반도체 메모리 장치 및 그 테스트 방법 을 공개 한다 . 이 반도체 메모리 장치 는 외부 의 테스트 장비 에서 인가 되 는 복수 개 의 외부 저주파 클럭 신호 에 응답 하 여 복수 개 의 비교 클럭 신호 를 출력 하 는 비 교부 , 상기 복수 개 의 비교 클럭 신호 를 제 1 논리 연산 을 하 여 고주 파수 의 펄스 구간 을 포함 하 는 내부 클럭 신호 를 출력 하 는 논리 연산 부를 구비 하 는 것 을 특징 으로 한다 .