상술 된 실시 예 들 의 다수 의 경우 들 은 적어도 부분 적 으로 이전 의 이득 팩터 ( gain factor ) 에 기초 하 여 이득 팩터 를 계산 하 는 단계 를 포함 한다 . 상기 채널 모델 계산 회로 로부터 유도 된 제 1 출력 은 상기 이득 팩터 와 승산 된 상기 채널 모델 계산 회로 로부터 유도 된 제 2 출력 이 다 . 상술 된 실시 예 들 의 일부 경우 들 에서 , 상기 제 1 채널 비트 밀도 추정 치 및 상기 제 2 채널 비트 밀도 추정 치 는 상기 저장 매체 와 관련 하 여 배치 된 판독 / 기록 헤드 어셈블리 의 특징 을 나타내 는데 사용 된다 . 상술 된 실시 예 들 의 다른 경우 들 에서 , 상기 제 1 채널 비트 밀도 추정 치 및 상기 제 2 채널 비트 밀도 추정 치 는 상기 저장 매체 로부터 데이터 를 수용 하 는 판독 채널 을 최적 화 하 는 데 사용 된다 .