하나 의 축 에서 스타일러스 의 위치 를 측정 하 기 위해 , 스타일러스 는 열 을 따라 전송 되 는 신호 를 수신 할 수 있 다 . 이 를 위해 , 스타일러스 의 시간 축 은 먼저 센서 의 제어 전자 장치 의 시간 축 과 동기 화 된다 . 이것 은 행렬 의 모든 열 상 에 ( 예 를 들 어 , 상이 한 주파수 로 , 또는 구별 되 는 패턴 으로 변조 된 ) 동기 화 신호 를 동시 에 전송 함 으로써 달성 될 수 있 다 . 이것 은 시간 기준 을 스타일러스 에 제공 한다 . 그 후 , 스타일러스 는 스타일러스 내 에서 크리스탈 또는 다른 주파수 표준 을 사용 함 으로써 그 의 시간 기준 을 유지 할 수 있 다 . 동기 화 펄스 는 일반 적 으로 프레임 마다 한번 전송 될 수 있 지만 , 일부 경우 , 동기 화 펄스 는 시스템 의 요구 되 는 대기 시간 ( latency ) , 및 스타일러스 의 주파수 표준 의 장기간 정확 성 에 따라 보다 자주 또는 드물 게 전송 될 수 있 다 . 스타일러스 는 이 동기 화 펄스 를 검색 할 수 있 고 , 스타일러스 가 동기 화 펄스 를 수신 하 는 경우 , 그 의 시간 축 을 리셋 할 수 있 다 . 이후 , 제 어 전자 장치 는 통상 의 전압 파형 을 이용 하 여 각 열 을 차례 로 여기 시킴 으로써 센서 를 통상 의 방식 으로 스캐닝 한다 . 각 행상 에서 수신 된 전류 를 측정 함 으로써 , 제어기 는 각 행 으로부터 각 열 로 의 정전 용량 을 측정 하 고 , 따라서 손가락 접촉 을 통상 의 방식 으로 측정 한다 . 동시 에 , 스타일러스 는 각 열 의 슬롯 동안 수신 된 신호 세기 를 측정 하 다 . 스타일러스 가 주어진 슬롯 동안 신호 를 수신 하 는 경우 , 스타일러스 는 그 열 에 근접 하 여 배치 되 어 있 는 것 으로 판정 한다 . 도 1 에 도시 되 어 있 는 구조 의 경우 , 스타일러스 는 약 5 개 의 열 상 에서 측정 가능 한 신호 를 수신 할 수 있 고 , x 축 을 따라 ( 임의 적 으로 , x 축 은 열 에 대해 직교 하 는 것 으로 가정 함 ) 보다 높 은 해상도 로 그 의 위치 를 판정 하 기 위해 보 간 할 수 있 다 .