Length and dimensional quantities : publications and communications 2014 | Réseau National de la Métrologie Française
Length and dimensional quantities : publications and communications 2014
Publications and communications in the field of "Length and dimensional quantities" by authors of the French metrology network in 2014
BOUKELLAL Y. et DUCOURTIEUX S., “Development of a position sensor based on four quadrant structured fiber optic bundle”, Measurement science and technology, 26, 1, 2015, DOI: 10.1088/0957-0233/26/1/015201.
EL-HAYEK N., NOUIRA H., ANWER N., DAMAK M. et GIBARU O., “A new method for aspherical surface fitting with large-volume datasets”, Precision Engineering, 38, 4, 2014, 935-947, DOI: 10.1016/j.precisioneng.2014.06.004.
EL-HAYEK N., NOUIRA H., ANWER N., GIBARU O. et DAMAK M., “Comparison of tactile and chromatic confocal measurements of aspherical lenses for form metrology”, International Journal of Precision Engineering and Manufacturing, 15, 5, 2014, 821-829, DOI: 10.1007/s12541-014-0405-y.
KOENDERS L. et DUCOURTIEUX S., “Foreword for Nanoscale 2013”, Meas. Sci. Technol., 25, 4 (Nanoscale 2013), 2014, 040301, DOI: 10.1088/0957-0233/25/4/040301.
NOUIRA H., BERGMANS R., KÜNG A., PIREE H., HENSELMANS R. et SPAAN H.A., “Ultra-high precision CMMs as well as tactile and optical single scanning probes evaluation in dimensional metrology”, International Journal of Metrology and Quality Engineering, 5, 2, 2014, 1-13, DOI: 10.1051/ijmqe/2014009.
NOUIRA H., EL-HAYEK N., YUAN X. et ANWER N., “Characterization of the main error sources of chromatic confocal probes for dimensional measurement”, Measurement Science Technology, 25, 4, 2014, DOI: 10.1088/0957-0233/25/4/044011.
NOUIRA H., SALGADO J., EL-HAYEK N., DUCOURTIEUX S., DELVALLÉE A. et ANWER N., “Setup of a high-precision profilometer and comparison of tactile and optical”, Measurement Science Technology, 25, 4, 2014. DOI: 10.1088/0957-0233/25/4/044016.
PIQUEMAL F., AGUIR K., BERNARD D., CAPPRONNIER V., CARIMALO J., CHAMBONNET D., DE WILDE Y., DUCOURTIEUX S., FAVRE G., FELTIN N., GAUTIER B., GOURNAY P., LAMBERT P., LEVENSON A., LOUARN G., MACE T., MOSCHETTA J.-M. et POYET B., « Les premières années du club nanoMetrologie », Matériaux et Techniques, 25, 2014.
MOTZKUS C., GAIE-LEVREL F., MACÉ T., VASLIN-REIMANN S., DELVALLÉE A., DUCOURTIEUX S., MICHIELSEN N., BONDIGUEL S., GENSDARMES F., AUSSET P. et MAILLÉ M., “Prestandardization study on the characterization of airborne nanoparticles size: an interlaboratory comparison with on-line and off-line measurement techniques”, Congrès Français sur les Aérosols (CFA) 2014, Paris, France, 22-23 janvier 2014.
DELVALLEE A., FELTIN N., DUCOURTIEUX S. et TRABELSI M., « Comparaison de mesures tracables de la taille de nanoparticules spheriques par microscopie a force atomique et microscopie electronique a balayage », Forum des microscopies à sonde locales, Montauban, France, mars 2014.
FELTIN N., « De nouveaux outils pour la metrologie : de la physique des quanta aux nanotechnologies », L’Agora des Savoirs, Montpellier, France, mars 2014.
FAVRE G., « Point technico-réglementaire sur les nanoparticules dans les Dispositifs Médicaux », MEDTEC France, Lyon, France, 10 avril 2014.
EL-HAYEK N., ANWER N., NOUIRA H., GIBARU O., DAMAK M. et BOURDET P., “3D measurement and characterization of ultra-precision aspheric surfaces”, 13th CIRP Conference on Computer Aided Tolerancing (CAT 2014), Hangzhou, Chine, 11-14 mai, 2014.
FELTIN N., DELVALLÉE A., DUCOURTIEUX S. et ULYSSE C., “Development of a new method for the traceability of the nanoparticle size measurements by AFM and SEM”, Nanotech 2014, Washington, Etats-Unis, 12-15 mai 2014.
DELVALLÉE A., FELTIN N., DUCOURTIEUX S., ULYSSE C. et HOCHEPIED J.-F., “Traceable size measurements of spherical of nanoparticles by AFM and SEM”, E-MRS 2014 Spring meeting-Symposium H: Altech, Lille, France, 26-30 mai 2014.
BOUDERBALA K., NOUIRA H., GIRAULT M., VIDECOQ E., SALGADO J. et PETIT D., “Thermal design and control using reduced models”, Workshop Thermal design & dimensionnal drift issues, 14th EUSPEN International Conference, Dubrovnik, Croatie, 6 juin 2014.
MOTZKUS C., MACÉ T., GAIE-LEVREL F., DUCOURTIEUX S., DELVALLÉE A., VASLIN-REIMANN S. et al., “Size characterization of airborne SiO2 nanoparticles with on-line and off-line measurement techniques: validation with an interlaboratory comparison”, Aerosol Technology, Karlsruhe, Allemagne, 16-18 juin 2014.
EL-HAYEK N., ANWER N., NOUIRA H., DAMAK M. et GIBARU O., “Characterization of ultra-precise aspherical surfaces using forbes equation”, Joint Conference on Mechanical Design Engineering & Advanced Manufacturing, Toulouse, France, 18-20 juin 2014.
GUILLORY J., WALLERAND J.-P., OBATON A.-F., GARCIA MARQUEZ J. et ALEXANDRE C., « Compensation du couplage AM/PM à la photodétection », Journée du Club optique micro-ondes (Société Française d'Optique), Lannion, France, 19 juin 2014.
FAVRE G., « Les nanoparticules dans les dispositifs médicaux : la caractérisation des matériaux », Forum DM & DM DIV, Paris, France, 1er juillet 2014.
GUILLORY J., WALLERAND J.-P., OBATON A.-F. et ALEXANDRE C., “Laser diodes based Absolute Distance Meter”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014), Rio de Janeiro, Brésil, 24-29 août 2014, IEEE, DOI: 10.1109/CPEM.2014.6898473.
BOUDERBALA K., NOUIRA H., GIRAULT M., VIDECOQ E., SALGADO J. et PETIT D., “Reduced Thermal model for temperature control and compensation”, Workshop On thermal issues in dimensional metrology, 58th IWK Ilmenau Scientific Colloquium, Ilmenau, Allemagne, 9-10 septembre 2014.
SANDERS R., ANWER N., MEHDI-SOUZANI C. et NOUIRA H., “New curvature based methods for coarse registration in dimensional metrology”, MacroScale 2014: Recent developments in traceable dimensional measurements, Vienne, Autriche, 28-30 octobre 2014.
SANDERS R., NOUIRA H., MEHDI-SOUZANI C. et ANWER N., “Data fusion for high precision metrology: A novel fine registration technic”, MacroScale 2014: Recent developments in traceable dimensional measurements, Vienne, Autriche, 28-30 octobre 2014.
VIPREY F., LAVERNHE S., TOURNIER C. et NOUIRA H., “Geometric errors identification on 5-axis machine-tool using both novel hole-bar standard design and laser tracer interferometer system”, MacroScale 2014: Recent developments in traceable dimensional measurements, Vienne, Autriche, 28-30 octobre 2014.
WALLERAND J.-P., GUILLORY J., GARCIA-MARQUEZ J., ALEXANDRE C. et TRUONG D., “Limitation from amplitude to phase modulation conversion in telemetry”, MacroScale 2014: Recent developments in traceable dimensional measurements, Vienne, Autriche, 28-30 octobre 2014.
FAVRE G., BERNARD D., PIQUEMAL F., AGUIR K., CASSETTE S., CARIMALO J., DE WILDE Y., DUCOURTIEUX S., FELTIN N., GAUTIER B., LAMBERT P., LEVENSON A., LOUARN G., MACÉ T., MAILLOT P. et MOSCHETTA J.-M., “Club nanoMétrologie: A French initiative to improve the reliability of measurements at the nanoscale”, NanoSafe 2014, Grenoble, France, 18-20 novembre 2014.
GUILLORY J., WALLERAND J.-P., GARCIA MARQUEZ J., TRUONG D. et ALEXANDRE C., “A 1550nm telemeter for outdoor application based on off-the-shelf components”, 1st workshop on long distance surveying, Caparica, Portugal, 21 novembre 2014.
FAVRE G., « NanoDefine : La nanométrologie au secours de la mise en œuvre de la recommandation européenne pour la définition de nanomatériaux », 4e Rencontres Annuelles en nanométrologie, Paris, France, 10 décembre 2014.