테스트 패드와 주변 회로 영역간을 연결하는 연결 배선을 선택적으로 단선시키거나 프리차지 시키므로써, 배선 로딩을 감소시킬 수 있다.
By selectively disconnecting or precharging the connecting wires connecting the test pad and the peripheral circuit area, the wire loading may be reduced.