또한 전술 한 실시 형태 에 있 어서 는 , 단부 복셀 을 물체 표면 의 복셀 로서 추출 하 도록 한 경우 에 대하 여 설명 하 였 지만 , 본 발명 은 이 에 한정 되 지 않 고 , 그 단부 복셀 의 한 쪽 또는 양쪽 이 , 당해 복셀 열 에 있 어서 고립 상태 에 있 을 때 에 는 , 상기 고립 상태 의 단부 복셀 이 노이즈 인지 의 여부 를 추정 하 도록 하 여도 된다 .