선형 자석 ( 311 ) 의 위치 변화 에 따른 자속 밀도 변화 를 측정 하 기 위해 사용 되 는 자기 센서 는 , 자기장 을 검출 하 는 방법 중 하나 로 널리 사용 되 는 홀 센서 ( Programmable Hall IC ) 로 구성 된다 . 홀 센서 의 동작 은 반도체 ( 홀 소자 ) 의 전극 에 전류 를 흐르 게 한 후 수직 방향 으로 자기장 을 인가 하 면 전류 의 방향 과 자기장 방향 에 수직 하 게 전위차 ( electric potential ) 가 발생 하 는데 , 이러 한 전위차 로부터 선형 자석 ( 311 ) 의 위치 변화 를 검지 할 수 있 다 .