X 선 분석 은 NiP 층 이 비정질 인 것 을 나타낸다 . NiP 층 상 에 도금 된 구리 ( Cu ) 층 은 낮 은 저항률 ( 4 개 지점 프로브 방법 을 이용 하 여 3 . 0 μΩ ㎝) 을 갖 는다 . X 선 분석 은 또한 , 질소 분위기 하 에서 1 시간 동안 400 ℃ 의 오븐 에서 기판 을 어닐링 한 후 NiP 의 모 폴 로지 ( morphology ) 의 약간 의 변화 들 만 이 발생 된다는 것 을 나타낸다 .