3 차 이미지 데이터 획득 단계 ( S 80 ') 및 3 차 스코어 데이터 획득 단계 에서 검사 항목 1 및 검사 항목 2 가 모두 반영 된 검사 항목 1 , 2 의 검사 에 적합 한 최적 조명 을 설정 할 수 있 으며 , 이 를 통해 서로 다른 2 개 의 검사 항목 각각 에 대하 여 높 은 퀄리티 의 반도체 패키지 의 이미지 를 획득 할 수 있 다 . 따라서 , 정확 한 반도체 패키지 의 불량 여부 판단 및 얼라 인 판단 을 수행 할 수 있 다 .