상기 로딩 버퍼 ( 23 ) 에 수납 된 테스트 될 반도체 소자 들 이 , 상기 제 2 로딩 픽커 ( 222 ) 가 테스트 될 반도체 소자 들 을 상기 로딩 위치 ( 2 a ) 에 위치 된 테스트 트레이 ( T ) 에 수납 시킬 수납 영역 ( M , L ) 위 에 위치 되 도록 , 상기 로딩 버퍼 ( 23 ) 를 상기 로딩 이 동경 로 ( A ) 를 따라 이 동시 킨다 .