도 3 은 본 발명 의 일실 시예 에 따른 조명 시스템 특성 측정 장치 의 기능 블럭 도 이 다 . 본 발명 의 일실 시예 에 따른 조명 시스템 특성 측정 장치 ( 100 ) 는 복수 의 광원 으로부터 의 광선 에 대한 정보 데이터 의 집합 인 레이 맵 ( ray map ) 이 저장 되 는 저 장부 ( 110 ) ; 복수 의 광원 중 하나 또는 그 이상 의 광원 에 대한 조건 이 변경 되 면 , 조건 에 대응 하 는 정보 데이터 를 입력 받 는 입력 부 ( 120 ) ; 및 복수 의 광원 에 대한 광선 추적 방법 을 수행 하 여 저 장부 ( 110 ) 에 레이 맵 을 저장 하 고 , 입력 된 정보 데이터 에 기초 하 여 레이 맵 에서 변경 된 광원 에 대응 하 는 정보 데이터 를 변경 하 고 , 변경 된 레이 맵 에 기초 하 여 , 배광 특성 을 산출 하 는 제 어부 ( 130 ) ; 를 포함 한다 .