상기 제 2 실시 형태 에 따르 면 , 1 또는 복수 의 컬럼 어드레스 를 , 1 또는 복수 의 컬럼 어드레스 씩 분리 하 여 할당 하 고 있 다 . 이 때문 에 , 연속 적 으로 컬럼 어드레스 를 NAND 형 플래시 메모리 에 입출력 해도 , 메모리 셀 에 기억 되 는 데이터 는 , 컬럼 방향 으로 이산 하 게 된다 . 따라서 , 워드 선 의 구동 회로 에 가까운 부분 과 구동 회로 로부터 떨어진 부분 에서 불량 률 이 상이 해도 , 모든 ECC 단위 의 불량 률 을 균일 하 게 할 수 있 다 .