본 발명 은 광학 식 초미세 먼지 측정 센서 에 관한 것 인데 , 보다 상세 하 게 설명 하 면 , 측정 광원 으로 적외선 을 사용 하 는 일반 적 인 초미세 먼지 측정 센서 에서 태양광 이나 다른 외란 광이 먼지 측정 공간 으로 들어오 게 되 면 광 에 포함 된 적외선 성분 이 측정 수단 인 포토다이오드 에 유입 되 어 측정 정밀도 를 떨어뜨리 게 된다 . 따라서 외란 광이 측정 공간 으로 들어오 지 않 도록 차단 을 하 고 또한 사용 공간 에 제한 이 있 게 된다 . 본 특허 에서 는 이 와 같이 외란 광이 유입 되 더라도 측정 에 영향 을 받 지 않 도록 신호 처리 회로 를 구성 하 여 궁극 적 으로 외란 광 에 의한 영향 을 받 지 않 아 사용 공간 등 의 환경 에 제한 을 두 지 않 는 광학 식 초미세 먼지 측정 센서 에 관한 것 이 다 .