40 - - - - -For inspecting reticles used in manufacturing semiconductor devices... 9031.49 - -Other NMB Free CCCT, LDCT, GPT, UST, MT, MUST, CIAT, CT, CRT: ###>- - - - -Pour l'inspection des réticules utilisés dans la fabrication des dispositifs à semi-conducteur.................................................................................. - -Autres NMB En fr.