이 와 같이 , 상기 제 2 간섭 제거 회로 ( 220 ) 는 상기 제 1 클럭 ( CLK _ I ) 이 특정 레벨 , 즉 하이 레벨 로 천 이 할 때 상기 제 3 샘플링 회로 ( 33 ) 의 샘플링 타이밍 에 따른 상기 제 1 내지 제 4 포스트 커서 성분 ( 1 st post cursor , 2 nd post cursor , 3 rd post cursor , 4 th post cursor ) 을 제거 한 상기 제 2 간섭 제거 신호 ( S _ icB ) 를 생성 할 수 있 다 .