반도체 회로 등 의 피 시험 디바이스 의 시험 에 있 어서 , 피 시험 디바이스 의 각 핀 에 소정 의 시험 패턴 을 입력 하 여 피 시험 디바이스 가 정상 적 으로 동작 하 는지 여부 를 판정 하 는 시험 이 있 다 . 시험 패턴 으로서 는 , 예 를 들 어 , 소정 의 데이터 패턴 을 가지 는 패턴 신호 , 소정 의 주기 의 클록 신호 및 피 시험 디바이스 의 동작 을 제어 하 는 제어 신호 등 이 고려 된다 .