단계 ( 1440 ) 에서 , 전자 장치 ( 400 ) 는 제 1 부분 조감 이미지 의 제 1 특징 점 및 제 2 부분 조감 이미지 의 제 2 특징 점 을 검출 한다 . 예 를 들 어 , 차로 에 위치 한 패턴 상 의 특징 점 이 검출 될 수 있 다 . 특징 점 을 검출 하 기 위해 , SIFT 알고리즘 , SURF 알고리즘 , Haar 알고리즘 , Ferns 알고리즘 , ORB 알고리즘 등 이 이용 될 수 있 으나 , 기재 된 실시 예 로 한정 되 지 않 는다 .