상술 한 본 발명 에 따른 얼라 인 장치 및 패턴 전극 본딩 장치 ( 200 ) 에서 는 패턴 전극 본딩 장치 ( 200 ) 가 고정 된 상태 에서 얼라인 카메라 ( 280 ) 가 자외선 조사 장치 ( 210 ) 의 프레임 ( 260 ) 내부 또는 외부 로 이동 가능 하 므로 , 도 1 b 및 도 1 c 에 도시 된 전면 글 래스 또는 후면 글래스 ( 130 ) 의 패턴 전극 단자 부 상 의 얼라 인 마크 ( 132 a ) 와 FPC ( 134 ) 의 전극 탭 상 의 얼라 인 마크 ( 132 b ) 간 의 얼라 인 및 본딩 시간 이 현저 하 게 줄어든다는 장점 을 갖 는다 . 또한 , 얼라인 카메라 ( 280 ) 가 자외선 조사 장치 ( 210 ) 의 프레임 ( 260 ) 내 로 진입 하 여 얼라 인 동작 을 수행 하 는 동안 셔터 ( 270 ) 가 자외선 에 의해 얼라 인 카메라 ( 280 ) 가 손상 되 는 것 을 방지 할 수 있 다 . 상술 한 본 발명 의 자외선 조사 장치 ( 210 ) 는 포물면경 반사 장치 ( 224 ) 를 구비 한 집광 을 통해 소정 의 초점 거리 를 갖 는 경우 만 을 도시 하고 있 지만 , 당업자 라면 본 발명 의 자외선 조사 장치 ( 210 ) 가 평행 광 을 사용 하 는 경우 에 도 광학 렌즈 ( 240 ) ( 구체 적 으로 는 볼록 렌즈 ) 를 사용 하 여 원 하 는 초점 거리 를 갖 도록 자외선 평행 광 을 집속 하 는 것 이 가능 하 다는 것 을 충분히 이해 할 수 있 을 것 이 다 .