본 발명 은 광학 적 근접 보정 ( Optical Proximity Correction , 이하 ' OPC ' 라 한 다 . ) 의 검증 방법 에 관한 것 으로서 , 특히 OPC 를 행한 후 결과 의 검증 시 검증 작업 을 단순 화 하 여 에러 결과 를 효율 적 으로 분석 할 수 있 게 함 으로써 , 검증 시 소요 되 는 시간 을 단축 하 기 위한 OPC 검증 방법 에 관한 것 이 다 .