 에서 는 패드 ( 10 A ) 의 변 ( 12 ) 부터 압착 볼 ( 20 ) 의 에지 ( 22 ) 까지 의 폭 ( f ( Gy ) = Gy 1 ) 을 검출 하 도록 되 어 있 다 . 도 2 ( b ) 에서 는 마찬가지 로 , 인접 하 는 두 변 ( 13 , 14 ) 에 대한 에지 ( 23 , 24 ) 의 폭 ( f ( Gx ) = Gx 2 , f ( Gy ) = Gy 2 ) 을 검출 한다 . 마찬가지 로 , 도 2 ( c ) 에서 는 인접 하 는 두 변 ( 15 , 16 ) 에 대한 에지 ( 25 , 26 ) 의 폭 ( f ( Gx ) = Gx 3 , f ( Gy ) = Gy 3 ) 을 검출 하 고 , 도 2 ( d ) 에서 는 인접 하 는 두 변 ( 17 , 18 ) 에 대한 에지 ( 27 , 28 ) 의 폭 ( f ( Gx ) = Gx 4 , f ( Gy ) = Gy 4 ) 을 검출 한다 .