상기 , 상기 에지 검출 단 은 , 영상 의 대각선 에지 를 검출 하 여 각 대각선 에지 에 대한 차 분치 를 산출 하 고 , 상기 각 대각선 에지 에 대해 산출 된 차 분치 의 크기 를 상호 비교 하 여 각 화소 에 적용 될 보정 계수 를 산출 하 는 대각선 에지 검 출부 ; 상기 대각선 에지 검 출부 와 연결 되 고 , 상기 영상 의 비 대각선 에지 를 검출 하 여 각 비 대각선 에지 에 대한 차 분치 를 산출 하 며 , 상기 각 비 대각선 에지 에 대해 산출 된 차 분치 의 크기 를 상호 비교 하 여 각 화소 에 적용 될 보정 계수 를 산출 하 는 비 대각선 에지 검 출부 ; 및 상기 대각선 에지 검 출부 및 비 대각선 에지 검 출부 와 연결 되 고 , 상기 대각선 에지 검 출부 및 비 대각선 에지 검 출부 각각 에서 산출 된 차 분치 의 크기 를 상호 비교 하 여 상기 대각선 및 비 대각선 에지 검 출부 중 어느 하나 의 에지 검 출부 에서 산출 된 보정 계수 를 각 화소 에 적용 될 보정 계수 로 선택 하 는 보정 계수 산 출부 ; 를 포함 하 고 ,