0,0 A 9031.20.20 Não elétricos 0,0 A 9031.41.00 Para controlo de bolachas (wafers) ou de dispositivos semicondutores ou para controlo de máscaras ou retículos utilizados na fabricação de dispositivos semicondutores 0,0 A 9031.49.10 Instrumentos e dispositivos óticos para medir a contaminação por partículas na superfície das bolachas (wafers) semicondutoras 0,0