심층 학습 칩을 신속, 효율적이고 저비용으로 검출하여 칩의 이용률을 향상시키는 심층 학습 칩을 검출하는 방법을 제공한다. 방법은 심층 학습 칩에 있어서의 복수의 논리 유닛을 검출하는 단계를 포함한다. 복수의 논리 유닛은 심층 학습의 추론 동작 및 훈련 동작 중 적어도 하나를 실행한다. 또한 복수의 논리 유닛의 검출에 합격하지 않는 에러 유닛을 취득하는 단계와, 복수의 논리 유닛 총수에 대한 에러 유닛의 수 비율이 소정의 비율 이하인 것에 응답하고, 심층 학습 칩을 합격 칩으로서 결정하는 단계를 포함한다. 방법은 심층 학습 칩에 복수의 동일하거나 중복의 논리 유닛이 포함되는 특성을 이용함으로써, 칩의 이용률을 현저하게 향상시킬 수 있다.
To provide a method for detecting a deep learning chip for detecting a deep learning chip rapidly and efficiently at low cost and for increasing the efficiency of the chip. The method includes a step of detecting a plurality of logical units in a deep learning chip. The logical units execute at least one of a deduction operation and a training operation of a deep learning. The method also includes: a step of acquiring an error unit of the logical units, which has failed a detection; and a step of determining a deep learning chip as a successful chip in response to the situation in which the rate of the number of error units to the total number of the logical units is a predetermined rate at most. The method can significantly increase the rate of usage of the chip by using the characteristic that the deep learning chip includes a plurality of the same type of logical units or overlapping logical units.