선형 오프셋 방법 은 스미 어 링 이 CCD 를 통해 고르 게 발생 되 고 CCD 의 조도 가 상대 적 으로 일정 할 때 , 예 를 들 면 , 섬광 어레이 측정 시스템 의 웰 ( well ) 들 이 균일 하 게 채워져 있 고 각각 이 동일 한 양 의 빛 을 발산 할 때 , 잘 작용 된다 . 그러나 노출 이 비 균일 할 때 , 예 를 들 면 도 1 a 와 같 을 때 , 그 방법 은 조도 의 밝 은 ( bright ) 포인트 들 아래 의 그런 셀 들 에 대해 음 ( -)( negative ) 판독 들 을 발생 시키 고 조도 의 밝 은 포인트 들 위 의 스미 어 링 을 충분히 보상 하 지 않 는 경향 이 있 다 .