본 변형 예 에 관한 시험 장치 ( 10 ) 는 복수 의 피 시험 메모리 ( 500 ) 를 병행 하 여 시험 한다 . 이 경우 에 , 시험 장치 ( 10 ) 는 복수 의 피 시험 메모리 ( 500 ) 의 적어도 일부 의 동일 단자 를 공통 접속 하 는 공통 I / O 시험 을 수행 한다 . 더욱이 , 시험 장치 ( 10 ) 는 각각 의 피 시험 메모리 ( 500 ) 의 스테이 터스 출력 단자 ( 504 ) 를 공통 접속 하 고 공통 으로 접속 한 스테이 터스 출력 단자 ( 504 ) 를 해당 시험 장치 ( 10 ) 에 접속 하 여 시험 을 수행 한다 .