한편 , 손상 탐지 를 위해 사용 되 는 탄성파 는 중심 주파수 에 따라 전파 속도 가 변하 는 멀티 모드 특성 및 복합 재상 에 전파 해 가 는 동안 형상 이 변화 하 는 이산 특성 을 가진다 . 또한 , 탄성파 가 평판 형상 의 복합 재상 에 전파 될 경우 탄성파 는 평판 의 중심 을 기준 으로 상하 의 움직임 이 대칭 을 이루 는 Symmetric Mode ( 이하 S 모드 ) 와 비대칭 을 이루 는 Anti - Symmetric Mode ( 이하 A 모드 ) 로 이루어진다 . 탄성파 는 가진 되 는 중심 주파수 에 따라 , S 모드 와 A 모드 가 여러 형태 로 중첩 되 어 나타날 수 있 으며 , 이러 한 탄성파 의 특성 으로 인하 여 평판 형 의 복합 재 에서 획득 된 신호 는 이산 특성 으로 인해 분화 된 신호 의 조합 과 반사 된 신호 의 조합 그리고 S 모드 와 A 모드 가 조합 된 다양 한 신호 의 합 으로 측정 되 며 , 이 에 더 해 외부 잡음 ( White - noise ) 성분 또한 함께 측정 될 수 있 다 . 도 4 a 는 액추에이터 ( 10 ) 에서 입력 되 는 탄성파 를 , 도 4 b 는 상술 한 바 와 같 은 다양 한 신호 가 혼합 되 어 센서 ( 11 ) 에서 측정 되 는 신호 의 예 를 도시 한 것 으로 , 도 4 b 에 도시 된 바 와 같이 센서 ( 11 ) 에서 는 다양 한 신호 가 혼합 되 어 측정 되 기 때문 에 , 측정 되 는 신호 중 손상 위치 ( 12 ) 에 따른 손상 신호 또는 손상 정보 를 추출 하 는 방법 이 중요 하 다 .