제 2 형태 에 있 어서 는 , 전자 디바이스 에 있 어서 , 피 시험 회로 와 , 피 시험 회로 를 시험 하 는 시험 회로 를 포함 하 고 , 시험 회로 는 , 시험 명령 열 을 기억 하 는 명령 기억 부 와 , 시험 명령 열 로부터 순차 적 으로 명령 을 독 출하 여 실행 하 고 , 실행 한 명령 에 대응 하 는 시험 패턴 을 출력 하 는 패턴 발생 부 와 , 시험 패턴 에 따른 시험 신호 를 생성 하 여 피 시험 디바이스 에 공급 하 는 시험 신호 출력 부 와 , 소정 비트 수 의 값 을 격납 하 는 결과 레지스터 를 포함 하 고 , 명령 기억 부 는 , 결과 레지스터 의 지정 한 비트 위치 를 소정 비트 값 으로 갱신 하 는 결과 레지스터 갱신 명령 을 포함 한 시험 명령 열 을 기억 하 고 , 패턴 발생 부 는 , 결과 레지스터 갱신 명령 의 실행 에 있 어서 결과 레지스터 에서 의 해당 결과 레지스터 갱신 명령 에 의해 지정 된 비트 위치 를 소정 비트 값 으로 갱신 하 는 전자 디바이스 를 제공 한다 .