이상 에서 설명 한 바 와 같이 , 본 발명 에 따른 막 - 전극 접합체 의 분석 방법 에 의하 면 , 주사 전자 현미경 을 이용 한 분석 을 위해 시편 을 제조 하 는 과정 에서 , 막 - 전극 접합체 로부터 절단 장비 를 이용 해 시편 을 1 차 로 커팅 하 여 채취 하 고 , 단면 을 보 기 위해 관찰 시편 을 액체 질소 에 넣 어 냉각 한 상태 로 절단 한 뒤 , 절단 된 시편 의 표면 에 전도성 금속 을 코팅 하 여 제조 하 는 것 으로서 , 시편 의 제조 및 준비 과정 의 모든 사항 을 정립 하 여 시편 의 제조 및 분석 을 위한 전체 과정 을 각 단계 별 로 구분 및 체계 화 함 으로써 , 분석 자 의 경험 과 추측 에 의존 하 지 않 고 종래 에 비해 막 - 전극 접합체 의 구조 및 단면 분석 을 좀 더 정확 하 게 수행 할 수 있 고 , 시료 제조자 의 경험 및 숙련도 차이 에 따른 방법 의 상이 성 을 배제 하 여 단면 및 조직 관찰 시 해석 의 오차 를 줄일 수 있 는 효과 가 있 게 된다 .