도 1 을 참조 하 면 , 본 발명 의 실시 예 에 따른 패턴 마스크 및 인버스 패턴 마스크 를 이용 한 3 차원 스캐닝 의 프로 젝 션 시스템 ( 100 ) 은 피사체 ( 200 ) 에 단일 패턴 및 인버스 단일 패턴 이 형성 된 패턴 마스크 를 프로 젝 션 하 고 , 카메라 ( 300 ) 는 피사체 ( 200 ) 에 투영 된 패턴 마스크 를 획득 하 여 각 화소 에 대한 좌표 및 깊이 값 을 통해 피사체 ( 200 ) 에 대한 3 차원 스캐닝 을 수행 할 수 있 다 .