본 발명 의 분석 장치 ( 1 ) 는 밀폐 된 시료 ( T ) 의 내부 에 위치 하 는 분석 대상물 을 개봉 하 지 않 고 분석 할 수 있 는 장치 이 다 . 일 예 로 , 분석 장치 ( 1 ) 는 시료 ( T ) 에 광 을 조사 하 여 , 이 에 반사 혹은 산란 되 는 광 의 분석 신호 를 분석 하 여 시료 ( T ) 내부 의 내부 성분 을 분석 할 수 있 다 . 일 예 로 , 내부 성분 의 화학 적 조성 , 구성 물질 등 을 분석 할 수 있 다 .