따라서 , 인접 하 는 개구부 ( 12 ) 사이 에 회로 기판 을 설치 하 기 위한 스페이스 ( space ) 를 확보 할 필요 는 없 고 , 도 1 및 도 2 에 도시 하 는 예 에 비해 , 또한 인접 하 는 개구부 ( 12 ) 상호 간 의 간격 을 좁 게 하 는 것 이 가능 하 며 , 따라서 , 복수 의 시험 유닛 을 서로 크 게 이 간 해서 배치 하 지 않 고 , 효율 적 으로 1 개 의 프로브 카드 기판 ( 11 ) 위 에 설치 하 는 것 이 가능 하 다 .