도 1 은 종래 의 기술 에 따른 반도체 소자 테스트 용 프로브 카드 를 도시 한 분 해 사시도 이 다 . 도시 된 바 와 같이 , 종래 의 반도체 소자 테스트 용 프로브 카드 ( 10 ) 는 박판 으로 형성 되 는 다수 의 프로브 ( 11 ) 와 , 프로브 ( 11 ) 가 각각 장착 되 도록 양측 에 다수 의 슬릿 ( 12 a ) 이 형성 되 는 프로브 장착 바 ( 12 ) 와 , 프로브 장착 바 ( 12 ) 양단 이 끼워 지 도록 홈 ( 13 a ) 을 형성 함 과 아울러 프로브 ( 11 ) 가 노출 되 는 개구 ( 13 b ) 가 형성 되 는 장방형 의 프레임 ( 13 ) 과 , 프레임 ( 13 ) 이 고정 됨 으로써 프로브 ( 11 ) 가 설치 되 는 회로 기판 ( printed circuit board ; 14 ) 을 포함 한다 .