그런데 , 패턴 발생기 는 피 시험 디바이스 의 출력 신호 와 기대값 과 의 비교 결과 를 취득 하 여 , 취득 한 비교 결과 에 따라 조건 분기 를 하 는 시험 명령 을 실행 할 수 있 었 다 ( 예 를 들 어 , 일본 특허 출원 공개 공보 특개 2004 - 264047 호 , 특개평 7 - 73700 호 참조 ) . 그렇지만 , 패턴 발생기 는 , 피 시험 디바이스 에 대해서 수행 된 복수 의 시험 의 결과 를 유지 해 두 고 , 그 후 의 시험 에서 이러 한 복수 의 시험 결과 에 따라 다른 시험 패턴 을 발생 하 고 , 또한 , 복수 의 시험 의 결과 에 따라 피 시험 디바이스 의 클래스 를 분류 하 는 것 이 곤란 했 다 .