본 발명 은 카메라 모듈 을 통한 렌즈 의 성능 평가 방식 을 개선 한 장치 에 관한 것 으로서 , 웨이퍼 렌즈 를 생산 하 기 위한 다 이싱 공정 이전 에 엠보싱 공정 을 거친 렌즈 가 배열 된 웨이퍼 자체 에 대하 여 성능 평가 를 수행 함 으로써 작업 시간 을 줄일 수 있 고 , 또한 다 이싱 공정 이전 에 웨이퍼 렌즈 에 불량 이 발생 하 였 는지 를 사전 에 검사 함 으로써 불량 이 발생 한 웨이퍼 렌즈 를 이용 하 여 모듈 을 제작 하 는 경우 에 발생 되 는 제조 비용 의 손실 을 미연 에 방지 할 수 있 도록 하 기 위한 것 이 다 .