기계 적 크랙 은 소수성 치환기 를 지닌 디 아자 - 인다 센 형광 물질 을 사용 하 여 시각 화 하 였 다 . 폴리에틸렌 나 프탈 레이트 ( PEN ) 기재 ( Teonex Q 65 , DuPont Teijin , Inc . ) 상 에 25 nm 두께 ALD 알루미나 배리어 를 침착 시켰 다 . 코팅 된 견본 중 일부 는 의도 적 으로 결함 을 생성 시키 기 위해서 기계 적 으로 조작 한 후 형광 태그 용액 중 에 5 분 동안 침지 하 였 다 . 70 % 에탄올 및 30 % 물 을 함유 하 는 용매 용액 을 사용 하 여 그 필름 에 부착 되 지 않 은 과량 의 태그 분자 를 세척 해 내 었 다 . 이어서 , 샘플 은 클린 건조 공기 를 사용 하 여 건조 시키 고 , 자외선 안전 환경 중 에 유지 하 였 다 . LSM 510 공 초점 현미경 ( Carl Zeiss , Inc . ) 을 사용 하 여 태 깅된 샘플 을 검사 하 였 다 . 488 nm 아르곤 12 레이저 원 을 사용 하 여 태그 를 여기 시키 고 , 형광 방출 ( 515 nm 에서 최대 ) 을 505 - 530 nm 밴드 패스 필터 로 측정 하 였 다 . 코팅 이 없 는 PEN 기재 , ALD 알루미나 코팅 이 있 는 PEN 기재 , 및 의도 적 으로 작성 한 스크래치 를 보유 하 는 동일 하 게 코팅 된 PEN 기재 를 비교 하 였 다 . 노출 된 PEN 필름 에 잘 부착 된 태그 분자 는 결과 적 으로 전체 샘플 에 걸쳐 명시 야 ( bright field ) 를 생성 하 였 고 , 반면 에 모든 암시 야 이미지 는 태그 가 ALD 알루미나 에 부착 되 지 않 는 것 으로 나타났 다 ( 데이 타가 도시 되 어 있 지 않 음 ) . 도 1 은 형광 분자 가 소수성 PEN 기재 에 만 선택 적 으로 부착 되 었 다는 점 을 도시 한 것 이 며 , 여기 서 그 분자 는 친수성 ALD 알루미나 코팅 에서 스크래치 에 의해 노출 된다 .