전술 한 바 와 같이 , 일 실시 예 에서 , 제 2 ECC 인코딩 동작 은 L 비트 예비 어드레스 에 대해 수행 되 어 J 비트 코드 워드 에 도달 할 수 있 다 . 선택 적 인 실시 예 에서 , L 비트 는 예비 어드레스 의 복수 의 사본 들 을 포함 할 수 있 다 . 예 를 들 어 , 만약 L 이 100 이 고 , 예비 어드레스 가 10 비트 인 경우 , L 비트 는 예비 어드레스 의 10 개 의 사본 을 포함 할 수 있 다 . 그리고 , 단계 S 650 의 제 2 ECC 디 코딩 동작 이 수행 되 면 , 예비 어드레스 의 10 개 카피 들 이 복구 될 것 이 다 . 한편 , 일부 비트 가 뒤집 어 질 수 있 으므로 , 모든 사본 들 이 동일 하 지 않 을 수 있 다 . 제 2 ECC 디 코딩 동작 은 이러 한 모든 사본 들 에 대해 실제 예비 어드레스 를 검출 하 는 기능 을 수행 할 수 있 다 . 만약 상기 기능 이 성공 하 면 , 예비 어드레스 는 검출 될 수 있 고 , 그렇 지 않 으면 , 유효 한 예비 어드레스 는 검출 되 지 않 을 수 있 다 . 만약 예비 어드레스 가 검출 되 면 , 도 6 의 방법 은 단계 S 670 로 진행 할 수 있 고 , 그렇 지 않 은 경우 , 단계 S 690 로 진행 할 수 있 다 . 따라서 , 본 예 에서 , 불량 행 은 예비 어드레스 뿐 만 아니 라 예비 어드레스 의 백업 사본 을 적어도 하나 이상 포함 할 수 있 다 .