H - 1 형태 는 형태 H - 1 의 단일 결정 의 단위 셀 측정 에 기초 하 는 단일 결정 X - 선 회절 을 사용 하 여 특징 규명 및 구별 될 수 있 다 . 단위 셀 의 상세 한 설명 은 본 명세서 에서 참고 로 인용 하 는 문헌 [ Stout & Jensen , X - Ray Structure Determination : A Practical Guide , Macmillan Co . , New York ( 1968 ) , Chapter 3 ] 에 제시 되 어 있 다 . 별법 으로 , 결정질 격자 내 공간 관계 에서 의 원자 의 독특 한 배열 은 관찰 된 분 율 원자 좌표 ( fractional atomic coordinate ) 에 따라 특징 규명 될 수 있 다 . 결정질 구조 의 또 다른 특징 규명 방법 은 분말 X - 선 회절 분석 에 의한 것 으로서 , 여기 서 회절 프로파일 은 순수 한 분말 물질 을 나타내 는 모의실험 프로파일 과 비교 하 며 , 둘 다 동일 한 분석 온도 에서 실시 되 고 , 일련 의 2 θ 값 으로서 특징 규명 되 는 해당 형태 에 대한 측정치 이 다 .