9027 80 93 00 Aparelhos para realização de medições das propriedades físicas de materiais semicondutores ou de substratos de dispositivos de cristais líquidos ou das camadas condutoras e isoladoras associadas, durante o processo de produção de bolachas (wafers) de semicondutores ou de dispositivos de cristais líquidos 0 0 9027 80 97 00 Outros 0 0 9027 90 Micrótomos; partes e acessórios: