면의 거칠기에 의해 발생하는 비균질한 자기장 분포가 Hanle curve의 모양에 반영이 되기 때문에, Hanle 신호로부터 반도체 내에서의 스핀 수명을 결정하는 것은 생각처럼 단순하지 않다.
Since the non-homogeneous magnetic field distribution caused by the surface roughness is reflected in the shape of the Hanle curve, determining the spin lifetime in a semiconductor from the Hanle signal is not as simple as one might think.