각 적층 필름 에 대해 내후 시험 을 실시 하 고 , 상기 의 초기 밀착 성 과 동일 한 평가 기준 으로 내후 밀착 성 에 대해 평가 하 였 다 . 이 때 , 내후 시험 은 , Xe 내후 시험 장치 ( 스가 시험기 주식회사 , 크세논 웨 더 미터 NX 25 ) 를 사용 하 여 , 각 적층 필름 에 대해 300 ∼ 400 nm 파장 의 광 ( 자외선 ) 을 60 W 의 조사 강도 로 300 시간 조사 함 으로써 실시 하 였 다 .