또한 본 실시 예 에 따른 반도체 메모리 장치 는 추가 적 으로 어드레스 카운터 ( 300 ) , 어 드레스 선택 부 ( 400 ) , 데이터 코드 롬 ( 500 ) , 데이터 선택 부 ( 600 ) 를 구비 한다 . 어 드레스 카운터 ( 300 ) 는 테스트 용 어드레스 를 생성 하 여 출력 하 기 위한 것 이 다 . 어 드레스 선택 부 ( 400 ) 는 어드레스 카운터 ( 300 ) 로부터 제공 되 는 테스트 용 어드레스 또는 어 드레스 전달 부 ( 160 ) 로부터 제공 되 는 어드레스 를 선택 하 여 명령어 제 어부 ( 100 ) , 로우 어드레스 전달 부 ( 130 ) , 컬럼 어드레스 전달 부 ( 160 ) 등 으로 제공 한다 . 즉 , 테스트 모드 에서 는 외부 에서 테스트 용 어드레스 를 입력 받 는 것 이 아니 라 바로 어 드레스 카운터 ( 300 ) 에서 테스트 용 어드레스 를 생성 하 여 제공 한다 . 노멀 데이터 억세 스 동작 인 경우 에 는 어드레스 선택 부 ( 400 ) 는 어드레스 버퍼 ( 110 ) 로부터 제공 되 는 어드레스 를 선택 하 여 출력 한다 .