도 3 은 , 종래 의 반도체 시험 장치 구성 을 나타내 는 구성 블럭 도 이 다 . 테스트 헤드 내 의 DUT ( 1 ) 는 케이블 ( 2 ) 을 통하 여 핀 엘렉 트 로 닉스 기판 ( 3 ) 과 접속 된다 . 핀 엘렉 트 로 닉스 기판 ( 3 ) 에 있 어서 , 콤퍼레이터 ( 4 ) 는 DUT ( 1 ) 출력 신호 를 비교 전압 ( V 0 H , V 0 L ) 과 비교 하 는 2 레벨 용 콤퍼레이터 이 다 . 판정 회로 ( 5 ) 는 , 콤퍼레이터 ( 4 ) 출력 신호 를 스트로브 신호 ( STR ) 의 타이밍 에 있 어 , 미리 프로그램 된 기대치 와 비교 하 여 양품 / 불량품 ( Pass / Fail ) 을 판정 한다 .