쵸크랄스키 실리콘 성장 공정에서 사용하기 위한 다결정 실리콘 청크의 크기를 판별하기 위한 방법 및 시스템. 다결정 실리콘 청크들은 측정 배경 상에 배열된다. 카메라가 청크들의 이미지를 얻는다. 이미지 처리기가 얻어진 이미지에 기초하여 청크들의 면적을 판별한다. 청크들과 관련된 크기 파라미터들이 판별된다. 
A method and system for determining polycrystalline silicon chunk size for use with a Czochralski silicon growing process. Polycrystalline silicon chunks are arranged on a measuring background. A camera captures an image of the chunks. An image processor processes the image and determines the dimensions of the chunks based on the captured image. A size parameter associated with the chunks is determined.