동적 결함 및 스펙 클 검출 프로세스 들 은 상기 논의 된 정적 결함 검출 프로세스 에 대해 타임 시프트 되 었 을 수 있 다 . 예컨대 , 일 실시 예 에서 , 동적 결함 및 스펙 클 검출 프로세스 는 정적 결함 검출 프로세스 가 픽셀 들 의 2 개 의 스캔 라인 들 ( 예컨대 , 행 들 ) 을 분석 한 후 시작 할 수 있 다 . 인식 될 수 있 는 바 와 같이 , 이 는 동적 / 스펙 클 검출 이 일어나 기 전 에 정적 결함 들 을 식별 하 는 것 및 그 들 에 대응 하 는 대체 값 들 을 결정 하 는 것 을 허용 한다 . 예컨대 , 동적 / 스펙 클 검출 프로세스 동안 , 현재 픽셀 이 이전 에 정적 결함 인 것 으로 표시 되 었 다면 , 정적 결함 은 동적 / 스펙 클 검출 연산 들 을 적용 하 기 보다 는 이전 에 평가 된 대체 값 을 사용 하 여 간단히 보정 된다 .