도 6 을 참조 하 면 , 테스트 디 코딩 부 ( 520 ) 는 제 1 테스트 - 입력 신호 ( WDQSR _ TM ) 를 지연 시켜 출력 하 기 위한 제 1 지 연부 ( 522 ) 와 , 테스트 모드 신호 ( TM _ LMDS ) 와 제 1 지 연부 ( 522 ) 의 출력 신호 를 입력 으로 가져 제 1 테스트 - 스트로 빙 신호 ( WDSR 0 B _ TM ) 로 출력 하 기 위한 낸드 게이트 ( ND 3 ) 와 , 제 1 테스트 - 입력 신호 ( WDQSR _ TM ) 를 반전 시키 기 위한 인버터 ( I 2 ) 와 , 테스트 모드 신호 ( TM _ LMDS ) 와 인버터 ( I 2 ) 의 출력 신호 를 입력 으로 가져 제 2 테스트 - 스트로 빙 신호 ( WDSR 1 B _ TM ) 로 출력 하 기 위한 낸드 게이트 와 , 제 2 테스트 - 입력 신호 ( WDQSF _ TM ) 를 지연 시켜 출력 하 기 위한 제 2 지 연부 ( 524 ) 와 , 테스트 모드 신호 ( TM _ LMDS ) 와 제 2 지 연부 ( 524 ) 의 출력 신호 를 입력 으로 가져 제 3 테스트 - 스트로 빙 신호 ( WDSF 0 B _ TM ) 로 출력 하 기 위한 낸드 게이트 ( ND 5 ) 와 , 제 2 테스트 - 입력 신호 ( WDQSF _ TM ) 를 반전 시키 기 위한 인버터 ( I 3 ) 와 , 테스트 모드 신호 ( TM _ LMDS ) 와 인버터 ( I 3 ) 의 출력 신호 를 입력 으로 가져 제 4 테스트 - 스트로 빙신 호로 출력 하 기 위한 낸드 게이트 ( ND 6 ) 를 구비 한다 .