도 7 b 를 참조 하 면 , 제 1 전자 장치 ( 420 ) 는 구면 좌표계 의 r , φ 및 θ 의 범위 ( r ≥ 0 , - π / 2 ≤ θ ≤ π / 2 , - π ≤ φ ≤ π ) 를 이용 하 여 전 방향 이미지 ( 710 ) 를 2 차원 평면 에 매핑 할 수 있 다 . 전 방향 이미지 ( 710 ) 의 임의 의 픽셀 ( P ) 는 ERP 이미지 ( 720 ) 의 P ( φ , θ ) 로 변환 될 수 있 다 . 전 방향 이미지 ( 710 ) 의 임의 의 픽셀 ( P ) 은 ERP 이미지 ( 720 ) 의 복수 의 픽셀 로 변환 될 수 있 다 . 전 방향 이미지 ( 710 ) 의 임의 의 픽셀 ( P ) 중 구 의 양극 ( 예 : 북극 , 남극 ) 에 가까울수록 대응 되 는 ERP 이미지 ( 720 ) 의 픽셀 의 수 는 증가 할 수 있 다 . 이 에 따라 , 제 1 전자 장치 ( 420 ) 가 전 방향 이미지 ( 710 ) 를 2 차원 평면 에 매핑 하 여 ERP 이미지 ( 720 ) 를 생성 하 는 경우 , ERP 이미지 ( 720 ) 는 양극 에 가까울수록 중복 되 는 정보 ( redundant information ) 를 더 많이 포함 할 수 있 다 .