상기 과제 를 해결 하 기 위해서 , 본 발명 의 제 1 형태 에 있 어서 는 , 피 시험 디바이스 를 시험 하 는 시험 장치 에 있 어서 , 제 1 시험 주기 에 따라 제 1 시험 패턴 에 포함 되 는 각 패턴 데이터 를 순차 적 으로 전파 하 여 피 시험 디바이스 에 공급 하 는 제 1 파이프라인 과 , 제 1 시험 주기 와 는 다른 제 2 시험 주기 에 따라 제 2 시험 패턴 에 포함 되 는 각 패턴 데이터 를 순차 적 으로 전파 하 여 피 시험 디바이스 에 공급 하 는 제 2 파이프라인 과 , 제 1 파이프라인 에서 미리 정해진 제 1 패턴 데이터 의 전파 를 개시 하 는 타이밍 과 제 2 파이프라인 에서 미리 정해진 제 2 패턴 데이터 의 전파 를 개시 하 는 타이밍 의 적어도 한 쪽 을 제 1 시험 주 기 및 제 2 시험 주기 에 기초 하 여 제어 하 는 타이밍 제 어부 와 , 피 시험 디바이스 가 출력 하 는 신호 에 기초 하 여 피 시험 디바이스 의 양부 를 판정 하 는 판 정부 를 포함 하 는 시험 장치 를 제공 한다 .