피시험 디바이스를 시험하는 시험 장치는 명령 사이클마다, 피시험 디바이스의 시험 프로그램에 포함된 명령을 순차적으로 실행하는 명령 실행부와 각 명령에 대응되어, 당해 명령을 실행하는 명령 사이클 기간 중에 출력하는 시험 패턴 계열의 패턴 길이를 식별하는 패턴 길이 식별 정보, 및 당해 시험 패턴 계열을 격납하는 시험 패턴 메모리와 하나의 명령을 실행하는 경우에 있어서, 하나의 명령에 대응되어 시험 패턴 메모리에 격납된 패턴 길이 식별 정보에 대응하는 길이의 시험 패턴 계열을 시험 패턴 메모리로부터 독출하는 시험 패턴 메모리 독출부와 하나의 명령을 실행하는 명령 사이클 기간 중에, 하나의 명령에 대응하여 시험 패턴 메모리 독출부가 독출한 시험 패턴 계열을 피시험 디바이스의 단자에 대하여 출력하는 시험 패턴 출력부를 포함한다. 
There is provided a testing apparatus that tests a device under test. The testing apparatus includes: a command executing unit operable to sequentially execute commands included in a test program for the device under test every command cycle; a test pattern memory operable to store pattern length identifying information identifying a pattern length of a test pattern sequence being output during a command cycle period executing the command and the test pattern sequence, in association with each command; a test pattern memory reading unit operable to read a test pattern sequence of a length corresponding to the pattern length identifying information stored on the test pattern memory in association with one command from the test pattern memory when the one command is executed; and a test pattern outputting unit operable to output the test pattern sequence read by the test pattern memory reading unit in association with the one command to a terminal of the device under test during a command cycle period executing the one command.