이상 의 설명 에서 명확 하 듯이 , 탄성체 링 ( 6 ) 은 로터 ( 41 ) 의 표면 에 바싹 닿 은 상태 를 항상 유지 하 고 있 기 때문 에 , 전극 부재 ( 4 ) 는 로터 ( 41 ) 의 간 헐 반송 회전 과 항상 동기 하 여 회전 이 실현 된다 . 즉 , 검사 용 전극 부재 ( 4 ) 의 회전 속도 는 , 검사 장치 에 의해 차례 로 이송 되 어 오 는 칩 형 전자 부품 ( 40 ) 의 단면 전극 이 검사 용 전극 부재 ( 4 ) 에 접촉 될 때 의 속도 와 같 은 속도 이 다 .