실시 예 1 에서 제조 된 스트레인 센서 시편 의 단면 을 주사 전자 현미경 에 부착 된 X - ray 스펙트로미터 ( EDS ; Bruker ; XFlash ) 로 이미지 촬영 한 후 , 단면 에 분포 된 성분 질소 원자 와 황 원자 를 추적 하 여 , 각각 의 분포 양상 을 평가 하 였 다 . 결과 를 하 기 도 8 ( 질소 원자 ) 및 도 9 ( 황 원자 ) 에 나타내 었 다 .