도 1 a 및 1 b 는 , 본 발명 의 예 로서 반사광 현미경 시스템 ( reflected light microscope system ) ( 2 ) 의 실시 예 를 도시 하 며 , 본 발명 은 투과광 현미경 ( transmitted light microscopes ) , 도립 현미경 ( inverted microscopes ) , 전자 현미경 ( electron microscopes ) 과 같 은 다른 타입 의 현미경 들 에 동일 하 게 적용 가능 함 을 적시 하 고 있 다 . 일반 적 인 현미경 시스템 ( 2 ) 의 표준 부 는 스탠드 ( stand ) ( 4 ) , 수직 조명기 ( vertical illuminator ) ( 6 ) , 카메라 ( 8 ) , 렌즈 튜브 ( 10 ) , 노우 즈 피스 ( nosepiece ) ( 12 ) , 대물 렌즈 ( 14 ) , z - 축 포커스 암 ( z - axis focus arm ) ( 16 ) 및 XY 병진 스테이지 ( XY translation stage ) ( 18 ) 를 포함 한다 . 이러 한 구성 요소 들 은 당업자 에게 잘 알려져 있 다 . 카메라 로테 이터 ( camera rotator ) ( 20 ) 는 본 발명 에 따른 스캐닝 및 / 또는 이미 징 의 고유 한 방법 을 달성 하 기 위해 XY 병진 스테이지 ( 18 ) 와 함께 동작 한다 .