본 발명 은 상술 한 문제점 을 해결 하 기 위하 여 안출 된 것 으로서 , 검사 가 필요 한 메모리 모듈 을 마더 보드 에 최대한 근접 하 게 위치 시켜 전체 적 인 전류 경로 를 짧 게 하 고 , 메모리 모듈 을 테스트 소켓 으로부터 빼내 기 위한 레버 를 적절 하 게 위치 시켜 전체 적 인 공간 활용 도 를 높이 는 메모리 모듈 의 검사 장치 를 제공 하 는 것 을 목적 으로 한다 .