전처리 동작 에서 , EBC 회로 ( 108 ) 는 , 제 1 이미지 블록 에 관한 잔차 예측 방식 의 행 방향 적용 에 기초 하 여 제 1 예측 블록 을 생성 하 도록 구성 될 수 있 다 . 유사 하 게 , EBC 회로 ( 108 ) 는 또한 , 제 1 이미지 블록 에 관한 잔차 예측 방식 의 열 방향 적용 에 기초 하 여 제 2 예측 블록 을 생성 하 도록 구성 될 수 있 다 . 잔차 예측 방식 은 : DPCM ( Differential Pulse Code Modulation ) 방식 , 적응 적 DPCM 방식 , 또는 PCM 방식 중 적어도 하나 일 수 있 다 . EBC 회로 ( 108 ) 는 또한 , 제 1 이미지 블록 의 상이 한 잔차 예측 값 들 로부터 픽셀 - 도메인 에서 의 상이 한 SAD ( sum of absolute difference ) 값 들 을 계산 하 도록 구성 될 수 있 다 . 더 구체 적 으로 , EBC 회로 ( 108 ) 는 픽셀 - 도메인 에서 행 방향 잔차 값 들 의 제 1 예측 블록 으로부터 제 1 SAD 를 , 및 픽셀 - 도메인 에서 열 방향 잔차 값 들 의 제 2 예측 블록 으로부터 제 2 SAD 를 계산 하 도록 구성 될 수 있 다 . 제 1 SAD 및 제 2 SAD 는 , 각각 , 행 방향 및 열 방향 으로 스캔 될 때 제 1 이미지 블록 의 픽셀 값 들 의 공간 변화 의 측정치 를 제공 할 수 있 다 . 일부 실시 예 들 에서 , SAD 대신 에 , 이미지 블록 들 사이 의 다른 유사 성 측정치 , 예 를 들 어 , SSD ( sum of squared difference ) 가 본 개시 내용 의 범위 를 제한 하 지 않 고 이용 될 수 있 다 .