성균관대학교는 반도체시스템공학과 김정래 교수가 '2024년 유럽 설계 자동화 및 테스트학회(DATE)'에서 최우수 논문상을 받았다고 20일 밝혔다.
지난달 스페인 발렌시아에서 열린 DATE는 전자시스템 설계·자동화·테스트 분야에서 세계적 권위를 인정받는 학술대회다. 설계, 응용, 테스트 및 신뢰성, 내장형 소프트웨어 등 4개 부문에서 총 996편 논문이 제출됐고 심사를 통해 244편이 통과됐다.
심사위원 평가를 통해 부문별로 한 편씩 최우수 논문을 선정하는데, DATE 최우수 논문에 국내대학이 선정된 건 2013년 이후 11년 만이다. 역대로는 두 번째다.
김 교수의 논문 제목은 '다중 레벨 셀 메모리의 신뢰성과 지구력 개선하는 단일 셀 오류정정부호(SELCC: Enhancing MLC Reliability and Endurance with Single Cell Error Correction Codes)'로 상변화 메모리의 신뢰성과 내구성을 동시에 향상시키는 혁신적인 오류정정부호를 제안한 연구다. 다중 레벨 상변화 메모리는 하나의 셀에 여러 비트의 정보를 저장할 수 있어 D램 메모리보다 높은 저장 용량을 자랑해 차세대 메모리로 주목받는 기술이다.
이 차세대 메모리 기술은 D램보다 신뢰성과 내구성이 낮다는 단점이 있었는데, 김 교수의 연구는 이런 문제점을 하드웨어의 추가적인 부담 없이 오류정정코드의 개선을 통해 동시에 개선하는 방법을 제안했다는 점에서 높은 평가를 받았다.
김 교수는 삼성전자 LSI사업부와 미국 마이크로소프트를 거쳐 2020년 성균관대 교수로 부임했다. 그는 "국내 반도체 인력의 우수성을 해외에 널리 알리고, 차세대 메모리의 혁신에 기여할 수 있는 좋은 성과가 나와 기쁘다"라고 수상 소감을 밝혔다.