디바이스 안정 성 에 대한 발광 층 두께 의 영향 을 추가 로 결정 하 고 정의 하 기 위해 , 앞서 개시 된 바 와 같이 X / Y / X ' 형태 의 EML 을 갖 는 일반 적 인 디바이스 구조 에 대해 추가 의 실험 을 수행 하 였 다 . EML Y 대 X 의 두께 의 비 는 2 : 1 , 5 : 1 , 10 : 1 로 변하 고 , EML Y 대 X ' 의 두께 의 비 는 2 : 1 , 5 : 1 , 10 : 1 로 변하 였 다 . 실시 예 적색 / 녹색 / 적색 디바이스 는 상기 설명 한 디바이스 제조 프로토콜 및 디바이스 물질 에 따라 제조 되 었 다 . 디바이스 의 일반 구조 는 표 4 에 제시 된다 .