이러 한 공정 은 , 상기 제 1 이송 유닛 이 테스트 된 반도체 소자 들 이 수납 된 테스트 트레이 ( T ) 를 상기 회 전부 ( 4 ) 에서 상기 제 2 반입 위치 ( 3 c ) 로 이송 하 고 , 상기 언 로딩 승강 부 ( 34 ) 가 테스트 된 반도체 소자 들 이 수납 된 테스트 트레이 ( T ) 를 상기 반입 위치 ( 3 c ) 에서 상기 언로 딩 위치 ( 3 a ) 로 상승 시킴 으로써 이루어질 수 있 다 .