불휘발성 메모리 장치 의 하나 인 NAND 형 플래시 메모리 ( Flash Memory ) 에 있 어서 , 실제 사용 자 가 사용 할 수 있 는 여러 가지 형태 의 데 이타 를 메모리 셀 어레이 ( Arrary ) 에 직접 페이지 ( Page ) 단위 로 프로그램 하 고 , 다시 리드 ( Read ) 하 는 동작 을 수행 하 여 칩 의 양호 또는 불량 을 판정 하 는 테스트 방법 을 사용 하 였 다 . 여기 서 , 페이지 는 한 번 에 프로그램 동작 을 수행 할 수 있 는 최 소단위 를 의미 한다 .