한편 , 속 챔버 ( 162 ) 는 제 1 트레이 반 전부 ( 161 ) 에 의해 수직 하 게 세워진 테스트 트레이 ( 150 ) 를 수용 하 여 앞쪽 으로부터 뒤쪽 으로 소정 의 단계 로 이동 시키 면서 디바이스 ( 156 ) 를 테스트 온도 조건 으로 가열 하 거나 냉각 시킨다 . 다음 으로 , 속 챔버 ( 162 ) 로부터 배출 되 는 테스트 트레이 ( 150 ) 는 최종 적 으로 상하 의 2 열 수직 배치 된 가이드 바 ( 미 도시 ) 에 탑재 되 어 이 동축 ( 미 도시 ) 과 이동 수단 ( 미 도시 ) 에 결합 된 푸 셔 ( 미 도시 ) 로 상하 의 테스트 트레이 ( 150 ) 를 밀 면서 테스트 헤드 ( 20 ) 로 이동 시키 며 , 동시 에 테스트 종료 된 테스트 트레이 ( 150 ) 를 배출 시키 는 인덱싱 메카 니즘 을 갖 는다 . 테스트 챔버 ( 163 ) 는 상기 와 같 은 상하 의 2 열 수직 배치 로 공급 되 는 테스트 트레이 ( 150 ) 를 테스트 조건 의 온도 로 가열 또는 냉각 된 상태 로 유지 하 고 , 이러 한 상태 로 테스트 트레이 ( 150 ) 를 수용 하 여 이 테스트 트레이 ( 150 ) 에 있 는 복수 개 , 예 를 들 어 128 개 의 디바이스 ( 156 ) 와 테스트 헤드 를 전기 적 으로 접속 시켜 테스트 가 이루어지 도록 한다 . 즉 , 테스트 헤드 ( 20 ) 와 테스트 트레이 ( 150 ) 가 수직 으로 도킹 하 여 1 회 의 테스트 동작 에 예 를 들 어 , 128 개 의 디바이스 ( 156 ) 에 대한 테스트 가 동시 에 이 루어 지 는 것 이 다 .