이 경우 , 포토다이오드 ( 2 ) 를 제외 한 반도체 장치 ( 6 e ) 를 광 검출 장치 ( 10 ) 에 적용 시켜 , 입사 된 광 에 의해서 전하 를 발생 하 는 수광 소자 ( 포토다이오드 ( 1 ) ) 와 , 발생 한 전하 를 수광 소자 에 축적 시키 는 축 적 수단 과 , 축 적 수단 에 축적 된 원 하 는 파장 의 입사광 에 대응 하 는 전하 의 전하량 을 출력 하 는 출력 수단 을 구비 한 광검 출 장치 를 구성 할 수 있 다 .