본 발명 은 반도체 소자 를 검사 하 기 위한 프로브 카드 에 있 어서 , 양측 에 접촉 팁 과 단자 팁 이 각각 형성 되 는 다수 의 프로브 와 , 프로브 가 나란 하 게 고정 되 는 다수 의 고정부 재와 , 고정 부재 가 양측 에 길 이 방향 으로 배열 되 도록 고정 됨 으로써 접촉 팁 각각 이 반도체 소자 의 접속 패드 에 접촉 할 수 있 도록 위치 하 는 프로브 바 와 , 프로브 바 가 고정 되 는 메 인회 로 기판 과 , 프로브 의 접촉 팁 과 메 인회 로 기판 을 접속 시키 는 접속 수단 을 포함 한다 .