Copper alloy sheet materialA copper alloy sheet material has a copper alloy component system that has a high conductivity of 75.0% IACS or more and has both high strength and good stress relaxation resistance characteristics. A copper alloy sheet material has a composition containing, by mass %, from 0.01 to 0.50% of Zr, from 0.01 to 0.50% of Sn, a total content of from 0 to 0.50% of Mg, Al, Si, P, Ti, Cr, Mn, Co, Ni, Zn, Fe, Ag, Ca, and B, with the balance Cu, and unavoidable impurities, and a metal structure having a number density NA Of fine second phase particles having a particle diameter of approximately from 5 to 50 nm of 10.0 per 0.12 mm2 or more and a ratio NB/NA of a number density NB (per 0.012 mm2) of coarse second phase particles having a particle diameter exceeding approximately 0.2 mm and the NA of 0.50 or less.A copper alloy sheet material having a chemical composition containing, in terms of percentage by mass, from 0.01 to 0.50% of Zr, from 0.01 to 0.50% of Sn, a total content of from 0 to 0.50% of Mg, Al, Si, P, Ti, Cr, Mn, Co, Ni, Zn, Fe, Ag, Ca, and B, with the balance of Cu, and unavoidable impurities, having a metal structure having a number density NA of first second phase particles, formed mainly of a Cu?Zr based compound and having a particle diameter of the longest portion of the particles in a TEM observation image in a range of from 5 to 50 nm, defined by the following item (A) of 10.0 per 0.12 μm2 or more and a value NB/NA obtained by dividing numerical part of a number density NB (per 0.012 mm2) of second second phase particles, formed mainly of a Cu?Zr based compound and having a particle diameter of the longest portion of the particles in a SEM observation image of 0.2 μm or more, defined by the following item (B) by numerical part of the NA of 0.50 or less, and having a conductivity of 75.0% IACS or more and a tensile strength in a rolling parallel direction (LD) of 450 MPa or more: (A) in a view field observed with a TEM (transmission electron microscope) equipped with an EDS (energy dispersive X-ray spectrometer) in a thickness direction of the sheet material, a rectangular observation region of 0.4 μm×0.3 μm (area: 0.12 μm2) is randomly provided; three positions randomly selected in a Cu parent phase within the observation region are subjected to EDS analysis to measure a detected intensity of Zr, and an average Zr detected intensity of the three positions is designated as I0; in granular substances having contrast different from the parent phase in the TEM image of the rectangular observation region of 0.4 μm×0.3 μm, all the granular substances that are wholly or partially present in the observation region are subjected to EDS analysis under the same condition as in the measurement of I0, and a number of the granular substances that are measured to have a Zr detected intensity 10 times or more the I0 is counted; and the operation is performed for three or more of the rectangular observation regions that do not overlap each other, and a value obtained by dividing the total number counted of the granular substances by the total area of the observation regions is converted to a number per 0.12 μm2, which is designated as the number density NA (per 0.12 μm2) of the first second phase particles,(B) a rectangular measurement region of 120 μm×100 μm (area: 0.012 mm2) randomly provided in an observation plane in parallel to a sheet material surface with an FE-EPMA (field emission electron probe micro analyzer) is measured for a fluorescent X-ray detected intensity of Zr (which is hereinafter referred to as a Zr detected intensity with a WDS (wavelength dispersive X-ray spectrometer) under an area analysis condition of an acceleration voltage of 15 kV and a step size of 0.2 μm, the Zr detected intensities of the measured spots are expressed by percentage with the maximum value of the Zr detected intensities within the measurement region being 100%, a binary mapping image is obtained with a black spot for the measured spot having a Zr detected intensity that is less than 50% of the maximum value and a white spot for the measured spot having a Zr detected intensity that is 50% or more of the maximum value, and a number of white regions constituted by only one white spot or two or more white spots adjacent to each other is counted, provided that in a case where a black spot is present within a contour of one white region, the black spot is assumed to be a white spot; and the operation is performed for three or more of the measurement regions that do not overlap each other, and a value obtained by dividing the total number counted of the white regions by the total area of the measurement regions is converted to a number per 0.012 mm2, which is designated as the number density NB (per 0.012 mm2) of the second second phase particles.
구리 합금 판재 및 그 제조 방법구리계 재료의 범용 스크랩을 이용하여 제조하는 것이 가능한 구리 합금 성분계에 있어서, 75.0% IACS 이상의 높은 도전성을 갖고, 또한 높은 강도와 양호한 내응력 완화 특성을 밸런스 좋게 겸비한 구리 합금 판재를 제공한다. 질량%로, Zr: 0.01 내지 0.50%, Sn: 0.01 내지 0.50%, Mg, Al, Si, P, Ti, Cr, Mn, Co, Ni, Zn, Fe, Ag, Ca, B의 합계 함유량: 0 내지 0.50%, 잔부가 Cu 및 불가피적 불순물인 화학 조성을 갖고, 입자 직경 5 내지 50nm 정도의 미세 제2상 입자의 개수 밀도(NA)가 10.0개/0.12㎛2 이상이고, 또한 입자 직경이 약 0.2㎛를 초과하는 조대 제2상 입자의 개수 밀도(NB)(개/0.012mm2)와 상기 NA의 비(NB/NA)가 0.50 이하인 금속 조직을 갖는 구리 합금 판재.질량%로, Zr: 0.01 내지 0.50%, Sn: 0.01 내지 0.50%, Mg, Al, Si, P, Ti, Cr, Mn, Co, Ni, Zn, Fe, Ag, Ca, B의 합계 함유량: 0 내지 0.50%, 잔부가 Cu 및 불가피적 불순물인 화학 조성을 갖고, 하기 (A)에 의해 정해지는 미세 제2상 입자의 개수 밀도(NA)가 10.0개/0.12㎛2 이상이고, 또한 하기 (B)에 의해 정해지는 조대 제2상 입자의 개수 밀도(NB)(개/0.012mm2)와 상기 NA의 비(NB/NA)가 0.50 이하인 금속 조직을 갖고, 도전율이 75.0% IACS 이상, 압연 평행 방향(LD)의 인장 강도가 450MPa 이상인 구리 합금 판재.(A) EDS(에너지 분산형 X선 분석 장치)를 구비한 TEM(투과형 전자 현미경)에 의해, 판 두께 방향으로 관찰한 시야 내에 0.4㎛×0.3㎛(면적 0.12㎛2)의 직사각형 관찰 영역을 무작위로 설치한다. 그 관찰 영역 내의 Cu 모상 부분에 무작위로 선택한 3개소의 위치에서 EDS 분석을 수행하여 Zr의 검출 강도를 측정하고, 상기 3개소의 평균 Zr 검출 강도를 I0으로 한다. TEM상에 있어서 모상과의 콘트라스트의 차이로서 관찰되는 입상물 중 당해 관찰 영역 내에 전체 또는 일부분이 존재하는 모든 입상물에 대하여 상기 I0 측정과 동일한 조건으로 EDS 분석을 수행하고, 상기 I0의 10배 이상의 Zr 검출 강도가 측정되는 입상물의 개수를 카운트한다. 이 조작을 중복되지 않는 3개 이상의 직사각형 관찰 영역에 대하여 수행하고, 상기의 카운트된 입상물의 합계 수를 관찰 영역의 합계 면적으로 나눈 값을 0.12㎛2당 개수로 환산하고, 이를 미세 제2상 입자의 개수 밀도(NA)(개/0.12㎛2)로 한다.(B) FE-EPMA(전계 방출형 전자선 마이크로 애널라이저)에 의해, 판면(압연면)에 평행한 관찰면에 무작위로 설치한 120㎛×100㎛(면적 0.012mm2)의 직사각형 측정 영역에 대하여, 가속 전압 15kV, 스텝 사이즈 0.2㎛의 면 분석 조건으로 Zr의 형광 X선 검출 강도(이하 「Zr 검출 강도」라고 함)를 WDS(파장 분산형 분광기)로 측정하고, 당해 측정 영역 내에서의 Zr 검출 강도의 최대값을 100%로 하여 각 측정 스폿의 Zr 검출 강도를 백분율로 나타내고, Zr 검출 강도가 상기 최대값의 50% 미만인 측정 스폿의 위치를 흑색, 50% 이상인 측정 스폿의 위치를 백색으로 표시한 2치 매핑 화상을 얻었을 때의, 1개의 단독의 백색 표시 스폿 또는 2개 이상의 인접하는 백색 표시 스폿으로 구성되는 백색 칠한 영역의 수를 카운트한다. 다만, 1개의 백색 칠한 영역의 윤곽 내에 흑색 표시 스폿이 존재할 경우, 그 흑색 표시 스폿은 백색 표시 스폿으로 간주한다. 이 조작을 중복되지 않는 3개 이상의 직사각형 측정 영역에 대하여 수행하고, 상기의 카운트된 백색 칠한 영역의 합계 수를 측정 영역의 합계 면적으로 나눈 값을 0.012mm2당 개수로 환산하고, 이를 조대 제2상 입자의 개수 밀도(NB)(개/0.012mm2)로 한다.