Scanning near-field ultrasound holography
স্ক্যানিং নিয়ার-ফিল্ড আল্ট্রাসাউন্ড হলোগ্রাফি (এস. এন. এফ. ইউ. এইচ) হল সমাহিত এবং এমবেডেড কাঠামোর ননডেস্ট্রাক্টিভ ন্যানো-স্কেল উচ্চ-রেজোলিউশন ইমেজিং করার একটি পদ্ধতি। এস. এন. এফ. ইউ. এইচ উপকরণ, কাঠামো এবং ঘটনাগুলির বিশ্লেষণের জন্য গুরুত্বপূর্ণ কারণ এগুলি মাইক্রো/ন্যানো স্কেলে সঙ্কুচিত হতে থাকে। এস. এন. এফ. ইউ. এইচ হল এক ধরনের স্ক্যানিং প্রোব মাইক্রোস্কোপি (এস. পি. এম) কৌশল যা 10 থেকে 100 এন. এম স্কেলে গভীরতার তথ্যের পাশাপাশি স্থানিক রেজোলিউশন প্রদান করে। ইতিহাস নর্থওয়েস্টার্ন ইউনিভার্সিটির (ইভানস্টন, আইএল, ইউএসএ) গজেন্দ্র এস শেখাওয়াত এবং বিনায়ক পি দ্রাবিড় 2005 সালে এসএনএফইউএইচ তৈরি করেছিলেন। একটি অস্বচ্ছ পদার্থে একটি শূন্যতার তামার ড্যামাসিন কাঠামো পর্যবেক্ষণ করা এই কৌশল দ্বারা সম্ভব হয়েছিল। টেকনিক স্ক্যানিং নিয়ার-ফিল্ড আল্ট্রাসাউন্ড হলোগ্রাফি পারমাণবিক বল অ্যাকোস্টিক মাইক্রোস্কোপি এবং অতিস্বনক বল মাইক্রোস্কোপিকে একত্রিত করে। উচ্চ ফ্রিকোয়েন্সি উৎপাদনকারী দুটি ট্রান্সডিউসার ব্যবহার করা হয়। সাধারণত কম্পাঙ্ক ক্যান্টিলিভারের অনুরণিত কম্পাঙ্কের চেয়ে বেশি হয়। একটি ট্রান্সডিউসার নমুনার নীচে এবং অন্যটি ক্যান্টিলিভারের সাথে সংযুক্ত করা হয়। ক্যান্টিলিভারকে এস. পি. এম অ্যাকোস্টিক অ্যান্টেনা বলা যেতে পারে যা ট্রান্সডিউসার দ্বারা প্রেরিত অ্যাকোস্টিক তরঙ্গের হস্তক্ষেপ অনুভব করে। এই তরঙ্গগুলির হস্তক্ষেপ পৃষ্ঠের ধ্বনিগত স্থায়ী তরঙ্গ তৈরি করে। তরঙ্গের ফ্রিকোয়েন্সি কিছুটা আলাদা। লক-ইন পদ্ধতি এবং এস. পি. এম ইলেকট্রনিক মডিউলের মাধ্যমে অ্যান্টেনা দ্বারা পৃষ্ঠের অ্যাকোস্টিক স্থায়ী তরঙ্গের পর্যায় এবং প্রশস্ততার বিশৃঙ্খলা স্থানীয়ভাবে পর্যবেক্ষণ করা হয়। এই বৈদ্যুতিন মডিউলটি শেখাওয়াত এবং দ্রাবিড় তৈরি করেছিলেন। এটি একটি রেডিও ফ্রিকোয়েন্সি (আরএফ) লক ইন পদ্ধতির সাথে বাস্তবায়িত হয়েছিল। দুটি মোড ব্যবহার করা হয়ঃ নরম যোগাযোগ মোড শক্ত কাঠামোর জন্য। নিকট যোগাযোগ মোডে, অগ্রভাগটি প্রথমে পৃষ্ঠ স্পর্শ করার জন্য তৈরি করা হয় এবং তারপরে জৈবিক নমুনার জন্য এফ 2-5 এনএম উত্তোলন করা হয়। অন্যান্য এস. পি. এম কৌশলের তুলনায় সুবিধা এই কৌশলটি অভ্যন্তরীণ স্তরবিন্যাসের ন্যানোস্কেল রেজোলিউশন চিত্র তৈরি করতে ছড়িয়ে ছিটিয়ে থাকা আল্ট্রাসাউন্ড তরঙ্গের পর্যায় এবং প্রশস্ততা উভয়েরই সুবিধা নেয়। এটি অ-ধ্বংসাত্মক এবং বাস্তব স্থান ইমেজিং, গভীরতার তথ্য, উপকরণগুলিতে লুকানো তথ্য, 10-100 এনএম স্কেলে স্থানিক রেজোলিউশন সরবরাহ করে এবং বিভিন্ন উপাদান ব্যবস্থা অধ্যয়ন করতে পারে। আরও দেখুন অ্যাকোস্টিক মাইক্রোস্কোপি স্ক্যানিং অ্যাকোস্টিক মাইক্রোস্কোপ রেফারেন্স হলোগ্রাফি