저장 디바이스 검사 시스템(100)은 바닥면(10)에 실질적으로 수직인 제1 축(205)을 형성하는 적어도 하나의 로봇 팔(200)을 포함한다. 로봇 팔은 제1 축에 대하여 소정의 아크를 따라 회전하고, 제1 축으로부터 방사형으로 뻗도록 동작한다. 복수의 래크(300)는 로봇 팔에 의한 서비스를 위한 로봇 팔 둘레에 배열된다. 각각의 래크는 검사를 위한 저장 디바이스(500)를 운반하도록 구성된 저장 디바이스 운반기(550)를 수용하도록 각각 구성되어 있는 복수의 검사 슬롯(310)을 하우징한다. 운반 스테이션(400)은 로봇 팔에 의한 서비스를 위해 배열된다. 운반 스테이션은 각각 저장 디바이스 토트(450)를 수용하도록 구성된 복수의 토트 리셉터클(420)을 포함한다.
A storage device testing system (100) includes at least one robotic arm (200) defining a first axis (205) substantially normal to a floor surface (10). The robotic arm is operable to rotate through a predetermined arc about and extend radially from the first axis. Multiple racks (300) are arranged around the robotic arm for servicing by the robotic arm. Each rack houses multiple test slots (310) that are each configured to receive a storage device transporter (550) configured to carry a storage device (500) for testing. A transfer station (400) is arranged for servicing by the robotic arm. The transfer station includes multiple tote receptacles (420) that are each configured to receive a storage device tote (450).