본 명세서 에 개시 된 주제 의 다른 예시 에서 , 타깃 패널 ( 50 ) 과 같 은 하나 의 타깃 패널 은 복수 의 감지 어레이 ( 10 ) 를 포함 할 수 있 으며 , 이 들 각각 은 설명 된 바 와 같이 선택 적 으로 리 던 던 시 촉진 배열 로 타깃 패널 ( 50 ) 상 에 또한 장착 될 수 있 는 측정 시스템 ( 20 ) 에 동작상 결합 된다 . 이러 한 배열 에서 , 각각 의 쌍 의 감지 어레이 ( 10 ) 및 측정 시스템 ( 20 ) 은 충격 이벤트 를 감지 하 기 위해 개별 적 으로 동작 하 고 , 그 에 따라 하나 의 쌍 이 오작동 또는 충격 으로 인해 장애 가 발생 하 더라도 다른 쌍 은 여전히 기능 을 수행 하 고 이 를 백업 으로 구성 할 수 있 다 . 특정 한 예시 에 따르 면 , 프로세싱 시스템 ( 30 ) 은 다수 의 측정 시스템 ( 20 ) 으로부터 상태 신호 를 수신 하 고 이 들 을 비교 하 여 통합 된 시간 - 시퀀스 를 얻 을 수 있 다 .