The least-squares residual R was 0.085 for 651 X-ray reflections measured on a Syntex P1 diffractometer using graphite-monochromatized Mo radiation. ###>La méthode des moindres carrés donne un R résiduel de 0.085 pour 651 réflexions de rayons X prises sur diffractomètre syntex P1, avec une radiation Mo rendue monochromatique par le graphite.