사각 지대 탐색 장치 ( 100 ) 는 기준선 맵 ( 220 ) 의 두 기준선 의 에지 점수 를 산출 한다 ( S 342 ) . 즉 , 사각 지대 탐색 장치 ( 100 ) 는 기준선 맵 ( 220 ) 의 기준선 들 중 인접 한 두 기준선 상 의 픽셀 들 사이 의 강도 ( Intensity ) 를 이용 하 여 에지 점수 를 산출 한다 . ( 수학식 1 참조 )