측정 된 지연 시간 ( delat time ) 은 시험 대상 ( MUT ) 의 유전율 ( permittivity of the MUT ) 과 직접 관련 될 수 있 다 . 칩 리스 태그 에서 , 전송 라인 형 지연 라인 ( transmission line type delay line ) 은 특정 영역 에서 가능 한 한 길 게 구현 된다 . 따라서 , 지연 라인 의 임피던스 와 일치 하 는 안테나 가 설계 될 수 있 기 때문 에 , 특성 임피던스 는 고려 되 지 않 는다 . 전송 라인 ( transmission line ) 의 크기 는 수작업 으로 제조 된 PCB 제조 기술 에서 실현 가능 해야 한다 . 디자인 레이아웃 과 그 상세 한 사이즈 는 도 4 와 도 5 에 도시 하 였 다 .