이 와 같이 , 본 발명 에 따른 반도체 소자 테스트 용 프로브 카드 ( 100 ) 는 고정 부재 ( 120 ) 에 의해 일정 개수 , 예컨대 , 1 DUT 에 해당 하 는 갯 수 의 프로브 ( 110 ) 를 모듈 화 하 여 조립 함 으로써 조립 공정 에서 발생 하 는 프로브 ( 110 ) 의 변형 을 방지 하 여 품질 을 향상 시키 고 , 조립 성 이 뛰어나 생산 성 을 향상 시킨다 .