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セクター型質量分析計
セクター型質量分析計（せくたーがたしつりょうぶんせきけい、）とは、静電セクター、磁気セクター、またはこれら二つの（空間的に分離された）組み合わせを分析部に用いる質量分析計の分類である。広く普及しているセクター組み合わせとしては、BEB（磁気-電気-磁気）が挙げられる。最新のセクター型分析計は、イオンビームの方向および速度を収束させることのできる二重収束型質量分析計（1936年にアーサー・ジェフリー・デンプスター、、により開発）である。