이 에 따라 , 정형 화 된 패턴 의 형식 이 없이 사용자 에 따라 패턴 을 선택 하 여 디스플레이 장치 의 광학 특성 을 측정 함 으로써 계측 및 분석 하 는 데 시간 적 소요 가 많 고 데이터 의 신뢰 성 이 떨어지 며 비 정규 화 된 측정 프로세스 로 인해 다량 의 디스플레이 장치 의 산포 검증 에 이용 할 수 없 으며 그 로 인해 품질 향상 을 기대 할 수 없 는 문제점 이 있 다 .