Process for Determining Local Emissivity Profile of Suprathermal ElectronsThe invention concerns a process for determining a local emissivity profile of suprathermal electrons coming from an ionized gas ring placed in a toric vessel, with the use of tomographic inversion by means of Bessel functions Jo of order 0 which exploits line-integrated measurements acquired by current real-time Hard-X-Ray diagnostics.Process for determining a local emissivity profile of suprathermal electrons coming from an ionized gas ring, called plasma, placed in a toric vessel, with the use of a spectrometric system comprising at least one detector, the detector being positioned in relation with the toric vessel so that the line of sight of the detector intercepts a circular cross section of the toric vessel and a circular cross section of the ionized gas ring with radius “a”, said circular cross section of the ionized gas ring being off centre against said circular cross section of the toric vessel, characterized by the following steps: to compute the first NB zeros Z1, Z2, . . . , ZNB of the Bessel functions Jo of order 0, to build a matrix Jρ, the element of row k and column j of which is Jo(ρk*Zj), with Jo(ρk*Zj) being the function Jo of order 0 on arguments (ρk*Zj) (k=1, 2, . . . , NM and j=1, 2, . . . , NB), with ρk the normalized distance with respect to radius “a” between a point Pk of the plasma and the plasma centre, the matrix Jρ being such that:  Aρ=Jρ*C,  with Aρ being an array, the elements of which represent the emissivity profile along a normalized plasma radius ρ and C being a matrix of coefficients, to read measurement data, said measurement data comprising a plasma emissivity datum Y representing the plasma integrated emissivity measured by the detector along the line of sight, plasma centre coordinates comprising major radius value Rp, vertical shift value Zp and plasma minor radius “a”, to compute the geometrical position of the line of sight segment which intercepts the cross section of the ionized gas ring with respect to a coordinate system centred in (Rp, 0, Zp), to compute the position of NL successive points P1, P2, . . . , PNL on said line of sight segment, P1 and PNL being the points of said line of sight segment which intercept boundaries of the ionized gas ring cross section, to compute the distances ri between the points Pi (i=1, 2, . . . , NL) and the plasma centre and to computate the normalized distances ρi=ri/a, to build a matrix Jρi, the element of row i and column j of which is Jo(ρi*Zj), with Jo(ρi*Zj) being the function Jo of order 0 on arguments ρi*Zj (i=1, 2, . . . , NL and j=1, 2, . . . , NB), the matrix Jρi being such that:  Aρi=Jρi*C,  with Aρi being an array representing the emissivity profile along the normalized distances ρi and C being said matrix of coefficients, to compute for each column j of Jρi, (j=1, 2, . . . , NB) integral Fj such that:  Fj=□*ΣiJo(ρi*Zj)  where □ is a geometric constant and i goes from 1 to NL, to compute a matrix F such that:  F=[F1F2 . . . FNB] to compute a matrix F−1, the pseudo-inverse matrix of matrix F, to compute a matrix M such that:  M=(Jρ*F−1)/EG  with EG being the geometrical extension of the detector, to calculate the suprathermal electron local emissivity profile array Aρ such that:  Aρ=M*Y/1000
고속 전자들의 로컬 방사율 프로파일을 결정하는 방법본 발명은 원환체의 용기(toric vessel)에 배치된, 이온 가스 링, 즉 플라즈마로부터 오는 고속 전자들의 로컬 방사율 프로파일을 실시간으로 결정하는 방법에 관한 것으로서, 현재 실시간 하드 엑스 레이 진단 루틴(Hard-X-Ray dianostics)에 의해 수집되는 선 통합 측정값들을 활용하는 0 오더의 베셀 함수(Jo)에 의해서 토모그래픽 반전(tomographic inversion)을 이용한다.원환체의 용기(toric vessel)에 배치된, 이온 가스 링, 즉 플라즈마로부터 오는 고속 전자들(suprathermal electrons)의 로컬 방사율 프로파일(local emissivity profile)을 실시간으로 결정하는 방법에 있어서, 적어도 하나의 검출기를 구비하는 분광계의 시스템을 이용하며, 상기 검출기는 상기 원환체의 용기에 관하여 배치되며 그래서 상기 검출기의 시선(line of sight)이 상기 원환형의 용기의 원형 횡단면과 반지름 "a"를 갖는 상기 이온화된 가스 링의 원형 횡단면을 자르며, 상기 이온화된 가스 링의 상기 원형 횡단면이 상기 원환형의 용기의 상기 원형 횡단면에 대해 중심에서 벗어나며, - 0 오더(order)의 베셀 함수(Jo)의 제1 NB 제로들(Z1, Z2, …, ZNB)을 계산하는 단계, - 행렬 Jρ를 만드는 단계, 행(k)과 열(j)의 구성요소는 Jo(ρk * Zj)이고, Jo(ρk * Zj)는 독립변수 (ρk * Zj)에서 0 오더의 상기 함수(Jo)이며(k=1, 2, ..., NM 및 j=1, 2, ...,NB), ρk 는 상기 플라즈마의 점(Pk)과 상기 플라즈마의 중심 사이의 반지름 "a"에 대하여 표준화된 거리이며, 상기 행렬 Jρ는, Aρ = Jρ * C 이고, Aρ는 배열이며, 상기 배열의 구성요소들은 표준화된 플라즈마 반지름(ρ)에 따른 상기 방사율 프로파일을 나타내고, C는 계수들의 행렬이며, - 측정 데이터를 읽는 단계, 상기 측정 데이터는 상기 시선에 따라 상기 검출기에 의해 측정되는 플라즈마 통합 방사율을 나타내는 하나의 상기 플라즈마 방사율 데이터(Y)를 구비하며, 플라즈마 중심 죄표들은 메이저(major) 반지름(Rp), 수직 이동 값(Zp) 및 플라즈마 마이너(minor) 반지름 "a"를 구비하며, - (Rp, 0, Zp)에 중심이 있는 좌표 시스템에 대하여 상기 이온화된 가스 링의 단면 부분을 자르는 상기 시선 선분의 기하학적인 위치를 계산하는 단계, 상기 시선 선분에서 NL 연속적인 점들(P1, P2, …, PNL)의 위치를 계산하는 단계, P1 및 PNL은 상기 이온화된 가스 링 단면 부분의 경계들을 자르는 상기 시선 선분의 점들이며, - 상기 점들(Pi (i=1, 2, …, NL))과 상기 플라즈마 중심 사이의 거리들(ri)을 계산하고 표준화된 거리(ρi = ri/a)를 계산하는 단계, - 행렬 Jρi를 만드는 단계, 행(i)과 열(j)의 구성요소는 Jo(ρk * Zj)이고, Jo(ρi * Zj)는 독립변수 (ρi * Zj)에서 0 오더의 상기 함수(Jo)이며(i=1, 2, ..., NM 및 j=1, 2, ...,NB), 상기 행렬 Jρi는, Aρi = Jρi * C 이고, Aρi는 표준화된 플라즈마 반지름(ρi)에 따른 상기 방사율 프로파일을 나타내는 배열이고, C는 계수들의 행렬이며, - Jρi의 열(column)(j)에 대해, 다음과 같은 정수 Fj를 계산하는 단계: Fj = δ * ∑i Jo (ρi * Zj) 여기서 δ는 기하학적 상수이며 i는 1로부터 NL까지이며, - 다음과 같이 행렬 F를 계산하는 단계: F = [F1 F2 ... FNB] - 상기 행렬 F의 유사역원(pseudo-inverse) 행렬인 행렬 F-1을 계산하는 단계, - 다음과 같은 행렬 M을 계산하는 단계: M = (Jρ * F-1) / EG 여기서 EG는 상기 검출기의 기하학적인 연장(geometrical extension)이며, - 다음과 같은 상기 고속 전자 로컬 방사율 프로파일 배열(Aρ)을 계산하는 단계: Aρ = M * Y / 1000 를 특징으로 하는 방법.