행렬 M 의 합리 적 인 근사 를 얻 기 위해서 아래 의 방법 은 CCD 엘리먼트 들 의 각 열 의 상부 및 하부 에 있 는 마스크 된 참조 엘리먼트 들 을 갖 는 CCD 를 사용 하 여 이용 된다 . 가중 인자 w 는 강한 스미 어를 갖 는 이런 열 들 의 합 을 산출 하 도록 조정 된다 . 이것 은 예 를 들 어 CCD 열 들 의 상부 에 있 는 참조 엘리먼트 들 에 대응 하 는 데이터 를 조사 하 는 ( look ) 것 에 의해 결정 될 수 있 다 . 그런 이후 에 좌측 합 이 계산 되 어서 상당 양 의 스미 어 된 데이터 를 포함 하 는 평균 열 ( column ) 이미지 에 도달 한다 . 이런 평균 열 데이터 를 사용 해서 변환 행렬 M 의 추정 이 만들 어 진다 . 그런 이후 에 이런 행렬 이 역 이 되 고 ( inverted ) 계산 된 조도 데이터 가 산출 된다 . 그런 이후 에 열 의 상부 및 하부 에 있 는 참조 엘리먼트 들 에 대응 하 는 계산 된 데이터 가 조사 된다 . 이런 예 에서 , 참조 엘리먼트 들 에 대한 데이터 는 CCD 의 마스킹 때문 에 어떤 노출 도 보이 지 않 아야 한다 . CCD 의 열 들 의 상부 에 있 는 마스크 된 영역 에 관련 한 데이터 를 조사 하 면 ( look ) , 데이터 는 0 에 가깝 지 않 아서 스미 어 링 이 적절 하 게 수정 되 어 지 지 않 았 다 . 이 경우 에 행렬 내 의 상수 R 의 값 을 조정 하 는 것 이 필수 이 다 . 유사 하 게 , CCD 의 하 부 에 있 는 마스크 된 영역 내 의 CCD 엘리먼트 들 에 대응 하 는 데이터 를 조사 하 면 , 측정 된 평균 데이터 는 0 평균값 을 갖 지 않 기 때문 에 클리어링 의 효과 들 이 여전히 존재 하 고 행렬 내 의 항 들 CIJ 가 조정 될 필요 가 있 다 . 이런 조정 들 이 만들 어 지 면 새로운 역행렬 이 계산 되 고 기록 된 이미지 데이터 가 다시 처리 되 고 참조 엘리먼트 들 과 연관 된 값 들 이 다시 비교 된다 . 이런 프로세스 는 안정 된 해답 에 도달 할 때 까지 되풀이 하 여 반복 된다 .