반도체 나노 입자 의 평균 입경 은 , 50 , 000 배 이상 150 , 000 배 이하 의 TEM 상 에서 관찰 되 는 , 모든 계측 가능 한 입자 에 대하 여 입경 을 측정 하 고 , 그것 들 의 입경 의 산술 평균 으로 한다 . 여기 서 , 「 계측 가능 한 」 입자 는 , TEM 상 에 있 어서 입자 전체 를 관찰 할 수 있 는 것 이 다 . 따라서 , TEM 상 에 있 어서 , 그 일부 가 촬상 범위 에 포함 되 어 있 지 않 고 , 「 끊 어 져 」 있 는 입자 는 계측 가능 한 것 이 아니 다 . 하나 의 TEM 상 에 포함 되 는 계측 가능 한 입자 수 가 100 이상 인 경우 에 는 , 그 TEM 상 을 사용 하 여 평균 입경 을 구한다 . 한편 , 하나 의 TEM 상 에 포함 되 는 계측 가능 한 입자 의 수 가 100 미만 인 경우 에 는 , 촬상 장소 를 변경 하 여 , TEM 상 을 더 취득 하 고 , 2 이상 의 TEM 상 에 포함 되 는 100 이상 의 계측 가능 한 입자 에 대하 여 입경 을 측정 하 여 평균 입경 을 구한다 .