참고 로 현재 까지 보급 된 테스트 핸들러 에 는 테스트 트레이 가 테스터 에 접촉 되 는 방식 에 따라 언더 헤드 도킹 방식 ( 테스트 트레이 가 수평 상태 에서 테스터 에 접촉 하 는 방식 ) 과 사이드 도킹 방식 ( 테스트 트레이 가 수직 상태 에서 테스터 에 접촉 하 는 방식 ) 이 있 으며 , 도 1 의 테스트 핸들러 는 그 중 사이드 도킹 방식 에 관한 것 이 다 . 이러 한 사이드 도킹 방식 의 테스트 핸들러 는 수평 상태 의 테스트 트레이 를 수직 상태 로 자세 변환 시키 거나 수직 상태 의 테스트 트레이 를 수평 상태 로 자세 변환 시키 기 위한 자세 변환 장치 가 필요 하 다 . 도 1 의 부호 160 은 로딩 이 완료 된 수평 상태 의 테스트 트레이 를 수직 상태 로 자세 변환 하 기 위한 수직 자세 변환 장치 이 고 , 도 1 의 부호 170 은 테스트 가 완료 된 반도체 소자 가 적재 된 수직 상태 의 테스트 트레이 를 수평 상태 로 자세 변환 하 기 위한 수평자세 변환 장치 인데 , 선행 기술 1 에서 참조 되 는 바 와 같이 , 수직 자세 변환 장치 와 수평자세 변환 장치 또 한 하나 의 장치 로서 구현 될 수 도 있 다 .