본 발명 이 해결 하 고자 하 는 또 다른 과제 는 , 제 어부 는 인터럽트 입력 단자 ( 즉 , 외부 인터럽트 핀 ) 를 가진 MCU 를 포함 하 며 , MCU 내 외부 인터럽트 핀 에 , 피 부미 용기 의 회로 에서 출력 된 전압 신호 를 입력 하 고 , 이 신호 의 교류 성분 을 통해 초당 인터럽트 발생 을 카운트 하 여 주파수 를 검출 하 는 , 피 부미 용기 테스트 시스템 을 제공 하 는 것 이 다 .