스테이지 이미지 검출기 가 SLM 의 초점 , 변환 , 회전 , 기울기 , 곡률 / 평탄 도 를 측정 할 수 있 다 . 초점 , 변환 , 회전 , 기울기 , 곡률 / 평탄 도 의 요구 사양 을 벗어나 는 것 은 공간 광 변조기 및 워크 피스 사이 에 배치 된 스테이지 , 미러 , 및 / 또는 렌즈 배열 을 적절히 조정 함 으로써 조절 될 수 있 다 . SLM 의 배열 의 일부 가 데이터 경로 에서 수행 될 수 있 으며 , 이 는 SLM 에 로딩 될 패턴 정보 를 포함 한다 . 예 를 들 어 , SLM 의 회전 에러 가 , 미러 를 회전 시키 거나 SLM 을 위한 워크 피스 에 인쇄 될 패턴 의 디지털 묘사 에 의해 조정 될 수 있 다 .