입력 아날로그 신호 가 이상 변조 되 었 는지 를 더욱 명확 하 게 판단 하 기 위하 여 , 이상 변조 가 검출 된 검출 윈도우 의 개수 를 소정 시간 동안 카 운 팅 한다 ( S 330 ) . 소정 시간 이 란 검출 윈도우 보다 큰 기간 일 수 있 으며 , 예 를 들 어 , 1000 ms 일 수 있 다 . 그러면 , 소정 시간 동안 카 운 팅 된 검출 윈도우 의 개수 를 제 2 개수 ( K ) 와 비교 한다 ( S 350 ) . 만일 , 제 2 개수 K 가 100 이 라면 , 1000 ms 내 에 100 개 이상 의 검출 윈도우 가 카 운 팅 될 경우 를 이상 변조 가 발생 한 것 으로 판단 할 수 있 다 ( S 360 ) . 본 명세서 에서 이상 변조 란 정상 적 인 변조 파라미터 에 따라서 변조 되 지 못한 경우 를 나타내 며 , 이상 변조 에 는 과다 변조 ( overmodulation ) 또는 고 - 편향 변조 와 과소 변조 ( undermodulation ) 가 포함 될 수 있 다 . 도 3 에서 소정 검출 윈도우 동안 샘플 들 의 신호 레벨 에 임계 레벨 이상 인 경우 를 검출 하 였으나 ( S 310 ) , 샘플 들 의 신호 레벨 이 임계 레벨 이하 인 경우 를 검출 한다면 과소 변조 역시 검출 할 수 있 다 . 그러므로 , 본 발명 은 반드시 고 - 편향 변조 된 변조 신호 를 검출 하 는 데 에 만 적용 되 는 것 은 아니 다 . 이하 , 설명 의 편의 를 위하 여 고 - 편향 변조 의 경우 에 대하 여 설명 한다 .