테스트 구조 는 적절 하 게 설계 된 광학 캐비 티 및 적층 계획 으로 제조 되 어 얻 은 방사성 수명 , PF 및 EQE 에 대한 장기간 작업 안정 성 과 관련 되 어 있 다 . 신뢰 성 테스트 프로토콜 및 패 키 징 계획 은 가속 된 노화 파라미터 로서 작용 하 는 초기 휘도 , L 0 의 함수 로서 디바이스 의 통계 적 으로 유의 한 모집단 에 대한 T 70 으로 의 수명 을 결정 하 는 데 사용 하 였 다 .