이는 반도체 공정이나 다양한 박막 샘플의 정밀 두께 및 굴절률 측정으로 여러 산업 분야에서 중요하게 활용될 수 있는 장점이 있다.
This has the advantage that it may be importantly utilized in various industrial fields as a semiconductor process or precision thickness and refractive index measurement of various thin film samples.