도 40 에 도시 된 바 와 같이 , 일 실시 예 에 따른 광 조사 장치 ( 500 _ 10 ) 는 프린팅 부 ( PA ) 의 제 1 스테이지 ( STA 1 ) 가 위치 하 던 자리 에 배치 될 수 있 다 . 광 조사 장치 ( 500 _ 10 ) 는 제 1 스테이지 ( STA 1 ) 와 같이 이동 부재 를 포함 하 여 일 방향 으로 이동 할 수 있 으나 , 이 에 제한 되 지 않 는다 . 광 조사 장치 ( 500 _ 10 ) 는 잉크젯 프린팅 장치 ( 300 _ 10 ) 가 위치 하 는 영역 과 중첩 하 여 전계 형성 유닛 ( 100 _ 10 ) 의 하부 에 배치 될 수 있 다 . 광 조사 장치 ( 500 _ 10 ) 는 전계 형성 유닛 ( 100 _ 10 ) 의 하부 에서 상부 를 향해 광 ( hv ) 을 조사 할 수 있 다 . 몇몇 실시 예 에서 , 전계 형성 유닛 ( 100 _ 10 ) 의 서브 스테이지 ( 110 _ 10 ) 는 투명 한 재질 로 이루어질 수 있 고 , 광 조사 장치 ( 500 _ 10 ) 에서 조사 되 는 광 ( hv ) 이 대상 기판 ( SUB ) 에 도달 할 수 있 다 .