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走査型トンネル顕微鏡
走査型トンネル顕微鏡（そうさがたトンネルけんびきょう、Scanning Tunneling Microscope(STM)）は1982年、ゲルト・ビーニッヒ(G. Binnig)とハインリッヒ・ローラー(H. Rohrer)によって作り出された実験装置であり、走査型プローブ顕微鏡の一形式である。日本語において従来からある光学顕微鏡や電子顕微鏡の装置名の付け方からすると走査型トンネル効果プローブ電子顕微鏡などが相応しいのであるが、より簡便な言い回しもまた必要であり現在では走査型トンネル顕微鏡または単にトンネル顕微鏡と呼ばれる。非常に鋭く尖った探針を導電性の物質の表面または表面上の吸着分子に近づけ、流れるトンネル電流から表面の原子レベルの電子状態、構造など観測するもの。トンネル電流を使うことからこの名がある。