다음 으로 , 시험 모듈 ( 100 a ) 은 피 시험 디바이스 ( 300 a ) 가 시험 신호 에 기초 하 여 동작 한 결과 출력 하 는 출력 신호 를 취득 하 여 기대 값 과 비교 한다 . 여기 에서 , 복수 의 시험 모듈 ( 100 a ) 은 시 컨스 데이터 및 패턴 데이터 에 기초 하 여 시험 신호 의 사이클 주기 를 동적 으로 변화 시킬 수 있 도록 다른 사이클 주기 에 기초 하 여 시험 신호 를 생성 하 여도 된다 .