S 20 단계 에서 는 , 메모리 장치 ( 1002 ) 내 에 저장 된 복수 의 메모리 블록 들 중 특정 메모리 블록 에 대해 특정 횟수 의 리드 디스 터번 스 테스트 를 반복 적 으로 수행 하 여 상기 복수 의 페이지 각각 의 누적 에러 비트 정보 를 획득 할 수 도 있 다 . 상기 누적 에러 비트 정보 를 바탕 으로 에러 가능 페이지 를 선정 할 수 있 다 .