일본 공개 특허 공보 제 2009 - 223193 에 설명 된 기술 은 디스플레이 패널 및 렌 티 큘러 렌즈 의 위치 검출 마크 의 물리 적 위치 들 을 있 는 그래도 판독 하 고 , 위치 정확도 를 검출 한다 . 따라서 , 필요 한 정확도 를 확보 하 기 위해서 , 고 성능 의 촬영 수단 이 필요 하 다 . 또한 , 디스플레이 패널 및 렌 티 큘러 렌즈 를 동일 한 포커스 로 이미 징하 기 가 어렵 다 . 따라서 , 소정 양 의 검사 시간 및 비싼 장치 가 필요 하 다는 문제점 이 있 다 . 또한 , 마크 에서 그리고 마크 주변 에서 의 로컬 정보 만 이 획득 된다 . 따라서 , 전체 스크린 의 정보 를 획득 하 기 가 어렵 다 . 예 를 들 어 , 비 - 촬영 파트 에서 의 렌 티 큘러 렌즈 가 평균 왜곡 을 갖 는 경우 에서 , 검출 이 용이 하 지 않 다 .