또한 , 본 예 에서 는 , 시험 유닛 ( TU 1 ) 과 시험 유닛 ( TU 2 ) 의 사이 , 시험 유닛 ( TU 1 ) 과 시험 유닛 ( TU 3 ) 의 사이 , 시험 유닛 ( TU 3 ) 과 시험 유닛 ( TU 4 ) 의 사이 , 및 시험 유닛 ( TU 2 ) 과 시험 유닛 ( TU 4 ) 의 사이 에 설치 되 어 있 는 회로 기판 ( 14 ) 에서 는 , 양쪽 주면 ( 표면 · 이면 ) 에 각각 전극 단자 ( 15 ) 가 형성 되 고 있 어 , 각 주면 에서 각 시험 유닛 의 프로브 침 ( 13 ) 이 접속 되 어 있 다 .