종래 기술 은 , 사용 비트 ( use bit ) 에 의해 , 전자 퓨즈 가 속하 는 전자 퓨즈 세트 ( eFuse set ) 가 용단 된 전자 퓨즈 를 가지 는지 여부 를 확인 하 지만 , 사용 비트 는 , 칩 의 총 면적 을 증대 시킨다 . 한편 , 용단 전압 이 충분 한 전압 값 까지 회복 하 는 것 을 기다리 기 위해 , 종래 기술 에서 는 , 용단 클록 신호 의 대기 시간 ( wait time ) 이 길 어 지 게 되 지만 , 복수 의 전자 퓨즈 의 처리 속도 ( throughput ) 의 저하 를 초래 한다 .