이 경우 , 증착 기판 ( 10 ) 으로 는 유리 기판 ( 10 ) 을 사용 하 였으며 75 nm 의 두께 를 갖 는 MgO , 70 nm 두께 를 갖 는 ZrO 2 를 기판 ( 10 ) 상 에 증착 하 여 엘 립 소 미터 ( elipsometry ) 를 이용 하 여 증착 온도 에 따른 굴절 률 을 측정 하 였 다 . 엘 립 소 미터 는 시편 에 입사 한 광이 반사 되 어 생성 된 타원 편광 의 편광 상태 를 분석 하 여 굴절 률 을 측정 하 는 방식 이 다 .