반도체 디바이스를 테스트하기 위한 신호를 생성하는 시스템 및 방법은 피시험 반도체 디바이스에 파라미터 측정 유닛(PMU) 전류 테스트 신호를 제공하기 위한 핀 전자기기(PE) 스테이지를 포함한다. 이 PE 스테이지는, 또한, 피시험 반도체 디바이스로부터의 응답을 센싱한다. 
A method of and system for producing signals to test semiconductor devices includes a pin electronic (PE) stage for providing a parametric measurement unit (PMU) current test signal  to a semiconductor device under test. The PE stage also senses a response from the semiconductor device under test.