도 3 a 에 도시 된 실시 예 에 기초 하 여 , 단계 S 330 이 수행 된 후 에 , 이미지 처리 디바이스 ( 120 ) 는 , 목표 구역 을 중심 으로서 이용 하 여 , 목표 구역 을 임의 의 방향 으로 , 복수 의 상이 한 지정 방향 으로 , 또는 복수 의 지정 방향 중 에서 선택 된 복수 의 랜덤 방향 으로 이동 시켜 , 복수 의 오프셋 구역 을 획득 한다 . 도 3 c 는 본 발명 의 실시 예 에 따른 목표 구역 의 이동 후 에 획득 되 는 개략 도 이 다 . 도 3 c 에 도시 된 바 와 같이 , 실선 박스 에 의해 형성 된 목표 구역 을 좌측 및 우측 으로 이동 시켜 , 2 개 의 오프셋 구역 ( 도면 에서 좌측 파선 박스 에 의해 형성 된 오프셋 구역 및 우측 점선 박스 에 의해 형성 된 오프셋 구역 ) 을 개별 적 으로 획득 한다 . 좌측 이동 후 에 획득 된 좌측 점선 박스 에 의해 형성 된 오프셋 구역 은 전체 머리 부위 를 포함 하 고 , 우측 이동 후 에 획득 된 오프셋 구역 및 목표 구역 은 각각 머리 부위 의 부분 만 을 포함 한다 . 따라서 , 목표 구역 이 이동한 후 에 , 더 정확 한 인식 구역 이 획득 될 수 있 다 . 그 후 , 도 3 c 에 도시 된 바 와 같이 , 이미지 처리 디바이스 ( 120 ) 는 이미지 처리 기술 을 이용 하 여 오프셋 구역 들 에 대해 특징 분석 을 수행 하 고 , 겉보기 특징 의 다른 기술 속성 을 획득 하 고 , 사전 설정 된 알고리즘 에 따라 기술 속성 및 다른 기술 속성 중 에 목표 기술 속성 을 결정 하 는데 , 목표 기술 속성 은 기술 속성 및 다른 기술 속성 중 에 , 목표 데이터 에 가장 가까운 기술 속성 이 다 .