본 예 에 관한 시험 장치 ( 10 ) 는 두 개 의 뱅크 를 가지 는 플래시 메모리 인 제 3 피 시험 메모리 ( 500 - 3 ) ( DUT 3 ) 및 제 4 피 시험 메모리 ( 500 - 4 ) ( DUT 4 ) 를 병행 하 여 시험 한다 . 제 3 피 시험 메모리 ( 500 - 3 ) ( DUT 3 ) 및 제 4 피 시험 메모리 ( 500 - 4 ) ( DUT 4 ) 는 각종 의 제어 단자 ( ALE , CLE , / WE , / RE , TCLK , TMS ) 와 , LPCT 에 대응 하 는 데이터 입력 단자 ( TDI ) 와 , LPCT 에 대응 하 는 데이터 출력 단자 ( TDO ) 를 구비 한다 .