예 를 들 면 , 전원 이 온 으로 될 때 , 제 어 회로 ( 110 ) 는 , 전자 퓨즈 세트 ( 120 [ 1 ] ) 중 의 전자 퓨즈 ( 120 [ 1 ] [ 1 ] ~ 120 [ 1 ] [ 7 ] ) 의 제 1 단 ( 고전 위단 ) 의 퓨즈 전압 을 검출 하 고 , 퓨즈 전압 ( VP [ 1 ] [ 1 ] ~ VP [ 1 ] [ 7 ] ) 과 제 1 임계 치 전압 을 비교 하 여 검출 신호 ( DT [ 1 ] ) 를 생성 할 수 있 고 , 검출 신호 ( DT [ 1 ] ) 에 근거 하 여 전자 퓨즈 세트 ( 120 [ 1 ] ) 중 의 전자 퓨즈 ( 120 [ 1 ] [ 1 ] ~ 120 [ 1 ] [ 7 ] ) 가 이미 전자 퓨즈 를 용단 하 고 있 는지 여부 를 판정 한다 . 검출 신호 ( DT [ 1 ] ) 에 의해 전자 퓨즈 ( 120 [ 1 ] [ 2 ] ) 가 이미 전자 퓨즈 를 용단 되 어 있 다고 판정 하 는 경우 , 제 어 회로 ( 110 ) 는 , 전자 퓨즈 ( 120 [ 1 ] [ 2 ] ) 가 속하 는 전자 퓨즈 세트 ( 120 [ 1 ] ) 에 대한 덮어쓰 기 동작 을 디스 에이블 로 하 여 , 용단 된 전자 퓨즈 ( 120 [ 1 ] [ 2 ] ) 를 가지 는 전자 퓨즈 세트 ( 120 [ 1 ] ) 에 대한 덮어쓰 기 동작 을 회피 함 으로써 , 용단 동작 의 신뢰 성 의 저하 를 회피 한다 .