그러나 , 상기 기술 들 은 전지 셀 외장재 전면 에서 하방 으로 절곡 되 어 회로 기판 에 접속 된 구조 의 전극 탭 과 PCM 에 형성 된 설치 공간 에 설치 되 는 1 회 절곡 된 한 쌍 의 전극 탭 은 회로 기판 과 의 결합력 이 약하 고 , 접속 신뢰 성 이 낮 아 접촉 저항 이 커지 게 되 므로 , 전지 셀 에 물리 적 충격 이 가해질 경우 , 전기 적 쇼트 등 을 유발 하 여 발화 및 폭발 등 안전 성 에 문제 를 일으킬 수 있 다 .