경로 지연 테스트는 IC 칩 상의 어느 특정 신호경로에 0-to-1 또는 1-to-0 신호 값 천이 지연 시간 문제가 있는지 테스트하는 것이다.
The path delay test tests whether a specific signal path on an IC chip has a 0-to-1 or 1-to-0 signal value transition delay time problem.