입자 의 굴절 률 은 이하 의 방법 으로 측정 할 수 있 다 . 먼저 , 입자 와 , 굴절 률 이 이미 알려진 수지 ( 분산제 ) 와 , 프로필렌 글라이콜 모노 메틸 에 터 아세테이트 를 이용 하 여 분 산액 을 제작 한다 . 그 후 , 제작 한 분 산액 과 굴절 률 이 이미 알려진 수지 를 혼합 하 여 , 도포 액 의 전체 고형분 중 에 있 어서 의 입자 의 농도 가 10 질량 %, 20 질량 %, 30 질량 %, 40 질량 % 인 도포 액 을 제작 한다 . 이 들 도포 액 을 실리콘 웨이퍼 상 에 300 nm 의 두께 로 제막 한 후 , 얻 어 지 는 막 의 굴절 률 을 엘 립 소 메트리 ( 람다 에이스 RE - 3300 ( 상품명 ) , 다 이 닛폰 스크린 세이조 ( 주 ) ) 를 이용 하 여 측정 한다 . 그 후 , 입자 의 농도 와 굴절 률 을 그래프 상 에 플롯 하 여 , 입자 의 굴절 률 을 도출 한다 .