본 발명 은 측정 된 물체 의 3 차원 스트라이프 점군 데이터 를 획득 하 는 3 차원 스캐닝 시스템 에 관한 것 으로 , 상기 측정 된 물체 에 선후 로 복수 개 의 스페클 패턴 및 스트라이프 패턴 을 교대 로 투사 하 는 광원 ; 상기 측정 된 물체 의 좌 , 우 스페클 이미지 및 좌 , 우 스트라이프 이미지 를 동기 수집 하 는 좌 , 우 카메라 ; 상기 스페클 이미지 에 근거 하 여 스페클 3 차원 데이터 및 마커 포인트 3 차원 데이터 를 얻 는 스페클 데이터 및 마커 포인트 데이터 재 구성 모듈 ; 상기 스페클 3 차원 데이터 및 마커 포인트 3 차원 데이터 에 근거 하 여 좌 , 우 스트라이프 이미지 에 역 투영 하 고 좌 , 우 스트라이프 이미지 스트라이프 를 매칭 시키 도록 안내 하 는 스트라이프 매칭 모듈 ; 좌 , 우 스트라이프 이미지 에 매칭 된 대응 되 는 스트라이프 를 3 차원 스트라이프 점군 데이터 로 재건 하 는 3 차원 재 구성 모듈 을 포함 한다 . 본 발명 은 3 차원 스캐닝 시스템 의 스캐닝 방법 을 더 제공 한다 .