앞서 설명 한 방식 으로 , 특정 의 방향 dx 에 대해서 검출 된 방향 상관 값 은 관찰 된 이미지 방향 ( dx ) 에서 서로 인접 하 게 배치 된 원래 화소 들 의 이미지 정보 값 의 상이 함 이 더 작 을수록 , 더 작아진다 . 상기 방향 으로 에지 곡선 이 존재 할 가능 성 은 , 상기 원래 화소 들 의 이미지 정보 값 의 상이 함 이 더 작 을수록 즉 , 방향 상관 값 이 더 작 을수록 , 더 커진다 .