컴퓨터 시스템 에서 는 , 예 를 들 면 파형 ( 波形 ) 의 미분 처리 등 에 의거 하 여 , 변위 점 을 특정 하 고 , 미리 등록 해 두 어 양품 혹은 불량품 의 참조 정보 와 비교 하 여 , 게이트 임계 값 이 적절 한 것 인지 의 여부 를 판정 한다 . 구체 적 으로 는 예 를 들 면 양품 이 될 수 있 는 임계 값 범위 ( 빔 조사 조건 의 범위 ) 를 , 미리 소정 의 기억 매체 에 기억 해 두 고 , 그 범위 에 변위 점 이 포함 될 지 의 여부 에 따라 , 양품 판정 을 행한다 . 또한 , 양품 , 불량품 의 S 커브 ( 도 24 의 ( b ) 에 예시 하 는 곡선 ) 를 참조 데이터 로서 미리 등록 해 두 고 , 검사 결과 를 참조 데이터 와 피팅 하 여 , 양품 , 불량품 판정 을 행하 도록 해도 된다 . 또한 , 빔 조건 과 게이트 임계 값 전압 과 의 관계 를 나타내 는 관련 정보 를 미리 기억 해 두 고 , 당해 관련 정보 에 변위 점 을 참조 함 으로써 , 게이트 임계 값 을 산출 하 도록 해도 된다 .