본 발명 의 실시 예 에 따른 심볼 간섭 제거 회로 는 제 1 가중치 적용 신호 , 제 2 가중치 적용 신호 , 제 3 가중치 적용 신호 , 제 4 가중치 적용 신호 , 제 1 샘플링 출력 신호 , 제 2 샘플링 출력 신호 , 제 3 샘플링 출력 신호 , 제 4 샘플링 출력 신호 , 제 3 클럭 , 제 4 클럭 및 입력 신호 에 응답 하 여 제 1 포스트 커서 성분 , 제 2 포스트 커서 성분 , 제 3 포스트 커서 성분 , 제 4 포스트 커서 성분 을 제거 한 제 1 간섭 제거 신호 를 생성 하 는 제 1 간섭 제거 회로 ; 상기 제 1 가중치 적용 신호 , 상기 제 2 가중치 적용 신호 , 상기 제 3 가중치 적용 신호 , 상기 제 4 가중치 적용 신호 , 상기 제 1 샘플링 출력 신호 , 상기 제 2 샘플링 출력 신호 , 상기 제 3 샘플링 출력 신호 , 상기 제 4 샘플링 출력 신호 , 제 1 클럭 , 제 2 클럭 및 상기 입력 신호 에 응답 하 여 제 1 포스트 커서 성분 , 제 2 포스트 커서 성분 , 제 3 포스트 커서 성분 , 제 4 포스트 커서 성분 을 제거 한 제 2 간섭 제거 신호 를 생성 하 는 제 2 간섭 제거 회로 ; 상기 제 1 간섭 제거 신호 및 상기 제 1 클럭 에 응답 하 여 상기 제 1 샘플링 출력 신호 를 생성 하 는 제 1 샘플링 회로 ; 상기 제 1 간섭 제거 신호 및 상기 제 2 클럭 에 응답 하 여 상기 제 2 샘플링 출력 신호 를 생성 하 는 제 2 샘플링 회로 ; 상기 제 2 간섭 제거 신호 및 상기 제 3 클럭 에 응답 하 여 상기 제 3 샘플링 출력 신호 를 생성 하 는 제 3 샘플링 회로 ; 및 상기 제 2 간섭 제거 신호 및 상기 제 4 클럭 에 응답 하 여 상기 제 4 샘플링 출력 신호 를 생성 하 는 제 4 샘플링 회로 를 포함 한다 .