추가 로 , 센서 측정 방법 이 또한 제공 된다 . 3 개 의 다른 질 의 방법 을 사용 하 여 개시 된 디바이스 에서 의 굴절 률 변화 를 측정 할 수 있 다 : 제 1 방법 은 , 조정 가능 한 레이저 및 전력계 를 사용 하 여 제 1 MZI 공명 의 스펙트럼 변이 를 측정 하 는 것 으로 이루어지 고 , 조정 가능 한 레이저 원 이 센서 의 입력 부 에서 광원 으로서 필요 하 고 또 한 전력계 가 그 센서 의 출력 부 에 필요 하 다 . 당업자 는 아 는 바 와 같이 , 피분 석물 을 플 라즈 몬 도파 로 에 가하 기 전 과 후 의 센서 의 스펙트럼 응답 의 변화 는 공명 의 스펙트럼 변이 를 나타낼 것 이 며 , 추가 방법 은 광 대역 광원 과 광학 적 스펙트럼 분석기 를 사용 하 여 제 1 MZI 공명 의 스펙트럼 변이 를 측정 하 는 것 으로 이루어진다 . 백색 광원 , LED 또는 LED 어레이 또는 다른 종류 의 광 대역 광원 과 같 은 광 대역 광원 이 센서 의 입력 부 에서 광원 으로서 필요 하 고 스펙트럼 분석기 가 센서 의 출력 부 에서 필요 하 다 . 당업자 는 아 는 바 와 같이 , 피분 석물 을 플 라즈 몬 도파 로 에 가하 기 전 과 후 의 센서 의 스펙트럼 응답 의 변화 가 공명 의 스펙트럼 변이 를 나타낼 것 이 며 , 또 다른 방법 은 단일 파장 원 을 사용 하 여 플 라즈 몬 도파 로 에서 위상 변이 를 측정 하 는 것 으로 이루어지 며 , 위 와 동일 한 FSR 에 대해 , 센서 입력 부 에서 단일 파장 의 빛 을 주입 하 고 전력계 의 도움 으로 제 1 MZI 의 출력 부 에서 광학 적 파워 를 측정 하 여 , 굴절 률 변화 를 위상 변이 에 직접 연관 시킬 수 있 다 . 당업자 는 아 는 바 와 같이 , 시간 에 따른 사인파 형 전력 변동 이 위상 변이 ( 단위 : 라디안 ) 를 제공 한다 .