디지탈 인 스투르 먼 트 사 의 나노 스코프 IIIa 현미경 ( NanoScope IIIa microscope from Digital Instruments ) 을 이용 하 여 탭핑 모드 에서 원자력 현미경 검사 ( Atomic force microscopy , AFM ) 는 , 임프 린트 수행 후 임프 린트 결과 및 스탬프 를 조사 하 기 위해 수행 되 었 다 .