기록 된 조도 데이터 를 왜곡 시킬 수 있 는 다른 하나 의 문제 는 이런 클리어링 프로세스 동안 에 남겨진 잔류 전하 이 다 . 클리어링 동안 에 , 전류 는 열 들 내 의 CCD 아래 로 끌어내 지 고 이때 조도 가 여전히 존재 한다 . 왜냐하면 , 하위 CCD 엘리먼트 들 이 그것 들 위 의 CCD 엘리먼트 들 에서 축적 된 전하 를 클리어 아웃 ( clearout ) 프로세스 동안 에 수신 할 때 , 클리어 아웃 프로세스 는 상위 CCD 엘리먼트 들 에서 보다 하위 CCD 엘리먼트 들 내 에 더 많 은 전하 를 남겨 놓 는 경향 이 있 다 . 몇몇 상황 들 에서 , 이런 전 하의 축적 은 위 에서 서술 된 스미 어 링 프로세스 를 일부분 보안 할 수 있 다 . 노출 시작 시 전하 의 불 균일 한 분배 는 또한 전하 의 일정 하 지 않 은 ( irregualr ) 농축 ( concentration ) 이 CCD 엘리먼트 들 에 남겨 지 게 되 는 불완전 또는 불 균일 한 클리어 아웃 의 결과 일 수 있 다 .