그런데 , 도 3 에 나타내 는 바 와 같이 2 개 이상 의 검사 모드 를 갖 는 DUT 에서 , 각 영역 의 구획 을 나타내 는 어드레스 가 각 검사 모드 에서 상이 한 경우 , 도 2 의 회로 구성 에서 는 , 이하 의 2 가지 요인 으로 인하 여 검사 를 실시 할 수 없 다 . 또한 , 도 3 의 예 에서 는 , ( a ) 는 검사 모드 1 로서 영역 전환 어드레스 가 ( X 3 , Y 2 ) 로 설정 되 고 , ( b ) 는 검사 모드 2 로서 영역 전환 어드레스 가 ( X 4 , Y 4 ) 로 설정 되 어 있 다 .