예를 들면, 단일의 1206 칩 커패시터(0.120 x 0.60)보다 크지 않게 패키징된 커패시터 어레이를 포함하는 복수의 세라믹 칩(6)과 같이, 매우 근접하게 이격되고 선형으로 정렬된 복수의 단자를 갖는 전자소자를 시험하는 구름 접촉기가 개시된다. 이와 같은 칩은 대향하는 측면을 따라 선형으로 정렬된 동일한 복수의 단자(10, 12)를 갖는다. 이 접촉기(2)는, 복수의 나란하게 배치된 접촉 휠(20, 24)을 구비하며, 각각의 휠은 대응하는 외팔보 아암(52, 54)에 의해 각각 매달려있다. 이들 휠은 복수의 단자 라인과 일치하도록 이격되며, 복수의 아암은 굴곡되었을 때 그들 각각의 휠에 대해 충분한 축방향의 힘을 가하여, 복수의 단자와 양호한 접촉을 이루기에 충분한 탄성을 갖는다. 이와 같은 2개의 다중 구름 접촉기는, 그들 사이를 통과하는 칩 어레이의 대향측에 있는 복수의 단자 라인에 동시에 접촉시키기 위해 반대방향으로 배치될 수 있다. 이와 같은 경우에, 한 개의 접촉기의 복수의 휠은 어레이의 한 개의 모서리를 따라 일치된 단자와 부딪치도록 놓이는 한편, 이와 동시에 대향하는 접촉기의 복수의 휠은 상기한 어레이의 대향하는 모서리를 따라 일치된 복수의 단자와 부딪친다.
A rolling contactor is described for testing electronic devices having a plurality of very closely spaced, linearly aligned terminals, e.g. ceramic chips (6) containing an array of capacitors, packaged no larger than a single 1206 chip capacitor (0.120 x 0.60). Such chips have like pluralities of linearly aligned terminals (10, 12) along opposite sides. The contactor (2) includes a plurality of juxtaposed contact wheels (20, 24), each wheel being individually suspended by a corresponding cantilever arm (52, 54). The wheels are spaced to register with a line of terminals, and the arms are resilient enough to apply, when flexed, sufficient axial force to their respective wheels to make good contact with the terminals. Two of such multiple rolling contactors can be opposally positioned for simultaneously contacting lines of terminals on opposite sides of a chip array passing therebetween. In such a case, the wheels of one contactor are positioned to impinge registered terminals along one edge of the array, while the wheels of the opposing contactor simultaneously impinge registered terminals along the opposite edge of the array.