미세 구조 체 는 또한 , 또는 대안 적 으로 미국 특허 제 4 , 576 , 850 호 ( 마튼 즈 ( Martens ) ) 에 기술 바 와 같 을 수 있 다 . 예 를 들 어 , 미세 구조 체 는 일반 적 으로 프로파일 이 미세 구 조체 를 통해 그려진 평균 중심선 으로부터 벗어난 물품 의 표면 내 의 돌출부 및 함입 부 와 같 은 불연속 부 일 수 있 고 , 따라서 중심선 위 의 표면 프로파일 에 의해 둘러싸이 는 영역 의 합 이 중심선 아래 의 영역 의 합 과 동일 하 게 되 며 , 중심선 은 본질 적 으로 물품 의 공칭 표면 ( 미세 구 조체 를 가짐 ) 에 평행 하 다 . 편차 의 높이 는 전형 적 으로 표면 의 대표 적 인 특성 길 이 , 예컨대 1 내지 30 cm 를 통해 광학 또는 전자 현미경 에 의해 측정 될 때 약 ± 0 . 005 내지 ± 750 마이크로미터 일 수 있 다 . 평균 중심선 은 평면 ( plano ) ( 즉 , 평탄 하 거나 직선형 임 ) 이 거나 , 오목 또는 볼록 하 거나 ( 비 구면 이 든 아니 든 간 에 ) , 이 들 의 조합 일 수 있 다 . 편차 가 낮 은 정도 , 예컨대 ± 0 . 005 내지 ± 0 . 1 마이크로미터 , 또는 바람직 하 게 는 ± 0 . 05 마이크로미터 인 경우 의 , 그리고 편차 의 발생 이 빈번 하 지 않 거나 최소 인 경우 , " 즉 표면 에 임의 의 상당 한 불연속 부 가 없 는 경우 의 물품 은 본질 적 으로 "" 평활 한 "" 표면 "," 및 평균 중심선 이 평면 이 면 "" 평평 한 "" 표면 을 갖 는 것 으로 고려 될 수 있 다 . 다른 물품 은 높 은 정도 ", 예컨대 ± 0 . 1 내지 ± 750 마이크로미터 의 , 그리고 동일 하 거나 상이 하 고 무작위 하 거나 정렬 된 방식 으로 이격 되 거나 연속 적 인 복수 의 실용 적 인 불연속 부를 포함 하 는 미세 구 조체 로 인한 편차 를 가질 수 있 다 .