자주 또는 원한다면 드물 게 보상 측정 을 할 수 있 고 ; 전형 적 범위 는 8 시간 마다 한 번 에서 4 주 마다 한 번 일 수 있 다 . 도 8 은 패널 이 얼마나 활성 하 는 지 의 함수 로서 보상 측정 을 얼마나 자주 할 수 있 는지 의 일 예 를 나타낸다 . 이 곡선 은 일 예 일 뿐 이 며 , 실제로 이 곡선 은 임이 특정 패널 설계 의 가속 된 수명 검사 를 통해 이 설계 에 대해 결정 될 수 있 다 . 측정 주파수 는 시간 에 걸쳐 EL 디바이스 및 구동 트랜지스터 의 특성 에서 의 변화 율 에 기초 하 여 선택 될 수 있 다 ; 패널 이 새 것 인 경우 , 이동 이 빠르 며 , 그래서 패널 이 오래 된 것 보다 는 새 것 인 경우 자주 더 보상 측정 을 할 수 있 다 . 언제 보상 측정 을 하 는 지 를 결정 하 기 위한 다양 한 방법 이 존재 한다 . 예 를 들 어 , 주어진 소정 의 구동 전압 에서 활성 인 전체 패널 에 의해 얻 어 진 전체 전류 가 측정 될 수 있 고 동일 한 측정 의 이전 결과 와 비교 될 수 있 다 . 또 다른 예 에서 , 온도 및 주위 광 과 같 은 , 패널 에 영향 을 미치 는 환경 요인 들 은 측정 될 수 있 고 , 예 를 들 어 , 주위 온도 가 소정 의 역치 보다 많이 변한다면 , 보상 측정 을 한다 . 대안 으로 는 , 개별 서브 픽셀 의 전류 가 패널 의 이미지 영역 안 에서 또는 밖 에서 측정 될 수 있 다 . 패널 의 이미지 영역 밖 이 라면 , 서브 픽셀 들 은 측정 목적 을 위해 제공 된 기준 서브 픽셀 일 수 있 다 . 서브 픽셀 은 필요 한 주변 조건 의 일부 가 무엇 이 든지 간 에 노출 될 수 있 다 . 예 를 들 어 , 서브 픽셀 은 주위 광 이 아니 라 주위 온도 에 응답 하 도록 하 게 하 기 위해 불 투명 한 물질 로 덮 어 질 수 있 다 .