본 실시예에 따른 테스트 온도 생성 장치(10)는 테스트 온도를 테스트 회로(300)가 직접 이용할 수 있는 온도 플래그 신호(TEMP_SIG)의 형태로 생성하여 테스트 회로(300)에 제공한다.
The test temperature generation device 10 according to the present embodiment generates a test temperature in the form of a temperature flag signal TEMP_SIG that the test circuit 300 may directly use and provides it to the test circuit 300.