또한 , 본 발명 은 N 개 의 프레임 기간 동안 , TFT 의 게이트 전극 에 원 데이터 전압 ( Vdata ) 과 반 대극 성 의 보상 전압 ( Vndi ) 를 공급 하 고 , 그 보상 전압 ( Vndi ) 에 의해 흐르 는 TFT 의 드레 인 - 소스 간 전류 ( Ids ) 를 측정 한다 . ( S 215 및 S 216 ) 이 어서 , 본 발명 은 보상 전압 ( Vdni ) 을 디지털 보상 값 ( Ndi ) 으로 환산 하 고 , TFT 의 전류 변동 ( Δ Ids ) 을 TFT 의 문턱 전압 변동 양 ( Δ Vth ) 으로 환산 한 후 에 , 문턱 전압 변동 양 ( Δ Vth ) 을 제 2 가중치 ( y ) 로 환산 한다 . ( S 217 , S 218 )