핀 접속 단자 부 ( 18 ) 는 피 시험 반도체 소자 ( LSI 칩 ) 의 시험 실시 때 에 는 , 주 ( 主 ) 시험 장치 인 LSI 테스터 본체 로부터 연장 하 는 시험 용 단자 ( 도시 대략 ) 가 접속 되 어서 , 전원 의 공급 배열 에 시험 신호 의 인가 등 이 행해진다 . 이 때문 에 , 해당 핀 접속 단자 부 ( 18 ) 는 프로브 카드 기판 ( 11 ) 의 외주 근방 에 배설 되 어 있 다 .