먼저 , 도 3 을 참고 하 여 본 발명 의 일실 시예 에 따른 반도체 소자 테스트 용 핸들러 의 바람직 한 구성 에 대한 실시 예 를 살펴보 면 , 본 발명 의 일실 시예 에 따른 반도체 소자 테스트 용 핸들러 ( 1 ) 는 로딩 부 ( 2 ) , 언로 딩 부 ( 3 ) , 제 1 챔버 ( 4 ) , 테스트 유닛 ( 5 ) , 제 2 챔버 ( 6 ) , 테스트 이송 부 ( 도시 되 지 않 음 ) , 제 1 로 테이터 ( 7 ) 와 , 제 2 로 테이터 ( 8 ) 를 포함 한다 .