도 2 를 참조 하 면 , 본 발명 에 의한 반도체 모듈 의 고온 검사 용 핸들러 에 설치 된 검사 사이트 ( 120 ) 는 , 피 검사 모듈 보드 의 에지 커넥터 ( edge connector ) 가 연결 되 는 하부 소켓 연결부 ( 122 ) 와 , 상기 하부 소켓 연결부 ( 122 ) 들 사이 에 수직 으로 세워져 피 검사 모듈 보드 의 양면 에서 복사열 을 인가 할 수 있 는 복수 개 의 히터 블록 부 ( 124 ) 와 , 상기 복수 개 의 히터 블록 부 ( 124 ) 의 일면 을 감싸 는 형태 로 설치 된 가이드 블록 ( 126 ) 을 포함 한다 . 도면 의 참조 부호 128 은 방열 부 로서 재질 이 강철 일 수 있 으며 , 히터 블록 부 ( 124 ) 의 중앙부 에 온도 가 상대 적 으로 높 아 져 온도 편차 가 발생 하 는 것 을 방지 하 기 위하 여 설치 된다 . 여기 서 상기 히터 블록 부 ( 124 ) 는 피 검사 모듈 보드 의 두께 변화 에 대응 하 기 위하 여 인접 하 는 히터 블록 부 ( 124 ) 와 의 간격 과 조정 가능 하 도록 설계 된 것 이 적합 하 다 .