이 와 같 은 검사 공정 은 소정 의 회로 기판 검사 장치 에 의해 수행 된다 . 예컨대 , 상기 회로 기판 검사 장치 는 인쇄 회로 기판 을 평평 하 게 지지 하 는 지 지부 및 상기 지지 부 에 의해 지지 된 인쇄 회로 기판 에 형성 된 회로 패턴 또는 상기 회로 패턴 에 접합 된 솔 더 볼 에 접속 되 는 테스트 핀 들 을 갖 는 프로브 부 를 구비 할 수 있 다 . 상기 와 같 은 회로 기판 검사 장치 는 검사 공정 시 , 상기 테스트 핀 들 을 상기 인쇄 회로 기판 의 외부 회로 패턴 또는 솔 더 볼 등 에 선택 적 으로 접속 시킨 후 , 상기 테스트 핀 들 을 통해 상기 회로 기판 의 회로 패턴 에 전류 를 흐르 게 하 여 , 상기 인쇄 회로 기판 에 형성 된 회로 패턴 의 오픈 / 쇼트 검사 ( OS test ) 를 수행 한다 .