Harf n, kırılma endeksini temsil eder.
Yarı iletken endüstrisinde, ince filmler ve periyodik siper yapıları gibi malzemeleri karakterize etmek için kızılötesi ışık kullanılabilir. Bir yarı iletken yonga plakasının yüzeyinden gelen ışığın yansımasını ölçerek, kırılma indeksi (n) ve yok olma Katsayısı (k) Forouhi-Bloomer dispersiyon denklemleri aracılığıyla belirlenebilir. Kızılötesi ışığın yansıması, yüksek en boy oranlı hendek yapılarının kritik boyutunu, derinliğini ve yanak açısını belirlemek için de kullanılabilir.
Hangi harf kırılma endeksini temsil eder?