일 양태 에서 , 측정 값 은 레퍼런스 디바이스 를 참조 하 여 커패시턴스 측정 에 기초 한다 . 일 양태 에서 , 커패시턴스 측정 은 디바이스 내 의 임의 의 전극 의 위치 및 다른 양태 에 의존 할 수 있 다 . 이러 한 변화 는 SEM 스캐너 모델 200 ( Bruin Biometrics , LLC , 로스앤젤레스 , CA ) 과 같 은 기준 SEM 디바이스 와 비교 될 수 있 다 . 당업자 는 본 명세서 에서 설명 된 측정치 가 레퍼런스 디바이스 를 참조 하 여 차이 커패시턴스 범위 를 수용 하 도록 조정 될 수 있 음 을 이해 한다 .