ATE 인터페이스 ( 520 ) 를 가진 고밀 도 직각 상호 연결 조립 체 ( 100 ) ( 도 1 ) 는 고도 로 동시 적 인 방식 으로 많 은 반도체 장치 를 테스트 하 는 것 을 가능 하 게 한다 . 가요 성 회로 ( 110 ) 는 커스텀 ASIC ( 도시 되 지 않 음 ) 와 장치 전용 인터페이스 ( 530 ) ( Device Specific Interface : DSI ) 사이 에 배치 된 짧 은 상호 연결부 로서 통합 되 어 , 테스트 신호 가 어레이 를 이루 는 위치 들 에 라우팅 된 후 다양 한 장치 들 에 동시 에 라우팅 되 는 것 을 허용 할 수 있 다 .