또한 , 제 2 시험 모듈 ( 100 - 2 ) 에서 의 제 2 파이프라인 ( 150 ) 은 제 1 시험 주기 와 는 다른 제 2 시험 주기 에 따라 제 2 시험 패턴 에 포함 되 는 각 패턴 데이터 를 순차 적 으로 전파 하 여 피 시험 디바이스 ( 300 ) 에 공급 한다 . 제 2 파이프라인 ( 150 ) 은 상술 한 제 1 파이프라인 ( 150 ) 와 같 은 구성 을 가져도 된다 . 단 , 예 를 들 어 , 플립플롭 으로서 기능 하 는 회로 ( 132 ) 의 단수 는 제 1 파이프라인 ( 150 ) 및 제 2 파이프라인 ( 150 ) 과 달라도 된다 .