본 발명 은 반도체 검사 장치 에 관한 것 으로서 , 프로브 카드 보드 ( 130 ) 의 니들 ( 136 ) 이 상측 으로 연장 형성 되 며 , 연장 된 니들 ( 136 ) 은 퍼포먼스 보드 ( 120 ) 의 하판 ( 124 ) 의 관 통공 ( 125 ) 을 관통 하 여 퍼포먼스 보드 ( 120 ) 상판 ( 122 ) 의 접촉 단자 ( 123 ) 와 직접 연결 되 는 것 을 특징 으로 한다 . 따라서 연장 형성 된 니 들 로 인한 연결부 의 단순 화 로 누전 의 원인 을 줄여 보다 정확 한 측정 결과 를 얻 을 수 있 다 . 또한 , 구조 의 단순 화 로 제작 비용 이 절감 됨 은 물론 , 시 그날 패스 ( signal pass ) 가 짧아져서 테스트 의 시간 이 단축 되 는 효과 를 가지 고 있 다 .