XPS ( x - ray photoluminescence spectroscopy ) 는 또한 Ag 농도 를 평가 하 기 위해 사용 된다 . 비록 XPS 이 표면 측정 으로서 일반 적 으로 언급 되 지만 , 사실상 깊이 5 - 10 ㎚ 에 대해 , 표면 의 ≤ 5 nm 로부터 오 는 신호 의 대략 95 % 만 을 측정 한다 . 따라서 , XPS 데이터 는 또한 EMP 을 해석 하 기 위해 사용 된 유사 한 방식 으로 해석 될 수 있 는 반면 , XPS 데이터 는 유리 의 표면 에 더 밀접 한 영역 으로부터 온 것 이 라고 인식 된다 . 상기 XPS 결과 는 상기 유리 기판 의 표면 상 원자 의 원자 퍼센트 로서 보 고 되 고 , 표 4 에 나타냈 다 . 표 4 는 또한 같 은 샘플 에 대한 EMP 결과 가 XPS 분석 된 것 을 포함 한다 . 표 4 에 있 어서 , 5 . 5 시간 의 이온 - 교환 시간 을 나타내 는 샘플 은 1 - 단계 방법 을 사용 하 여 제조 된다 . 20 분 의 이온 - 교환 시간 을 갖 는 샘플 은 제 2 단계 에서 수행 된 2 - 단계 방법 Ag IOX 를 사용 하 여 제조 된다 .