Microscopio de sonda de barrido
Un microscopio de sonda de barrido (también llamado SPM por sus siglas en inglés Scanning Probe Microscopy) es aquel que tiene el transmisor en la parte exequimal del lente (Objetivo 4x). Este microscopio electrónico utiliza una sonda que recorre la superficie del objeto a estudiar. La rama de microscopios SPM se fundó con la invención del microscopio de efecto túnel en 1981.

Su uso en investigaciones científicas es el de regular la imagen mediante un barrido de electrones haciendo que la imagen aumente (10.000.000 nm).

Tipos de SPM 
 Hay gran variedad de microscopios de sonda de barrido, siendo los principales:

 AFM, Microscopio de fuerza atómica (atomic force microscopy)
 Contact AFM
 Non-contact AFM
 Dynamic contact AFM
 Tapping AFM
 BEEM, ballistic electron emission microscopy
 CFM, chemical force microscopy
 C-AFM, conductive atomic force microscopy
 ECSTM electrochemical scanning tunneling microscope
 EFM, electrostatic force microscopy
 FluidFM, fluidic force microscope
 FMM, force modulation microscopy
 FOSPM, feature-oriented scanning probe microscopy
 KPFM, kelvin probe force microscopy
 MFM, magnetic force microscopy
 MRFM, magnetic resonance force microscopy

 NSOM, Microscopio óptico de campo cercano (near-field scanning optical microscopy o SNOM, scanning near-field optical microscopy)
 PFM, Piezoresponse Force Microscopy
 PSTM, photon scanning tunneling microscopy
 PTMS, photothermal microspectroscopy/microscopy
 SCM, scanning capacitance microscopy
 SECM, scanning electrochemical microscopy
 SGM, scanning gate microscopy
 SHPM, scanning Hall probe microscopy
 SICM, scanning ion-conductance microscopy
 SPSM spin polarized scanning tunneling microscopy
 SSRM, scanning spreading resistance microscopy
 SThM, scanning thermal microscopy
 STM, Microscopio de efecto túnel (scanning tunneling microscopy)
 STP, scanning tunneling potentiometry
 SVM, scanning voltage microscopy
 SXSTM, synchrotron x-ray scanning tunneling microscopy
 SSET Scanning Single-Electron Transistor Microscopy

De estas técnicas, AFM y STM son los más comúnmente utilizados para las mediciones de rugosidad.

Véase también 
 IN-VSEE

Notas 

sonda de barrido
Ciencia de los años 1980
1981