또한 , 본 발명 의 다른 실시 예 에 의한 테스트 모드 신호 발생 장치 는 반도체 메모리 장치 가 탑재 된 칩 에 구비 되 는 테스트 모드 인 에 이 블 패드 를 포함 하 여 , 상기 테스트 모드 인 에 이 블 패드 로부터 테스트 모드 인 에 이 블 신호 를 입력 받 고 , 복수 의 내부 전압 모니터링 패드 로부터 테스트 제어 신호 를 입력 받 아 복수 의 테스트 모드 신호 를 생성 하 는 것 을 특징 으로 한다 .