본 발명 은 고온 의 환경 으로 조성 된 챔버 내 에서 테스트 트레이 에 안착 된 반도체 소자 를 테스트 하 기 전 에 테스트 트레이 의 아이디 ( ID ) 를 식별 홈 의 깊이 를 검출 하 도록 함 과 동시 에 식별 홈 의 가공 공정 을 줄이 도록 한 테스트 트레이 와 이 를 이용 한 반도체 소자 테스트 용 핸들러 그리고 반도체 소자 의 제조 방법 에 관한 것 으로서 , 프레임 ; 상기 프레임 에 일정 한 간격 을 갖 고 배열 되 어 반도체 소자 가 안착 되 는 캐리어 모듈 ; 상기 프레임 의 측면 에 구성 되 는 적어도 하나 의 아이디 ( ID ) 식별 홈 , 및 상기 식별 홈 에 삽입 되 어 상기 식별 홈 의 깊이 를 조절 하 는 적어도 하나 의 식별 블록 을 포함 하 여 구성 됨 을 특징 으로 한다 .