단일 스 와스 ( 또는 소수 의 패치 ) 로부터 의 다이 - 등 가 패치 가 델타 맵 을 형성 하 도록 처리 될 때 , " 결함 패치 로부터 결함 이 없 는 패치 에서 "" 거짓 ( false ) "" 에코 효과 가 생성 될 수 있 다 . 예 를 들 어 ", 결함 이 있 는 단일 패치 의 강도 값 이 다른 결함 이 없 는 패치 의 애버리지 와 상이 한 경우 , 결함 이 없 는 패치 이미지 각각 이 다이 - 등가 의 다른 결함 이 없 는 패치 이미지 및 결함 이 있 는 패치 이미지 와 관련 하 여 평가 되 고 있 을 때 , 결함 이 있 는 패치 는 결함 이 없 는 패치 이미지 의 부분 집합 의 애버리지 가 소량 증가 하 거나 감소 하 게 한다 . 이 기준 값 의 작 은 증가 또는 감소 는 각각 의 결함 이 없 는 패치 이미지 의 차이 값 에 영향 을 준다 . 물론 , 결함 이 있 는 패치 이미지 는 다른 결함 이 없 는 패치 이미지 의 에코 효과 차이 와 반대 되 는 부호 를 가진 더 큰 차이 를 가질 것 이 다 . 다른 패치 이미지 가 비교 적 큰 분산 을 가질 때 이러 한 에코 효과 가 크 게 문제 가 되 지 는 않 지만 , 델타 맵 에 는 상당 한 에코 관련 잡음 이 포함 될 수 있 다 .