보상 을 위한 대안 의 방법 은 영 ( Young ) 등 에 의한 , 미국 특허 6 , 489 , 631 에 나타난 바 와 같이 , 직접 적 으로 각각 의 서브 픽셀 의 광 출력 을 측정 한다 . 이 와 같 은 방법 은 모든 3 개 의 노화 요인 들 에서 의 변화 를 보상 할 수 있 지만 , 그러나 각각 의 서브 픽셀 에서 의 통합 광 센서 또는 매우 높 은 - 정밀 한 외부 광 센서 를 필요 로 한다 . 외부 광 센서 는 디바이스 의 복잡 성 및 비용 을 추가 하 는 반면 , 통합 된 광 센서 는 수반 되 는 성능 감소 를 가지 는 , 서브 픽셀 복잡 성 및 전자 제품 크기 를 증가 시킨다 .