실시 예 및 비 교예 에서 제조 된 발광 다이오드 패키지 에 대한 광속 및 광속 유지 율 평가 를 위해 , 각 발광 다이오드 패키지 를 동작 시키 며 전 광속 측정 시스템 ( 나노 베이스 주식회사 , XPE 600 - HS ) 을 이용 하 여 광속 을 측정 하 였 다 . 이때 , 상기 광속 은 비 교예 1 의 광속 을 100 % 기준 으로 한 , 상대 적 백 분위 값 으로 나타내 었 다 . 또한 , 상기 광속 유지율 은 초기 결과 값 ( A 0 ) 대비 하 기 가혹 조건 하 에 방치 후 확인 되 는 결과 값 ( A 1 ) 의 백 분위 환산 된 값 으로 나타내 었 다 .