한편 , 본 발명 의 실시 예 에서 는 상기 테스트 트레이 ( 100 ) 의 측면 에 형성 된 식별 홈 ( 140 ) 의 최종 깊이 를 통해 상기 테스트 트레이 ( 100 ) 를 식별 함 으로써 반도체 소자 테스트 용 핸들러 에서 테스트 가 완료 된 테스트 트레이 ( 100 ) 에서 반도체 소자 를 보다 원활 하 게 분리 할 수 있 음 은 물론 이 고 테스트 시 에 도 테스트 챔버 로 분배 되 기 전 에 ID 번호 를 정확 하 게 식별 할 수 있 으므로 식별 오류 에 의해 테스트 트레이 가 테스트 헤드 에 잘못 결합 되 어 파손 되 는 것 을 방지 할 수 있 다 .