본 발명 에 있 어서 외부 자극 그리고 / 또는 마모 에 의해 변화 된 셀 특성 을 고 려 하 여 액세스 전압 이 조절 ( trimming ) 된다 . 액세스 전압 이 라 함 은 읽 기 ( read ) , 프로그램 ( program ) , 그리고 소거 ( erase ) 동작 시 에 메모리 셀 에 인가 되 는 전압 이 다 . 셀 특성 ( 예 를 들 면 , 문턱 전압 ) 의 변화 는 메모리 셀 어레이 내 의 모니터링 셀 ( Monitoring Cell ; M / C ) 또는 소거 횟수 ( Erase Count ; E / C ) 의 참조 에 의해 검출 되 며 , 이 는 이하 상세히 설명 될 것 이 다 .