반도체 메모리 장치 의 실장 테스트 를 위한 테스트 모드 신호 발생 장치 를 제시 한다 . 본 발명 의 테스트 모드 신호 발생 장치 는 반도체 메모리 장치 가 탑재 된 칩 에 구비 되 는 테스트 모드 인 에 이 블 패드 와 복수 의 더미 패드 를 포함 하 여 , 테스트 모드 인 에 이 블 패드 로부터 테스트 모드 인 에 이 블 신호 를 입력 받 고 , 복수 의 더미 패드 각각 으로부터 테스트 제어 신호 를 입력 받 아 복수 의 테스트 모드 신호 를 생성 한다 . 본 발명 에 의하 면 모드 레지스터 셋 신호 를 변경 하 기 어려운 실장 테스트 를 빠르 고 정확 하 게 수행 할 수 있 다 .