한편 , 반도체 소자 테스트 에 있 어서 , 고온 및 저온 테스트 를 위해 테스트 대상 반도체 소자 는 고온 또는 저온 으로 유지 되 는 챔버 ( Chamber ) 내 에서 테스트 된다 . 여기 서 상기 테스트 신호 인가 장치 ( TA ) , 상기 그라운드 플레이트 ( GP ) , 및 상기 수지 플레이트 ( EP ) 는 상기 챔버 내 에 위치 하 게 되 고 , 상기 작업 보드 ( PB ) 는 상기 챔버 밖 에 위치 한다 .