SELF-TESTING MEASURING SYSTEM AND METHOD FOR OPERATING A SELF-TESTING MEASURING SYSTEMThe invention relates to a self-testing measuring system (SS) which can have at least three modes, an operating mode and at least two test modes. In a third test mode, a digital signal producing unit(DSO) stimulates the digital input circuit (DSI) directly by means of test signals, thereby allowing this signal string to be tested. In a second test mode, the digital signal producing unit (DSO) stimulates the analogous signal string (DR, AS) and the digital input circuit (DSI) by means of test signals, thereby allowing this signal string to be tested. In a first test mode, the digital signal producing unit (DSO) stimulates the analogous signal string (DR, AS), the measuring unit (TR) (typically an ultrasound transducer) and the digital input circuit (DSI) by means of test signals, thereby allowing this signal string to be tested and being monitored for parameter compliance, in particular signal amplitudes. In the operating mode, the digital signal producing unit (DSO) stimulates the analogous signal string (DR, AS), the measuring unit (TR) (typically an ultrasound transducer) and the digital input circuit (DSI) by means of output signals, thereby allowing the signal string to be monitored for parameter compliance, in particular signal amplitudes.A self-testing measurement system (ss) has-a digital signal generating unit (dso),-a driver stage (dr),a measurement unit (tr) which transmits the analog output signal (ms) as a measurement signal and receives a reception signal (es) in response thereto,-an analog input circuit (as),-a digital input circuit (dsi),-an analog channel emulation unit (acs),-a digital channel simulation unit (dcs),-an analog multiplexer (amx), and-a digital multiplexer (dmx),-wherein the measurement system (ss) is capable ofentering an operating state in an operating phase, andentering, in addition to the first test state, a test phase-a second test state and/or a third test state,and-wherein, in the operating state,-the digital signal generating unit (dso) generates a first digital signal (s1),-the driver stage (dr) converting a first digital signal (s1) of the digital signal generating unit (dso) into a second analog signal (s2),-the second analog signal (s2) causes the measurement unit (tr) to transmit the output signal (ms) as a measurement signal into a measurement channel (cn),-the measurement unit (tr) receives the reception signal (es) from the measurement channel (cn) in dependence on the output signal (ms),-the measurement unit (tr) generating a third analog signal (s3) from the received reception signal (es),-the analog multiplexer (amx) forwards the third analog signal (s3) as a fourth analog signal (s4),-the analog input circuit (as) converts the fourth analog signal (s4) into a fifth digital signal (s5),-the digital multiplexer (dmx) forwards the fifth digital signal (s5) as a sixth digital signal (s6),-said digital input circuit (dsi) receiving said sixth digital signal (s6) and generating a seventh response signal (s7), an-the seventh response signal (s7) can be used as a measurement result or for forming the measurement result,-wherein in the first test state,-the digital signal generating unit (dso) generates a first digital signal (s1),-the driver stage (dr) converting a first digital signal (s1) of the digital signal generating unit (dso) into a second analog signal (s2),-the second analog signal (s2) causes the measurement unit (tr) to transmit the output signal (ms) as a measurement signal into the measurement channel (cn),-the measurement unit (tr) receives a reception signal (es) from the measurement channel (cn) depending on the output signal (ms),-the measurement unit (tr) generating a third analog signal (s3) from the received reception signal (es),-the analog multiplexer (amx) forwards the third analog signal (s3) as a fourth analog signal (s4),-the analog input circuit (as) converting the fourth analog signal (s4) into a fifth digital signal (s5),-the digital multiplexer (dmx) forwards the fifth digital signal as a sixth digital signal (s6),-the digital input circuit (dsi) receives the sixth digital signal (s6) and generates the seventh response signal (s7),-the seventh response signal (s7) can be used as an inspection result or for forming an inspection result of the measurement system,-wherein in a second test state, as long as the second test state is present,-the digital signal generating unit (dso) generates a first digital signal (s1),-the driver stage (dr) converting a first digital signal (s1) of the digital signal generating unit (dso) into a second analog signal (s2), wherein the third analog test signal (s3t) can also be a copy of the second analog signal (s2),-the analog multiplexer (amx) forwards the third analog test signal (s3t) as a fourth analog signal (s4),-the analog input circuit (as) converts the fourth analog signal (s4) into a fifth digital signal (s5),-the digital multiplexer (dmx) forwards the fifth digital signal (s5) as a sixth digital signal (s6),-said digital input circuit (dsi) receiving said sixth digital signal (s6) and generating a seventh response signal (s7), an-the seventh response signal (s7) can be used as an inspection result or for forming an inspection result of the measurement system,-wherein in a third test state, as long as the third test state is present,-the digital signal generating unit (dso) generates a first digital signal (s1),-the digital channel simulation unit (dcs) converting the first digital signal (s1) into a fifth digital test signal (s5t), wherein the fifth digital test signal (s5t) can also be a copy of the first digital signal (s1),-the digital multiplexer (dmx) forwards the fifth digital test signal (s5t) as a sixth digital signal (s6),-said digital input circuit (dsi) receiving said sixth digital signal (s6) and generating a seventh response signal (s7), an-the seventh response signal (s7) can be used as an inspection result or to form an inspection result of the measurement system.
자체-테스팅 측정 시스템 및 자체-테스팅 측정 시스템을 작동시키기 위한 방법본 발명은 적어도 3 개의 모드들: 작동 모드 및 적어도 2 개의 테스트 모드들을 가질 수 있는 자체-테스팅 측정 시스템(SS)에 관한 것이다. 제3 테스트 모드에서, 디지털 신호 생성 유닛(DSO)은 테스트 신호들을 이용해 직접 디지털 입력 회로(DSI)를 시뮬레이션하고, 이로써 이 신호 스트링은 테스트되는 것이 허용된다. 제2 테스트 모드에서, 디지털 신호 생성 유닛(DSO)는 테스트 신호들을 이용해 아날로그 신호 스트링(DR, AS) 및 디지털 입력 회로(DSI)를 시뮬레이션하고, 이로써 이 신호 스트링은 테스트되는 것이 허용된다. 제1 테스트 모드에서, 디지털 신호 생성 유닛(DSO)는 테스트 신호들을 이용해 아날로그 신호 스트링(DR, AS), 측정 유닛(TR)(통상적으로 초음파 변환기) 및 디지털 입력 회로(DSI)를 시뮬레이션하고, 이로써 이 신호 스트링은 테스트되고 특히, 신호 진폭의 측면에서, 매개변수 준수에 대하여, 감시되는 것이 허용된다. 작동 모드에서, 디지털 신호 생성 유닛(DSO)는 출력 신호들을 이용해 아날로그 신호 스트링(DR, AS), 측정 유닛(TR)(통상적으로 초음파 변환기) 및 디지털 입력 회로(DSI)를 시뮬레이션하고, 이로써 이 신호 스트링은 특히, 신호 진폭의 측면에서, 매개변수 준수에 대하여, 감시되는 것이 허용된다.자체-테스팅 측정 시스템(SS)에 있어서, - 디지털 신호 생성 유닛(DSO), - 드라이버 스테이지(DR), - 측정 유닛(TR), 이것은 아날로그 출력 신호(MS)를 측정 신호로서 전송하고 이에 응답하여 수신 신호(ES)를 수신하고, - 아날로그 입력 회로(AS), - 디지털 입력 회로(DSI), - 아날로그 채널 시뮬레이션 유닛(ACS), - 디지털 채널 시뮬레이션 유닛(DCS), - 아날로그 멀티플렉서(AMX), 및 - 디지털 멀티플렉서(DMX)를 포함하고, - 이때 상기 측정 시스템(SS)은 - 작동 단계에 있는 작동 모드 및 - 테스트 단계에 있는 제1 테스트 모드에 더하여, - 제2 테스트 모드 및/또는 제3 테스트 모드를 가정할 수 있고, - 이때 상기 작동 모드에서 - 상기 디지털 신호 생성 유닛(DSO)은 제1 디지털 신호(S1)를 생성하고, - 상기 드라이버 스테이지(DR)는 상기 디지털 신호 생성 유닛(DSO)의 이 제1 디지털 신호(S1)를 제2 아날로그 신호(S2)로 변환하고, - 이 제2 아날로그 신호(S2)는 상기 측정 유닛(TR)이 측정 신호로서 상기 출력 신호(MS)를 측정 채널(CN)로 전송하도록 촉발하고, - 상기 측정 유닛(TR)은 상기 출력 신호(MS)에 따라서 상기 측정 채널(CN)로부터 상기 수신 신호(ES)를 수신하고, - 상기 측정 유닛(TR)은 상기 수신된 수신 신호(ES)에 따라서 제3 아날로그 신호(S3)를 생성하고, - 상기 아날로그 멀티플렉서(AMX)는 이 제3 아날로그 신호(S3)를 제4 아날로그 신호(S4)로서 전달하고, - 상기 아날로그 입력 회로(AS)는 상기 제4 아날로그 신호(S4)를 제5 디지털 신호(S5)로 변환하고, - 상기 디지털 멀티플렉서(DMX)는 상기 제5 디지털 신호(S5)를 제6 디지털 신호(S6)로서 전달하고, - 상기 디지털 입력 회로(DSI)는 상기 제6 디지털 신호(S6)를 수신하여 제7 응답 신호(S7)를 생성하고, 및 - 상기 제7 응답 신호(S7)는 측정 결과로서 또는 상기 측정 결과를 형성하기 위해 사용될 수 있고, - 이때 상기 제1 테스트 모드에서 - 상기 디지털 신호 생성 유닛(DSO)은 제1 디지털 신호(S1)를 생성하고, - 상기 드라이버 스테이지(DR)는 상기 디지털 신호 생성 유닛(DSO)의 이 제1 디지털 신호(S1)를 제2 아날로그 신호(S2)로 변환하고, - 이 제2 아날로그 신호(S2)는 상기 측정 유닛(TR)이 측정 신호로서 상기 출력 신호(MS)를 측정 채널(CN)로 방출하도록 촉발하고, - 상기 측정 유닛(TR)은 상기 출력 신호(MS)에 따라서 상기 측정 채널(CN)로부터 상기 수신 신호(ES)를 수신하고, - 상기 측정 유닛(TR)은 상기 수신된 수신 신호(ES)에 따라서 제3 아날로그 신호(S3)를 생성하고, - 상기 아날로그 멀티플렉서(AMX)는 이 제3 아날로그 신호(S3)를 제4 아날로그 신호(S4)로서 전달하고, - 상기 아날로그 입력 회로(AS)는 상기 제4 아날로그 신호(S4)를 제5 디지털 신호(S5)로 변환하고, - 상기 디지털 멀티플렉서(DMX)는 상기 제5 디지털 신호(S5)를 제6 디지털 신호(S6)로서 전달하고, - 상기 디지털 입력 회로(DSI)는 상기 제6 디지털 신호(S6)를 수신하여 제7 응답 신호(S7)를 생성하고, 및 - 상기 제7 응답 신호(S7)는 테스트 결과로서 또는 상기 측정 시스템에 의해 수행되는 점검 결과를 형성하기 위해 사용될 수 있고, - 이때, 만약 제공된다면, 상기 제2 테스트 모드에서, - 상기 디지털 신호 생성 유닛(DSO)은 제1 디지털 신호(S1)를 생성하고, - 상기 드라이버 스테이지(DR)는 상기 디지털 신호 생성 유닛(DSO)의 이 제1 디지털 신호(S1)를 제2 아날로그 신호(S2)로 변환하고, 이때 제3 아날로그 테스트 신호(S3t)는 상기 제2 아날로그 신호(S2)의 복사본일 수 있고, - 상기 아날로그 멀티플렉서(AMX)는 이 제3 아날로그 테스트 신호(S3t)를 제4 아날로그 신호(S4)로서 전달하고, - 상기 아날로그 입력 회로(AS)는 상기 제4 아날로그 신호(S4)를 제5 디지털 신호(S5)로 변환하고, - 상기 디지털 멀티플렉서(DMX)는 상기 제5 디지털 신호(S5)를 제6 디지털 신호(S6)로서 전달하고, - 상기 디지털 입력 회로(DSI)는 상기 제6 디지털 신호(S6)를 수신하여 제7 응답 신호(S7)를 생성하고, 및 - 상기 제7 응답 신호(S7)는 테스트 결과로서 또는 상기 측정 시스템에 의해 수행되는 점검 결과를 형성하기 위해 사용될 수 있고,- 이때, 만약 제공된다면, 상기 제3 테스트 모드에서, - 상기 디지털 신호 생성 유닛(DSO)은 제1 디지털 신호(S1)를 생성하고, - 상기 디지털 채널 시뮬레이션 유닛(DCS)은 이 제1 디지털 신호(S1)를 제5 디지털 테스트 신호(S5t)로 변환하고, 이때 상기 제5 디지털 테스트 신호(S5t)는 상기 제1 디지털 신호(S1)의 복사본일 수 있고, - 상기 디지털 멀티플렉서(DMX)는 상기 제5 디지털 테스트 신호(S5t)를 제6 디지털 신호(S6)로서 전달하고, - 상기 디지털 입력 회로(DSI)는 상기 제6 디지털 신호(S6)를 수신하여 제7 응답 신호(S7)를 생성하고, 및 - 상기 제7 응답 신호(S7)는 테스트 결과로서 또는 상기 측정 시스템에 의해 수행되는 점검 결과를 형성하기 위해 사용될 수 있는, 측정 시스템.