이벤트를 특성화하기 위해 X선 방출 이벤트에서 X선 복사를 반사 및 기록하는 시스템이다. 결정은 x-선 방출 이벤트로부터 제1 경로를 따라 방사선을 수신하도록 정렬된다. 결정에 충돌할 때 x-선은 밀러 지수 (9,7,3) 또는 (11,3,3) 중 하나로 정의된 결정의 반사 평면으로 인해 두 번째 경로를 따라 결정에서 반사된다. 예시적인 결정질 물질은 게르마늄이다. X선은 제2 경로를 따라 수정에서 반사되는 반사된 X선을 수신하도록 정렬된 검출기로 반사되고 검출기는 검출기에 충돌하는 X선에 응답하여 검출기 신호를 생성한다. 검출기는 전하결합소자 전자 검출기, 필름 플레이트, 또는 임의의 다른 검출기 유형을 포함할 수 있다. 프로세서는 X선 방출 이벤트로부터 방출된 X선을 나타내는 반사 데이터를 생성하기 위해 검출기 신호를 수신하고 처리한다.
A system for reflecting and recording x-ray radiation from an x-ray emitting event to characterize the event. A crystal is aligned to receive radiation along a first path from an x-ray emitting event. Upon striking the crystal, the x-ray reflects from the crystal along a second path due to a reflection plane of the crystal defined by one of the following Miller indices: (9,7,3) or (11,3,3). Exemplary crystalline material is germanium. The x-rays are reflected to a detector aligned to receive reflected x-rays that are reflected from the crystal along the second path and the detector generates a detector signal in response to x-rays impacting the detector. The detector may include a CCD electronic detector, film plates, or any other detector type. A processor receives and processes the detector signal to generate reflection data representing the x-rays emitted from the x-ray emitting event.