자동 테스트 장비(ATE)의 예는 다음을 포함합니다: 테스트 중인 디바이스(DUT)를 테스트하기 위해 테스트 신호를 출력하고 테스트 신호에 기초하여 응답 신호를 수신하기 위한 테스트 기기; 테스트 기기와 연결되고, DUT가 연결되는 사이트를 갖는 애플리케이션 공간을 포함하고 테스트 신호 및 응답 신호가 사이트를 통과하는 DIB(Device Interface Board); 및 DIB의 애플리케이션 공간에 있는 교정 회로. 교정 회로는 교정 회로에 대한 제어 신호 및 교정 회로로부터의 측정 신호를 포함하는 통신과 함께 통신이 통과하는 통신 인터페이스를 포함한다. 교정 회로에는 교정 데이터를 저장하는 비휘발성 메모리도 포함되어 있으며 제어 신호를 기반으로 테스트 장비에서 DUT로 테스트 신호를 전달하고 DUT에서 테스트 장비로 응답 신호를 전달하도록 제어할 수 있다.
Example automatic test equipment (ATE) includes: a test instrument for outputting test signals to test a device under test (DUT), and for receiving response signals based on the test signals; a device interface board (DIB) connected to the test instrument, with the DIB including an application space having a site to which the DUT connects, and with the test signals and the response signals passing through the site; and calibration circuitry in the application space on the DIB. The calibration circuitry includes a communication interface over which communications pass, with the communications comprising control signals to the calibration circuitry and measurement signals from the calibration circuitry. The calibration circuitry also includes non-volatile memory to store calibration data and is controllable, based on the control signals, to pass the test signals from the test instrument to the DUT and to pass the response signals from the DUT to the test instrument.