또한 , 상기 대 상체 의 검사 항목 1 이 반도체 패키지 에 형성 된 볼 인 경우 상기 스코어링 단계 는 , 상기 A ) 단계 에서 획득 된 각각 의 이미지 데이터 를 흑백 화 된 이진 이미지 로 각각 전환 하 는 단계 ; 상기 이진 이미지 의 흑색 을 백색 으로 백색 을 흑색 으로 반전 한 반전 이미지 를 획득 하 는 단계 ; 상기 이진 이미지 와 상기 반전 이미지 로부터 각각 볼 개수 와 볼 지름 의 비율 차이 를 산출 하 는 단계 ; 및 상기 이진 이미지 와 상기 반전 이미지 의 볼 개수 차이 가 작 고 , 볼 지름 의 비율 차이 가 작 은 것 에 높 은 스코어 를 부여 하 는 단계 를 포함 하 는 것 을 특징 으로 한다 .